JPH0515533A - 超音波診断装置 - Google Patents

超音波診断装置

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JPH0515533A
JPH0515533A JP3195837A JP19583791A JPH0515533A JP H0515533 A JPH0515533 A JP H0515533A JP 3195837 A JP3195837 A JP 3195837A JP 19583791 A JP19583791 A JP 19583791A JP H0515533 A JPH0515533 A JP H0515533A
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JP
Japan
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data
signal
counting
circuit
counter
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JP3195837A
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Inventor
Genichi Watanabe
元一 渡辺
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 受波ダイナミックフォーカス方式において、
正確な遅延量を設定でき、しかも高分解度を可能とす
る。 【構成】 この装置は、第1カウンタ31と、第1カウ
ンタ31のボロー信号で動作する第2カウンタ32と、
第2カウンタ32のボロー信号で動作する第3カウンタ
33とを有する位相クロック発生回路16を備えてい
る。第3カウンタ33のカウント値が遅延量格納メモリ
30のアドレス情報として出力され、このメモリデータ
が第1及び第2カウンタのプリセット値として出力され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、超音波診断装置に関
し、特に、フェーズドアレイ方式の探触子を有し、ディ
ジタル整相方式によってダイナミックフォーカス方式で
受信する超音波診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の超音波診断装置では、その受信方
式としてダイナミックフォーカス方式が採用された装置
が既に提供されている。このダイナミックフォーカス方
式では、探触子を構成する複数の振動子をダイナミック
に切り換えながら、かつ各振動子に対応して設けられた
遅延回路の遅延量も同時に制御し、各振動子からの反射
エコーを整相加算することにより、口径及びフォーカス
点をダイナミックに切り換えている。
【0003】このようなダイナミックフォーカス方式の
受信回路の一部を図7に示す。図7に示すように、第1
〜第Nの振動子からなる探触子50で得られた受信エコ
ーは、マルチプレクサ51に入力される。このマルチプ
レクサ51では、複数の振動子50からの受信エコーを
順次切替えて出力する。マルチプレクサ51では、N個
の振動子のうちのM個の振動子からの信号が選択され、
その出力信号はM個のプリアンプ52に入力される。各
プリアンプ52には、それぞれに対応して、A系統及び
B系統のアナログ方式による整相回路53が接続されて
おり、これらの1対の整相回路53の出力は、スイッチ
54を介して信号加算回路55に入力される。
【0004】このように、A及びB系統の2系列の整相
回路53を設け、A系統整相回路の出力信号をスイッチ
54で選択しているときは、次のフォーカス点の遅延量
と振動子選択信号とをB系統整相回路に出力するように
している。このようにして、フォーカス点と受波口径と
を順次ダイナミックに切り換えて受波することにより、
フォーカス切り換え点でのノイズを抑えることができ、
浅部から深部までの診断領域にわたり、S/N比と分解
度を高めた画像が得られる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のアナログ方式に
よる整相回路に用いられる位相制御回路は、一般的に、
図8に示すように、LC構成の遅延ライン56と、マト
リクススイッチ57とから構成されている。このような
回路では、プリアンプ52で増幅された受波信号がマト
リクススイッチ57に入力され、このマトリクススイッ
チ57から遅延ライン56に入力される。遅延ライン5
6は、図示しないCPU等からなるコントローラからの
切り換えコードによってタップが切り換え制御され、所
定の遅延量が設定されている。マトリクススイッチ57
からの信号は、この遅延ライン56を通過することによ
り、所定の遅延を受ける。
【0006】ところが、遅延ライン56内での信号反射
によってリンギングが発生したり、また遅延ラインタッ
プ毎の遅延量に誤差がある等により、画質劣化を引き起
こすという問題がある。また、遅延量の誤差を少なくす
るために、その分解度を上げようとすると、タップが増
大し、遅延ラインとマトリクススイッチ素子とが増加し
て回路が大きくなってしまう。さらに、実装されたパタ
ーン間のクロストークも増大し、これも画質劣化を招
く。
【0007】また、従来からディジタル方式による整相
回路も提供されている。従来のディジタル方式による整
相回路では、電圧制御発振素子(VCO)及びPLL回
路を用いて遅延クロック発生回路を構成し、この遅延ク
ロック信号の周波数を変化させて遅延量を設定するよう
にしている。しかし、この従来方式では、正確度及び安
定性に欠け、また所定の周波数にセットするためのセッ
トリングタイムが長い等の欠点がある。
【0008】本発明の目的は、正確かつ安定な遅延量の
設定を短いセットリングタイムで行うことのできる超音
波診断装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る超音波診断
装置は、フェーズドアレイ方式の複数の振動子から得ら
れた反射エコーをディジタル信号に変換し、この反射エ
コーデータを記憶手段に記憶するとともにその読み出し
タイミングを調整し、各反射エコーデータを整相するダ
イナミックフォーカス方式の超音波診断装置であり、遅
延制御データ格納手段と、第1計数手段と、第2計数手
段と、第3計数手段とを備えている。
【0010】前記遅延制御データ格納手段は、1本の超
音波ビームに対してダイナミックにフォーカス位置を切
り換えるための遅延制御データを格納する手段である。
前記第1計数手段は、遅延制御データ格納手段からのデ
ータに基づいて計数を行い、各振動子からの反射エコー
データの前記記憶手段からの読み出しタイミングを制御
するための読み出しクロック信号を発生する手段であ
る。前記第2計数手段は、遅延制御データ格納手段から
のデータ及び第1計数手段の計数結果に基づいて計数を
行い、フォーカス位置を制御するためのフォーカス位置
変更信号を発生する手段である。前記第3計数手段は、
第2計数手段の計数結果に基づいて計数を行い、遅延制
御データ格納手段から出力すべきデータのアドレスを制
御するためのアドレス制御信号を発生する手段である。
【0011】
【作用】本発明に係る超音波診断装置では、反射エコー
データが記憶手段に格納される。一方、遅延制御データ
格納手段には、使用する探触子等に応じて、遅延量及び
フォーカス位置等に関する各種のデータが格納されてい
る。
【0012】第1計数手段は、遅延制御データ格納手段
からのデータに基づいて計数を行い、記憶手段から反射
エコーデータを読み出すための読み出しクロック信号を
発生する。これによって、読み出しクロック信号の周波
数が制御され、各振動子に対応した遅延量が決定され
る。
【0013】また、第2計数手段は、遅延制御データ格
納手段からのデータ及び第1計数手段の計数結果に基づ
いて計数を行い、フォーカス位置を制御するためのフォ
ーカス位置変更信号を発生する。これにより、予め設定
されたフォーカス位置ごとに遅延量変更のための信号等
が出力される。
【0014】さらに第3計数手段は、第2計数手段の計
数結果に基づいて計数を行う。すなわち、フォーカス位
置が変更されるごとに計数を行い、これに基づいて遅延
制御データ格納手段から出力されるデータのアドレスを
制御する。これにより、第1及び第2計数手段による計
数内容が変更され、フォーカス位置ごとにかつ各振動子
ごとに適性な遅延量が設定されることとなる。
【0015】このようにして、フォーカス位置がディジ
タル処理によって決定されるので、アナログ方式に比較
して多段フォーカスを容易に実現できる。また、遅延量
は、各計数手段に入力されるクロック信号に同期してデ
ィジタル処理により決定されるので、正確かつ高分解度
となり、そのセットリングタイムも短い。
【0016】
【実施例】図1は、本発明の一実施例による超音波診断
装置のブロック構成図である。この超音波診断装置は、
診断装置本体1と、診断装置本体1に接続された探触子
2とから構成されている。診断装置本体1は、超音波ビ
ームを送波するための送波部3と、生体からの反射エコ
ーを受信処理する受波部4と、送波部3及び受波部4に
接続されたマルチプレクサ5と、装置全体を制御するた
めのコントローラ6とから構成されている。
【0017】探触子1は複数の微小振動子からなり、マ
ルチプレクサ5に接続されている。マルチプレクサ5
は、電子走査、口径制御等を行うために振動子を選択す
るためのものであり、振動子の選択制御は、コントロー
ラ6からの制御データによって行われるようになってい
る。
【0018】送波部3は、コントローラ6によって制御
される駆動パルス部7と、駆動パルス7からのパルス信
号を所定時間遅延させる送波フォーカス部8とから構成
されている。送波フォーカス部8は、送波ビームを集束
させるための遅延回路や、遅延回路の遅延量を設定する
ための回路を含んでいる。
【0019】受波部4は、各振動子からの反射エコーを
整相するための受波フォーカス部9と、整相された反射
エコーを処理するための信号処理部10と、信号処理部
10から出力されるアナログ信号をディジタル信号に変
換するA/D変換回路11と、A/D変換回路11で得
られたディジタル画像信号をテレビジョン信号に変換す
るためのDSC(ディジタル・スキャン・コンバータ)
12と、テレビモニタ13とから構成されている。
【0020】受波フォーカス部9は、それぞれマルチプ
レクサ5から出力される信号を増幅するM個のプリアン
プ14と、各プリアンプ14に対応して設けられたM個
のディジタル整相回路15と、各ディジタル整相回路1
5に対応して設けられたM個の位相クロック発生回路1
6とを有している。ディジタル整相回路15は、A/D
変換回路、FIFO(Fast In Fast Ou
t)メモリ、D/A変換回路及びローパスフィルタ(L
PF)で構成されており、M個の反射エコー信号の位相
を合わせるための回路である。また、位相クロック発生
回路16は、ディジタル整相回路15のそれぞれに与え
る位相クロックを発生するための回路である。
【0021】信号処理部10は、位相の合わされたM個
の反射エコー信号を加算する信号加算回路20と、対数
増幅回路21と、エンベロープ検波器22とから構成さ
れている。
【0022】図2に前記位相クロック発生回路16のブ
ロック回路図を示す。位相クロック発生回路16は、受
波ダイナミックフォーカスのための遅延量データが格納
された遅延量格納メモリ30と、遅延量格納メモリ30
の出力データがプリセットデータとして入力されるとと
もに、コントローラ6からの入力クロック信号によって
減カウントされる第1、第2のプリセットカウンタ3
1,32とを有している。また、この位相クロック発生
回路16は、第3カウンタ33と、バーWMODE信号
(ローアクティブ)によって制御されるゲート回路3
4,35,36と、フリップフロップ37と、OR回路
38,39とを有している。
【0023】次に装置全体の動作について説明する。コ
ントーラ6から駆動パルス部7に駆動信号が出力され、
これにより駆動パルス部7からパルス信号が出力され
る。このパルス信号は、送波フォーカス部8で所定の遅
延を受け、マルチプレクサ5を介して探触子2を構成す
る振動子のうちの口径に応じた所定の振動子に印加され
る。これにより、生体内に超音波ビームが送波される。
なお、マルチプレクサ5はコントローラ6からの選択信
号によって制御されている。
【0024】次に生体内からの反射エコーは振動子によ
って受けられ、マルチプレクサ5に入力される。マルチ
プレクサ5からは、口径及びビーム方向等に応じて選択
されたM個の受波信号がプリアンプ14に対して出力さ
れる。このプリアンプ14で増幅された信号は、ディジ
タル整相回路15に入力される。ディジタル整相回路1
5では、各反射エコーはA/D変換され、FIFOメモ
リに順次格納されながら、位相クロック発生回路16か
らの位相クロック信号によって順次読み出される。後述
するように、この位相クロック信号の周波数を調整する
ことによって、各振動子ごとに遅延量が適宜設定され
る。位相クロック信号によって読み出された反射エコー
データは、D/A変換され、ローパスフィルタによって
スムージング処理される。
【0025】以上のような処理によって、整相され、ス
ムージング処理された各反射エコー信号は、信号加算回
路20において整相加算される。この後、加算された信
号は、対数増幅器21によって増幅され、エンベロープ
検波器22によって検波される。この検波されて得られ
た信号は、A/D変換回路11によってディジタル信号
に変換され、DSC12でテレビジョン信号に変換され
てモニタ13に超音波画像として表示される。
【0026】ここで、位相合成の概念を図5に示す。図
において、M個の振動子の、各フォーカス位置F0〜F
xにおける点反射体からの受波波面を○印で示してい
る。なお、図中STRは、振動子駆動開始のためのスト
ロボ信号を示している。図から明らかなように、浅いフ
ォーカス位置では、各振動子の間の偏差が大きく、深い
フォーカス位置では、その偏差が少なくなっている。
【0027】ここで、同一波面の各フォーカス位置から
の各振動子への到達時間遅れ、すなわち遅延量は、フォ
ーカス位置と各振動子との間の距離差を音速で除して得
られる値にほぼ等しい。厳密には、反射体である人体臓
器によって音速は異なっており、体温によってもその値
は変動する。また、臓器間での複屈折により到達時間は
計算値と一致しないが、現行の超音波診断装置では、特
殊用途を除外して、この近似値を用いて位相合成し、画
像表示させているが、充分実用に耐え得る。
【0028】図6にフォーカス位置と遅延量偏差の関係
を示す。あるセクタプローブの例で、F6〜Fx=90
〜180mmでは、遅延量偏差はほぼ「0」となり、結果
として受波ビームは広がることとなる。そこで、選択す
る振動子の数を多くして受波口径を大きくし、遅延量偏
差を増大させてフォーカス位置をより深くし、深部にお
いても鮮明な画像が得られるようにしている。
【0029】次に遅延量設定のための概略動作について
説明する。ディジタル整相回路15では、サンプリング
周期Tsでもって各プリアンプ14の出力信号をA/D
変換し、FIFOメモリに順次格納していく。このとき
のM個のFIFOのデータ格納深さは、図5で示すよう
に、早く到達した音波のデータはより深い位置に格納さ
れる。FIFOメモリは位相バッフアメモリとして機能
するので、最大遅延時間Tmax後、コントローラ6か
らストロボ信号STRとクロック信号CLKとを出力
し、これにより位相クロック信号発生回路16を制御す
る。位相クロック信号発生回路16では、ストロボ信号
STRとクロック信号CLK(CPUの基本クロック信
号とは別のクロック信号)とを受理して、位相クロック
信号RCLKを、順次必要音線が終了するまで出力す
る。この位相クロック信号RCLKによってFIFOメ
モリから読み出されたデータは、D/A変換され、ロー
パスフィルタでスムージング処理される。
【0030】FIFOメモリからのデータの読み出しに
際しては、図5に示す位相と逆の遅延を与えて読み出し
制御すれば、信号加算回路20において各フォーカス位
置F0〜Fxにおける○印の波面が同一時刻に合成され
る。早く到達したデータはFIFOメモリの深い位置に
あるので、他より遅く位相クロック信号RCLKを入力
して読み出し、最も遅く到達したデータに対しては、最
も早く位相クロック信号RCLKを入力することで、同
一時刻上に有効データを並列に一致させることができ
る。
【0031】このような位相クロック発生回路16の動
作を、図2の回路及び図3に示すタイミングチャートに
したがって説明する。
【0032】前述のように、位相クロック発生回路16
は、M個のディジタル整相回路15のそれぞれに対して
所定のタイミングで読み出し用の位相クロック信号を出
力し、各振動子からの反射エコーの位相が合うように、
FIFOメモリに記憶された反射エコーデータの読み出
しタイミングを制御する。
【0033】この場合には、図3に示すように、まず、
バーWMODEをHレベルにセットし、各ゲート34,
35,36を読み出しクロック信号出力モードに切り換
える。振動子駆動開始のためのSTR信号が入力される
と、フリップフロップ37がセットされ、これにより出
力INH信号が有効(Hレベル:図3参照)となる。こ
れにより、FIFOメモリのデータが無効となり、適性
な遅延を受けていないデータが読み出されるのを防止し
ている。また、STR信号によって第3カウンタ33が
クリアされ、アドレスAは「0」となる。このアドレス
Aは遅延量格納メモリ30のアドレス入力端子に入力さ
れ、対応するアドレスのデータD,Fが出力される。一
方、第1、第2カウンタ31,32にはSTR信号が入
力され、ロード状態となっているので、第1カウンタ3
1にはフォーカス位置F0までの位相クロック信号発生
のためのデータDがプリセットされ、第2カウンタ32
にはフォーカス位置F0までのデータの個数、すなわち
フォーカス位置切り換えのためのデータFがプリセット
される。
【0034】第1、第2のカウンタ31,32は、コン
トローラ6からの入力クロック信号CLKによって減カ
ウントされ、ボロー信号が出力される毎に位相クロック
信号RCLKを出力する。また、ボロー信号が出力され
る毎に、データDがプリセットされる。したがって、第
1カウンタ31からは、入力クロック信号CLKを1/
D分周した周波数の位相クロック信号RCLKが出力さ
れる。これを図3に示しており、位相クロック信号の周
期Tcは、
【0035】 Tc=D×ΔT D :第1カウンタ31にプリセットされるデータ ΔT:入力クロック信号の周期
【0036】となる。したがって、前記データDを、各
振動子に対応させてM個の位相クロック発生回路ごとに
設定することによって、各ディジタル整相回路15ごと
に適正な遅延量が設定される。また、第1カウンタ31
からボロー信号が出力されると、フリップフロップ37
の出力信号Qがリセットされ、インヒビット信号INH
は無効(Lレベル:図3参照)となる。これにより、F
IFOメモリのデータは有効となる。なお、最初の位相
クロック信号が出力されるまでの期間Tc0(ステアリ
ング遅延期間)においては、比較的長い周期ΔT0の入
力クロック信号が用いられる。これにより、常に周期Δ
Tの入力クロック信号を用いる場合に比較して、カウン
タの構成を小さくすることができる。
【0037】また、第1カウンタ31からのボロー信号
を受けて、第2カウンタ32は入力クロック信号を減カ
ウントする。たとえば、この第2カウンタ32にはデー
タFとして「200」がプリセットされ、第1カウンタ
31から200個のボロー信号(位相クロック信号RC
LK)が出力されると、フォーカス位置F0までに20
0個の反射エコーデータが読み出されたこととなり、第
2カウンタ32からボロー信号が出力される。このボロ
ー信号はゲート回路35を介して信号Gとして第3カウ
ンタ33に入力される。これにより、第3カウンタ33
が入力クロック信号CLKをカウントし、このカウント
値Aが、遅延量格納メモリ30のアドレス入力端子に入
力される。これにより、遅延量格納メモリ30からは、
このフォーカス位置での位相クロック信号発生のための
データD、次のフォーカス位置データF及び口径可変の
ための制御信号DYFが出力される。制御信号DYF
は、各フォーカス位置における受波口径を制御するため
の信号であり、前記データD及びFとともに、遅延量格
納メモリ30に格納されている。一般的には、浅部にお
いては信号DYFは無効とし、深部で有効となるように
設定されており、入力クロック信号CLKに同期して、
浅部は口径が小さくなり、深部に行くに従って口径が大
きくなる。
【0038】以下、同様にして受波ビームの終了点まで
位相クロック信号及びフォーカス位置切り換えのための
信号が位相クロック発生回路16で生成され出力され
る。
【0039】図4は遅延量格納メモリ30にデータを書
き込む際のタイミングチャートを示している。図に示す
ように、データを書き込む場合には、バーWMODE信
号をLレベルとする。これにより、各ゲート回路34〜
36はデータ書き込みモードに設定される。そして、ス
トロボ信号STR及びコントローラ6からの基本クロッ
ク信号によって生成された書き込みパルスCLKのタイ
ミングで、外部データEXDが遅延量格納メモリ30内
に書き込まれる。また、所定のアドレスにダイナミンク
フォーカスのための信号DYFが書き込まれる。
【0040】ここで、ディジタル整相回路15のFIF
Oメモリの最大長FLmax は、最も遅延量の大きい図5
のフォーカス位置F0の1〜Mの位相に対応し、
【0041】 FLmax =Tmax /Ts Tmax :最大遅延量 Ts :A/D変換回路のサンプリング周期 で与えられる。このとき、 Tmax ≒8μs Ts =50ns とすれば、FLmax は160程度となる。また、ビット
幅はA/D変換回路の構成によるが、ドプラ信号も処理
する場合には12ビット以上が好ましい。
【0042】また、 ΔT0=50ns,ΔT(Ts)=10ns とすれば、 D≒8000/50=160(8ビット) となり、フォーカス位置Fを20点とすれば、このため
に5ビット必要であり、さらに信号DYFとして1ビッ
ト必要であるので、合計14ビットのデータ幅となる。
したがって、このような例の場合には、遅延量格納メモ
リ30のメモリ容量は、14ビット×20となり、また
メモリのアクセスタイムは5ns程度であればよい。
【0043】
【発明の効果】以上のように、本発明では、フォーカス
位置をデータ処理により決定しているので、アナログ方
式に比較して多段フォーカス構成を容易に実現すること
ができる。また、ダイナミックフォーカスを行う際の遅
延量を、計数手段を用いて入力クロック信号に同期した
ディジタル処理により設定しているので、正確かつ高分
解度となる。
【0044】さらに本発明によれば、特に受波部の構成
をLSI化する場合に最適な構成とすることができ、エ
ミッタ結合論理素子(ECL)及びガリウム砒素論理素
子(QaAs)等の高速デバイスを用いれば、より高い
遅延分解度が可能となる。このようにLSI化すること
により、通常、並列処理チャンネル数の多い(48、6
4、96、128チャンネル)受波ダイナミックフォー
カス方式において、実装上の大型化、クロストーク等の
問題点が解消される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による超音波診断装置のブロ
ック図。
【図2】前記装置の位相クロック発生回路のブロック
図。
【図3】前記装置のデータ読み出し時のタイミングチャ
ート。
【図4】前記装置の遅延データ等の格納時のタイミング
チャート。
【図5】受波ダイナミックフォーカスにおける位相合成
の概念図。
【図6】フォーカス位置と遅延量偏差の関係を示す図。
【図7】従来のダイナミックフォーカス方式超音波診断
装置の受波部ブロック図。
【図8】従来装置の位相制御回路のブロック図。
【符号の説明】
1 超音波診断装置 2 探触子 6 コントローラ 9 受波フォーカス部 15 ディジタル整相回路 16 位相クロック発生回路 30 遅延量格納メモリ 31 第1カウンタ 32 第2カウンタ 33 第3カウンタ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】フェーズドアレイ方式の複数の振動子から
    得られた反射エコーをディジタル信号に変換し、この反
    射エコーデータを記憶手段に記憶するとともにその読み
    出しタイミングを調整し、各反射エコーデータを整相す
    るダイナミックフォーカス方式の超音波診断装置におい
    て、 1本の超音波ビームに対してダイナミックにフォーカス
    位置を切り換えるための遅延制御データを格納する遅延
    制御データ格納手段と、 前記遅延制御データ格納手段からのデータに基づいて計
    数を行い、各振動子からの反射エコーデータの前記記憶
    手段からの読み出しタイミングを制御するための読み出
    しクロック信号を発生する第1計数手段と、 前記遅延制御データ格納手段からのデータ及び第1計数
    手段の計数結果に基づいて計数を行い、フォーカス位置
    を制御するためのフォーカス位置変更信号を発生する第
    2計数手段と、 前記第2計数手段の計数結果に基づいて計数を行い、前
    記遅延制御データ格納手段から出力すべきデータのアド
    レスを制御するためのアドレス制御信号を発生する第3
    計数手段と、 を備えた超音波診断装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6770705B2 (en) 2002-02-20 2004-08-03 Ppg Industries Ohio, Inc. Curable film-forming composition exhibiting improved impact strength and chip resistance
WO2007072589A1 (ja) * 2005-12-19 2007-06-28 Jfe Steel Corporation 超音波による断面検査方法及び装置
WO2009041313A1 (ja) * 2007-09-28 2009-04-02 Krautkramer Japan Co., Ltd 超音波探傷方法とその装置
JP2013156277A (ja) * 2008-03-31 2013-08-15 Kjtd Co Ltd 超音波探傷方法とその装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6770705B2 (en) 2002-02-20 2004-08-03 Ppg Industries Ohio, Inc. Curable film-forming composition exhibiting improved impact strength and chip resistance
WO2007072589A1 (ja) * 2005-12-19 2007-06-28 Jfe Steel Corporation 超音波による断面検査方法及び装置
JP2007170871A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Jfe Steel Kk 超音波による断面検査方法及び装置
US7987724B2 (en) 2005-12-19 2011-08-02 Jfe Steel Corporation Method and apparatus for ultrasonic cross-sectional inspection
KR101144692B1 (ko) * 2005-12-19 2012-05-25 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 초음파에 의한 단면 검사 방법 및 장치
WO2009041313A1 (ja) * 2007-09-28 2009-04-02 Krautkramer Japan Co., Ltd 超音波探傷方法とその装置
JP2013148597A (ja) * 2007-09-28 2013-08-01 Kjtd Co Ltd 超音波探傷方法とその装置
JP5279090B2 (ja) * 2007-09-28 2013-09-04 株式会社Kjtd 超音波探傷方法とその装置
US8584526B2 (en) 2007-09-28 2013-11-19 Krautkramer Japan Co., Ltd. Ultrasonic flaw detection method and ultrasonic flaw detection equipment
JP2013156277A (ja) * 2008-03-31 2013-08-15 Kjtd Co Ltd 超音波探傷方法とその装置
JP5288291B2 (ja) * 2008-03-31 2013-09-11 株式会社Kjtd 超音波探傷方法とその装置

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