JPH0515212B2 - - Google Patents
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- JPH0515212B2 JPH0515212B2 JP61201869A JP20186986A JPH0515212B2 JP H0515212 B2 JPH0515212 B2 JP H0515212B2 JP 61201869 A JP61201869 A JP 61201869A JP 20186986 A JP20186986 A JP 20186986A JP H0515212 B2 JPH0515212 B2 JP H0515212B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 89
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Technology Law (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は非線形特性をもつ変換器用の誤差補正
方法およびその方法を実施する装置に関する。
方法およびその方法を実施する装置に関する。
(従来の技術)
測定技術では変換器の出力値が測定値に線形比
例することが必要である。そうでない場合は変換
器の特性を線形化する補正回路が備えられる。こ
のような補正回路は、たとえばダイオード回路網
であつて、それによつて非線形特性が反転曲率も
つた横断線のドラフトとして、ダイオード網の非
線形入力信号が線形信号として出力に現われるよ
うにして再生される。このような線形化または補
正回路の別の実施例では、変換器の出力信号は次
に続く回路の対数特性によつて増倍され、それに
よつて線形化される。両方の方法とも線形化が多
大の整合努力をしなければできないのが欠点で、
さらに整合が訓練工によつてなされなければなら
ない欠点がある。また、上記公知の方法は非常に
限定された補正用のもので、多くの場合において
耐えがたい程大きい不可避の誤差が残されたまま
である。
例することが必要である。そうでない場合は変換
器の特性を線形化する補正回路が備えられる。こ
のような補正回路は、たとえばダイオード回路網
であつて、それによつて非線形特性が反転曲率も
つた横断線のドラフトとして、ダイオード網の非
線形入力信号が線形信号として出力に現われるよ
うにして再生される。このような線形化または補
正回路の別の実施例では、変換器の出力信号は次
に続く回路の対数特性によつて増倍され、それに
よつて線形化される。両方の方法とも線形化が多
大の整合努力をしなければできないのが欠点で、
さらに整合が訓練工によつてなされなければなら
ない欠点がある。また、上記公知の方法は非常に
限定された補正用のもので、多くの場合において
耐えがたい程大きい不可避の誤差が残されたまま
である。
上記欠点に加えて、非線形特性を補正する回路
自身が付加的なゼロドリフトおよび付加的な温度
ドリフトを含む。これらの付加的な妨害は別の回
路によつて補正されなければならない。
自身が付加的なゼロドリフトおよび付加的な温度
ドリフトを含む。これらの付加的な妨害は別の回
路によつて補正されなければならない。
特に、変換器が工業的に用いられる場合には、
十分に訓練されたスタツフは普通、これらの整合
処理を実施するためには得られない。したがつ
て、測定装置製造者の維持スタツフが調整をなさ
なければならず、非常にコスト高になる。変換器
が新しい測定目的で別の装置に設置されたり、損
傷のため交換しなければならない場合は、整合手
続を全部始めからやりなおさなければならない。
十分に訓練されたスタツフは普通、これらの整合
処理を実施するためには得られない。したがつ
て、測定装置製造者の維持スタツフが調整をなさ
なければならず、非常にコスト高になる。変換器
が新しい測定目的で別の装置に設置されたり、損
傷のため交換しなければならない場合は、整合手
続を全部始めからやりなおさなければならない。
(発明の概要)
上記先行技術を前提として、本発明は、不可避
の測定誤差が今までより小さく、それにもかかわ
らず実施するのが容易な方法を提示するという問
題を基礎としている。
の測定誤差が今までより小さく、それにもかかわ
らず実施するのが容易な方法を提示するという問
題を基礎としている。
この問題は、コンピユータ支援測定回路を用い
て、段階aにおいて、測定回路の最初の製作現場
における(Werksseitigen)調整の間に、変換器
の出力特性を調整して次の基本式のパワー関数、 Y=A+B(1/X+W)D 式(G) ここで、Yは線形化信号、Xは非線形測定値に
対応する、 を参照してコンピユータによつてできるだけ正確
な線形化の準備をなすことによつて解決される。
上記式(G)は経験から得られた式であり、非線形測
定値Xを線形化信号Yに変換するのに好適な式で
ある。この目的で、測定回路は、変換器の特性が
連続して均一に、しかも良好なS/N比を得るた
めにかなり大きな測定範囲にわたつて変化するよ
うに都合よく配置される。この特性に特有の値D
はいつたん固定されると、対応の変換器で固定さ
れる。値A,BおよびWは3つの式を有する式系
(復帰方法)および付加的な反復方法によつて、
出力特性と線形化特性の3つの交差点が測定範囲
の始点、中間、終点に位置するように都合よく決
定される。値A,BおよびWは、周囲の影響およ
び試験対象の異なつた材料によつて実際の測定の
場で製作現場における決定の値からはずれること
がある。それ故に、使用の場における段階bで、
測定範囲をほぼ等間隔で分ける、明確な
(defined)較正測定値を用いて設置変換器につい
て少なくとも3個の較正測定を行なう。段階Cで
は、式(G)が較正測定結果および記憶された定数を
用いて解かれ定数A,BおよびWを決定して、そ
れらを記憶させる。段階cでは全ての後続のサー
ビス測定の間に、実際の測定結果はX値として入
力され、対応のY値が誤差補償された測定値とし
て出力される。
て、段階aにおいて、測定回路の最初の製作現場
における(Werksseitigen)調整の間に、変換器
の出力特性を調整して次の基本式のパワー関数、 Y=A+B(1/X+W)D 式(G) ここで、Yは線形化信号、Xは非線形測定値に
対応する、 を参照してコンピユータによつてできるだけ正確
な線形化の準備をなすことによつて解決される。
上記式(G)は経験から得られた式であり、非線形測
定値Xを線形化信号Yに変換するのに好適な式で
ある。この目的で、測定回路は、変換器の特性が
連続して均一に、しかも良好なS/N比を得るた
めにかなり大きな測定範囲にわたつて変化するよ
うに都合よく配置される。この特性に特有の値D
はいつたん固定されると、対応の変換器で固定さ
れる。値A,BおよびWは3つの式を有する式系
(復帰方法)および付加的な反復方法によつて、
出力特性と線形化特性の3つの交差点が測定範囲
の始点、中間、終点に位置するように都合よく決
定される。値A,BおよびWは、周囲の影響およ
び試験対象の異なつた材料によつて実際の測定の
場で製作現場における決定の値からはずれること
がある。それ故に、使用の場における段階bで、
測定範囲をほぼ等間隔で分ける、明確な
(defined)較正測定値を用いて設置変換器につい
て少なくとも3個の較正測定を行なう。段階Cで
は、式(G)が較正測定結果および記憶された定数を
用いて解かれ定数A,BおよびWを決定して、そ
れらを記憶させる。段階cでは全ての後続のサー
ビス測定の間に、実際の測定結果はX値として入
力され、対応のY値が誤差補償された測定値とし
て出力される。
上記補正式(G)を用いると所望の線形からの特性
のずれは特に小さい。これは、この関数が、広い
範囲にわたつて非常に少ないパラメータを変える
ことによつて基本的には任意に湾曲させることが
できる形状をしているからである。これは、無
論、変換器の特性の形状が一様に連続しているこ
とを前提としているが、この条件は少なくとも測
定範囲内で全ての変換器で満たすことができる。
のずれは特に小さい。これは、この関数が、広い
範囲にわたつて非常に少ないパラメータを変える
ことによつて基本的には任意に湾曲させることが
できる形状をしているからである。これは、無
論、変換器の特性の形状が一様に連続しているこ
とを前提としているが、この条件は少なくとも測
定範囲内で全ての変換器で満たすことができる。
特性の曲率(これは式(G)の指数Dで表わされて
いる)は一般に変換器に特有のものである。これ
は特に、うず電流原理に従つて導電性表面と発振
回路に配置された測定コイルの間の距離を測定す
る変換器はあてはまる。この場合、指数Dは変換
器の特定構造に特有だから、指数Dは一定型の変
換器に対して一回(たとえば曲線のあてはめによ
つて)決定するだけでよい。指数Dは周辺機器の
特性に応じて決定されるべき定数A,BおよびW
と異なり、変換器に特有のものであるから、製作
現場において設定できる性質のものである。ま
た、この指数Dの設定作業は、複雑で且つ時間の
かかるものであるとともに、正確な設定が必要で
あることから、製作現場において熟練者がこれを
決定しておくことが望ましい。変換器に対応する
この値は変換器が用いられるときにコンピユータ
に入力することができる。
いる)は一般に変換器に特有のものである。これ
は特に、うず電流原理に従つて導電性表面と発振
回路に配置された測定コイルの間の距離を測定す
る変換器はあてはまる。この場合、指数Dは変換
器の特定構造に特有だから、指数Dは一定型の変
換器に対して一回(たとえば曲線のあてはめによ
つて)決定するだけでよい。指数Dは周辺機器の
特性に応じて決定されるべき定数A,BおよびW
と異なり、変換器に特有のものであるから、製作
現場において設定できる性質のものである。ま
た、この指数Dの設定作業は、複雑で且つ時間の
かかるものであるとともに、正確な設定が必要で
あることから、製作現場において熟練者がこれを
決定しておくことが望ましい。変換器に対応する
この値は変換器が用いられるときにコンピユータ
に入力することができる。
変換器は次に使用の場に設置され、較正測定が
明確な較正測定値を用いて行なわれ、それによつ
て、たとえば、最小距離、最大距離および平均距
離(距離変換器の場合)が各々正しく設定され
る。これら3つの測定値および既知の定数Dを用
いてA,BおよびWに対して式(G)を解いて値A,
BおよびWを得ることができる。この過程はまた
コンピユータによつて実施される。
明確な較正測定値を用いて行なわれ、それによつ
て、たとえば、最小距離、最大距離および平均距
離(距離変換器の場合)が各々正しく設定され
る。これら3つの測定値および既知の定数Dを用
いてA,BおよびWに対して式(G)を解いて値A,
BおよびWを得ることができる。この過程はまた
コンピユータによつて実施される。
値A,BおよびWは記憶される。
全ての後続の測定の間に、変換器の出力値(こ
れは実際の測定値と非線形関係を有している)を
式(G)に関して補正して誤差補正された値を得るこ
とができる。この誤差補正の方法によつて、線形
化または誤差補正それ自身が、ダイオード網等が
用いたときのドリフト現象のため起るような誤差
を含まないようになる。
れは実際の測定値と非線形関係を有している)を
式(G)に関して補正して誤差補正された値を得るこ
とができる。この誤差補正の方法によつて、線形
化または誤差補正それ自身が、ダイオード網等が
用いたときのドリフト現象のため起るような誤差
を含まないようになる。
さらに、いくつかの工程で線形化が非熟練工に
よつて実施できる本発明の方法によつて、変換器
が異なつた場所で異なつた目的に非常な努力なし
に用いることができ、また、周囲の条件(これは
通常、変換器の特性に影響を及ぼす)に従つて訂
正できる。したがつて、ダイオード網によつて要
求されるような広範な調整(これは熟練者によつ
てのみ可能である)は必要ない。
よつて実施できる本発明の方法によつて、変換器
が異なつた場所で異なつた目的に非常な努力なし
に用いることができ、また、周囲の条件(これは
通常、変換器の特性に影響を及ぼす)に従つて訂
正できる。したがつて、ダイオード網によつて要
求されるような広範な調整(これは熟練者によつ
てのみ可能である)は必要ない。
本発明の方法の好程実施例は、次の工程で、定
数A,BおよびWを決定後またはこれらの定数を
記憶後、式(G)の複数の解答点が連続的なアドレス
に記憶され、各後続の測定の間に、実際の測定結
果は最も近い記憶値、および値Xに比例する値と
して出力されたメモリアドレスに割り当てられ
る。式は入力された各測定値に対して解く必要が
ないから(これは一定の計算時間が必要である)、
達成可能な測定頻度をかなり増大させることがで
きる。コンピユータは測定値をデイジタル化し、
それを丸め、測定値に対応するメモリアドレスを
さがすだけでよい。メモリアドレスの内容は誤差
補償された測定値またはそれに比例する値を表わ
す。
数A,BおよびWを決定後またはこれらの定数を
記憶後、式(G)の複数の解答点が連続的なアドレス
に記憶され、各後続の測定の間に、実際の測定結
果は最も近い記憶値、および値Xに比例する値と
して出力されたメモリアドレスに割り当てられ
る。式は入力された各測定値に対して解く必要が
ないから(これは一定の計算時間が必要である)、
達成可能な測定頻度をかなり増大させることがで
きる。コンピユータは測定値をデイジタル化し、
それを丸め、測定値に対応するメモリアドレスを
さがすだけでよい。メモリアドレスの内容は誤差
補償された測定値またはそれに比例する値を表わ
す。
測定範囲は上記方法において比較的大ざつぱに
分割するだけでよい。それによつて補償値は実際
の測定値の位置に従つて2つの記憶点の間で補間
(interpolate)される。このような補間法は計算
時間は少ないが、測定システムの解明度はそれ程
の記憶容量を要しないでかなり増大できる。
分割するだけでよい。それによつて補償値は実際
の測定値の位置に従つて2つの記憶点の間で補間
(interpolate)される。このような補間法は計算
時間は少ないが、測定システムの解明度はそれ程
の記憶容量を要しないでかなり増大できる。
測定値が上記うず電流変換器のような源によつ
て送られる場合、源出力は変動し、たとえば、長
時間ドリフトまたは温度ドリフトを示すという問
題が生じる。これらの誤差は測定システム全体を
通じて変換器を経由して続き、測定結果を付加的
に誤まらせることになる。この場合、方法は次の
態様で修正されるのが望ましい。すなわち、定数
AおよびBを記憶後または式(G)の点を記憶後、2
つの較正インピーダ(すなわちインピーダンス)
が変換器の代りに測定回路に逐次結合され、その
インピーダは測定インピーダを結合したとき測定
結果がほぼ測定範囲の端部領域にあるようなもの
であり、2つの較正インピーダ測定値は記憶さ
れ、2つの較正インピーダはサービス測定自身の
間に個々のサービス測定の間に結合され、生成さ
れた較正インピーダ測定値は記憶較正測定値と比
較され、測定アツセンブリの記憶値A,B,Wの
いずれかが、各測定値に対して新たに式(G)を解く
ことによつて比較に関して訂正されるか、または
望ましくは、値A,BおよびWが保持できるよう
に、測定値を計算することによつて記憶測定点す
なわち平衡ゼロ点および比例変化は較正プロセス
の問に最初に決定された曲線に戻るように訂正さ
れる。
て送られる場合、源出力は変動し、たとえば、長
時間ドリフトまたは温度ドリフトを示すという問
題が生じる。これらの誤差は測定システム全体を
通じて変換器を経由して続き、測定結果を付加的
に誤まらせることになる。この場合、方法は次の
態様で修正されるのが望ましい。すなわち、定数
AおよびBを記憶後または式(G)の点を記憶後、2
つの較正インピーダ(すなわちインピーダンス)
が変換器の代りに測定回路に逐次結合され、その
インピーダは測定インピーダを結合したとき測定
結果がほぼ測定範囲の端部領域にあるようなもの
であり、2つの較正インピーダ測定値は記憶さ
れ、2つの較正インピーダはサービス測定自身の
間に個々のサービス測定の間に結合され、生成さ
れた較正インピーダ測定値は記憶較正測定値と比
較され、測定アツセンブリの記憶値A,B,Wの
いずれかが、各測定値に対して新たに式(G)を解く
ことによつて比較に関して訂正されるか、または
望ましくは、値A,BおよびWが保持できるよう
に、測定値を計算することによつて記憶測定点す
なわち平衡ゼロ点および比例変化は較正プロセス
の問に最初に決定された曲線に戻るように訂正さ
れる。
こうして、温度に関して非常に安定していて持
続性があり、それでも安価に得ることができる較
正インピーダを利用することによつて、源を含む
システム全体のゼロ点および利得率に関する整合
が得られる。
続性があり、それでも安価に得ることができる較
正インピーダを利用することによつて、源を含む
システム全体のゼロ点および利得率に関する整合
が得られる。
変換器の特性が多くの場合温度依存性があると
いう事実は、出力特性の温度変化が製作現場で決
定され、少なくとも各点別に記憶されるという点
において本発明の方法の別の好適実施例において
考慮される。サービス測定の間に変換器の実際の
温度が検出され、その際、出力測定結果はその結
果および記憶された温度特性点に関して訂正され
る。前述したように、温度変化は変換器の形式に
特有であるから、温度変化も製作現場で一度決定
するだけでよく、使用される変換器に応じて使用
の場所にあるコンピユータに送ることができる。
特性が温度によつてどのように変るかによつて、
比例率を記憶するだけでよい。すなわち、測定結
果は因子によつて増倍されるだけであり、そうで
なければ、温度が測定値に対して非線形関係を有
している場合、対応した数の点が記憶される。こ
れらの記憶点に関して、測定結果は測定値に依存
して、対応してはいるがお互いに異なつている因
子によつて増倍される。再び種々の点の間で補間
をなすのがよい。
いう事実は、出力特性の温度変化が製作現場で決
定され、少なくとも各点別に記憶されるという点
において本発明の方法の別の好適実施例において
考慮される。サービス測定の間に変換器の実際の
温度が検出され、その際、出力測定結果はその結
果および記憶された温度特性点に関して訂正され
る。前述したように、温度変化は変換器の形式に
特有であるから、温度変化も製作現場で一度決定
するだけでよく、使用される変換器に応じて使用
の場所にあるコンピユータに送ることができる。
特性が温度によつてどのように変るかによつて、
比例率を記憶するだけでよい。すなわち、測定結
果は因子によつて増倍されるだけであり、そうで
なければ、温度が測定値に対して非線形関係を有
している場合、対応した数の点が記憶される。こ
れらの記憶点に関して、測定結果は測定値に依存
して、対応してはいるがお互いに異なつている因
子によつて増倍される。再び種々の点の間で補間
をなすのがよい。
温度は通常は比較的ゆつくり変化するから、本
発明のさらに他の好適実施例では、実際の温度は
比較的まれにしか検知されず、瞬間の温度が最後
の測定で検出された温度に対してかなり大幅に変
化した場合にそれに伴なつて式(G)の一組の解答点
が訂正される。
発明のさらに他の好適実施例では、実際の温度は
比較的まれにしか検知されず、瞬間の温度が最後
の測定で検出された温度に対してかなり大幅に変
化した場合にそれに伴なつて式(G)の一組の解答点
が訂正される。
変換器の温度変化が補正されるかまたは、生成
された測定誤差が補正されるこの方法を用いて、
測定システムの長時間安定性をかなり増大させる
ことができる。この場合、日/夜サイクルだけで
通常起る温度変化およびその測定結果への影響は
除去される。
された測定誤差が補正されるこの方法を用いて、
測定システムの長時間安定性をかなり増大させる
ことができる。この場合、日/夜サイクルだけで
通常起る温度変化およびその測定結果への影響は
除去される。
温度測定または補正の場合のように、ゼロ点お
よび利得が比較的ゆつくり変化するから補償抵抗
も比較的まれに用いることも可能であることはも
ちろんである。補正計算(コンピユータにおけ
る)はサービス測定の間バツクグランドでなすの
がよい。
よび利得が比較的ゆつくり変化するから補償抵抗
も比較的まれに用いることも可能であることはも
ちろんである。補正計算(コンピユータにおけ
る)はサービス測定の間バツクグランドでなすの
がよい。
特許請求の範囲の最初の2つの項に記載された
方法を実施するのに適したコンピユータまたはマ
イクロコンピユータはデイジタイザを経由して測
定値を得ることができる通常の態様で設置された
ものである。しかし、いずれにしても、コンピユ
ータの速度は、測定値に獲得されてからそれが再
生されるまでの間に十分に短い時間しか経過しな
い程高速でなければならない。そうでなければ、
通常の条件に合致する測定頻度は本発明の方法を
用いて得ることができない。
方法を実施するのに適したコンピユータまたはマ
イクロコンピユータはデイジタイザを経由して測
定値を得ることができる通常の態様で設置された
ものである。しかし、いずれにしても、コンピユ
ータの速度は、測定値に獲得されてからそれが再
生されるまでの間に十分に短い時間しか経過しな
い程高速でなければならない。そうでなければ、
通常の条件に合致する測定頻度は本発明の方法を
用いて得ることができない。
較正インピーダが測定回路に結合されている上
記方法は実施する装置は、第1ポール(極)を、
変換器または較正インピーダが接続される第2乃
至第4のポール(極)に選択的に接続する電気的
に制御可能な切換スイツチ、発振器と切換スイツ
チの第1の極の間に配置されたインピーダ、入力
が切換スイツチの第1のポール(極)に接続さ
れ、出力がデイジタイザに少なくとも間欠的に接
続された復調器、およびそのデータ入力インタフ
エースがデイジタイザに接続され、切換スイツチ
の制御入力に少なくとも1つの制御信号出力線を
有するマイクロプロセツサを有する。「復調器」
という用語はまたここでは、変換器の信号が処理
可能な信号、たとえば直流信号である場合の増幅
器も指す。
記方法は実施する装置は、第1ポール(極)を、
変換器または較正インピーダが接続される第2乃
至第4のポール(極)に選択的に接続する電気的
に制御可能な切換スイツチ、発振器と切換スイツ
チの第1の極の間に配置されたインピーダ、入力
が切換スイツチの第1のポール(極)に接続さ
れ、出力がデイジタイザに少なくとも間欠的に接
続された復調器、およびそのデータ入力インタフ
エースがデイジタイザに接続され、切換スイツチ
の制御入力に少なくとも1つの制御信号出力線を
有するマイクロプロセツサを有する。「復調器」
という用語はまたここでは、変換器の信号が処理
可能な信号、たとえば直流信号である場合の増幅
器も指す。
この装置によつて特に簡単な態様で源の供給振
幅を検出しまたはその変化を補正し、同時に、電
子システム全体のゼロドリフトおよび利得ドリフ
トを補正することが可能になる。このようにし
て、これらの誤差が同様に自動的に補正されるの
で、温度ドリフトまたは長時間ドリフト補正なし
に復調器やデイジタイザを比較的簡単に設計する
ことができる。源と切換スイツチの間に較正イン
ピーダとインピーダを安定した設計で備えること
が必要なだけである。
幅を検出しまたはその変化を補正し、同時に、電
子システム全体のゼロドリフトおよび利得ドリフ
トを補正することが可能になる。このようにし
て、これらの誤差が同様に自動的に補正されるの
で、温度ドリフトまたは長時間ドリフト補正なし
に復調器やデイジタイザを比較的簡単に設計する
ことができる。源と切換スイツチの間に較正イン
ピーダとインピーダを安定した設計で備えること
が必要なだけである。
上記装置の他の利点は、変換器に給電するため
の電源の負荷の変化もまた補正されるということ
である。このような変化はたとえば、数個の変換
器が単一の電源によつて給電されるときに生じ
る。今日まで知られた線形化網では、電源は線形
化特性に対応する所定の値に再調整しなければな
らなかつた。これは本発明では必要ない。代り
に、本発明では、線形化された電圧が電源信号す
なわち発振器信号の変化にもかかわらず一定のま
まであるから非常に単純な電源(うず電流変換器
の場合はCMOS論理の単純な水晶発振器でそれ
には低域フイルタとトランジスタバツフアステー
ジが続く)を用いる。
の電源の負荷の変化もまた補正されるということ
である。このような変化はたとえば、数個の変換
器が単一の電源によつて給電されるときに生じ
る。今日まで知られた線形化網では、電源は線形
化特性に対応する所定の値に再調整しなければな
らなかつた。これは本発明では必要ない。代り
に、本発明では、線形化された電圧が電源信号す
なわち発振器信号の変化にもかかわらず一定のま
まであるから非常に単純な電源(うず電流変換器
の場合はCMOS論理の単純な水晶発振器でそれ
には低域フイルタとトランジスタバツフアステー
ジが続く)を用いる。
また、給電線(これは従来の高精度変換器の場
合は非常に入念に設計しなければならない)の影
響も考慮する必要がないという利点もある。
合は非常に入念に設計しなければならない)の影
響も考慮する必要がないという利点もある。
以下、本発明の装置の好適実施例を図面を参照
してより詳細に説明する。
してより詳細に説明する。
(実施例)
第1図はうず電流変換器2の非線形入力/出力
特性を補正するための回路図を示す。
特性を補正するための回路図を示す。
第1図に見られるように、発振器たる電源1は
インピーダZvを介して電気的に制御可能な切換
スイツチ3の1つの極に接続される。
インピーダZvを介して電気的に制御可能な切換
スイツチ3の1つの極に接続される。
切換スイツチ3はインピーダZvの一方の極を
3つの出力極の1つに任意に接続することができ
る。出力極の1つのうず電流変換器2に接続され
る。変換器2の等価回路図はインピーダZpとイ
ンダクタンスコイルMSの並列回路によつて表わ
すことができる。切換スイツチ3の他の2つの出
力極は抵抗R1およびR2に接続され、その抵抗は
他の極が変換器2と同様に接地される。Zv、MS
およびZpは測定信号が測定範囲にわたつて大き
くかつ一様に連続して変わるように選ばれるのが
便利である。
3つの出力極の1つに任意に接続することができ
る。出力極の1つのうず電流変換器2に接続され
る。変換器2の等価回路図はインピーダZpとイ
ンダクタンスコイルMSの並列回路によつて表わ
すことができる。切換スイツチ3の他の2つの出
力極は抵抗R1およびR2に接続され、その抵抗は
他の極が変換器2と同様に接地される。Zv、MS
およびZpは測定信号が測定範囲にわたつて大き
くかつ一様に連続して変わるように選ばれるのが
便利である。
測定信号USはインピーダZvと切換スイツチ3
の間で採り出され、復調器4の入力に向けられ
る。復調器4の出力は別の切換スイツチ5を介し
て少なくも間欠的にデイジタイザ(A/D変換
器)6に接続され、そのデイジタイザは復調され
た値をデイジタル化し、それをマイクロプロセツ
サ7に転送する。
の間で採り出され、復調器4の入力に向けられ
る。復調器4の出力は別の切換スイツチ5を介し
て少なくも間欠的にデイジタイザ(A/D変換
器)6に接続され、そのデイジタイザは復調され
た値をデイジタル化し、それをマイクロプロセツ
サ7に転送する。
デイジタイザ6の入力にある切換スイツチ5は
復調器4の出力と、変換器2で温度を検知する温
度検知器10の出力の間で入力の切換を行なう。
マイクロプロセツサ7と切換スイツチ5の間の接
続線は切換を制御するように働く。
復調器4の出力と、変換器2で温度を検知する温
度検知器10の出力の間で入力の切換を行なう。
マイクロプロセツサ7と切換スイツチ5の間の接
続線は切換を制御するように働く。
マイクロプロセツサ7が電源(インピーダZv
を介しての)と変換器2、抵抗R1または抵抗R2
の接続を制御できるように、マイクロプロセツサ
7から切換スイツチ3へ別の制御線8が通じてい
る。
を介しての)と変換器2、抵抗R1または抵抗R2
の接続を制御できるように、マイクロプロセツサ
7から切換スイツチ3へ別の制御線8が通じてい
る。
変換器2(これはここではうず電流変換器の形
式になつている)は電源によつて給電されなけれ
ばならない他の任意の変換器によつて置き換える
ことができる。このような変換器は第2図に示さ
れるような非線形特性すなわち、それが一様に連
続しているかぎり任意の曲率をもつた特性を有す
ることができる。
式になつている)は電源によつて給電されなけれ
ばならない他の任意の変換器によつて置き換える
ことができる。このような変換器は第2図に示さ
れるような非線形特性すなわち、それが一様に連
続しているかぎり任意の曲率をもつた特性を有す
ることができる。
装置は次のように動作する。
第1に、変換器の出力特性は、別々の測定点を
もつた特性を取ることによつて第1の製作現場調
整においてコンピユータで決定される。そこで、
基本式のパワー関数、すなわち、 Y=A+2(1/X+W)D 式(G) がコンピユータ7(または別のコンピユータ)に
よつて所定の特性に合わせられる(ここでXは変
換器の出力信号に対応し、Yは測定値に対応す
る。A,B,DおよびWは定数である)。
もつた特性を取ることによつて第1の製作現場調
整においてコンピユータで決定される。そこで、
基本式のパワー関数、すなわち、 Y=A+2(1/X+W)D 式(G) がコンピユータ7(または別のコンピユータ)に
よつて所定の特性に合わせられる(ここでXは変
換器の出力信号に対応し、Yは測定値に対応す
る。A,B,DおよびWは定数である)。
定数Dはそれがこの型式の全ての変換器でたと
えば数値として得られるように記憶または印字さ
れる。
えば数値として得られるように記憶または印字さ
れる。
使用の場で、画定された較正測定値(たとえば
距離)、すなわち、測定範囲の下限、上限、中間
のそれぞれにある値を用いて設置変換器2に関し
て少なくとも3つの較正測定が行なわれる。
距離)、すなわち、測定範囲の下限、上限、中間
のそれぞれにある値を用いて設置変換器2に関し
て少なくとも3つの較正測定が行なわれる。
式(G)をコンピユータ7によつて解き、較正測定
結果および定数Dを設定して、定数A,Bおよび
Wを決定する。定数A,BおよびWはコンピユー
タ7に記憶される。これらの準備の後で、測定シ
ステムはサービス測定の準備ができている。実際
の測定結果は(コンピユータにおいて)式にX値
として代入でき、対応するY値は誤差補正測定結
果として出力することができる。無論、増倍率
は、1(1または1V)の出力値(D−A変換器を
任意の出力電圧)がたとえば、1mmの測定距離に
対応するように与えられる。
結果および定数Dを設定して、定数A,Bおよび
Wを決定する。定数A,BおよびWはコンピユー
タ7に記憶される。これらの準備の後で、測定シ
ステムはサービス測定の準備ができている。実際
の測定結果は(コンピユータにおいて)式にX値
として代入でき、対応するY値は誤差補正測定結
果として出力することができる。無論、増倍率
は、1(1または1V)の出力値(D−A変換器を
任意の出力電圧)がたとえば、1mmの測定距離に
対応するように与えられる。
しかし、式(G)の複数個の解答点を定数A,Bの
決定後コンピユータに記憶し、測定値に対応する
訂正された測定値だけをサービス測定の間にメモ
リ内で探索し、これらの値を出力する(必要なら
補間の後)のが望ましい。
決定後コンピユータに記憶し、測定値に対応する
訂正された測定値だけをサービス測定の間にメモ
リ内で探索し、これらの値を出力する(必要なら
補間の後)のが望ましい。
第1図に示された装置によつてまた、変換器2
の代りに2つの別々の較正インピーダR1および
R2を(必らずしも直接である必要はないが)
個々の測定の間に測定回路へ連続して接続するこ
とが可能になる。この場合、較正インピーダR1
およびR2は、それらがその測定範囲の限界での
変換器2の1インピーダンスに対応する値であ
る。較正測定値が次にマイクロプロセツサ7に記
憶される。サービス測定の間に較正インピーダは
変換器2の代りに、復調器4に、マイクロプロセ
ツサ7の線8を介して制御されるスイツチによつ
て繰返して結合され、測定結果は記憶された較正
インピーダ測定値と比較される。次に訂正値を比
較結果から計算して、その間に起つたかもしれな
いゼロシフトまたは比例率の変化を補償すること
ができる。これらの訂正値のいずれかが各個別の
測定結果に加えられるか、または式(G)の記憶解答
点がコンピユータ7において訂正される。
の代りに2つの別々の較正インピーダR1および
R2を(必らずしも直接である必要はないが)
個々の測定の間に測定回路へ連続して接続するこ
とが可能になる。この場合、較正インピーダR1
およびR2は、それらがその測定範囲の限界での
変換器2の1インピーダンスに対応する値であ
る。較正測定値が次にマイクロプロセツサ7に記
憶される。サービス測定の間に較正インピーダは
変換器2の代りに、復調器4に、マイクロプロセ
ツサ7の線8を介して制御されるスイツチによつ
て繰返して結合され、測定結果は記憶された較正
インピーダ測定値と比較される。次に訂正値を比
較結果から計算して、その間に起つたかもしれな
いゼロシフトまたは比例率の変化を補償すること
ができる。これらの訂正値のいずれかが各個別の
測定結果に加えられるか、または式(G)の記憶解答
点がコンピユータ7において訂正される。
変換器2の温度変化が既に製作現場でわかつて
いるとすれば、温度補正は第1図に示された装置
で実行することができる。この目的で、マイクロ
プロセツサ7は切換スイツチ5を温度検知器10
に繰返しスイツチするので、変換器2の温度に比
例する信号がデイジタイザ6およびマイクロプロ
セツサ7に達する。次に出力される測定結果はマ
イクロプロセツサ7に記憶された出力特性の温度
変化の点に関して訂正される。マイクロプロセツ
サ7はスイツチ5を制御線9を介して制御するの
が比較的少ないのがよく、また、温度検知器によ
つて瞬時に測定された値が前の温度測定において
検出された値から大きくはずれるときには式(G)の
記憶解答点の訂正を常になすのがよい。
いるとすれば、温度補正は第1図に示された装置
で実行することができる。この目的で、マイクロ
プロセツサ7は切換スイツチ5を温度検知器10
に繰返しスイツチするので、変換器2の温度に比
例する信号がデイジタイザ6およびマイクロプロ
セツサ7に達する。次に出力される測定結果はマ
イクロプロセツサ7に記憶された出力特性の温度
変化の点に関して訂正される。マイクロプロセツ
サ7はスイツチ5を制御線9を介して制御するの
が比較的少ないのがよく、また、温度検知器によ
つて瞬時に測定された値が前の温度測定において
検出された値から大きくはずれるときには式(G)の
記憶解答点の訂正を常になすのがよい。
第1図は本発明の好適実施例のブロツク図であ
り、第2図は典型的な非線形特性を示すグラフで
ある。 1……発振器、2……変換器、3……切換スイ
ツチ、4……復調器、5……切換スイツチ、6…
…デイジタイザ、7……マイクロプロセツサ、8
……制御信号線、10……温度検知器。
り、第2図は典型的な非線形特性を示すグラフで
ある。 1……発振器、2……変換器、3……切換スイ
ツチ、4……復調器、5……切換スイツチ、6…
…デイジタイザ、7……マイクロプロセツサ、8
……制御信号線、10……温度検知器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 非線形特性を有し、コンピユータ支援測定回
路を備えた変換器用の誤差補正方法であつて、 a) 基本式のパワー関数、 Y=A+B(1/X+W)D 式(G) ここで、Xは変換器の出力信号に対応し、Y
は測定値に対応し、A,B,W及びDは定数で
ある、によつてコンピユータにより変換器の出
力特性を最初の製作現場調整において再生し、
定数Dを記憶させる段階、 b) 使用の場で、測定範囲をほぼ等間隔で分離
する明確な較正測定値を用いて設置変換器に関
して少なくとも3つの較正測定を行う段階、 c) 較正測定結果および記憶させた定数Dを用
いて式(G)を解き、定数A,BおよびWを決定
し、これら定数を記憶させる段階、および d) 全ての後続のサービス測定の間に、X値と
して実際の測定結果を入力し、対応のY値を誤
差補正測定結果として出力する段階、を含むこ
とを特徴とする前記誤差補正方法。 2 測定範囲を等間隔に分離する式(G)の複数の解
答点を連続したメモリアドレスに記憶させる段階
cに続く段階c′、および実際の測定結果を最も近
い記憶値に割り当て、メモリアドレスを値Xに比
例する値として出力し、望ましくは、実際の測定
結果を2つの最も近い記憶値の補間値に割り当
て、この補間値を値Xに比例する値として出力す
る前記段階dを含むことを特徴とする、特許請求
の範囲第1項に記載の方法。 3 変換器は電源によつて給電され、段階cまた
はc′に続いて、測定インピーダが結合されるとき
には測定結果が測定範囲のほぼ端部領域にあるよ
うな2つの異なつた較正インピーダを変換器の代
りに逐次測定回路に結合し、この2つの較正イン
ピーダ測定値を記憶させる段階、およびサービス
測定の間に、2つの較正インピーダを結合し、得
られた較正インピーダ測定値を記憶較正インピー
ダ測定値と比較し、記憶させた定数AおよびBま
たは、比較に関して測定装置のゼロポイントおよ
び比例率を補正する前記段階dを含むことを特徴
とする、特許請求の範囲第1項又は第2項に記載
の方法。 4 記憶値は較正インピーダ測定値に関して訂正
されることを特徴とする、特許請求の範囲第2項
又は第3項に記載の方法。 5 段階aにおいて出力特性の温度変化が決定さ
れ、少なくとも点列に記憶され、段階dにおいて
変換器の実際の温度が測定され、出力された測定
結果がその結果および記憶された温度/特性点に
関して訂正されることを特徴とする、特許請求の
範囲第1項に記載の方法。 6 記憶値は一定の温度/特性点に関して訂正さ
れることを特徴とする、特許請求の範囲第2項又
は第3項に記載の方法。 7 非線形特性を有し、コンピユータ支援測定回
路を備えた変換器用の誤差補正装置であつて、 発振器1につながる第1極と、変換器2及びイ
ンピーダR1,R2にそれぞれ接続されている第2
乃至第4極とを選択的に接続するための電気的に
制御可能な切換スイツチ3、発振器1と切換スイ
ツチ3の第1極の間に配置されたインピーダZv、 入力が切換スイツチ3の第1極に接続され、出
力がデイジタイザ6に少なくとも間欠的に接続さ
れた復調器4、及び そのデータ入力インタフエースがデイジタイザ
6に接続され、切換スイツチ3の制御入力に接続
された少なくとも1本の制御信号線8を有するマ
イクロプロセツサ7を有することを特徴とする装
置。 8 マイクロプロセツサ7の制御信号に応答して
デイジタイザ6の入力を復調器4の出力または温
度検知器10の出力に任意に接続する別の電気的
に制御可能な切換スイツチ5がさらに備えられて
いることを特徴とする、特許請求の範囲第7項に
記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853531118 DE3531118A1 (de) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | Verfahren zur fehlerkompensation fuer messwertaufnehmer mit nicht linearen kennlinien, sowie anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| DE3531118.5 | 1985-08-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6287812A JPS6287812A (ja) | 1987-04-22 |
| JPH0515212B2 true JPH0515212B2 (ja) | 1993-03-01 |
Family
ID=6279815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61201869A Granted JPS6287812A (ja) | 1985-08-30 | 1986-08-29 | 非線形特性を有する変換器の誤差補正方法およびその方法を実施する装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4847794A (ja) |
| EP (1) | EP0221251B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6287812A (ja) |
| DE (2) | DE3531118A1 (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DK334787A (da) * | 1986-07-01 | 1988-01-02 | Terumo Corp | Apparat til maaling af biologisk information |
| GB8723339D0 (en) * | 1987-10-05 | 1987-11-11 | Kellett M A | Transducer control circuits |
| US5012667A (en) * | 1988-03-18 | 1991-05-07 | Great Plains Industries, Inc. | Apparatus and method for calibrating a measuring device |
| GB2234069B (en) * | 1988-10-28 | 1992-08-12 | Motorola Inc | Sensor arrangement |
| JP2582160B2 (ja) * | 1989-07-20 | 1997-02-19 | 株式会社日立製作所 | センサ装置 |
| GB2246199B (en) * | 1990-07-16 | 1994-02-09 | Hugh Michael Oppen Pratt | Load measuring device |
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| US5226733A (en) * | 1992-07-23 | 1993-07-13 | United Technologies Corporation | Non-linear signal gain compression and sampling |
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| DE4440305C2 (de) * | 1994-11-11 | 1997-04-17 | Siemens Ag | Verfahren zur schnellen digitalen Erfassung und Aufbereitung von analogen Meßwerten in einem Prozessor mit eingeschränkter binärer Wortbreite |
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| CN111366218B (zh) * | 2020-04-22 | 2022-04-05 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种用于水冷系统故障检测的方法 |
| CN114636846B (zh) * | 2022-03-16 | 2024-07-02 | 福州昆硕宸信息科技有限公司 | 一种基于神经网络改进的电阻冷端温度补偿算法及其电缆电阻在线检测设备 |
| CN117346610A (zh) * | 2023-08-11 | 2024-01-05 | 西安航天精密机电研究所 | 一种综合电子设备火工品阻抗检测补偿方法 |
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| US4072051A (en) * | 1976-04-28 | 1978-02-07 | Geosource, Inc. | Parameter compensating system for a flowmeter |
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1985
- 1985-08-30 DE DE19853531118 patent/DE3531118A1/de not_active Withdrawn
-
1986
- 1986-07-30 DE DE8686110536T patent/DE3676631D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-07-30 EP EP86110536A patent/EP0221251B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-08-27 US US06/900,691 patent/US4847794A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-08-29 JP JP61201869A patent/JPS6287812A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0221251A1 (de) | 1987-05-13 |
| DE3676631D1 (de) | 1991-02-07 |
| US4847794A (en) | 1989-07-11 |
| EP0221251B1 (de) | 1990-12-27 |
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| DE3531118A1 (de) | 1987-03-12 |
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