JPH05151301A - 遅延時間検証装置および方法 - Google Patents

遅延時間検証装置および方法

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Publication number
JPH05151301A
JPH05151301A JP3312859A JP31285991A JPH05151301A JP H05151301 A JPH05151301 A JP H05151301A JP 3312859 A JP3312859 A JP 3312859A JP 31285991 A JP31285991 A JP 31285991A JP H05151301 A JPH05151301 A JP H05151301A
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JP
Japan
Prior art keywords
delay time
circuit information
wiring delay
net
wiring
Prior art date
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Pending
Application number
JP3312859A
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English (en)
Inventor
Shinichi Tsuji
慎一 辻
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NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Software Hokuriku Ltd
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Publication date
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Publication of JPH05151301A publication Critical patent/JPH05151301A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 大規模回路において、全展開した回路の配線
遅延時間情報より、処理対象階層の配線遅延時間のみを
抽出して、パストレースすることにより、高精度かつ高
速な遅延時間検証を行うことを目的とする。 【構成】 階層回路情報格納手段1により、階層化され
た回路情報30を格納する。階層回路情報展開手段2に
より、階層化された回路情報30を展開する。配線遅延
時間算出手段4により、展開された回路の各ネットの配
線遅延時間32を算出する。配線遅延時間抽出手段6に
より、展開された回路の各ネットの配線遅延時間32よ
り処理対象階層のネットの配線遅延時間33を抽出す
る。この配線遅延時間33を用いて遅延時間検証手段8
により、処理対象階層の遅延時間検証を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は電子回路の配線経路毎
の遅延時間を検証する装置と方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の遅延時間検証方法を用い
て、全展開した回路の遅延検証を行う場合は、非常に多
くの時間を必要としていた。また、階層単位による遅延
検証を行う場合は、階層をまたがるネットの遅延時間を
正確に算出することは不可能であった。従来の技術とし
ては、(大規模回路向けタイミング解析HEART
(1)高速化の手法、情報処理学会第35回全国大会、
7F−6、昭和62年後期)がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の遅延時間検証方法の場合、全展開した大規模回
路の情報は、非常に大規模となり、遅延時間の検証処理
に長時間を必要とするという欠点があり、階層単位の回
路情報は、階層外の情報を持たないので、階層をまたが
るネットの配線遅延時間の算出が正確にできないという
欠点もあった。
【0004】本発明の目的は、このような従来の問題点
を除去して、大規模回路において、処理対象階層の配線
遅延時間のみを抽出してパストレースすることにより、
高精度かつ高速な遅延時間検証を行える遅延時間検証装
置とその方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の第一の解決手段の遅延時間検証装置は、階層
化された回路情報を格納する階層回路情報格納手段と、
前記階層化された回路情報を展開する階層回路情報展開
手段と、前記階層回路情報展開手段により展開された回
路情報を格納する展開回路情報格納手段と、前記展開さ
れた回路情報よりネットの各配線遅延時間を算出する配
線遅延時間算出手段と、前記配線遅延時間算出手段によ
り求められたネットの各配線遅延時間を格納する配線遅
延時間格納手段と、前記階層化された回路情報と前記ネ
ットの各配線遅延時間より、処理対象階層の配線遅延時
間のみを抽出する配線遅延時間抽出手段と、前記配線遅
延時間抽出手段により求められた処理対象階層の配線遅
延時間を格納する抽出遅延時間格納手段と、前記処理対
象階層の配線遅延時間より、パスの遅延時間を検証する
遅延時間検証手段とを備えることを特徴とする。
【0006】上記課題を解決するための本発明の第二の
解決手段の遅延時間検証装置は、階層化された回路情報
を格納する階層回路情報格納手段と、前記階層化された
回路情報を展開し格納する階層回路情報展開手段と、前
記展開された回路情報よりネットの各配線遅延時間を算
出し格納する配線遅延時間算出手段と、前記階層化され
た回路情報と前記ネットの各配線遅延時間より、処理対
象階層の配線遅延時間のみを抽出し格納する配線遅延時
間抽出手段と、前記処理対象階層の配線遅延時間より、
パスの遅延時間を検証する遅延時間検証手段とを備える
ことを特徴とする。
【0007】上記課題を解決するための本発明の第三の
解決手段は、入力装置と、中央処理装置と、出力装置
と、表示装置と、外部記憶装置とからなる情報処理装置
の遅延時間検証方法において、階層化された回路情報を
格納し、前記階層化された回路情報を展開した後に格納
し、前記展開された回路情報よりネットの各配線遅延時
間を算出した後に格納し、前記階層化された回路情報と
前記ネットの各配線遅延時間より、処理対象階層の配線
遅延時間のみを抽出した後に格納し、前記処理対象階層
の配線遅延時間より、パスの遅延時間を検証することを
特徴とする。
【0008】
【作用】上記第一の解決手段において、階層回路情報格
納手段により、階層化された回路情報を格納する。階層
回路情報展開手段により、階層化された回路情報を展開
する。配線遅延時間算出手段により、展開された回路の
各ネットの配線遅延時間を算出する。配線遅延時間抽出
手段により、展開された回路の各ネットの配線遅延時間
より処理対象階層のネットの配線遅延時間のみを抽出す
る。この対象階層のみの配線遅延時間を用いて遅延時間
検証手段により、処理対象階層の遅延時間検証を行うこ
とで遅延時間検証の処理時間を短縮するように作用す
る。
【0009】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1の本発明の一実施例である。図2は、本発明を
用いて遅延検証される論理回路の一例である。図3は階
層回路情報格納手段1により格納される情報例である階
層化された回路情報30を示している。図4は展開回路
情報格納手段3により格納される展開された回路情報3
1の一例である。図5は配線遅延時間格納手段5により
格納されているネットの配線遅延時間の一例である。図
6は抽出遅延時間格納手段7により格納されるネットの
配線遅延時間の一例である。
【0010】図1において、階層化された回路情報30
を格納する階層回路情報格納手段1と、階層化された回
路情報30を展開する階層回路情報展開手段2と、この
階層回路情報展開手段2により展開された回路情報をさ
らに格納する展開回路情報格納手段3と、展開された回
路情報よりネットの配線遅延時間を算出する配線遅延時
間算出手段4と、配線遅延時間算出手段4により求めら
れたネットの配線遅延時間を格納する配線遅延時間格納
手段5と、階層化された回路情報と前記配線遅延時間よ
り、処理対象階層の配線遅延時間を抽出する配線遅延時
間抽出手段6と、この配線遅延時間抽出手段6により求
められた処理対象階層の配線遅延時間を格納する抽出遅
延時間格納手段7と、上記処理対象階層の配線遅延時間
より、パスの遅延時間を検証する遅延時間検証手段8と
から遅延時間検証方法は構成されている。
【0011】以上の構成において図1より図6を用い
て、本実施例の動作を説明する。
【0012】図2において、階層BLOCK1内の階層
BLOCK2内にある素子A1の端子PIN1は、素子
A2の端子PIN2と、この階層BLOCK2の端子P
IN3とそれぞれ接続されている。そして端子PIN3
は階層BLOCK3の端子PIN4と接続されてネット
NET1を構成し、さらに端子PIN4は素子A3の端
子PIN5と素子A4の端子PIN6とそれぞれ接続さ
れていることを示している。
【0013】さて階層回路情報格納手段1は図3で示さ
れる階層化された回路情報30を格納する。この回路情
報30は、階層名、ネット名、指名、終点、配線長の情
報で構成されている。ここで始点と終点は素子名または
階層名/端子名で直接示されている。例えば、図3の回
路情報(1)は、階層BLOCK1のネットNET1は
始点が階層BLOCK2の端子PIN3、終点が階層B
LOCK3の端子PIN4、配線長が100であること
を示している。同様に図3の回路情報(2)は、階層B
LOCK2のネットNET1は始点が素子A1の端子P
IN1で、終点が階層BLOCK1の端子PIN3、配
線長が60であることを示し、回路情報(3)は、階層
BLOCK2のネットNET1は始点が素子A1の端子
PIN1で、終点が素子A2の端子PIN2を、配線長
が50であることを示す。回路情報(4)は、階層BL
OCK3のネットNET1は、始点が階層BLOCK1
の端子PIN4で、終点が素子A3の端子PIN5で、
配線長が30であることを示す。回路情報(5)では、
階層BLOC3のネットNET1は、始点が階層BLO
CK1の端子PIN4で、終点が素子A4の端子PIN
6で、配線長が50であることを示す。
【0014】次に階層回路情報展開手段2はこの回路情
報30を図4で示される回路情報31に展開し、展開回
路情報格納手段3は展開された回路情報31を格納す
る。この回路情報31は、ネット名、始点、終点、配線
長の情報で構成されている。例えば、回路情報(A)で
は、ネットNET1は始点が素子A1の端子PIN1
を、終点が素子A3の端子PIN5、配線長が190で
あることを示している。そして、配線遅延時間算出手段
4は展開された回路情報31より、図5で示されるネッ
トの配線遅延時間32を算出し、配線遅延時間格納手段
5はこのネットの配線遅延時間32を格納する。このネ
ットの配線遅延時間32は、ネット名、始点、終点、遅
延時間の情報で構成されている。例えば(a)のネット
NET1は始点が素子A1の端子PIN1で、終点が素
子A3の端子PIN5を、遅延時間が2.2であること
を示している。このネットの配線遅延時間32は、展開
された回路情報31を用いて計算するので、階層をまた
がるネットの配線遅延時間が正確に求められている。
【0015】そして、配線遅延時間抽出手段6は前記階
層化された回路情報30より、図5のネットの始点、終
点両方が階層BLOCK2に存在するか否を調べ、存在
すればこのネットの配線遅延時間を用い、存在しなけれ
ばネットの配線遅延時間を0.3として、図6で示され
る階層BLOCK2のネットの配線遅延時間33を求め
る。抽出遅延時間格納手段7はこの配線遅延時間33を
格納する。このネットの配線遅延時間33は、ネット
名、始点、終点、遅延時間の情報で構成されている。例
えば、ネットNET1は始点が素子A1の端子PIN1
で、終点が素子A2の端子PIN2、遅延時間が0.8
であることを示している。最後に遅延時間検証手段8は
階層BLOCK2のネットの配線遅延時間33のみを用
いて遅延時間検証を行う。
【0016】以上のよう個々の処理対象階層の遅延時間
のみを抽出してパストレースしたことで、高精度かつ高
速な処理対象階層の遅延時間検証が実行できる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、大規模回
路の全体の遅延時間検証をしないので、個々の処理対象
階層の遅延時間のみを抽出してパストレースしたこと
で、配線遅延時間検証が高精度かつ高速にできるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成ブロック図であ
る。
【図2】本発明を用いて遅延検証される論理回路の一例
図である。
【図3】図1中の階層回路情報格納手段により格納され
る階層化された回路情報の一例図である。
【図4】図1中の展開回路情報格納手段により格納され
る展開された回路情報の一例図である。
【図5】図1中の配線遅延時間格納手段により格納され
るネットの配線遅延時間の一例図である。
【図6】図1中の抽出遅延時間格納手段により格納され
る処理対象階層のネットの配線遅延時間の一例図であ
る。
【符号の説明】
1 階層回路情報格納手段 2 階層回路情報展開手段 3 展開回路情報格納手段 4 配線遅延時間算出手段 5 配線遅延時間格納手段 6 配線遅延時間抽出手段 7 抽出遅延時間格納手段 8 遅延時間検証手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】階層化された回路情報を格納する階層回路
    情報格納手段と、 前記階層化された回路情報を展開する階層回路情報展開
    手段と、 前記階層回路情報展開手段により展開された回路情報を
    格納する展開回路情報格納手段と、 前記展開された回路情報よりネットの各配線遅延時間を
    算出する配線遅延時間算出手段と、 前記配線遅延時間算出手段により求められたネットの各
    配線遅延時間を格納する配線遅延時間格納手段と、 前記階層化された回路情報と前記ネットの各配線遅延時
    間より、処理対象階層の配線遅延時間のみを抽出する配
    線遅延時間抽出手段と、 前記配線遅延時間抽出手段により求められた処理対象階
    層の配線遅延時間を格納する抽出遅延時間格納手段と、 前記処理対象階層の配線遅延時間より、パスの遅延時間
    を検証する遅延時間検証手段とを備えることを特徴とす
    る遅延時間検証装置。
  2. 【請求項2】階層化された回路情報を格納する階層回路
    情報格納手段と、 前記階層化された回路情報を展開し格納する階層回路情
    報展開手段と、 前記展開された回路情報よりネットの各配線遅延時間を
    算出し格納する配線遅延時間算出手段と、 前記階層化された回路情報と前記ネットの各配線遅延時
    間より、処理対象階層の配線遅延時間のみを抽出し格納
    する配線遅延時間抽出手段と、 前記処理対象階層の配線遅延時間より、パスの遅延時間
    を検証する遅延時間検証手段とを備えることを特徴とす
    る遅延時間検証装置。
  3. 【請求項3】入力装置と、中央処理装置と、出力装置
    と、表示装置と、外部記憶装置とからなる情報処理装置
    の遅延時間検証方法において、 階層化された回路情報を格納し、 前記階層化された回路情報を展開した後に格納し、 前記展開された回路情報よりネットの各配線遅延時間を
    算出した後に格納し、 前記階層化された回路情報と前記ネットの各配線遅延時
    間より、処理対象階層の配線遅延時間のみを抽出した後
    に格納し、 前記処理対象階層の配線遅延時間より、パスの遅延時間
    を検証することを特徴とする遅延時間検証方法。
JP3312859A 1991-11-28 1991-11-28 遅延時間検証装置および方法 Pending JPH05151301A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6170072B1 (en) 1998-06-26 2001-01-02 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Logic circuit verification apparatus and method for semiconductor integrated circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6170072B1 (en) 1998-06-26 2001-01-02 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Logic circuit verification apparatus and method for semiconductor integrated circuit

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