JPH0515107Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、１本のワイヤガイド本体に多数本の
ワイヤビームを装着し、各ワイヤビームの先端を
IC，LSI等の回路基板の検査点に接触させて電気
的試験、検査等を行なう検査装置に関する。

〔従来の技術〕

従来から、１本のワイヤガイド本体に多数本の
ワイヤビームを装着し、各ワイヤビームの先端を
IC，LSI等の回路基板の検査点に接触させて電気
的試験、検査等を行なうとともに接触時の押圧力
による、各ワイヤビームの座屈により検査点との
接触圧を得るようにした検査装置が提案されてい
る。

〔考案が解決しようとする課題〕

ところで、この種のワイヤビームは、その基端
がワイヤガイド本体の基端に固定されるととも
に、先端がワイヤガイド本体の先端に設けたガイ
ド孔に遊動可能に貫通された状態でワイヤガイド
本体に装着されるのが通例であるが、従来のこの
種のワイヤビームには、積極的な座屈点は設けら
れておらず、軸方向に加わる力による自由な撓み
に任せていた。

このため、ワイヤビームの座屈方向が一定せ
ず、検査点との接触状態によつてワイヤビームが
ワイヤガイド本体の径方向外側、内側、その他の
方向に座屈し、安定した動作および接触圧が得ら
れないとともに、ワイヤビームが相互に干渉する
おそれがある。

本考案はかかる現況に鑑みなされたもので、ワ
イヤビームの座屈を一方向に規制することができ
るとともに、容易に座屈させて安定した動作およ
び接触圧を得ることができる回路基板等の検査装
置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段および作用〕

本考案は、ワイヤガイド本体を棒状体とし、そ
の長手方向途中の部位棒状体と同心的に円環上に
突出するに鍔の外周縁を設けるとともに、各ワイ
ヤビームの途中部分を、ワイヤガイド本体の径方
向外側に弓形に湾曲させ、この湾曲部を前記鍔の
外周縁に接触させ、もつて、前記湾曲部によりワ
イヤビームに強制的に径方向外方への座屈を助け
る座屈点を作つて容易かつ確実にワイヤビームを
一方向に屈曲させることができるようにしたこと
を特徴とする。

〔考案の実施例〕

以下、本考案の一実施例を図面を参照して説明
する。

第１図において１は検査すべき回路基板（図示
せず）に対向して相対的に移動自在に設けられた
取付ボードであり、この取付ボード１に穿設され
た孔２には、ワイヤビームユニツト３が貫通固定
されている。

このワイヤビームユニツト３は、例えば絶縁性
を有する合成樹脂の成型により形成された棒状の
ワイヤガイド本体４を備えており、このワイヤガ
イド本体４は、その周面に多数本のワイヤビーム
５を装着した状態で前記取付ボード１の孔２に挿
入固定されている。

前記ワイヤガイド本体４は、取付ボード１から
図において下方に突出する先端部が縮径加工され
た丸棒状に形成されており、その基端部（図にお
ける上端部）には基端フランジ４ａが、また先端
部には先端フランジ４ｂがそれぞれ設けられてい
る。またワイヤガイド本体４の外周面には、第１
図ないし第３図に示すように周方向に等間隔で４
条の溝６が、前記先端フランジ４ｂ直上位置から
基端フランジ４ａへ至る途中位置まで軸方向に延
設され、相隣る溝６間にはリブ７が形成されてい
る。そして、前記各ワイヤビーム５は、後に詳述
するように前記各溝６内にその底面にそつて所要
数ずつ分散配置されている。

前記リブ７は、第１図に示すように、取付ボー
ド１の孔２への挿入部分がやや縮径加工されその
上方部分との間に段部７ａが形成されており、ま
たリブ７の下端部は、ワイヤガイド本体４の軸心
に向かつて斜めにカツトされて斜面７ｂが形成さ
れている。そして、前記斜面７ｂによりワイヤガ
イド本体４の孔２内への挿入を容易にしていると
ともに、前記段部７ａによりワイヤガイド本体４
の孔２内への挿入位置を規制しており、ワイヤガ
イド本体４は、４本の各リブ７の外面と孔２の内
周面との面接触により取付ボード１に貫通固定さ
れるようになつている。また、前記溝６の基端位
置には、第１図および第２図に示すようにワイヤ
ガイド本体４の外周面から径方向外方に突出する
円環状の鍔８がワイヤガイド本体と同心的かつ一
体的に設けられている。

一方、前記ワイヤビーム５は、可撓性を有する
導電金属性の中実材あるいはパイプ材で形成され
ており、その基端寄りの部位には、第１図に示す
ように、ワイヤガイド本体４の径方向外側に弓形
に湾曲成形されて湾曲部５ａが形成され、この湾
曲部５ａは前記鍔８の外縁に接触しこの部分が強
制的に座屈を助ける座屈点として形成されてい
る。

このワイヤビーム５の湾曲部５ａより先端側の
部分は、第１図および第３図に示すように前記各
溝６内にその底面にそつて整列状態で分散配置さ
れており、その先端部分は、第４図に示すように
前記先端フランジ４ｂに穿設したガイド孔９に遊
動可能に貫通され、さらにワイヤガイド本体４の
先端側に配したワイヤプロテクタ１０により案内
支持されている。

ワイヤプロテクタ１０は、第４図ないし第６図
に示すように合成樹脂等の絶縁材料で前記先端フ
ランジ４ｂと同一の周面形状に形成されており、
このワイヤプロテクタ１０は、その軸心部を貫通
して先端フランジ４ｂの軸心部に螺入固定される
支持ボルト１１により、ワイヤガイド本体４と同
一軸心で上下に摺動可能でかつ先端側に抜け止め
された状態で先端フランジ４ｂの先端側に所要の
間隔を保持して配されている。

このワイヤプロテクタ１０と前記先端フランジ
４ｂとの間は、第４図ないし第６図に示すように
廻り止めピン１２および圧縮スプリング１３がそ
れぞれ介設されており、廻り止めピン１２により
ワイヤプロテクタ１０の支持ボルト１１まわりの
回転を阻止するとともに、スプリング１３により
ワイヤプロテクタ１０を先端フランジ４ｂから離
れる方向に常時押圧付勢している。

また、このワイヤプロテクタ１０の周辺位置に
は、各ワイヤビーム５の先端が遊動自在に貫通さ
れるガイド孔１０ａがそれぞれ穿設されており、
各ガイド孔１０ａから突出する各ワイヤビーム５
の先端部は、第４図に示す通常状態、すなわちワ
イヤビーム５の先端を図示しない回路基板の検査
点に接触させない状態では、ワイヤプロテクタ１
０の先端面と面一あるいはワイヤプロテクタ１０
の方がやや突出した状態となるように設定されて
いる。そしてこれにより、通常0.2mm程度の直径
しかなく極めて弱いワイヤビーム５の先端をワイ
ヤプロテクタ１０により充分保護できるようにな
つている。

一方、前記各ワイヤビーム５の湾曲部５ａより
基端側の部分は、第１図および第２図に示すよう
に溝６が設けられていないワイヤガイド本体４の
周面にそつて立上げられ、その基端部は、第１図
に示すように前記ワイヤガイド本体４の基端フラ
ンジ４ａに周方向に等間隔に設けた挿通孔１４に
貫通配置されている。そして、挿通孔１４から突
出するワイヤガイド本体４の基端には、第１図に
示すように抜け止めリング１５が例えばスポツト
溶接により固設されてワイヤビーム５の基端フラ
ンジ４ａからの抜け止めがなされている。

この抜け止めリング１５が固設されたワイヤビ
ーム５の基端部には、第１図および第７図に示す
ように後述する給電コネクタ１６を介して給電プ
ラグ１７が接続されるようになつており、またワ
イヤビーム５の基端フランジ４ａ直下位置から先
端フランジ４ｂ直下位置までの間の外周部には、
第４図に示すように絶縁チユーブ１８が着脱可能
に装着されている。

前記給電コネクタ１６は、第１図および第７図
に示すように合成樹脂等の絶縁材料で短円柱状に
形成された本体１９を備えており、この本体１９
は、その軸心部を貫通してワイヤガイド本体４の
軸心部に螺入される固定ねじ２０および２本のガ
イドピン２１を介し位置合わせされた状態でワイ
ヤガイド本体４の基端フランジ４ａ基端面に着脱
可能に取付けている。

この本体１９の周辺位置には、先端がフランジ
ヤ２２を介してワイヤビーム５の基端に弾圧接触
し基端が給電コネクタ１６から基端側に突出する
導電性チユーブ２３がワイヤビーム５に対応して
設けられている。この導電性チユーブ２３の突出
部分には、第１図に示すように給電コネクタ１６
の基端に着脱可能に取付けられる給電プラグ１７
の接続ジヤツク２４が接続されるようになつてお
り、この接続ジヤツク２４には、図示しない測定
検査器から引出された給電ケーブル２５が結線さ
れている。

次に作用について説明する。

図示しない回路基板の測定、検査に際しては、
まず所定本数のワイヤビーム５が装着されたワイ
ヤガイド本体４の基端部に、固定ねじ２０および
ガイドピン２１を介して給電コネクタ１６を取付
け、各ワイヤビーム５とこれに対応する導電性チ
ユーブ２３とを接続するとともに、各ワイヤビー
ム５の基端部を基端フランジ４ａに固定する。こ
の際、各ワイヤビーム５の基端側の部分は、第１
図に示すようにワイヤガイド本体４の径方向外側
に導かれているので、相互のワイヤビーム５の先
端側のピツチに比較して基端側のピツチの方が広
くなる。このため、先端側を検査側の要求により
細かいピツチにせざるを得ない場合でも基端側の
ピツチは充分広くとることができ、導電性チユー
ブ２３あるいは接続ジヤツク２４の組込みが容易
であるとともに、ワイヤビーム５の座屈点付近で
の相互干渉を有効に防止することができる。

ワイヤガイド本体４と給電コネクタ１６とを連
結したならば、このワイヤガイド本体４を、取付
ボード１の孔２に圧入固定する。この際、ワイヤ
ガイド本体４の固定力は、ワイヤガイド本体４の
４本のリブ７と取付ボード１の孔２との接触力に
より得られるが、単なる円柱体を孔２に圧入する
場合には、接触面が大きくなつて圧入力が大とな
るとともにこじりが生じ易くなるという欠点を有
しているのに対し、リブ７を用いることにより接
触面積を小さくして圧入を容易にすることができ
るとともに、リブ７の変形によりこじりの発生を
防止できる。

このようにしてワイヤガイド本体４を取付ボー
ド１に固定したならば、給電コネクタ１６に給電
プラグ１７を接続して装置を完成させる。そし
て、その後、取付ボード１を図示しない回路基板
に向かつて相対的に移動させ、各ワイヤビーム５
の先端を回路基板の検査点に接続させて測定、検
査を行なう。

ところで、取付ボード１を相対移動させて回路
基板に接近先端と、まずワイヤビーム５に先立つ
てワイヤプロテクタ１０が回路基板に接触し、ス
プリング１３の付勢力に抗してワイヤプロテクタ
１０がワイヤガイド本体４側に後退した後ワイヤ
ビーム５が回路基板の検査点に接触することにな
る。このため、ワイヤビーム５の先端が検査点に
接触した際にゆれが発生してもワイヤビーム５の
先端に曲がりが生じるおそれがない。また、不使
用時にはワイヤプロテクタ１０がカバーとして機
能し、不用意にワイヤビーム５に触れて先端が曲
がつてしまつたり手が傷付くおそれがない。

また、ワイヤビーム５に先立つて回路基板に接
触するワイヤプロテクター１０は回路基板を押さ
える役目を有しているので、パターンに反りがあ
つてもこれを矯正して極めて近接したピツチの検
査点に適確にワイヤビーム５を接触させることが
できる。

ワイヤビーム５の先端が回路基板の検査点に接
触すると、その反力によりワイヤビーム５は座屈
することになるが、各ワイヤビーム５は、ワイヤ
ガイド本体４の溝６内にその底面にそつて整列配
置されて座屈が規制され、しかもその上部に弓形
の湾曲部５ａが形成されているので、各ワイヤビ
ーム５に強制的に座屈点を形成することができ
る。そして、この座屈点は、前記溝６基端の円環
状の鍔８の外周縁に接触しているので、各ワイヤ
ビーム５の座屈が常にワイヤガイド本体４の径方
向外方に向かつて生じ、座屈動作を安定させるこ
とができる。

また、前述のように各ワイヤビーム５は、その
大部分が溝６内に配されているので、外力により
ワイヤビーム５が損傷するおそれが極めて少な
い。またたとえワイヤビーム５が損傷しても、給
電コネクタ１６をワイヤガイド本体４から取外せ
ば、ワイヤビーム５を１本ずつ各別に抜き出すこ
とができるので、交換が容易である。

〔考案の効果〕

以上説明したように本考案、ワイヤガイド本体
の長手方向の途中の部位に同心円的円環状の鍔を
設けるとともに、各ワイヤビームの途中部分をワ
イヤガイド本体の径方向外側に弓形に湾曲させ、
この湾曲部を前記鍔の外周縁に接触させるように
しているので、前記湾曲部によりワイヤビームに
強制的に座屈点を作つて容易にかつ確実にワイヤ
ビームを径方向外方にのみ均一に座屈させること
ができる。このため、各ワイヤビームの座屈点お
よび座屈の程度が一致し、撓みによる接触圧が均
一で安定するとともに、ワイヤビームの動作時に
無理がないので寿命を延ばすことができる。ま
た、ワイヤビームはその座屈点を円環状鍔の外周
縁に当てるだけであるから、ワイヤビームの組立
て、交換はきわめて簡単である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す断面図、第２
図は第１図の−線断面図、第３図は第１図の
−線断面図、第４図は第１図の要部拡大図、
第５図は第４図の底面図、第６図は第５図の−
線断面図、第７図は第１図の平面図である。 １……取付ボード、２……孔、３……ワイヤビ
ームユニツト、４……ワイヤガイド本体、４ａ…
…基端フランジ、４ｂ……先端フランジ、５……
ワイヤビーム、５ａ……湾曲部、６……溝、８…
…鍔、９……ガイド孔。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 検査すべき回路基板に対向して相対的に移動
   する取付ボードと、この取付ボードに着脱可能
   に貫通固定され絶縁性を有するワイヤガイド本
   体と、先端がワイヤガイド本体先端のガイド孔
   に遊動可能に貫通され基端がワイヤガイド本体
   基端に固定されるとともに、該基端が測定検査
   器に接続されている多数本の導電線ワイヤビー
   ムとを備え、各ワイヤビームの先端を回路基端
   の検査点に接触させて電気的な測定検査を行な
   うとともに、各ワイヤビームを検査点に接触さ
   せた時に起きるワイヤビームの座屈により検査
   点との接触圧を得るようにした回路基板等の検
   査装置であつて、前記ワイヤガイド本体を棒状
   体とし、その長手方向途中の部位に棒状体と同
   心的に外側へ突出する円環状の鍔を設けるとと
   もに、各ワイヤビームの途中部分を、ワイヤガ
   イド本体の径方向外側に弓形に湾曲させ、この
   湾曲部を前記鍔の外周縁に接触させ、この接触
   部を座屈を助ける座屈点としたことを特徴とす
   る回路基板等の検査装置。 ２ ワイヤガイド本体の鍔より先の部分において
   ワイヤガイド本体外周面に長手方向の溝を設
   け、溝内にワイヤビームを収めてなる実用新案
   登録請求の範囲第１項記載の回路基板等の検査
   装置。