JPH05150162A - レーザ走査型顕微鏡 - Google Patents

レーザ走査型顕微鏡

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JPH05150162A
JPH05150162A JP31655391A JP31655391A JPH05150162A JP H05150162 A JPH05150162 A JP H05150162A JP 31655391 A JP31655391 A JP 31655391A JP 31655391 A JP31655391 A JP 31655391A JP H05150162 A JPH05150162 A JP H05150162A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
wavelength
tunable etalon
sample surface
incident
Prior art date
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Pending
Application number
JP31655391A
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English (en)
Inventor
Tetsuo Nagaso
哲夫 長曽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP31655391A priority Critical patent/JPH05150162A/ja
Publication of JPH05150162A publication Critical patent/JPH05150162A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 試料面からの光を波長弁別して光検出器へと
導く機能を有し、しかもその波長弁別での波長分解能お
よび時間分解能がともに高くかつ光損失の少ない、レー
ザ走査型顕微鏡を提供する。 【構成】 試料面からの光を検出する光検出器の前段
に、相対する反射面の間隔を自在に変更できる構造のチ
ューナブルエタロンを配設して、光検出器に特定波長の
光のみを導いている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は、例えば生物あるいは
半導体回路などの観察や検査等に用いられるレーザ走査
型顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】 レーザ走査型顕微鏡としては、例えば
図3に示すように、レーザ光源1からのレーザビーム
を、ハーフミラー3およびレンズによって、細く絞って
テーブル2の試料Sの表面に照射し、かつ、その試料S
へのビームを、スキャナユニット4によりX−Y方向に
走査して、この試料面Saからの光を光検出器5で検出
する構造のものが一般的である。
【0003】このような構造の顕微鏡において、レーザ
ビームが照射された試料から出てくる光には、レーザビ
ームと同じ波長の反射光の他に、散乱光や蛍光などの様
々な波長をもった光が含まれる。これらの波長の光は、
各種試料の特有の性質を反映しておりその検出が重要と
なるが、それらの光を検出するには波長の弁別が必要と
なる。
【0004】その波長弁別方法としては、従来、図3
に示すように、光検出器5の前段に干渉フィルタ36等
を配置して、特定波長の光のみを光検出器5に導く方
法、あるいは図4に示すように、試料面からの光の光
路上にグレーティング分光器46を配置し、その回折光
をフォトダイオードアレイ等のリニア光検出器45で検
出する、等の方法が採用されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】 ところで、上述の波
長弁別には、各種の波長における波長分解能および時間
分解能がともに高く、しかも光損失が可能な限り少ない
ことが要求されるが、上記した従来の方法によると、い
ずれもそれらの条件を満足できない。
【0006】すなわち、の方法によると、干渉フィル
タで抽出した単一波長の光のみを検出できるだけで、任
意の波長の光を検出することは不可能である。一方、
の方法によれば、波長弁別の波長分解能は比較的高いも
のの、検出系にグレーティングが存在するため光の損失
が大きく、しかもリニア光検出器は一般に低感度である
ことから、検出に多くの時間を必要とし、時間分解能が
非常に悪い。
【0007】本発明は、上記した従来の問題点を一挙に
解決すべくなされたもので、目的とするところは、試料
面からの光を波長弁別して光検出器へと導く機能を有
し、しかも、その波長弁別での波長分解能および時間分
解能がともに高くかつ光損失の少ない、レーザ走査型顕
微鏡を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】 上記の目的を達成する
ための構成を、実施例に対応する図1を参照しつつ説明
すると、本発明は、試料面Saからの光を検出する光検
出器5の前段に、相対する反射面の間隔を自在に変更で
きる構造のチューナブルエタロン6を配設したことによ
って特徴づけられる。
【0009】
【作用】 エタロンとしては、相対する反射面の間隔を
自在に変更できる構造の、いわゆるチューナブルエタロ
ンが知られている。また、この種のエタロンにおいて
は、反射面の間隔を、例えばピエゾ素子を利用した機構
等によって変化させ、弁別する光の波長を所定の範囲内
で任意に設定でき、しかもその波長範囲での波長選択の
走査の1周期が数百Hzと非常に速い構造のものがある。
【0010】従って、このような構造のチューナブルエ
タロン6を、光検出器5の前段に配置することで、その
光検出器5へと導く光の波長弁別を、高波長分解能でか
つ高時間分解能で行うことが可能となる。しかも、チュ
ーナブルエタロン6には、試料面Saからの光のほぼ全
体が入射するので光損失も少ない。
【0011】
【実施例】 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて
説明する。図1は本発明実施例の構成を示す図である。
レーザ光源1の光軸上に、レンズ14,ピンホール1
5,レンズ13およびハーフミラー3が順次に配置され
ている。このハーフミラー3は、試料Sが置かれるステ
ージ2の真上に位置しており、そのステージ2への光軸
上にスキャナユニット4およびレンズ11が順次に配置
されている。
【0012】また、レンズ11の光軸上で、かつ、ハー
フミラー3の上方位置には、レンズ12,ピンホール1
6およびフォトマルチプライヤ5が順次に配置されてい
る。そして、ハーフミラー3とその上方のレンズ12と
の間に、チューナブルエタロン6が配置されている。
【0013】このチューナブルエタロン6は、相対する
反射面の間隔を自在に変更できる構造で、その反射面の
間隔を変化させる機構、例えばピエゾ素子を利用した伸
縮機構と、反射面の間隔の変位を検出するセンサ(とも
に図示せず)を備えており、そのセンサ出力に基づい
て、制御回路7が伸縮機構を制御することによって、弁
別する光の波長が、所定の範囲内において順次に変化し
てゆくよう構成されている。しかも、その範囲での波長
設定の走査は、例えば 100Hz程度の周期で順次繰り返し
て行われる。また、その繰り返し精度も高い。
【0014】次に、本発明実施例の作用を述べる。レー
ザ光源1から出射され、2枚のレンズ14,13を通過
したレーザビームは、レンズ11によって、ステージ2
上の試料Sの表面に集光される。また、試料面Saへの
レーザビームは、スキャナユニット4によってX−Y方
向に走査される。
【0015】このようなレーザビームを照射した試料面
Saからの光は、レンズ11,スキャナユニット4およ
びハーフミラー3を順次通過した後に、チューナブルエ
タロン6に入射し、この入射光のうち特定の波長の光の
みが弁別される。例えば、チューナブルエタロン6の入
射側の位置Aにおける光が、図2(a)に示すような強度
分布をもつ光であるとすると、その出射側の位置Bの光
つまりエタロン6を通過した光は、同図(b) に示す特定
波長λ1 の光のみとなる。そして、チューナブルエタロ
ン6を通過した光はレンズ12で集光された後、フォト
マルチプライヤ5に入射して、その強度が検出される。
【0016】以上の本発明実施例によると、チューナブ
ルエタロン6での波長設定の走査周期は 100Hz程度であ
ることから、その波長弁別の時間分解能は 0.01sオーダ
となる。また、試料面Saからの光の検出器として、フ
ォトマルチプライヤ(時間分解能:2〜5ns)を用いて
いるので、チューナブルエタロン6の波長弁別の時間分
解能に充分に対応でき、エタロンを通過した各波長の光
を高精度でかつ高感度で検出することができる。
【0017】なお、以上の実施例においては、共焦点光
学系を構築するために、フォトマルチプライヤ5の前段
に、ピンホール16,レンズ12を配置しているが、共
焦点光学系としない場合には、それらを省いてもよい。
【0018】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、試料面からの光を検出する光検出器の前段にチュー
ナブルエタロンを配置したので、その光検出器には特定
波長の光のみが入射する。しかも、その波長弁別におけ
る波長分解能および時間分解能がともに高くかつ光損失
も少ない。これにより、試料からの光のうち、その試料
の特有の性質を反映した散乱光や蛍光などを、高精度で
検出することができる。
【0019】また、チューナブルエタロンは、その口径
がレーザビーム径と同程度であればよいので、顕微鏡の
鏡筒内に納めることが可能で、これにより、全体の形状
寸法を、例えばグレーティング分光器を備えた顕微鏡等
に比して小型とすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明実施例の構成図
【図2】 本発明実施例のチューナブルエタロン6によ
る波長弁別の例を説明するための図
【図3】 従来のレーザ走査型顕微鏡の構造例を示す図
【図4】 従来のレーザ走査型顕微鏡の構造例を示す図
【符号の説明】
1・・・・レーザ光源 2・・・・ステージ 3・・・・ハーフミラー 4・・・・スキャナユニット 5・・・・フォトマルチプライヤ 6・・・・チューナブルエタロン 7・・・・制御回路 11・・14・・・・レンズ 15,16・・・・ピンホール S・・・・試料 Sa・・・・試料面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源と、試料が置かれるテーブル
    と、上記レーザ光源からのレーザビームを、上記テーブ
    ル上の試料面上に導き、かつ、この試料面上に集光させ
    る光学系と、その試料面へのレーザビームを走査するス
    キャナと、レーザビームを照射した試料面からの光を検
    出する光検出器を備えた顕微鏡において、上記光検出器
    の前段に、相対する反射面の間隔を自在に変更できる構
    造のチューナブルエタロンを配設したことを特徴とする
    レーザ走査型顕微鏡。
JP31655391A 1991-11-29 1991-11-29 レーザ走査型顕微鏡 Pending JPH05150162A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31655391A JPH05150162A (ja) 1991-11-29 1991-11-29 レーザ走査型顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31655391A JPH05150162A (ja) 1991-11-29 1991-11-29 レーザ走査型顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05150162A true JPH05150162A (ja) 1993-06-18

Family

ID=18078384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31655391A Pending JPH05150162A (ja) 1991-11-29 1991-11-29 レーザ走査型顕微鏡

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JP (1) JPH05150162A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010096913A (ja) * 2008-10-15 2010-04-30 Olympus Corp レーザ顕微鏡装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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