JPH0514952U - Ｉｃクリツプ - Google Patents

Ｉｃクリツプ

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Publication number
JPH0514952U
JPH0514952U JP3766691U JP3766691U JPH0514952U JP H0514952 U JPH0514952 U JP H0514952U JP 3766691 U JP3766691 U JP 3766691U JP 3766691 U JP3766691 U JP 3766691U JP H0514952 U JPH0514952 U JP H0514952U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pins
clip
contact portion
pin
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP3766691U
Other languages
English (en)
Inventor
俊昭 魚谷
Original Assignee
新潟日本電気株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 新潟日本電気株式会社 filed Critical 新潟日本電気株式会社
Priority to JP3766691U priority Critical patent/JPH0514952U/ja
Publication of JPH0514952U publication Critical patent/JPH0514952U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ＩＣから入力波形を取出すとき、入力信号のア
ンダーシュート，オーバーシュートを取り除くことがで
きるＩＣクリップを提供する。 【構成】ＩＣ接触部１の各ピン１１〜１ｎとプローブ接
触部２の各ピン２１〜２ｎとを接続する各接続線にそれ
ぞれ２個のクランプダイオード４からなる波形整形回路
を接続する。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本考案は、電子機器中の集積回路装置の評価等で使用するＩＣクリッップに関 する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のかかるＩＣクリップは、集積回路装置（以下ＩＣという）の入出力波形 の観測のしやすさだけを目的としており、図２のように、ＩＣ接触部１で入力し た信号をプローブ接触部２にそのまま伝えるだけであった。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】
この従来のＩＣクリップは、ＩＣの入出力波形をそのまま取出して観測する機 能しかもっておらず、パーソナルコンピュータ等、電子機器の評価中にＩＣの入 力波形のアンダーシュート，オーバーシュートが誤動作の原因である疑いがある 場合、ＩＣにコンデンサやダイオードを半田付けしたりして、疑いがあるたびに それをくりかえし、作業時間がかかるという問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本考案のＩＣクリップは、集積回路装置の端子から信号を取出すための複数の 第１のピンを有するＩＣ接触部と、前記複数の第１のピンにより取出した信号を 測定装置へ伝えるための複数の第２のピンを有するプローブ接触部とを備えたＩ Ｃクリップにおいて、前記第１のピンと前記第２のピンとを１対１に接続する複 数の接続線にそれぞれ接続した複数の波形整形回路を含んでいる。
【０００５】
【実施例】
次に本考案について図面を参照して説明する。
【０００６】 図１は本考案の一実施例の回路図である。
【０００７】 ＩＣ接触部１のピン１１〜１ｎから入力した各信号は、波形整形回路３のクラ ンプダイオード４によりアンダーシュート，オーバーシュートが取り除かれて波 形整形された後、プローブ接触部２のピン２１〜２ｎに伝えられる。
【０００８】
【考案の効果】
以上説明したように本考案は、ＩＣ接触部の各ピンとプローブ接触部の各ピン との間に波形整形回路を設けたことにより、ＩＣの入力信号のアンダーシュート ，オーバーシュートによる機器の誤動作の疑いが強い場合、本考案のＩＣクリッ プを使用すれば、簡単にその切り分けができる。したがって、いちいちコンデン サやダイオードの半田づけ等の作業をしなくてすむので、評価の作業効率がアッ プする。
【図面の簡単な説明】
【図１】本考案の一実施例を示す回路図である。
【図２】従来のＩＣクリップの斜視図である。
【符号の説明】
１ ＩＣ接触部 ２ プローブ接触部 ３ 波形整形回路 ４ クランプダイオード

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 集積回路装置の端子から信号を取出すた
    めの複数の第１のピンを有するＩＣ接触部と、前記複数
    の第１のピンにより取出した信号を測定装置へ伝えるた
    めの複数の第２のピンを有するプローブ接触部とを備え
    たＩＣクリップにおいて、前記第１のピンと前記第２の
    ピンとを１対１に接続する複数の接続線にそれぞれ接続
    した複数の波形整形回路を含むことを特徴とするＩＣク
    リップ。
JP3766691U 1991-05-28 1991-05-28 Ｉｃクリツプ Pending JPH0514952U (ja)

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JPH0514952U true JPH0514952U (ja) 1993-02-26

Family

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017211364A (ja) * 2016-02-26 2017-11-30 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定装置で利用するアクセサリ及び試験測定装置のための方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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