TH64605A - ส่วนเชื่อมต่อภายในของหัวทดสอบซึ่งงอได้ - Google Patents
ส่วนเชื่อมต่อภายในของหัวทดสอบซึ่งงอได้Info
- Publication number
- TH64605A TH64605A TH201004671A TH0201004671A TH64605A TH 64605 A TH64605 A TH 64605A TH 201004671 A TH201004671 A TH 201004671A TH 0201004671 A TH0201004671 A TH 0201004671A TH 64605 A TH64605 A TH 64605A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- test probe
- electronics
- probe
- circuit
- connection
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract 16
Abstract
DC60 (18/03/47) การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับชุดการเชื่อมต่อ (connection module) สำหรับใช้กับระบบ ของหัวทดสอบ ระบบของ หัวทดสอบประกอบด้วยหัวทดสอบสำหรับทดสอบอุปกรณ์ ชุดการ เชื่อม ต่อประกอบด้วยชุดของวงจรที่งอได้สำหรับส่งและรับ สัญญาณระหว่างอิเล็กทรอนิกส์ในหัวทดสอบ และอุปกรณ์ที่ต้อง การทดสอบ ชุดการเชื่อมต่อนี้ยังรวมถึงจุดการเชื่อมต่อ (connection point) ที่อยู่ ตรงปลายอันแรกของวงจรที่งอได้ แต่ละอันสำหรับต่อวงจรที่งอได้เข้ากับอิเล็กทรอนิกส์ในหัว ทดสอบ การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับชุดการเชื่อมต่อ (connection module) สำหรับใช้กับระบบ ของหัวทดสอบ ระบบของ หัวทดสอบประกอบด้วยหัวทดสอบสำหรับทดสอบอุปกรณ์ ชุดการ เชื่อม ต่อประกอบด้วยชุดของวงจรที่งอได้สำหรับส่งและรับ สัญญาณระหว่างอิเล็กทรอนิกส์ในหัวทดสอบ และอุปกรณ์ที่ต้อง การทดสอบ ชุดการเชื่อมต่อนี้ยังรวมถึงจุดการเชื่อมต่อ (connection point) ที่อยู่ ตรงปลายอันแรกของวงจรที่งอได้ แต่ละอันสำหรับต่อวงจรที่งอได้เข้ากับอิเล็กทรอนิกส์ในหัว ทดสอบ
Claims (2)
1. ชุดการเชื่อมต่อสำหรับใช้กับระบบของหัวทดสอบ ระบบของหัวทดสอบรวมถึง หัวทดสอบสำหรับทดสอบอุปกรณ์ ชุดการเชื่อมต่อ ดังกล่าวประกอบด้วย ชุดของวงจรที่งอได้สำหรับส่งและรับสัญญาณระหว่าง อิเล็กทรอนิกส์ในหัวทดสอบ และอุปกรณ์ที่ต้องการทดสอบ และ จุดการเชื่อมต่อบนปลายด้านหนึ่งของวงจรที่งอได้แต่ละตัว ดังกล่าวสำหรับต่อวงจรที่ งอได้ดังกล่าวเข้ากับ อิเล็กทรอนิกส์ในหัวทดสอบ
2. ชุดการเชื่อมต่อตามข้อถือสิทธิที่ 1 โดยวงจรที่งอได้ ดังกล่าวแต่ละอันมีชุดของทาง ที่นำไฟฟ้า (coแท็ก :
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH64605A true TH64605A (th) | 2004-10-11 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2003052436A3 (en) | Flexible interface for a test head | |
| US6956387B2 (en) | Socket connection test modules and methods of using the same | |
| US6864694B2 (en) | Voltage probe | |
| WO2004008487A3 (en) | Test system and methodology | |
| WO2003100445A3 (en) | Probe for testing a device under test | |
| WO2001079863A3 (en) | Method and apparatus for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester | |
| WO2005109017A3 (en) | System and method for testing integrated circuits | |
| ATE287543T1 (de) | Testeinrichtung zum testen eines moduls für einen zum kontaktlosen kommunizieren vorgesehenen datenträger | |
| WO2007079006A3 (en) | Connection verification technique | |
| CA2488832A1 (en) | Multi-socket board for open/short tester | |
| WO2003027694A3 (en) | Method and apparatus for in-circuit testing of sockets | |
| JP2008261853A (ja) | 試験装置及び診断用パフォーマンスボード | |
| WO2007133975A3 (en) | Current probing system | |
| EP1607758B1 (en) | Test apparatus | |
| TH64605A (th) | ส่วนเชื่อมต่อภายในของหัวทดสอบซึ่งงอได้ | |
| TW200500618A (en) | Ancillary equipment for testing semiconductor integrated circuit | |
| TW200634322A (en) | Device with a circuit for detecting an abnormal substrate | |
| DE60304684D1 (de) | Radiofrequenzstromerzeugung und leistungsmessung | |
| ATE447184T1 (de) | Auf indikation beruhendes datenträgermodul für die indikation von untersuchungresultaten | |
| TW200601401A (en) | Dut interface of semiconductor test apparatus | |
| ATE417456T1 (de) | Haltedrahteinheit für breitbandtest, haltedrahtplatte für breitbandtest und breitbandtestgerät | |
| US20150114685A1 (en) | Releaseable probe connection | |
| TW200624922A (en) | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure | |
| WO2004107103A3 (en) | Apparatus and method for sensing emulator cable orientation while providing signal drive capability | |
| TW200728728A (en) | A test card for integrated circuit (1) |