JPH05144288A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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JPH05144288A
JPH05144288A JP3302998A JP30299891A JPH05144288A JP H05144288 A JPH05144288 A JP H05144288A JP 3302998 A JP3302998 A JP 3302998A JP 30299891 A JP30299891 A JP 30299891A JP H05144288 A JPH05144288 A JP H05144288A
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JP
Japan
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section
spare
array
column
cell array
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Pending
Application number
JP3302998A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayuki Otani
孝之 大谷
Masaki Matsui
正貴 松井
Masayuki Hayakawa
誠幸 早川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】スペア・メモリセル・アレイを含むアレイ分割
型のメモリのスペア・メモリセル・アレイのセンスアン
プを、或るセクション・アレイのものと共用して集積回
路化に適したものとする。 【構成】複数のセクションに分割されたノーマル・メモ
リセル・アレイと、該アレイのうちの或るセクション・
アレイに付随して設けられ、該セクション・アレイのセ
ンスアンプを兼用するスペア・メモリセル・アレイと、
前記或るセクション・アレイ以外のセクション・アレイ
用の各センスアンプとを具備し、前記或るセクション・
アレイとスペア・メモリセル・アレイとの兼用センスア
ンプは、これら両アレイのいずれが選択されたときも活
性化されることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カラム冗長構成を有す
る半導体メモリ装置に係わり、そのメモリセル・アレイ
及びセンスアンプが内部で2つ以上のセクションに分割
され、かつそのセクション・アレイがセクション・アド
レスの選択/非選択に応じて活性化/非活性化制御され
る半導体メモリ集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の大容量SRAM(スタチックRA
M)では、ワード線選択動作の高速化と同時に、動作時
の消費電力の低減化をねらって、2層金属配線を駆使し
た2重ワード線構造によるワード線、及びメモリセル・
アレイの分割構成方法が盛んに使われている(例えば、
IEEE ISSCC1984,Digest oft
echnical Paper,“A 46ns 25
6K CMOS RAM”,M. Isobe, e
t.al.,pp.214−215)。その場合のメモ
リセル・アレイ及びセンスアンプの構成例を図3に示
す。ここでは、冗長カラムを持たない場合の例を示して
いる。
【0003】図3において、Sec.1〜Sec.Nは
N個のセクションに分割されたノーマル・セルアレイで
あり、このノーマル・セルアレイの各セクションにおい
て、各ビット線対をローカル・センス線SL、/SL
(SLとは反転関係にある信号線)(/SLは図ではS
Lの上にバーが付いている)に接続するカラムゲート
(CG)は、セクション及びカラムのデコード信号S及
びCの積の信号でその開閉が制御されている。ローカル
・センス線対SL、/SLが入力されるセンスアンプS
/A−1〜S/A−Nは、セクション・デコード信号S
で、活性/非活性が制御される。なお、図3で各部に同
一符号を用いているが、実際は順次ずれた関係にある。
図3でSG、/SG(/SGは図ではSGの上にバーが
付いている)は正転、反転のグローバル・センス線であ
る。
【0004】上記各信号を含む信号の生成回路を図4に
示す。ここに含まれる信号生成回路は、図5に示すよう
に、1セクション内にノーマル・カラムM本を含み、ノ
ーマル・セルアレイがN個のセクションに分割されてい
る場合についてである。図4において、11はカラム・
アドレス入力バッファで、ここへのカラム・アドレス入
力数はm個、12はカラム・デコーダで、これの出力で
あるカラム・デコード信号はC1〜CMで、M=2m
関係にある。また13はセクション・アドレス入力バッ
ファで、ここへのセクション・アドレス入力数はn個、
14はセクション・デコーダで、これの出力であるセク
ション・デコード信号はS1〜SNで、N=2n の関係
にある。
【0005】一方、大容量半導体メモリ装置では、冗長
(スペア)メモリセルの搭載は、製造歩留りの改善とい
う点から、必要不可欠と言える。特に大容量SRAMで
は、ビット線を最小微細加工技術を駆使した金属配線で
構成することが多いことから、ビット線対の単位で救済
可能な冗長カラムの搭載は、重要度を増している。図3
に示したセクション分割されたメモリセル・アレイの構
成を持つ半導体メモリ装置に対して、冗長カラムを導入
する場合、従来2通りの例がある。
【0006】1つは、図6に示すように、各セクション
Sec.1〜Sec.N内にそれぞれスペア・セルアレ
イSA1〜SANを設け、各セクションがそれぞれ同数
の予備カラムを持つ場合である。この図6は、各セクシ
ョンに1本の予備カラムを持つ場合である。この方式の
例は、例えば「IEEE Journalof
【0007】Solid−State Circuit
s, vol.SC−22,No.5,Oct.198
7 pp.727−732 “A 34−ns 1−M
bitCMOS SRAM Using Triple
Polysilicon”,Toshiba WAD
A,et al.」に記載されている。この方式は、図
3の従来構成に対し、各セクション内に同数のスペア・
カラムを追加すると共に、カラム・ゲートの制御信号
を、ノーマル・カラムに対してはS・C・/SPHに変
更し、スペア・カラムに対しては、スペア・デコード信
号SPDを与えることにより実現している。ここでSP
Hはスペア・ヒット信号で、これはスペア部が選ばれた
ことを示す。/SPHはSPHの反転信号を示す。
【0008】図4では、スペア・デコード信号SPDを
1〜S個得られるようにしている。図4で21、22は
ヒューズ選択回路で、ヒューズをブローするかしないか
によって、不良カラム及び不良セクションのアドレスを
記憶しておき、入力されたアドレス入力バッファからの
信号が不良アドレスと一致した場合のみ、スペアカラム
デコーダ及びスペアセクションデコーダが成り立つよう
にしておく。23はスペア・カラム・デコーダ、24は
スペア・セクション・デコーダで、これらの出力をアン
ド回路25を通して、1つのスペア・デコード信号SP
D(1)を得ている。スペア・デコード信号をS本要す
るときは、アンド回路25以前の回路がS組あればよ
く、スペア・ヒット信号SPHを得るオア回路26の入
力数は、予備列数に対応する。
【0009】2つ目は、図7に示す様に、Nセクション
に分割されたノーマル・セルアレイSec.1〜Se
c.Nとは別にスペア・セクションを設け、予備メモリ
セル・アレイSCAとしてのスペア・カラムおよびスペ
ア・センスアンプSS/Aなどを具備する方式である。
この方式は、ノーマル・セクション内のカラム・ゲート
に対する制御は、図3の如く従来どうりでよく、ノーマ
ル・セクション・センスアンプの制御は、従来のセクシ
ョン・デコード信号Sの代わりに、S・/SPHを用い
る。一方、スペア・セクション内のカラム・ゲートに対
する制御は、スペア・デコード信号SPD1、SPD2
で行う。スペア・センスアンプSS/Aの制御はスペア
・ヒット信号SPHで行う。
【0010】しかしながら、図6の方式は、回路設計上
の変更が比較的少なくて済む反面、救済できる不良カラ
ムはチップ全体で1カラムであるにもかかわらず、各セ
クション内にスペア・カラムをそれぞれ1カラムずつ持
たなければいけないので、面積的にロスが大きくなる。
【0011】図7の方式は、制御信号上の変更は少なく
て済む反面、ノーマル・セクション・センスアンプとは
別に、スペア・センスアンプSS/Aを具備する必要が
あるので、実質的にセクションが1つ増えたのと同様
に、面積増加になってしまう。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記実情に鑑
みてなされたもので、前記従来例にみられるスペア・カ
ラムを導入する際のチップ面積の増加を最小限に押さえ
ようとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段と作用】本発明は、複数の
セクションに分割されたノーマル・メモリセル・アレイ
と、該アレイのうちの或るセクション・アレイに付随し
て設けられ、該セクション・アレイのセンスアンプを兼
用するスペア・メモリセル・アレイと、前記或るセクシ
ョン・アレイ以外のセクション・アレイ用の各センスア
ンプとを具備し、前記或るセクション・アレイとスペア
・メモリセル・アレイとの兼用センスアンプは、これら
両アレイのいずれが選択されたときも活性化されること
を特徴とする。
【0014】即ち本発明は、スペア・メモリセル・アレ
イとしてのスペア・カラムを、ノーマル・メモリセル・
アレイの任意の1セクション内のセル・アレイに隣接し
て配置し、かつそのセクション内のセクション・センス
アンプを、そのセクション内のノーマル・メモリセル・
アレイとスペア・カラムとで共用する。したがって、少
なくともスペア・カラム用のセンスアンプを別途設ける
必要がないので、チップ占有面積の増加を押えることが
できる。
【0015】
【実施例】以下図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。図1はその構成図であるが、これは、前記従来例
と対応させた場合の例であるから、対応箇所には同一符
号を用いる。本実施例では、ノーマル・メモリセル・ア
レイは、セクション・アレイSec.1〜Sec.Nに
分割している。スペア・メモリセル・アレイSCAはセ
クション・アレイSec.Nに付随して設けられ、セン
スアンプS/A−NはこれらアレイSec.NとSCA
とに共用して用いられる。
【0016】カラム・ゲートCGの選択には、ノーマル
・カラムでは信号S・C・/SPHを用い、スペア・カ
ラムでは信号SPD1、SPD2(ここでは2本のスペ
ア・カラムを用いた例である)を用いる。セクション・
センスアンプS/A−1〜
【0017】S/A−Nの1つ手前までの選択には、ノ
ーマル・セクションは信号S・/SPHを用い、スペア
・カラムを含むセクションは信号S+SPHを用いる。
即ち、ノーマル・カラム選択時には、選択カラムのカラ
ム・ゲート(各CGの内の選択されたもの)および選択
セクションのセンスアンプ(S/A−1〜S/A−Nの
内の選択されたもの)のみを活性化する。救済カラムを
選択した場合は、救済カラムのカラム・ゲート(救済カ
ラムのCGの内の選択されたもの)のみを選択し、かつ
救済カラムを含むセクション・センスアンプ(S/A−
N)を活性化すると同時に、他のセクション・アンプ
(S/A−1〜S/A−Nの1つ手前)は非活性とする
ものである。
【0018】上記実施例によれば、スペア・カラムは、
ノーマル・セル・アレイSec.Nに共用させる構成と
したため、面積的なオーバーヘッドは最小で済む。従来
例での見積もりに使ったものと同様の構成の4MのSR
AMで見積もったメモリセル・アレイの面積増大率を図
2に示す。この図2では、スペア・カラム数として1、
2、4、8について、それぞれビット構成として、×
1、×4、×8についての場合について見積もってい
る。また図2では、図6、図7に示した従来例に対する
面積増大率も合わせて示してある。本発明では、どんな
ビット構成に対しても、セクション・センスアンプの個
数は増やさずに、必要なカラム本数分のセル・アレイの
みの増大分で済むので、セル・アレイ全体に対する増大
率としては非常に小さくて済む。またカラム・ゲートお
よびセクション・センスアンプの制御方法については、
図1に示すように、従来のスペア・カラムが無い場合に
比べると、信号SPHを論理的に組み合わせるだけでよ
いので、比較的簡単な変更を加えるだけで済む。また、
動作時の消費電力として、カラム・リダンダンシーを搭
載したことによる増加がほとんど無視できることであ
る。大容量SRAMでは、一般的に動作時の消費電力の
中で、センスアンプでの電力消費が大きな部分を占め
る。図1に示すように本発明では、同時にオンするセン
スアンプの個数は、従来どうりI/O(入出力部)の個
数と同じでよいので、センスアンプにおける増加はな
い。
【0019】
【発明の効果】以上説明したごとく本発明によれば、集
積回路面積的に有利で、電力消費も少なく、構成も複雑
化されないなどの利点が具備されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成図。
【図2】同実施例の効果を示す図表。
【図3】従来のアレイ分割型メモリ装置の構成図。
【図4】アレイ分割型メモリ装置で用いる制御信号発生
回路。
【図5】従来のアレイ分割型メモリ装置の構成図。
【図6】従来のアレイ分割型メモリ装置の構成図。
【図7】従来のアレイ分割型メモリ装置の構成図。
【符号の説明】
Sec.1〜Sec.N…ノーマル・セクション・アレ
イ、CG…カラム・ゲート、SCA…スペア・メモリセ
ル・アレイ、S/A−1〜S/A−N…セクション・セ
ンスンプ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数のセクションに分割されたノーマル・
    メモリセル・アレイと、該アレイのうちの或るセクショ
    ン・アレイに付随して設けられ、該セクション・アレイ
    のセンスアンプを兼用するスペア・メモリセル・アレイ
    と、前記或るセクション・アレイ以外のセクション・ア
    レイ用の各センスアンプとを具備し、前記或るセクショ
    ン・アレイとスペア・メモリセル・アレイとの兼用セン
    スアンプは、これら両アレイのいずれが選択されたとき
    も活性化されることを特徴とする半導体メモリ装置。
  2. 【請求項2】前記複数のセクション用の各センスアンプ
    の出力側は互いに接続され、前記兼用センスアンプが活
    性化されたときは、前記或るセクション・アレイ以外の
    セクション・アレイ用のセンスアンプは、すべて非活性
    状態にある請求項1に記載の半導体メモリ装置。
JP3302998A 1991-11-19 1991-11-19 半導体メモリ装置 Pending JPH05144288A (ja)

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JP3302998A JPH05144288A (ja) 1991-11-19 1991-11-19 半導体メモリ装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100764079B1 (ko) * 2004-02-04 2007-10-09 샤프 가부시키가이샤 표시장치

Cited By (1)

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