JPH05144056A - デイスク傾き補正装置 - Google Patents
デイスク傾き補正装置Info
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- JPH05144056A JPH05144056A JP3332451A JP33245191A JPH05144056A JP H05144056 A JPH05144056 A JP H05144056A JP 3332451 A JP3332451 A JP 3332451A JP 33245191 A JP33245191 A JP 33245191A JP H05144056 A JPH05144056 A JP H05144056A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、例えばビデオデイスクプレイヤ、コ
ンパクトデイスクプレイヤ等のデイスク再生装置におい
て、記録密度を向上した場合でも、確実に光デイスクの
傾きを補正して確実に記録情報を記録再生することがで
きるようにする。 【構成】本発明は、光ビームの光路中に圧電素子を介挿
し、当該圧電素子の厚さを局所的に変化させて波面収差
を発生し、当該波面収差で光デイスクが傾いた場合の波
面収差を打ち消すようにする。
ンパクトデイスクプレイヤ等のデイスク再生装置におい
て、記録密度を向上した場合でも、確実に光デイスクの
傾きを補正して確実に記録情報を記録再生することがで
きるようにする。 【構成】本発明は、光ビームの光路中に圧電素子を介挿
し、当該圧電素子の厚さを局所的に変化させて波面収差
を発生し、当該波面収差で光デイスクが傾いた場合の波
面収差を打ち消すようにする。
Description
【0001】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1) 作用(図1) 実施例 (1)実施例の構成(図1〜図8) (2)実施例の動作 (3)実施例の効果 (4)他の実施例(図9) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明はデイスク傾き補正装置に
関し、例えばビデオデイスクプレイヤ、コンパクトデイ
スクプレイヤ等のデイスク再生装置に適用し得る。
関し、例えばビデオデイスクプレイヤ、コンパクトデイ
スクプレイヤ等のデイスク再生装置に適用し得る。
【0003】
【従来の技術】従来、この種のデイスク再生装置におい
ては、スキユーサーボを用いることにより、確実に再生
信号を出力し得るようになされている。
ては、スキユーサーボを用いることにより、確実に再生
信号を出力し得るようになされている。
【0004】すなわちこの種の光デイスクにおいては、
その半径方向にソリが発生する場合がある。この場合光
デイスクに入射する光ビームにおいては、情報記録面の
スポツト形状がコマ収差により楕円に変形し、その変形
が大きくなると、記録情報を確実に再生し得なくなる。
その半径方向にソリが発生する場合がある。この場合光
デイスクに入射する光ビームにおいては、情報記録面の
スポツト形状がコマ収差により楕円に変形し、その変形
が大きくなると、記録情報を確実に再生し得なくなる。
【0005】このためこの種のデイスク再生装置におい
ては、光デイスクの傾きを検出し、当該検出結果に基づ
いて光ピツクアツプの傾きを補正することにより、確実
に記録情報を再生し得るようになされている。
ては、光デイスクの傾きを検出し、当該検出結果に基づ
いて光ピツクアツプの傾きを補正することにより、確実
に記録情報を再生し得るようになされている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで光デイスクに
おいては、半径方向にソリが発生する場合だけでなく、
円周方向にウネリが発生したり、又光デイスク自体が傾
いて装着される場合もある。
おいては、半径方向にソリが発生する場合だけでなく、
円周方向にウネリが発生したり、又光デイスク自体が傾
いて装着される場合もある。
【0007】すなわちデイスク再生装置においては、半
径方向だけでなく、記録トラツク方向にも、情報記録面
のスポツト形状が楕円形状に変化する場合がある。この
うち長軸方向が記録トラツクの延長方向になるようにス
ポツト形状が変化すると、デイスク再生装置において
は、再生信号に符号間干渉が発生することにより、ピツ
トが近接している場合、記録情報を正しく再生し得なく
なる。
径方向だけでなく、記録トラツク方向にも、情報記録面
のスポツト形状が楕円形状に変化する場合がある。この
うち長軸方向が記録トラツクの延長方向になるようにス
ポツト形状が変化すると、デイスク再生装置において
は、再生信号に符号間干渉が発生することにより、ピツ
トが近接している場合、記録情報を正しく再生し得なく
なる。
【0008】これに対して当該長軸方向が光デイスクの
半径方向になると、デイスク再生装置においては、記録
トラツク間でクロストークが発生することにより、トラ
ツクピツチが狭い場合記録情報を正しく再生し得なくな
る。すなわち従来のデイスク再生装置において、記録密
度を向上しようとすると、このような光デイスクの変化
に追従して高速度で当該光ピツクアツプの傾きを補正す
る必要があつた。
半径方向になると、デイスク再生装置においては、記録
トラツク間でクロストークが発生することにより、トラ
ツクピツチが狭い場合記録情報を正しく再生し得なくな
る。すなわち従来のデイスク再生装置において、記録密
度を向上しようとすると、このような光デイスクの変化
に追従して高速度で当該光ピツクアツプの傾きを補正す
る必要があつた。
【0009】ところが実際上、このような光デイスクの
変化は、光デイスクの回転に追従して変化する周波数数
十〜百数十〔Hz〕の成分でなることにより、光ピツクア
ツプ全体の姿勢を制御する従来の方式においては、この
ような光デイスクの変化に対して完全に姿勢を補正し得
ない欠点がある。
変化は、光デイスクの回転に追従して変化する周波数数
十〜百数十〔Hz〕の成分でなることにより、光ピツクア
ツプ全体の姿勢を制御する従来の方式においては、この
ような光デイスクの変化に対して完全に姿勢を補正し得
ない欠点がある。
【0010】これに対してこのような光デイスクの変化
を小さくして記録密度を向上する方法も考えられる。と
ころがコマ収差は対物レンズの開口数NAの3乗に比例
して変化することにより、例えば開口数NAが0.45の対
物レンズを用いて0.6 度まで光デイスクの傾きを許容し
得る場合でも、開口数NAが0.6 の対物レンズを用いる
ようにすると許容範囲は0.25度に小さくなる。
を小さくして記録密度を向上する方法も考えられる。と
ころがコマ収差は対物レンズの開口数NAの3乗に比例
して変化することにより、例えば開口数NAが0.45の対
物レンズを用いて0.6 度まで光デイスクの傾きを許容し
得る場合でも、開口数NAが0.6 の対物レンズを用いる
ようにすると許容範囲は0.25度に小さくなる。
【0011】このため記録密度を向上する場合に必要な
対物レンズの開口数NAを大きくし得ず、結局、光デイ
スク自体の変化を小さくして記録密度を向上する方法
は、適用が困難な問題があつた。
対物レンズの開口数NAを大きくし得ず、結局、光デイ
スク自体の変化を小さくして記録密度を向上する方法
は、適用が困難な問題があつた。
【0012】本発明は、以上の点を考慮してなされたも
ので、記録密度を向上した場合でも、確実に光デイスク
の傾きを補正して確実に記録情報を再生することができ
るデイスク傾き再生装置を提案しようとするものであ
る。
ので、記録密度を向上した場合でも、確実に光デイスク
の傾きを補正して確実に記録情報を再生することができ
るデイスク傾き再生装置を提案しようとするものであ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、表面の透明部材4を介して入射し
て情報記録面6に焦光する光ビームLA1を用いて、情
報記録面6に所望の情報を記録し、又は情報記録面6に
記録した情報を再生する光デイスク2と、光ビームLA
1を射出する光源10と、光源10から射出された光ビ
ームLA1を情報記録面6に焦光する対物レンズ14
と、光源10及び対物レンズ14間、又は対物レンズ1
4及び光デイスク2間に介挿され、光ビームLA1の透
過する領域を複数の領域に分割し、上下に配置した透明
電極20B、20B1、20B2、20B3の印加電圧
V1、V2、V3に応じて各領域の厚さが変化する透明
電歪素子20とを備え、光デイスク2の傾きに応じて各
領域の印加電圧V1、V2、V3を変化させ、情報記録
面6の光ビームLA1のコマ収差を補正する。
め本発明においては、表面の透明部材4を介して入射し
て情報記録面6に焦光する光ビームLA1を用いて、情
報記録面6に所望の情報を記録し、又は情報記録面6に
記録した情報を再生する光デイスク2と、光ビームLA
1を射出する光源10と、光源10から射出された光ビ
ームLA1を情報記録面6に焦光する対物レンズ14
と、光源10及び対物レンズ14間、又は対物レンズ1
4及び光デイスク2間に介挿され、光ビームLA1の透
過する領域を複数の領域に分割し、上下に配置した透明
電極20B、20B1、20B2、20B3の印加電圧
V1、V2、V3に応じて各領域の厚さが変化する透明
電歪素子20とを備え、光デイスク2の傾きに応じて各
領域の印加電圧V1、V2、V3を変化させ、情報記録
面6の光ビームLA1のコマ収差を補正する。
【0014】
【作用】光源10及び対物レンズ14間、又は対物レン
ズ14及び光デイスク2間に介挿した透明電歪素子20
の厚さを光デイスク2の傾きに応じて変化させれば、当
該透明電歪素子20で波面収差を発生し、光デイスク2
の傾きによる波面収差を補正し得、これにより情報記録
面6におけるコマ収差を補正し得る。
ズ14及び光デイスク2間に介挿した透明電歪素子20
の厚さを光デイスク2の傾きに応じて変化させれば、当
該透明電歪素子20で波面収差を発生し、光デイスク2
の傾きによる波面収差を補正し得、これにより情報記録
面6におけるコマ収差を補正し得る。
【0015】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【0016】(1)実施例の構成 図1において、1は全体としてデイスク再生装置を示
し、光デイスク2から記録情報を再生する。
し、光デイスク2から記録情報を再生する。
【0017】すなわち光デイスク2においては、透明基
板4上に情報記録面6を形成し、当該情報記録面6を保
護膜8で保護する。この状態で光デイスク2において
は、透明基板4側から入射した光ビームLA1を情報記
録面6に焦光し、その結果得られる反射光ビームLA2
に基づいて、当該情報記録面6から記録情報を再生し得
るようになされている。
板4上に情報記録面6を形成し、当該情報記録面6を保
護膜8で保護する。この状態で光デイスク2において
は、透明基板4側から入射した光ビームLA1を情報記
録面6に焦光し、その結果得られる反射光ビームLA2
に基づいて、当該情報記録面6から記録情報を再生し得
るようになされている。
【0018】これに対応してデイスク再生装置1におい
ては、レーザー光源10から光ビームLA1を射出し、
当該光ビームLA1をコリメータレンズ12で平行光線
に変換した後、対物レンズ14を介して光デイスク2に
射出する。さらにデイスク再生装置1においては、光デ
イスク2から射出される反射光ビームLA2を光ビーム
LA1とは逆に対物レンズ14を順次介してビームスプ
リツタ16に導き、ここで当該反射光ビームLA2を光
ビームLA1から分離して焦光レンズ17、受光素子1
8に導く。
ては、レーザー光源10から光ビームLA1を射出し、
当該光ビームLA1をコリメータレンズ12で平行光線
に変換した後、対物レンズ14を介して光デイスク2に
射出する。さらにデイスク再生装置1においては、光デ
イスク2から射出される反射光ビームLA2を光ビーム
LA1とは逆に対物レンズ14を順次介してビームスプ
リツタ16に導き、ここで当該反射光ビームLA2を光
ビームLA1から分離して焦光レンズ17、受光素子1
8に導く。
【0019】これにより当該デイスク再生装置1におい
ては、受光素子18の出力信号S1からクロツク信号を
抽出した後、当該クロツク信号を基準にして信号処理す
ることにより、情報記録面6に記録した記録情報を再生
し得るようになされている。さらにデイスク再生装置1
においては、受光素子18の出力信号S1を基準にして
対物レンズ14を上下左右に可動し、これによりトラツ
キングエラー、フオーカシングエラーを有効に回避し得
るようになされている。
ては、受光素子18の出力信号S1からクロツク信号を
抽出した後、当該クロツク信号を基準にして信号処理す
ることにより、情報記録面6に記録した記録情報を再生
し得るようになされている。さらにデイスク再生装置1
においては、受光素子18の出力信号S1を基準にして
対物レンズ14を上下左右に可動し、これによりトラツ
キングエラー、フオーカシングエラーを有効に回避し得
るようになされている。
【0020】さらにデイスク再生装置1においては、コ
リメータレンズ12及びビームスプリツタ16間に圧電
素子でなる波面補正板20を介挿し、当該波面補正板2
0を駆動してコマ収差を補正する。
リメータレンズ12及びビームスプリツタ16間に圧電
素子でなる波面補正板20を介挿し、当該波面補正板2
0を駆動してコマ収差を補正する。
【0021】すなわちコマ収差の大きさは、コマ収差係
数W31で評価し得、光デイスク2が傾いた場合に発生す
るコマ収差係数W31は、次式
数W31で評価し得、光デイスク2が傾いた場合に発生す
るコマ収差係数W31は、次式
【数1】 で表すことができる。
【0022】ここでNは透明基板4の屈折率を、tは透
明基板4の厚さを、θは光デイスク2の傾きを、NAは
対物レンズ14の開口数を表す。すなわち傾きが微小角
度の場合、コマ収差の大きさは、傾きに追従して直線的
に変化することがわかる。
明基板4の厚さを、θは光デイスク2の傾きを、NAは
対物レンズ14の開口数を表す。すなわち傾きが微小角
度の場合、コマ収差の大きさは、傾きに追従して直線的
に変化することがわかる。
【0023】さらにコマ収差自体は、瞳状の極座標
(r,φ)を用いて、次式
(r,φ)を用いて、次式
【数2】 で表すことができ、これを対物レンズ14の入射面(瞳
半径を1に正規化して、コマ収差係数W31を1として表
す)における波面として図式化して表すと図2に示すよ
うに表すことができる。
半径を1に正規化して、コマ収差係数W31を1として表
す)における波面として図式化して表すと図2に示すよ
うに表すことができる。
【0024】従つて、情報記録面6においてコマ収差を
防止するためには、波面補正板20で、次式
防止するためには、波面補正板20で、次式
【数3】 で表される収差を発生させればよい。
【0025】このためデイスク再生装置1においては、
(3)式の収差に近似した収差を波面補正板20で生成
し、当該収差で光デイスク2の傾きによる収差を打ち消
すことにより、実用上充分な範囲で情報記録面のコマ収
差を補正する。
(3)式の収差に近似した収差を波面補正板20で生成
し、当該収差で光デイスク2の傾きによる収差を打ち消
すことにより、実用上充分な範囲で情報記録面のコマ収
差を補正する。
【0026】ここで図3に示すように、波面補正板20
は、酸化鉛(PbO)、ランタン(L)、酸化ジルコニウム
(ZrO2)、酸化チタン(TiO2)のペロブスカイト構造の
透明結晶体20Aに、透明電極20B、20B1〜20
B3を上下に形成した構成で、光ビームLA1が透過す
る領域を当該透明電極20B1〜20B3で覆われる3
つの領域に分割するようになされている。このとき当該
波面補正板20は、分割された領域の連続する方向が光
デイスクの半径方向になるように保持され、各領域に光
デイスク2の傾きに応じた電圧が印加されるようになさ
れている。
は、酸化鉛(PbO)、ランタン(L)、酸化ジルコニウム
(ZrO2)、酸化チタン(TiO2)のペロブスカイト構造の
透明結晶体20Aに、透明電極20B、20B1〜20
B3を上下に形成した構成で、光ビームLA1が透過す
る領域を当該透明電極20B1〜20B3で覆われる3
つの領域に分割するようになされている。このとき当該
波面補正板20は、分割された領域の連続する方向が光
デイスクの半径方向になるように保持され、各領域に光
デイスク2の傾きに応じた電圧が印加されるようになさ
れている。
【0027】すなわちこの種の圧電素子においては、図
4に示すように、印加電圧に応じて厚さが変化する。従
つてこのように光ビームLA1の光路中に介挿した場
合、印加電圧に応じて厚さが変化することにより、各透
明電極20B1〜20B3毎に、光ビームLA1の光路
長が変化する。
4に示すように、印加電圧に応じて厚さが変化する。従
つてこのように光ビームLA1の光路中に介挿した場
合、印加電圧に応じて厚さが変化することにより、各透
明電極20B1〜20B3毎に、光ビームLA1の光路
長が変化する。
【0028】この場合、例えば中央の電極20B2を基
準電圧V2に保持し、左右の電極20B1及び20B3
にそれぞれ当該基準電圧より低い電圧V1及び高い電圧
V3を印加すれば、当該波面補正板20で図5に示すよ
うな波面を形成することができる。従つて当該波面の変
化を光デイスク2が傾いた場合に発生する波面の変化を
補正するように設定すれば、情報記録面上のコマ収差を
補正することができる。
準電圧V2に保持し、左右の電極20B1及び20B3
にそれぞれ当該基準電圧より低い電圧V1及び高い電圧
V3を印加すれば、当該波面補正板20で図5に示すよ
うな波面を形成することができる。従つて当該波面の変
化を光デイスク2が傾いた場合に発生する波面の変化を
補正するように設定すれば、情報記録面上のコマ収差を
補正することができる。
【0029】この補正原理に基づいてデイスク再生装置
1においては、ビームスプリツタ16及びレーザー光源
10間にビームスプリツタ22を介挿し、これにより反
射光ビームLA2を分岐する。さらに光デイスク装置1
においては、分岐した反射光ビームLA2を遮光板24
を介して受光素子26に導く。
1においては、ビームスプリツタ16及びレーザー光源
10間にビームスプリツタ22を介挿し、これにより反
射光ビームLA2を分岐する。さらに光デイスク装置1
においては、分岐した反射光ビームLA2を遮光板24
を介して受光素子26に導く。
【0030】ここで図6に示すように遮光板24は、左
右にピンホールを形成した板状部材でなり、情報記録面
6と共役な位置に保持されるようになされている。さら
に遮光板24は、ピンホールの並ぶ方向が波面補正板2
0の透明電極20B1〜20B3が並ぶ方向に保持され
ようになされている。これによりデイスク再生装置1に
おいては、当該ピンホールの並ぶ方向に情報記録面6で
コマ収差が発生すると、当該遮光板24上においても同
様にコマ収差が発生するようになされ、当該コマ収差の
発生量に応じてピンホールの透過光量が変化するように
なされている。
右にピンホールを形成した板状部材でなり、情報記録面
6と共役な位置に保持されるようになされている。さら
に遮光板24は、ピンホールの並ぶ方向が波面補正板2
0の透明電極20B1〜20B3が並ぶ方向に保持され
ようになされている。これによりデイスク再生装置1に
おいては、当該ピンホールの並ぶ方向に情報記録面6で
コマ収差が発生すると、当該遮光板24上においても同
様にコマ収差が発生するようになされ、当該コマ収差の
発生量に応じてピンホールの透過光量が変化するように
なされている。
【0031】これに対して図7に示すように、受光素子
26においては、受光面を左右に2分割し、遮光板24
から射出されるピンホールの透過光がそれぞれ各領域に
入射するようになされている。減算回路28は、それぞ
れ受光領域ARA及びARBの出力信号S1A及びS1
Bを減算し、減算結果を補正電圧発生回路34に出力す
る。
26においては、受光面を左右に2分割し、遮光板24
から射出されるピンホールの透過光がそれぞれ各領域に
入射するようになされている。減算回路28は、それぞ
れ受光領域ARA及びARBの出力信号S1A及びS1
Bを減算し、減算結果を補正電圧発生回路34に出力す
る。
【0032】補正電圧発生回路34は、中央の電極20
B2を所定の基準電圧V2に保持すると共に、減算回路
28の減算結果に基づいて当該基準電圧を中心にして信
号レベルの変化した第1及び第2の駆動電圧V1及びV
3を生成し、当該駆動電圧V1及びV3をそれぞれ左右
の電極20B1及び20B3に印加する。これにより当
該デイスク再生装置1においては、波面補正板20の中
央領域を基準にして左右領域の厚さを変化させ、情報記
録面6のコマ収差を補正する。
B2を所定の基準電圧V2に保持すると共に、減算回路
28の減算結果に基づいて当該基準電圧を中心にして信
号レベルの変化した第1及び第2の駆動電圧V1及びV
3を生成し、当該駆動電圧V1及びV3をそれぞれ左右
の電極20B1及び20B3に印加する。これにより当
該デイスク再生装置1においては、波面補正板20の中
央領域を基準にして左右領域の厚さを変化させ、情報記
録面6のコマ収差を補正する。
【0033】実際上、このように波面を補正した場合、
図8に示すように近似的にコマ収差を補正することにな
る。ところがこのように補正した場合でも、図8に示す
波面収差は図2の場合に比してピーク値で1/2 に、又全
領域の二乗平均値で約1/7 に低減し得、実用上十分な補
正結果を得ることができる。
図8に示すように近似的にコマ収差を補正することにな
る。ところがこのように補正した場合でも、図8に示す
波面収差は図2の場合に比してピーク値で1/2 に、又全
領域の二乗平均値で約1/7 に低減し得、実用上十分な補
正結果を得ることができる。
【0034】かくしてデイスク再生装置1においては、
コマ収差検出結果に基づいて印加電圧を切り換えるだけ
で簡易にコマ収差を補正することができ、さらに光デイ
スクの傾きが激しく変化する場合でも、当該変化に追従
して確実にコマ収差を補正することができる。従つて、
光デイスクの記録密度を向上した場合でも、簡易な構成
で、確実に記録情報を再生することができる。
コマ収差検出結果に基づいて印加電圧を切り換えるだけ
で簡易にコマ収差を補正することができ、さらに光デイ
スクの傾きが激しく変化する場合でも、当該変化に追従
して確実にコマ収差を補正することができる。従つて、
光デイスクの記録密度を向上した場合でも、簡易な構成
で、確実に記録情報を再生することができる。
【0035】(2)実施例の動作 以上の構成において、レーザー光源から射出された光ビ
ームLA1は、コリメータレンズ12を介して平行光線
に変換された後、波面補正板20で所定の波面収差が与
えられ、対物レンズ14で情報記録面6に焦光される。
光デイスク2から得られる反射光ビームLA2において
は、光ビームLA1とは逆に対物レンズ14を順次介し
てビームスプリツタ16に導かれ、ここで反射された
後、受光素子18に導かれる。
ームLA1は、コリメータレンズ12を介して平行光線
に変換された後、波面補正板20で所定の波面収差が与
えられ、対物レンズ14で情報記録面6に焦光される。
光デイスク2から得られる反射光ビームLA2において
は、光ビームLA1とは逆に対物レンズ14を順次介し
てビームスプリツタ16に導かれ、ここで反射された
後、受光素子18に導かれる。
【0036】これにより当該受光素子18の出力信号S
1に基づいて、情報記録面に記録された情報を再生する
ことができる。さらに反射光ビームLA2においては、
波面補正板20、ビームスプリツタ22を透過した後、
ビームスプリツタ22で光ビームLA1と分離されて遮
光板24に導かれ、ここでコマ収差に応じて透過光量が
変化するように所定のピンホールを介して受光素子26
に導かれる。
1に基づいて、情報記録面に記録された情報を再生する
ことができる。さらに反射光ビームLA2においては、
波面補正板20、ビームスプリツタ22を透過した後、
ビームスプリツタ22で光ビームLA1と分離されて遮
光板24に導かれ、ここでコマ収差に応じて透過光量が
変化するように所定のピンホールを介して受光素子26
に導かれる。
【0037】受光素子26の出力信号S1A〜S1B
は、減算回路28で減算され、ここで光デイスク2にお
けるコマ収差が検出され、当該検出結果に基づいて補正
電圧発生回路34で駆動電圧V1〜V3が生成される。
これにより当該デイスク再生装置1においては、当該駆
動電圧V1〜V3で波面補正板20の厚さを補正し、当
該波面補正板20の波面収差で、光デイスクの傾きによ
るコマ収差が打ち消され、かくして情報記録面6上にお
けるコマ収差の発生を有効に回避することができる。
は、減算回路28で減算され、ここで光デイスク2にお
けるコマ収差が検出され、当該検出結果に基づいて補正
電圧発生回路34で駆動電圧V1〜V3が生成される。
これにより当該デイスク再生装置1においては、当該駆
動電圧V1〜V3で波面補正板20の厚さを補正し、当
該波面補正板20の波面収差で、光デイスクの傾きによ
るコマ収差が打ち消され、かくして情報記録面6上にお
けるコマ収差の発生を有効に回避することができる。
【0038】(3)実施例の効果 以上の構成によれば、コリメータレンズ及び対物レンズ
間の平行光束中に介挿した波面補正板の厚さを制御し、
当該平行平板の波面収差で光デイスクの傾きによる波面
収差を打ち消すことにより、簡易な構成で、確実にコマ
収差を補正し得、その記録密度を向上した場合でも確実
に記録情報を再生することができる。
間の平行光束中に介挿した波面補正板の厚さを制御し、
当該平行平板の波面収差で光デイスクの傾きによる波面
収差を打ち消すことにより、簡易な構成で、確実にコマ
収差を補正し得、その記録密度を向上した場合でも確実
に記録情報を再生することができる。
【0039】(4)他の実施例 なお上述の実施例においては、半径方向についてコマ収
差を補正する場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、記録トラツク方向について補正する場合、さらに
は半径及び記録トラツクの双方向について補正するよう
にしてもよい。この場合デイスク再生装置においては、
図9に示すように、4つの領域に圧電素子を分割して1
枚の波面補正板で半径及び記録トラツク方向に波面収差
を打ち消すようにしてもよい。また2枚の波面補正板で
それぞれ半径及び記録トラツク方向についてコマ収差を
補正するようにしてもよい。
差を補正する場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、記録トラツク方向について補正する場合、さらに
は半径及び記録トラツクの双方向について補正するよう
にしてもよい。この場合デイスク再生装置においては、
図9に示すように、4つの領域に圧電素子を分割して1
枚の波面補正板で半径及び記録トラツク方向に波面収差
を打ち消すようにしてもよい。また2枚の波面補正板で
それぞれ半径及び記録トラツク方向についてコマ収差を
補正するようにしてもよい。
【0040】さらに上述の実施例においては、波面補正
板を3つの領域に分割して波面収差を補正する場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、実用上十分な補
正結果が得られる場合、2分割して補正してもよく、又
これとは逆に分割数を多くして補正するようにしてもよ
い。
板を3つの領域に分割して波面収差を補正する場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、実用上十分な補
正結果が得られる場合、2分割して補正してもよく、又
これとは逆に分割数を多くして補正するようにしてもよ
い。
【0041】さらに上述の実施例においては、波面補正
板をコリメータレンズ及び対物レンズ間に介挿した場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、要は光ビー
ムLA1の光路中に介挿すれば、介挿位置は種々の位置
に選定し得、例えば対物レンズ及び光デイスク間、コリ
メートレンズ及びレーザー光源間に介挿するようにして
もよい。
板をコリメータレンズ及び対物レンズ間に介挿した場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、要は光ビー
ムLA1の光路中に介挿すれば、介挿位置は種々の位置
に選定し得、例えば対物レンズ及び光デイスク間、コリ
メートレンズ及びレーザー光源間に介挿するようにして
もよい。
【0042】さらに上述の実施例においては、コリメー
タレンズの後で光ビームLA1から反射光ビームLA2
を分離し、コマ収差を検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、種々の位置で光ビームLA1か
ら分離してコマ収差を検出することができる。
タレンズの後で光ビームLA1から反射光ビームLA2
を分離し、コマ収差を検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、種々の位置で光ビームLA1か
ら分離してコマ収差を検出することができる。
【0043】さらに上述の実施例においては、反射光ビ
ームLA2に基づいて波面補正板を駆動する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、直接光デイスクの
傾きを検出し、当該検出結果に基づいて波面補正板を駆
動するようにしてもよい。
ームLA2に基づいて波面補正板を駆動する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、直接光デイスクの
傾きを検出し、当該検出結果に基づいて波面補正板を駆
動するようにしてもよい。
【0044】さらに上述の実施例においては、反射光ビ
ームLA2を受光素子に導き、その光量変化で記録情報
を再生する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、光デイスクの像を撮像素子で撮像して記録情報を再
生する場合にも広く適用することができる。特に情報記
録面の拡大画像を撮像素子で撮像して記録情報を再生す
る方式においては、光デイスクが少しでも傾くと再生が
困難になる特徴があり、本発明を適用して、確実に記録
情報を再生することができる。
ームLA2を受光素子に導き、その光量変化で記録情報
を再生する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、光デイスクの像を撮像素子で撮像して記録情報を再
生する場合にも広く適用することができる。特に情報記
録面の拡大画像を撮像素子で撮像して記録情報を再生す
る方式においては、光デイスクが少しでも傾くと再生が
困難になる特徴があり、本発明を適用して、確実に記録
情報を再生することができる。
【0045】さらに上述の実施例においては、本発明を
再生専用のデイスク再生装置に適用した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、情報記録面に所定のタ
イミングで光ビームを照射して、所望の情報を記録、再
生する光デイスク装置に広く適用することができる。
再生専用のデイスク再生装置に適用した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、情報記録面に所定のタ
イミングで光ビームを照射して、所望の情報を記録、再
生する光デイスク装置に広く適用することができる。
【0046】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、光ビーム
の光路中に圧電素子を介挿し、当該圧電素子の厚みを変
化させて光デイスクの傾きによるコマ収差を打ち消すこ
とにより、簡易な構成で、光デイスクの傾き変化が激し
い場合でも確実に情報記録面におけるコマ収差を防止し
得、その分記録密度を向上して確実に記録情報を記録再
生することができるデイスク傾き補正装置を得ることが
できる。
の光路中に圧電素子を介挿し、当該圧電素子の厚みを変
化させて光デイスクの傾きによるコマ収差を打ち消すこ
とにより、簡易な構成で、光デイスクの傾き変化が激し
い場合でも確実に情報記録面におけるコマ収差を防止し
得、その分記録密度を向上して確実に記録情報を記録再
生することができるデイスク傾き補正装置を得ることが
できる。
【図1】本発明の一実施例によるデイスク再生装置を示
す略線図である。
す略線図である。
【図2】そのコマ収差の説明に供する略線図である。
【図3】波面補正板を示す斜視図である。
【図4】波面補正板の特性を示す特性曲線図である。
【図5】波面補正板の波面収差を示す略線図である。
【図6】遮光板を示す正面図である。
【図7】受光素子を示す正面図である。
【図8】波面収差の補正結果を示す略線図である。
【図9】他の実施例による波面補正板を示す正面図であ
る。
る。
1……デイスク再生装置、2……光デイスク、12……
コリメータレンズ、14……対物レンズ、20……波面
補正板。
コリメータレンズ、14……対物レンズ、20……波面
補正板。
Claims (1)
- 【請求項1】表面の透明部材を介して入射して情報記録
面に焦光する光ビームを用いて、上記情報記録面に所望
の情報を記録し、又は上記情報記録面に記録した情報を
再生する光デイスクと、 上記光ビームを射出する光源と、 上記光源から射出された上記光ビームを上記情報記録面
に焦光する対物レンズと、 上記光源及び上記対物レンズ間、又は上記対物レンズ及
び上記光デイスク間に介挿され、上記光ビームの透過す
る領域を複数の領域に分割し、上下に配置した透明電極
の印加電圧に応じて上記各領域の厚さが変化する透明電
歪素子とを具え、 上記光デイスクの傾きに応じて上記各領域の印加電圧を
変化させ、上記情報記録面の上記光ビームのコマ収差を
補正することを特徴とするデイスク傾き補正装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3332451A JPH05144056A (ja) | 1991-11-20 | 1991-11-20 | デイスク傾き補正装置 |
DE69229451T DE69229451T2 (de) | 1991-11-20 | 1992-11-16 | Optische Abtasteinrichtung |
EP96111456A EP0745980B1 (en) | 1991-11-20 | 1992-11-16 | Optical pickup device |
DE69219735T DE69219735T2 (de) | 1991-11-20 | 1992-11-16 | Optische Abtasteinrichtung und Fokusservoeinrichtung dafür |
EP92119572A EP0545133B1 (en) | 1991-11-20 | 1992-11-16 | Optical pickup device and focusing servo device employed therein |
US08/195,694 US5515348A (en) | 1991-11-20 | 1994-02-16 | Optical disk pickup device with tilt compensation by electrostriction |
US08/427,159 US5513158A (en) | 1991-11-20 | 1995-04-24 | Optical disk pickup device with focusing correction by electrostriction |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3332451A JPH05144056A (ja) | 1991-11-20 | 1991-11-20 | デイスク傾き補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05144056A true JPH05144056A (ja) | 1993-06-11 |
Family
ID=18255132
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3332451A Pending JPH05144056A (ja) | 1991-11-20 | 1991-11-20 | デイスク傾き補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05144056A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6532202B1 (en) | 1999-07-07 | 2003-03-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical element, optical head and optical recording reproducing apparatus |
JP2003185816A (ja) * | 2001-12-14 | 2003-07-03 | Ricoh Co Ltd | 形状可変鏡及び光ディスク情報入出力装置 |
KR100766802B1 (ko) * | 1999-12-24 | 2007-10-17 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 광학 주사 헤드 |
JP2015007780A (ja) * | 2014-07-17 | 2015-01-15 | 株式会社ユーテック | 発光装置及び表示装置 |
JP2020529925A (ja) * | 2017-08-07 | 2020-10-15 | オックスフォード ユニヴァーシティ イノヴェーション リミテッド | 内部材料のレーザ加工方法 |
-
1991
- 1991-11-20 JP JP3332451A patent/JPH05144056A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6532202B1 (en) | 1999-07-07 | 2003-03-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical element, optical head and optical recording reproducing apparatus |
KR100766802B1 (ko) * | 1999-12-24 | 2007-10-17 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 광학 주사 헤드 |
JP2003185816A (ja) * | 2001-12-14 | 2003-07-03 | Ricoh Co Ltd | 形状可変鏡及び光ディスク情報入出力装置 |
JP2015007780A (ja) * | 2014-07-17 | 2015-01-15 | 株式会社ユーテック | 発光装置及び表示装置 |
JP2020529925A (ja) * | 2017-08-07 | 2020-10-15 | オックスフォード ユニヴァーシティ イノヴェーション リミテッド | 内部材料のレーザ加工方法 |
US11685003B2 (en) | 2017-08-07 | 2023-06-27 | Oxford University Innovation Limited | Method for laser machining inside materials |
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