JPH0513926A - 厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法 - Google Patents
厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法Info
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- JPH0513926A JPH0513926A JP3166899A JP16689991A JPH0513926A JP H0513926 A JPH0513926 A JP H0513926A JP 3166899 A JP3166899 A JP 3166899A JP 16689991 A JP16689991 A JP 16689991A JP H0513926 A JPH0513926 A JP H0513926A
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- squeegee
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Abstract
(57)【要約】
【構成】厚膜スクリーン印刷を行う時、あらかじめ試刷
を行った（Ａ：印刷ブロック）後、印刷膜の膜厚の測定
と断面形状の測定とを行い（Ｂ：測定ブロック)、膜厚
の測定情報に基づいてスキージ印圧、スキージ速度、ス
クリーンギャップの調整を行うとともに、印刷膜の断面
形状測定情報からスキージ先端の状態を把握し、必要に
応じてスキージを取り換える等の措置をとる。 【効果】スキージ先端の摩耗状態を早期に正確に知るこ
とができ、スキージの早期交換等の適切な措置をとるこ
とができる。
を行った（Ａ：印刷ブロック）後、印刷膜の膜厚の測定
と断面形状の測定とを行い（Ｂ：測定ブロック)、膜厚
の測定情報に基づいてスキージ印圧、スキージ速度、ス
クリーンギャップの調整を行うとともに、印刷膜の断面
形状測定情報からスキージ先端の状態を把握し、必要に
応じてスキージを取り換える等の措置をとる。 【効果】スキージ先端の摩耗状態を早期に正確に知るこ
とができ、スキージの早期交換等の適切な措置をとるこ
とができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は厚膜スクリーン印刷にお
ける印刷条件制御方法に関する。
ける印刷条件制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】厚膜スクリーン印刷機の一般的な構成と
その動作を図７により説明する。図において、１は印刷
の対象となる基板、２は厚膜ペースト、３はスクリー
ン、４は乳剤、５はスキージ、６はスキージ移動シャフ
トである。厚膜スクリーン印刷を行うには、乳剤４によ
り回路パターンを形成したスクリーン３の上面に置かれ
た厚膜ペースト２を、スキージ５を使用して印圧Ｐでス
クリーン３に押し付けながらスキージ速度Ｖで移動させ
て、基板１上に厚膜ペースト２を転写し、所定の回路パ
ターンを形成する。
その動作を図７により説明する。図において、１は印刷
の対象となる基板、２は厚膜ペースト、３はスクリー
ン、４は乳剤、５はスキージ、６はスキージ移動シャフ
トである。厚膜スクリーン印刷を行うには、乳剤４によ
り回路パターンを形成したスクリーン３の上面に置かれ
た厚膜ペースト２を、スキージ５を使用して印圧Ｐでス
クリーン３に押し付けながらスキージ速度Ｖで移動させ
て、基板１上に厚膜ペースト２を転写し、所定の回路パ
ターンを形成する。
【０００３】印刷品質に影響を与える要因は多数ある
が、印刷条件として代表的なものは、スキージ印圧Ｐ、
スキージ速度Ｖ、およびスクリーンギャップＧの３つで
ある。図７において、符号７はスクリーンギャップＧの
設定を行うスクリーンギャップ設定機構であり、符号８
はスキージ速度Ｖ、スキージ印圧Ｐの設定を行うスキー
ジ速度・スキージ印圧設定機構である。
が、印刷条件として代表的なものは、スキージ印圧Ｐ、
スキージ速度Ｖ、およびスクリーンギャップＧの３つで
ある。図７において、符号７はスクリーンギャップＧの
設定を行うスクリーンギャップ設定機構であり、符号８
はスキージ速度Ｖ、スキージ印圧Ｐの設定を行うスキー
ジ速度・スキージ印圧設定機構である。
【０００４】印刷膜厚に影響する印刷条件で特に重要な
ものは、スキージ印圧Ｐとスキージ速度Ｖであり、スキ
ージ印圧Ｐが大きくなるほど、またスキージ速度Ｖが小
さくなるほど、印刷膜厚は薄くなる傾向がある。実際の
厚膜ハイブリッドＩＣでは、一つの基板上に大きさの異
なる印刷パターン（例えば図７のａ部とｂ部）があり、
大きい印刷パターンの方が、スキージ５の印圧によるス
クリーン３のたわみが大きくなるので、印刷膜厚が薄く
なる。このため、大きさの異なる印刷パターンに対し
て、それぞれ異なる目標膜厚を設定している。
ものは、スキージ印圧Ｐとスキージ速度Ｖであり、スキ
ージ印圧Ｐが大きくなるほど、またスキージ速度Ｖが小
さくなるほど、印刷膜厚は薄くなる傾向がある。実際の
厚膜ハイブリッドＩＣでは、一つの基板上に大きさの異
なる印刷パターン（例えば図７のａ部とｂ部）があり、
大きい印刷パターンの方が、スキージ５の印圧によるス
クリーン３のたわみが大きくなるので、印刷膜厚が薄く
なる。このため、大きさの異なる印刷パターンに対し
て、それぞれ異なる目標膜厚を設定している。
【０００５】上記のように、印刷条件により印刷膜厚が
影響されるので、例えば特開昭５６−１３３８９３号公
報や、特開昭５９−１４９０８５号公報に記載のよう
に、まず試刷を行ってその直後に、非接触型厚膜測定技
術によって膜厚を測定し、その測定情報に基づき印刷条
件を調整して目標膜厚を得る方法が提案されている。
影響されるので、例えば特開昭５６−１３３８９３号公
報や、特開昭５９−１４９０８５号公報に記載のよう
に、まず試刷を行ってその直後に、非接触型厚膜測定技
術によって膜厚を測定し、その測定情報に基づき印刷条
件を調整して目標膜厚を得る方法が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、所
定の大きさの印刷パターンでは目標膜厚が得られても、
大きさの異なる印刷パターンでは目標膜厚が得られない
場合がある。これらはいずれも、使用する厚膜ペースト
のロットによる粘度の変化が大きいことと、スキージの
先端の状態に起因する。殊に、後者については、スキー
ジが一般にウレタンゴム製であるので、摩耗により先端
が丸くなりやすいことに起因する。従って、スキージの
先端の状態を十分に把握して対処することが必要とな
る。
定の大きさの印刷パターンでは目標膜厚が得られても、
大きさの異なる印刷パターンでは目標膜厚が得られない
場合がある。これらはいずれも、使用する厚膜ペースト
のロットによる粘度の変化が大きいことと、スキージの
先端の状態に起因する。殊に、後者については、スキー
ジが一般にウレタンゴム製であるので、摩耗により先端
が丸くなりやすいことに起因する。従って、スキージの
先端の状態を十分に把握して対処することが必要とな
る。
【０００７】本発明の目的は、印刷条件の設定ととも
に、容易にスキージの摩耗状態を検知することのできる
厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法を提供す
ることにある。
に、容易にスキージの摩耗状態を検知することのできる
厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法を提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的は、あらかじめ
基板上に印刷した印刷膜の測定情報に基づいて印刷条件
を制御するに際し、印刷膜の測定情報として、膜厚寸法
の情報と共に、印刷膜の断面形状の情報を用いることに
より、達成される。
基板上に印刷した印刷膜の測定情報に基づいて印刷条件
を制御するに際し、印刷膜の測定情報として、膜厚寸法
の情報と共に、印刷膜の断面形状の情報を用いることに
より、達成される。
【０００９】
【作用】上記構成のうち、膜厚寸法の測定情報に基づい
て印刷条件を制御する技術は公知であるので、印刷膜の
断面形状の情報を用いる点について、その作用を説明す
る。
て印刷条件を制御する技術は公知であるので、印刷膜の
断面形状の情報を用いる点について、その作用を説明す
る。
【００１０】図３は、スキージ状態と膜厚断面形状との
関係を示した図である。一般に、面積の小さいパターン
形状の膜厚（一般には平均膜厚で示す）は、面積の大き
なパターン形状の膜厚に比べて大きいが、この差は、図
に示すようにスキージの摩耗が進んで先端形状が丸くな
ると、より大きくなる。一般には、この膜厚の差が一定
値以内になるように管理するが、このとき、パターン断
面形状の情報を用いてスキージの先端の摩耗状態を把握
することにより、早期のスキージの交換等の適切な処置
をとることができる。
関係を示した図である。一般に、面積の小さいパターン
形状の膜厚（一般には平均膜厚で示す）は、面積の大き
なパターン形状の膜厚に比べて大きいが、この差は、図
に示すようにスキージの摩耗が進んで先端形状が丸くな
ると、より大きくなる。一般には、この膜厚の差が一定
値以内になるように管理するが、このとき、パターン断
面形状の情報を用いてスキージの先端の摩耗状態を把握
することにより、早期のスキージの交換等の適切な処置
をとることができる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明
する。図１は本発明による印刷条件設定のプロセスを示
すフローチャート、図２は本発明の印刷条件制御方法の
実施に用いる厚膜スクリーン印刷機の構成図である。
する。図１は本発明による印刷条件設定のプロセスを示
すフローチャート、図２は本発明の印刷条件制御方法の
実施に用いる厚膜スクリーン印刷機の構成図である。
【００１２】最初に、図２により、厚膜スクリーン印刷
機の各部の機能と印刷条件制御の概略を説明する。ま
ず、膜厚判定部１０の全体制御装置１１に目標膜厚を設
定する。次に、全体制御装置１１は、実績データ蓄積部
１２より、前回印刷時に目標の膜厚が得られた印刷条件
のセットを選定する。印刷条件は多数あるが、その主な
ものは、スキージ印圧Ｐ、スキージ速度Ｖ、スクリーン
ギャップＧの３つであり、これらの値を変えることによ
り、印刷後の膜厚を変えることができる。印刷条件設定
部１４での印刷条件設定後、印刷部１７において試刷を
行う。次いで、試刷終了後の基板１を、膜厚測定部１８
のレーザ照射部１９に移動し、非接触で印刷後の膜厚を
測定する。膜厚測定部１８の膜厚測定制御部２０からの
膜厚測定データは、全体制御装置１１内で前記目標膜厚
と比較演算され、差があれば、目標膜厚が得られるよう
に、印刷条件を再設定する。このとき、印刷条件と膜厚
のデータマップ１３を参照して、各印刷条件の変更にあ
たり優先順位を設定しておく。以上の手続を繰り返すこ
とにより、目標膜厚を得ることができる。
機の各部の機能と印刷条件制御の概略を説明する。ま
ず、膜厚判定部１０の全体制御装置１１に目標膜厚を設
定する。次に、全体制御装置１１は、実績データ蓄積部
１２より、前回印刷時に目標の膜厚が得られた印刷条件
のセットを選定する。印刷条件は多数あるが、その主な
ものは、スキージ印圧Ｐ、スキージ速度Ｖ、スクリーン
ギャップＧの３つであり、これらの値を変えることによ
り、印刷後の膜厚を変えることができる。印刷条件設定
部１４での印刷条件設定後、印刷部１７において試刷を
行う。次いで、試刷終了後の基板１を、膜厚測定部１８
のレーザ照射部１９に移動し、非接触で印刷後の膜厚を
測定する。膜厚測定部１８の膜厚測定制御部２０からの
膜厚測定データは、全体制御装置１１内で前記目標膜厚
と比較演算され、差があれば、目標膜厚が得られるよう
に、印刷条件を再設定する。このとき、印刷条件と膜厚
のデータマップ１３を参照して、各印刷条件の変更にあ
たり優先順位を設定しておく。以上の手続を繰り返すこ
とにより、目標膜厚を得ることができる。
【００１３】次に、図１により、本発明による印刷条件
設定のプロセスを説明する。プロセスは、大きくＡ，
Ｂ，Ｃの３ブロックに分類できる。
設定のプロセスを説明する。プロセスは、大きくＡ，
Ｂ，Ｃの３ブロックに分類できる。
【００１４】Ａは印刷ブロックであり、上述のようにし
て印刷条件の設定および印刷を行う。印刷条件の標準値
は、本実施例で用いる厚膜スクリーン印刷機では、スキ
ージ印圧８Ｎ／cｍ2，スキージ速度７５mm／ｓ，スクリ
ーンギャップ１.０mmであり、これらの値を初期値とし
たが、目標の膜厚が得られた実績のある印刷条件を使用
すると更に効率を上げられる。Ｂは測定ブロックであ
り、印刷後の膜厚の測定および判定を行う。膜厚の測定
は、印刷パターン上を一次元方向に走査し、その断面形
状を測定して行うことが一般的である。図３に示すよう
に、断面形状は中央部が薄く、周辺部が厚くなる傾向が
あり、通常は平均膜厚〈ｔ〉を印刷膜厚の測定データと
して採用することが多い。以上の膜厚測定は、ウェット
時の膜厚と乾燥後の膜厚との間に一定の関係があること
が知られているので、印刷直後のウェット時の測定で印
刷膜厚を評価できる。
て印刷条件の設定および印刷を行う。印刷条件の標準値
は、本実施例で用いる厚膜スクリーン印刷機では、スキ
ージ印圧８Ｎ／cｍ2，スキージ速度７５mm／ｓ，スクリ
ーンギャップ１.０mmであり、これらの値を初期値とし
たが、目標の膜厚が得られた実績のある印刷条件を使用
すると更に効率を上げられる。Ｂは測定ブロックであ
り、印刷後の膜厚の測定および判定を行う。膜厚の測定
は、印刷パターン上を一次元方向に走査し、その断面形
状を測定して行うことが一般的である。図３に示すよう
に、断面形状は中央部が薄く、周辺部が厚くなる傾向が
あり、通常は平均膜厚〈ｔ〉を印刷膜厚の測定データと
して採用することが多い。以上の膜厚測定は、ウェット
時の膜厚と乾燥後の膜厚との間に一定の関係があること
が知られているので、印刷直後のウェット時の測定で印
刷膜厚を評価できる。
【００１５】Ｃは演算制御ブロックであり、本発明の中
心となる印刷条件制御部がこの中に含まれる。以下、演
算制御ブロックについて詳細に説明する。演算制御の内
容は２つある。１つはあらかじめ設定された目標膜厚に
印刷できるように３つの印刷条件を自動的に設定するこ
とであり、もう１つはスキージの先端が摩耗により丸く
なった場合の使用限界を検知してスキージを交換するこ
とである。前者の印刷条件の自動設定は、実験データを
基本にして行った。スクリーンギャップは１mm一定とし
た。実際の印刷条件の設定時は、印刷作業時間短縮のた
め、スキージ速度１５０mm／ｓ基本設定値としてスキー
ジ印圧のみを変える方式にしており、所定の印刷膜厚が
得られない場合は、スキージ速度を、１００mm／ｓ，７
０mm／ｓというように順次遅くした状態で、スキージ印
圧を変えて、所定の膜厚を得るようにしている。
心となる印刷条件制御部がこの中に含まれる。以下、演
算制御ブロックについて詳細に説明する。演算制御の内
容は２つある。１つはあらかじめ設定された目標膜厚に
印刷できるように３つの印刷条件を自動的に設定するこ
とであり、もう１つはスキージの先端が摩耗により丸く
なった場合の使用限界を検知してスキージを交換するこ
とである。前者の印刷条件の自動設定は、実験データを
基本にして行った。スクリーンギャップは１mm一定とし
た。実際の印刷条件の設定時は、印刷作業時間短縮のた
め、スキージ速度１５０mm／ｓ基本設定値としてスキー
ジ印圧のみを変える方式にしており、所定の印刷膜厚が
得られない場合は、スキージ速度を、１００mm／ｓ，７
０mm／ｓというように順次遅くした状態で、スキージ印
圧を変えて、所定の膜厚を得るようにしている。
【００１６】本発明の特徴点である後者、すなわち摩耗
によるスキージの使用限界の検知は、一例として、図３
に示すように、スキージの摩耗が進むにつれて、形状の
大きなパターンと小さなパターンの印刷膜厚の差が拡大
することを利用している。実験結果を図４に示す。パタ
ーン面積６.５mm2と１.６mm2の大小２つのパターンの印
刷膜厚の差は、スキージが新品で先端の形状が鋭い状態
では３μｍであるのに対し、先端が摩耗して丸くなった
状態では６μｍに拡大している。このとき、印刷膜厚の
差の判定基準を例えば５μｍに設定しておき、これを超
えた場合は、図５に示すようなスキージの切換機構によ
り、新品のスキージに切り換えることができる。
によるスキージの使用限界の検知は、一例として、図３
に示すように、スキージの摩耗が進むにつれて、形状の
大きなパターンと小さなパターンの印刷膜厚の差が拡大
することを利用している。実験結果を図４に示す。パタ
ーン面積６.５mm2と１.６mm2の大小２つのパターンの印
刷膜厚の差は、スキージが新品で先端の形状が鋭い状態
では３μｍであるのに対し、先端が摩耗して丸くなった
状態では６μｍに拡大している。このとき、印刷膜厚の
差の判定基準を例えば５μｍに設定しておき、これを超
えた場合は、図５に示すようなスキージの切換機構によ
り、新品のスキージに切り換えることができる。
【００１７】もう１つの例は、本発明の特徴を最もよく
表すもので、１つのパターンの印刷膜厚形状からスキー
ジの使用限界を検知する例である。図６はその実験結果
を模式的に示したもので、〈ｔ〉は平均膜厚を、ｔ1は
パターン中央部の膜厚を、ｔ2はパターン周辺部の膜厚
をそれぞれ表している。パターンの膜厚の断面形状は、
パターンの膜厚を周辺部から順次走査して測定した値ｔ
2，ｔ1から求めることができる。図６において、スキー
ジ先端形状が鋭い場合は、ｔ1＝２９μｍ，ｔ2＝３２μ
ｍであり、ｔ1＜ｔ2となっている。これに対し、スキー
ジ先端形状が丸くなった場合は、ｔ1＝３５μｍ，ｔ2＝
２９μｍと、逆にｔ1＞ｔ2となっている。従って、ｔ1
とｔ2の大小関係を判定することにより、スキージの摩
耗状態を把握できる。本例の方法によれば、１つだけの
パターンの印刷膜厚形状からスキージの使用限界を検知
できる利点がある。
表すもので、１つのパターンの印刷膜厚形状からスキー
ジの使用限界を検知する例である。図６はその実験結果
を模式的に示したもので、〈ｔ〉は平均膜厚を、ｔ1は
パターン中央部の膜厚を、ｔ2はパターン周辺部の膜厚
をそれぞれ表している。パターンの膜厚の断面形状は、
パターンの膜厚を周辺部から順次走査して測定した値ｔ
2，ｔ1から求めることができる。図６において、スキー
ジ先端形状が鋭い場合は、ｔ1＝２９μｍ，ｔ2＝３２μ
ｍであり、ｔ1＜ｔ2となっている。これに対し、スキー
ジ先端形状が丸くなった場合は、ｔ1＝３５μｍ，ｔ2＝
２９μｍと、逆にｔ1＞ｔ2となっている。従って、ｔ1
とｔ2の大小関係を判定することにより、スキージの摩
耗状態を把握できる。本例の方法によれば、１つだけの
パターンの印刷膜厚形状からスキージの使用限界を検知
できる利点がある。
【００１８】以上に述べた２つの例の手法によれば、ス
キージの摩耗状態を把握し、スキージを交換することに
より、形状の異なるパターン間の印刷膜厚の差を一定の
値以内にできるため、印刷条件の決定が更に容易とな
る。
キージの摩耗状態を把握し、スキージを交換することに
より、形状の異なるパターン間の印刷膜厚の差を一定の
値以内にできるため、印刷条件の決定が更に容易とな
る。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、厚膜スクリーン印刷に
際し、スキージの先端の摩耗状態を早期に知ることがで
き、その対策を早期に行えるので、印刷条件の決定がよ
り容易になる効果がある。
際し、スキージの先端の摩耗状態を早期に知ることがで
き、その対策を早期に行えるので、印刷条件の決定がよ
り容易になる効果がある。
【図１】本発明による印刷条件設定のプロセスを示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図２】本発明の印刷条件制御方法の実施に用いる厚膜
スクリーン印刷機の構成図である。
スクリーン印刷機の構成図である。
【図３】スキージ状態と膜厚断面形状との関係を示した
概念図である。
概念図である。
【図４】パターン面積と印刷膜厚との関係についての実
験データを示す図である。
験データを示す図である。
【図５】スキージ切換機構を示す正面図である。
【図６】スキージ先端の形状と印刷膜各部の膜厚との関
係についての実験結果を模式的に示した図である。
係についての実験結果を模式的に示した図である。
【図７】従来の厚膜スクリーン印刷機の一般的な構成図
である。
である。
１…基板 ２…厚膜ペースト ３…スクリーン ４…乳剤 ５…スキージ ６…スキージ移動シャフ
ト １０…膜厚判定部 １４…印刷条件設定部 １７…印刷部 １８…膜厚測定部
ト １０…膜厚判定部 １４…印刷条件設定部 １７…印刷部 １８…膜厚測定部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】厚膜スクリーン印刷に際し、あらかじめ基
板上に印刷した印刷膜の測定情報に基づいて印刷条件を
制御する印刷条件制御方法において、印刷膜の測定情報
として、膜厚寸法と共に印刷膜の断面形状の情報を用い
ることを特徴とする厚膜スクリーン印刷における印刷条
件制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166899A JPH0513926A (ja) | 1991-07-08 | 1991-07-08 | 厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166899A JPH0513926A (ja) | 1991-07-08 | 1991-07-08 | 厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0513926A true JPH0513926A (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=15839698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3166899A Pending JPH0513926A (ja) | 1991-07-08 | 1991-07-08 | 厚膜スクリーン印刷における印刷条件制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0513926A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6237490B1 (en) | 1995-08-30 | 2001-05-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Screen printing method and screen printing apparatus |
| JP2004226175A (ja) * | 2003-01-21 | 2004-08-12 | Omron Corp | 基板実装ラインの運転支援装置 |
| JP2009143223A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-07-02 | Ngk Insulators Ltd | スクリーン印刷体の製造方法 |
| JP2010125716A (ja) * | 2008-11-27 | 2010-06-10 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | スクリーン印刷機 |
| JP2013084822A (ja) * | 2011-10-11 | 2013-05-09 | Hitachi Metals Ltd | セラミックス回路基板用素材およびセラミックス回路基板の製造方法 |
| CN112659729A (zh) * | 2019-10-15 | 2021-04-16 | 兰博特克有限责任公司 | 电脑实现控制丝网印刷机的方法，电脑控制的丝网印刷机 |
-
1991
- 1991-07-08 JP JP3166899A patent/JPH0513926A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6237490B1 (en) | 1995-08-30 | 2001-05-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Screen printing method and screen printing apparatus |
| US6659005B2 (en) | 1995-08-30 | 2003-12-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Screen printing method and screen printing apparatus |
| US6694875B2 (en) | 1995-08-30 | 2004-02-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Screen printing method and screen printing apparatus |
| JP2004226175A (ja) * | 2003-01-21 | 2004-08-12 | Omron Corp | 基板実装ラインの運転支援装置 |
| JP2009143223A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-07-02 | Ngk Insulators Ltd | スクリーン印刷体の製造方法 |
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| CN112659729A (zh) * | 2019-10-15 | 2021-04-16 | 兰博特克有限责任公司 | 电脑实现控制丝网印刷机的方法，电脑控制的丝网印刷机 |
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