JPH05136440A - 光起電力装置の製造方法 - Google Patents

光起電力装置の製造方法

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JPH05136440A
JPH05136440A JP3326391A JP32639191A JPH05136440A JP H05136440 A JPH05136440 A JP H05136440A JP 3326391 A JP3326391 A JP 3326391A JP 32639191 A JP32639191 A JP 32639191A JP H05136440 A JPH05136440 A JP H05136440A
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Japan
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photovoltaic device
semiconductor
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solar cell
single crystal
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JP3326391A
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Mikiaki Taguchi
幹朗 田口
Takeshi Takahama
豪 高濱
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Sanyo Electric Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い光電変換効率を備える光起電力装置の製
造方法を提供する。 【構成】 光起電力装置の製造に際して、n型単結晶半
導体1の表面に、電力密度が50mW/cm2以下の高
周波放電による水素プラズマ処理を施して、その表面を
予め清浄化してから、この表面上に真性非晶質半導体2
を積層形成する。これより、光起電力装置における界面
特性が改善されて、その光電変換効率が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、太陽電池や光センサ
等の光起電力装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、一導電型の結晶系シリコン上
に、逆導電型の非晶質系シリコンが形成されてなるヘテ
ロpn接合型太陽電池は、大面積の形成が容易であり、
しかも低温形成が可能で製造エネルギーが小さく低コス
トであるなど、多くの優れた特徴を備えており、ここ数
年、活発な研究開発がなされている。
【0003】ここで、結晶系シリコンとは、単結晶シリ
コンや多結晶シリコンを含み、非晶質系シリコンとは、
非晶質シリコンや微結晶シリコンを含むものである。
【0004】また、このヘテロpn接合型太陽電池のさ
らなる性能向上を目的として、そのヘテロ接合界面に、
真性の非晶質系シリコンが介装されてなる太陽電池が提
案されている。例えば、Technical Digest of the 5th
International PVSEC (Kyoto,Japan,1990) pp.689〜692
に詳しい。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
従来の太陽電池は、上述した種々の優れた特徴を備えて
いるものの、ホモpn接合型太陽電池に比べて、光電変
換効率が低く、さらなる改良が要望されていた。
【0006】この発明は、かかる従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、高い光電変換効率を備える光起
電力装置の製造方法の提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明の光起電力装置
の製造方法は、結晶系半導体の表面に、電力密度が50
mW/cm2以下の高周波放電による水素プラズマ処理
を行った後、この水素プラズマ処理により清浄化された
結晶系半導体の表面に、非晶質系半導体を形成すること
を特徴とする。
【0008】
【作用】非晶質系半導体を形成する結晶系半導体の表面
に、その形成に先立って低電力密度の水素プラズマ処理
を施し、この結晶系半導体の表面を清浄化する。これよ
り、光起電力装置における界面特性が向上して、その光
電変換効率が向上する。
【0009】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。
【0010】図1はこの発明に係る光起電力装置の一実
施例である太陽電池の構造図である。同図において、1
はn型単結晶シリコンからなるn型単結晶半導体、2は
真性非晶質シリコンからなるi型非晶質半導体、3は前
記n型単結晶半導体1と逆導電型であるp型非晶質シリ
コンからなるp型非晶質半導体、4はITO(IndiumTi
n Oxide)、酸化錫(SnO2)からなる透明導電膜、お
よび5は前記n型単結晶半導体1とコンタクトするアル
ミニウムからなる裏面電極である。
【0011】この太陽電池は以下のように製造される。 n型単結晶半導体1表面の清浄化: 基板となるn
型単結晶半導体1の一表面に、水素プラズマ処理を施し
て、清浄化する。この時の処理条件は次のとおりであ
る。
【0012】基板温度:120°C、H2 :100SC
CM、圧力:0.2Torr、処理時間:3分、印加電
力:13.56MHz,30mW/cm2
【0013】 i型非晶質半導体2の形成: 水素プ
ラズマ処理により清浄化されたn型単結晶半導体1の表
面に、シリコン(Si)原子を含むシラン(SiH4
ガスを原材料としたプラズマCVD法により、真性非晶
質半導体2を形成する。この時の成膜条件は次のとおり
である。
【0014】基板温度:120°C、SiH4 :5SC
CM、H2 :100SCCM、圧力:0.2Torr、
成膜時間:2分、印加電力:13.56MHz,30m
W/cm2
【0015】 p型非晶質半導体3の形成: 前記i
型非晶質半導体2上に、微量のジボラン(B2 6 )が
混入するシランガスを原材料としたプラズマCVD法に
より、p型非晶質半導体3を形成する。この時の成膜条
件は次のとおりである。
【0016】基板温度:120°C、SiH4 :5SC
CM、H2 :100SCCM、B2 6 /SiH4 =6
%、圧力:0.2Torr、成膜時間:1分30秒、印
加電力:13.56MHz,30mW/cm2
【0017】 透明導電膜4の形成: 前記p型非晶
質半導体3上に、光起電力装置の窓側電極として、スパ
ッタ法により、ITOからなる透明導電膜4を形成す
る。
【0018】 裏面電極5の形成: 最後に、n型単
結晶半導体1の他主面に裏面電極として、蒸着法によ
り、アルミニウムからなる裏面電極5を形成し、太陽電
池を完成する。
【0019】以上のようにして製造された太陽電池(こ
の発明品)について、従来法(上記の工程を省略した
方法)により製造された太陽電池(従来品)を準備し、
太陽電池特性を比較した結果を、表1および図2に示
す。図2において、横軸は太陽電池の電圧を示し、縦軸
は電流をそれぞれ示す。
【0020】
【表1】
【0021】この表1及び図2より明らかなように、真
性非晶質半導体2を堆積する直前に、n型単結晶半導体
1の表面に水素プラズマ処理を施したこの発明品の場
合、水素プラズマ処理を施さない従来品に比較して、変
換効率を始め太陽電池特性が大幅に向上することが判明
した。
【0022】なお、水素プラズマ処理における印加電力
密度をさらに高くして、電力密度を50mW/cm2
上とすると、水素プラズマ処理なしのものより低い変換
効率しか得られなかった。
【0023】この発明は上述した実施例に限定されるこ
となく他の構造の光起電力装置の製造にも適用可能であ
る。例えば、実施例では、結晶系半導体が単結晶半導体
で、これに非晶質半導体を積層形成する場合について説
明したが、多結晶半導体上に非晶質系半導体を積層形成
する場合にも、実施例と全く同様な効果が得られる。
【0024】さらに、この実施例では、単結晶半導体と
してn型単結晶半導体を使用した場合について説明した
が、単結晶半導体をp型とし、非晶質半導体をn型とし
ても全く同様な効果が得られることも言うまでもない。
【0025】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれ
ば、真性非晶質半導体を堆積する直前に、単結晶半導体
の表面に低電力密度の水素プラズマ処理を施すことによ
り、光起電力装置における界面状態が改善されて、その
光電変換効率の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る一実施例である太陽電池の構造
図である。
【図2】同太陽電池と従来法により製造された太陽電池
の光起電力特性を示す特性図である。
【符号の説明】
1 n型単結晶シリコン 2 真性非晶質シリコン 3 p型非晶質シリコン 4 透明導電膜 5 裏面電極

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一導電型の結晶系半導体上に、逆導電型
    もしくは真性の非晶質系半導体が形成されてなる光起電
    力装置において、前記結晶系半導体の表面に、電力密度
    が50mW/cm2以下の高周波放電による水素プラズ
    マ処理を行い、この水素プラズマ処理により清浄化され
    た前記結晶系半導体の表面に、非晶質系半導体を形成す
    ることを特徴とする光起電力装置の製造方法。
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US7863518B2 (en) 2003-03-20 2011-01-04 Sanyo Electric Co., Ltd. Photovoltaic device
US8691613B2 (en) 2010-10-01 2014-04-08 Kaneka Corporation Method for manufacturing photoelectric conversion device

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