JPH05109091A - 光デイスク装置のトラツクエラー信号振幅調整方法及び装置 - Google Patents

光デイスク装置のトラツクエラー信号振幅調整方法及び装置

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JPH05109091A
JPH05109091A JP26665691A JP26665691A JPH05109091A JP H05109091 A JPH05109091 A JP H05109091A JP 26665691 A JP26665691 A JP 26665691A JP 26665691 A JP26665691 A JP 26665691A JP H05109091 A JPH05109091 A JP H05109091A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】トラックエラー信号の振幅を規格化された値と
なるように調整する光ディスク装置のトラックエラー信
号振幅調整方法及び装置に関し、トラックエラー信号の
振幅を検出することなく簡単に振幅調整ができるように
することを目的とする。 【構成】トラックサーボのオフ状態で得られたトラック
エラー信号TESをデューティ計測手段4のウィンドコ
ンパレータに設定した中心に対する上下のスライスレベ
ルによりパルス信号に変換してデューティを計測し、計
測したデューティが予め定めた目標値となるように振幅
制御手段5で可変利得増幅手段6のゲインを制御してト
ラックエラー信号TESの振幅を変える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トラックエラー信号の
振幅が規格化された値となるように調整する光ディスク
装置のトラックエラー信号振幅調整方法及び装置に関す
る。光ディスク装置において、トラックエラー信号の振
幅はトラックサーボ回路のサーボゲインと比例するの
で、サーボ回路のある点で規格化する必要がある。また
トラックエラー信号の振幅は光ディスクのグループ形状
やビームスポットサイズなどで変化するため、可変ゲイ
ンアンプで振幅調整を行う必要がある。
【0002】このトラックエラー信号の振幅調整を行う
にあたっては、振幅を検出する回路が必要となり、振幅
検出回路が複雑で回路素子の量が多く装置の小型化やコ
ストダウンの妨げとなっており、この点の改善が望まれ
る。
【0003】
【従来の技術】図10は従来の光ディクス装置における
トラックサーボ回路の一例を示した説明図である。図1
0において、光学ヘッド1には光ディテクタ2が設けら
れ、光ディスクに照射したビームの戻り光を2分割した
受光部をもつ光ディテクタ2で受光し、トラックエラー
検出回路3で2つの受光信号の差としトラックエラー信
号TESを検出する。
【0004】トラックエラー信号TESは図11に示す
ように、振幅の中心位置でトラック中心とトラック境界
を交互に示す。トラックエラー信号TESは可変利得ア
ンプ6で増幅された後、位相補償回路7で広域部分のゲ
インを上げる進み位相補償を施され、サーボスイッチ8
を介してパワーアンプ9で電力増幅され、光学ヘッド1
のトラックコイル10に供給される。
【0005】サーボスイッチ8はMPU15により制御
され、サーボスイッチ8をオンしたトラックサーボの制
御状態で、トラックエラー信号TESを図11の振幅中
心となるトラック中心の値となるように制御する。一
方、トラックサーボ回路の異常を検出するため、オフト
ラック検出回路13が設けられる。オフトラック検出回
路13はトラックサーボのオン状態でトラックエラー信
号TESが中心に対し予め設定したスライスレベルを越
えた時に異常検出出力をMPU15に与え、トラックサ
ーボ回路の異常によりビームがトラック中心から外れた
ことを知らせる。
【0006】トラックエラー信号TESの振幅はトラッ
クサーボ回路のサーボゲインと比例するので、サーボ回
路のある点で規格化する必要がある。ここでトラツクサ
ーボ回路のゲインはトラックエラー信号TESの最大の
傾きで与えられ、この傾きは振幅に依存した値となる。
即ち、振幅が小さい程、傾きは小さくサーボゲインが小
さい。逆に振幅が大きくなると傾きが大きくなり、サー
ボゲインも大きくなる。
【0007】またトラックエラー信号の振幅は光ディス
クのグループ形状やビームスポットサイズなどで変化す
るため、可変利得アンプ6で振幅調整を行う必要があ
る。トラックエラー信号TESの振幅を調整するために
は、振幅検出回路11を設け、検出した振幅をAD変換
器12でデジタルデータに変換してMPU15に取込
み、MPU15において規格化された振幅値が得られる
ように可変利得アンプ6のゲインを制御する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
振幅検出回路11としては、例えば図12に示すよう
に、トラックエラー信号TESをピークホールド回路1
6でピークホールドした後に包絡線検波回路17で検波
して振幅ピーク変化を検出するか、或いは図13に示す
ように、トラックエラー信号TESを全波整流回路18
で全波整流した後に積分回路19で積分して振幅に依存
した波形面積に相当する値を検出するかしている。
【0009】このため図12の場合は、抵抗R1〜R
5、コンデンサC1〜C4、ダイオードD1,D2及び
オペアンプOP1,OP2を必要とし、また図13の場
合には、抵抗R10〜R16、コンデンサC10,タイ
オードD10,D11及びオペアンプOP10,OP2
0を必要とし、振幅検出回路11の回路素子の量が多
く、装置の小形化やコストダウンの妨げになる問題があ
った。
【0010】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、トラックエラー信号の振幅を検出す
ることなく簡単に振幅調整ができるようにした光ディス
ク装置のトラックエラー信号振幅調整方法及び装置を提
供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。まず本発明は、光学ヘッド1に設けた光ディ
テクタ2の受光信号に基づいてトラックエラー検出手段
3で検出されたトラックエラー信号TESを規定の振幅
に調整する光ディスク装置のトラックエラー信号振幅調
整方法を対象とする。
【0012】このようなトラックエラー信号振幅調整方
法として本発明にあっては、トラックサーボのオフ状態
で得られたトラックエラー信号TESを中心から上下に
設定したスライスレベルによりパルス信号に変換して該
パルス信号のデューティを計測し、計測したデューティ
が予め定めた目標値となるように信号増幅のゲインを可
変してトラックエラー信号TES振幅を変えることを特
徴とする。
【0013】また本発明は、光学ヘッド1に設けた光デ
ィテクタ2の受光信号に基づいてトラックエラー検出手
段3で検出されたトラックエラー信号TESを規定の振
幅に調整する光ディスク装置のトラックエラー信号振幅
調整装置を対象とし、トラックサーボのオフ状態で得ら
れたトラックエラー信号TESを中心から上下に設定し
たウィンドコンパレータのスライスレベルによりパルス
信号に変換してデューティを計測するデューティ計測手
段4と、デューティ計測手段4で計測したデューティが
予め定めた目標値となるようにサーボループに設けた可
変利得増幅手段6のゲインを制御してトラックエラー信
号TESの振幅を変える振幅制御手段5とを設けたこと
を特徴とする。
【0014】ここで振幅制御手段5におけるデューティ
の目標値は、ウィンドコンパレータのスライスレベルと
トラッキングエラー信号TESの振幅規格値から決定す
る。またデューティ計測手段4によるデューティの計測
は、ディスク1回転の時間以上に亘りウィンドコンパレ
ータから得られたパルス信号を対象に計測する。更にデ
ューティ計測手段4のウインドコンパレータを、トラッ
クサーボのオン状態でスライスレベルを越えるオフトラ
ックをトラックサーボの異常として検出するオフトラッ
ク検出手段と共用したことを特徴とする。
【0015】更にまた、ウインドコンパレータのスライ
スレベルを、トラックサーボ異常を検出するオフトラッ
ク量を与えるスライスレベルする。。
【0016】
【作用】このような構成を備えた本発明による光ディス
ク装置のトラックエラー信号振幅調整方法及び装置によ
れば、トラックエラー信号を中心から上下に設定したス
ライスレベルで切って得られるパルス信号のデューティ
と振幅の間に、 (1)デューティが大きいと振幅も大きい、 (2)デューティが小さいと振幅も小さい、 という相関関係にある。このため、トラックエラー信号
TESをスライスしたパルス信号のデューティから一義
的に振幅を検出することができ、規格化された振幅を与
えるデューティを目標値として設定し、目標デューティ
となるように可変利得アンプのゲインを制御して振幅を
代えることで、規格化した振幅に調整することができ
る。
【0017】このようにアナログ的な振幅検出は行わな
いことから、回路量の多い振幅検出回路が一切不要にで
きる。またトラックエラー信号TESを中心から上下に
設定したスライスレベルで切る処理は、従来のトラック
エラー回路に設けているウィンドコンパレータの機能そ
のものであり、振幅調整はトラックサーボををオフして
行なうことから、トラックエラー回路ウィンドコンパレ
ータをデューティの計測に共用することができ、さらに
回路量を減らすことができる。
【0018】
【実施例】図2は本発明のトラックエラー信号振幅調整
方法が適用されるトラックサーボ回路の実施例構成図で
ある。図2において、1は光学ヘッドであり、光ディス
クに対しボイスコイルモータにより径方向に移動自在に
設けられており、光ディテクタ2及びトラックコイル1
0を搭載している。光ディテクタ2は、例えばリードビ
ームを例にとると、光ディスクに照射したリードビーム
の戻り光を受光する。ファーフィールド法(プッシュプ
ル法)によるトラックエラー信号TESの検出を例にと
ると、光ディテクタ2としては2分割受光器が使用さ
れ、光ディテクタ2から得られた2つの受光信号の差を
トラックエラー検出回路3で求めることでトラックエラ
ー信号TESを作成する。
【0019】トラックエラー検出回路3からのトラック
エラー信号TESは可変利得アンプ6で増幅された後、
位相補償回路9に与えられる。位相補償回路9はサーボ
帯域の高域部分のゲインを上げて進み位相補償を施す。
位相補償回路9からのトラックエラー信号はサーボスイ
ッチ8を介してパワーアンプ9で電力増幅された後、ト
ラックコイル10に供給され、トラックコイル10で光
ディスクにビームを照射する対物レンズを駆動する。
【0020】サーボスイッチ8はMPU15によりオン
制御され、光ディスクのデータ書込み、読出しあるいは
消去動作の際にオンされてトラックサーボをオン状態に
維持する。一方、シーク時にあっては、サーボスイッチ
8はオフとなり、トラックサーボを解除状態とする。可
変利得アンプ6から得られたトラックエラー信号TES
は分岐されてオフトラック検出回路13に供給されてい
る。オフトラック検出回路13はウィンドコンパレータ
で構成され、トラックエラー信号TESの中心に対し上
下にスライスレベルを設定し、サーボスイッチ8をオン
したトラックサーボ状態でウィンドコンパレータのいず
れか一方でスライスレベルを超えるトラックオフ信号を
検知すると、オフトラック検出信号をMPU15に出力
し、トラックサーボの異常を知らせる。
【0021】MPU15にはプログラム制御により本発
明のトラックエラー信号振幅調整を実現するためデュー
ティ計測手段4と振幅制御手段5の機能が設けられてい
る。デューティ計測手段4はトラックサーボのオフ状
態、即ちサーボスイッチ8のオフ状態でオフトラック検
出回路13に設けられたウィンドコンパレータより得ら
れるパルス信号のデューティを計測する。
【0022】振幅制御手段5はデューティ計測手段4で
計測されたデューティが予め定めた目標値に一致するよ
うに可変利得アンプ6のゲインを制御する。図3は図2
のオフトラック検出回路13に設けられたウィンドコン
パレータの実施例構成図である。図3において、ウィン
ドコンパレータは2つのコンパレータ20,21を備え
る。コンパレータ21のマイナス入力端子に対しては抵
抗R20とR21で分圧された正のスライス電圧+Vs
が設定され、またコンパレータ21のプラス入力端子に
は抵抗R24と抵抗R23で分圧された負のスライス電
圧−Vsが設定される。また、コンパレータ20のプラ
ス入力端子及びコンパレータ21のマイナス入力端子に
は前段に位置する可変利得アンプ6からのトラックエラ
ー信号TESが入力される。更に、コンパレータ20,
21の出力はオア回路22で取りまとめられ、MPUに
出力される。
【0023】図4は図3のウィンドコンパレータの動作
を示した信号波形図であり、トラックサーボのオフ状態
にあっては略一定振幅のトラックエラー信号TESが入
力する。トラックエラー信号TESのプラス側の振幅波
形がスライス電圧+Vsを超えるとコンパレータ20の
出力がハイレベルとなり、一方、トラックエラー信号T
ESのマイナス側の振幅波形がスライスレベル−Vsを
下回るとコンパレータ21がハイレベル出力を生ずる。
【0024】従って、オア回路22からはトラックエラ
ー信号TESの波形がスライスレベル+Vsを超えてい
る間、及びスライスレベル−Vsを下回っている間のそ
れぞれの区間をハイレベルとするパルス信号を出力す
る。ここで、オア回路22が出力するパルス信号のハイ
レベル期間をA、ローレベル期間をBとすると、このパ
ルス信号のデューティ(オンデューティ)Dは D=A/(A+B) となる。
【0025】図5はトラックエラー信号TESの振幅が
変化したときのデューティの変化を示した信号波形図で
ある。図5において、振幅の小さいトラックエラー信号
TES1の場合には、パルス信号P1に示すようにハイ
レベルとなっている期間が短く、デューティDの値も小
さい。
【0026】これに対し、トラックエラー信号TES2
に示すように振幅が大きくなると、パルス信号P2に示
すようにハイレベル期間が増加し、デューティDが大き
くなる。このようにトラックエラー信号TESの振幅と
トラックエラー信号TESの中心に対し上下のスライス
レベルで切ったパルス信号のデューティDとの間には対
応関係があり、本発明はこの対応関係を利用してデュー
ティの検出に基づいて振幅を調整することになる。
【0027】図6は図2の可変利得アンプ6の一実施例
を示した実施例回路図である。図6において、OPアン
プ23は帰還抵抗R30を備え、帰還抵抗R30に対し
入力抵抗R29を接続している。この入力抵抗R29に
対しては並列に抵抗R25〜R28がスイッチSW0〜
SW3を介して並列に接続されている。スイッチSW0
〜SW3はMPU15からのゲイン制御信号G0〜G3
の4ビット信号でオンオフ制御される。
【0028】即ち、4ビットのゲイン制御信号G0〜G
3によりスイッチSW0〜SW3が全てオフとなって入
力抵抗R29と帰還抵抗R30によってゲインが決まる
段階から、スイッチSW0〜SW3が全てオンとなって
抵抗R25〜R29の並列抵抗値と帰還抵抗R30によ
ってゲインが決まる段階までの16段階に亘ってゲイン
を切り換えることができる。
【0029】図7は図2のMPU15によるデューティ
演算のためのパルス幅の計測処理を示したフローチャー
トである。図7において、まずステップS1でタイマA
とBをそれぞれ0に初期化する。ここでタイマAは図4
に示したようにオフトラック検出回路13から得られた
パルス信号のハイレベル期間を計数するタイマであり、
タイマBはローレベル期間を計数するタイマである。
【0030】続いてステップS2に進んで、別のタイマ
に光ディスク1回転分の時間をセットし、ステップS3
でタイマ割込みを有効としてS4でタイマをスタートす
る。次にS5でオフトラックか否か、即ちオフトラック
検出回路13から出力されるパルス信号がハイレベルか
否か判別し、ハイレベルであればS6に進んでタイマA
を1つインクリメントする。一方、オフトラックでなけ
れば、即ちパルス信号がローレベルであればステップS
7に進んでタイマBを1つインクリメントする。このス
テップS5〜S7のオフトラックの有無に基づくタイマ
A,Bの計測動作はステップS2で設定したディスク1
回転分の時間が終了するまで行われる。
【0031】図8はタイマ割込みにより実行されるデュ
ーティDの演算処理を示したフローチャートである。図
8において、タイマ割込みを受けるとステップS1でタ
イマを停止し、続いてS2でタイマ割込みをオフし、こ
のとき図7のルーチンで得られているタイマA及びBの
値を使用してデューティDを計算する。
【0032】図9は図2に示したMPU15によるトラ
ックエラー信号の振幅調整処理を示したフローチャート
である。図9において、まず装置の電源投入による立ち
上げ時等にこの処理が実行される。まずステップS1で
フォーカスサーボをオンすると同時にトラックサーボを
オフする。即ちサーボスイッチ8をオフする。続いてス
テップS2でゲインGをG=0にリセットする。
【0033】以上の初期処理が済むと可変利得アンプ6
にゲインGの値を設定し、ステップS4でタイマ割込み
によるオフトラックデューティの測定を行う。即ち、図
8のタイマ割込みルーチンを実行してデューティDを算
出する。続いてステップS5で、計測されたデューティ
Dが予め定めた目標値Cを超えたか否か判別する。目標
値Cは光ディスク装置のトラックサーボ回路に要求され
る規格化された振幅の値と図3に示したオフトラック検
出回路13に設けたウィンドコンパレータ20,21に
設定するスライス電圧+Vs,−Vsの値により決定さ
れる。
【0034】測定されたデューティDが目標値Cより小
さければステップS6に進んでゲインGを1つインクリ
メントしてゲインアップし、ステップS7で現在のゲイ
ンGがゲインの最大値Gmax を超えたか否か判定し、超
えていなければ再びS3に戻ってステップS6でアップ
したゲインGを可変利得アンプ6に設定し、再びステッ
プS6のオフトラックデューティの測定とステップS5
における目標値Cとの比較を繰り返す。
【0035】S3〜S7の処理を通じて測定されたデュ
ーティDが目標値Cを超えたことがステップS5で判別
されると一連の処理を終了する。一方、ステップS5で
デューティDが目標値Cを超える前にステップS7でゲ
インGがゲインの最大値Gmax を超えた場合には振幅調
整不能と判断してエラー終了する。
【0036】
【発明の効果】以上説明してきたように本発明によれ
ば、トラックエラー信号の振幅を検出する回路を必要と
することなくトラックエラー信号の振幅調整ができ、装
置の小形化と低価格化を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図
【図2】本発明の実施例構成図
【図3】本発明で用いるオフトラック検出回路の実施例
回路図
【図4】図3のオフトラック検出回路によるデューティ
計測の説明図
【図5】図3はオフトラック検出回路における振幅の変
化に対するデューティ計測の説明図
【図6】本発明で用いる可変利得アンプの実施例回路図
【図7】図2のMPUによる本発明のデューティ計測処
理を示したフローチャート
【図8】図2のMPUでタイマ割込みにより行なわれる
デューティ演算処理を示したフローチャート
【図9】図2のMPUで行われる本発明の振幅調整処理
を示したフローチャート
【図10】従来のトラックサーボ回路の説明図
【図11】トラックエラー信号の信号波形図
【図12】従来の振幅検出回路の回路図
【図13】従来の他の振幅検出回路の回路図
【符号の説明】
1:光学ヘッド 2:光ディテクタ 3:トラックエラー検出手段(トラックエラー検出回
路) 4:デューティ計測手段 5:振幅制御手段 6:可変利得増幅手段(可変利得アンプ) 7:位相補償回路 8:サーボスイッチ 9:パワーアンプ 10:トラックコイル 13:オフトラック検出回路 20,21:コンパレータ 22:オア回路 23:OPアンプ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光学ヘッド1に設けた光ディテクタ2の受
    光信号に基づいてトラックエラー検出手段3で検出され
    たトラックエラー信号TESを規定の振幅に調整する光
    ディスク装置のトラックエラー信号振幅調整方法に於い
    て、 トラックサーボのオフ状態で得られたトラックエラー信
    号TESを中心から上下に設定したスライスレベルによ
    りパルス信号に変換して該パルス信号のデューティを計
    測し、 該計測したデューティが予め定めた目標値となるように
    信号増幅のゲインを可変制御してトラックエラー信号T
    ESの振幅を変えることを特徴とする光ディスク装置の
    トラックエラー信号振幅調整方法。
  2. 【請求項2】光学ヘッド1に設けた光ディテクタ2の受
    光信号に基づいてトラックエラー検出手段3で検出され
    たトラックエラー信号TESを規定の振幅に調整する光
    ディスク装置のトラックエラー信号振幅調整装置に於い
    て、 トラックサーボのオフ状態で得られたトラックエラー信
    号TESを中心から上下に設定したウィンドコンパレー
    タのスライスレベルによりパルス信号に変換してデュー
    ティを計測するデューティ計測手段4と、 該デューティ計測手段4で計測したデューティが予め定
    めた目標値となるようにサーボループに設けた可変利得
    増幅手段6のゲインを制御してトラックエラー信号TE
    Sの振幅を変える振幅制御手段5と、を備えたことを特
    徴とする光ディスク装置のトラックエラー信号振幅調整
    装置。
  3. 【請求項3】請求項2記載の光ディスク装置のトラック
    エラー信号振幅調整装置に於いて、 前記振幅制御手段5におけるデューティの目標値は、前
    記前記ウィンドコンパレータのスライスレベルとトラッ
    キングエラー信号TESの振幅規格値から決定すること
    を特徴とする光ディスク装置のトラックエラー信号振幅
    調整装置。
  4. 【請求項4】請求項2記載の光ディスク装置のトラック
    エラー信号振幅調整装置に於いて、 前記デューティ計測手段4によるデューティの計測はデ
    ィスク1回転の時間以上に亘り前記ウィンドコンパレー
    タから得られたパルス信号を対象に計測することを特徴
    とする光ディスク装置のトラックエラー信号振幅調整装
    置。
  5. 【請求項5】請求項2記載の光ディスク装置のトラック
    エラー信号振幅調整装置に於いて、 前記デューティ計測手段4のウインドコンパレータを、
    トラックサーボのオン状態でスライスレベルを越えるオ
    フトラックをトラックサーボの異常として検出するオフ
    トラック検出手段と共用したことを特徴とする光ディス
    ク装置のトラックエラー信号振幅調整装置。
  6. 【請求項6】請求項5記載の光ディスク装置のトラック
    エラー信号振幅調整装置に於いて、 前記ウインドコンパレータのスライスレベルを、トラッ
    クサーボ異常を検出するオフトラック量を与えるスライ
    スレベルとしたことを特徴とする光ディスク装置のトラ
    ックエラー信号振幅調整装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020042201A (ko) * 2000-11-30 2002-06-05 구자홍 광 기록 재생기의 제어 신호 생성 방법
KR100396660B1 (ko) * 2000-10-20 2003-09-02 엘지전자 주식회사 광 기록매체의 결함영역 제어 방법 및 장치
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JP2866511B2 (ja) 1999-03-08

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