JPH05109057A - ハードデイスク検査装置 - Google Patents

ハードデイスク検査装置

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Publication number
JPH05109057A
JPH05109057A JP27144291A JP27144291A JPH05109057A JP H05109057 A JPH05109057 A JP H05109057A JP 27144291 A JP27144291 A JP 27144291A JP 27144291 A JP27144291 A JP 27144291A JP H05109057 A JPH05109057 A JP H05109057A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hard disk
glide head
speed
signal
spindle
Prior art date
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Pending
Application number
JP27144291A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Suda
紘一 須田
Shinichi Nomura
慎一 野村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Seiki KK
Original Assignee
Seiko Seiki KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Seiki KK filed Critical Seiko Seiki KK
Priority to JP27144291A priority Critical patent/JPH05109057A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高精度の突起検査ができるとともに、その構
成を簡素化する。 【構成】 ハードディスクDの半径線上を4領域に分割
し、この4領域を取り付け中心方向順に、異なる増加率
で回転速度が大きくなるようにモータ12(スピンドル
10)を制御部20等で制御し、且つ、ハードディスク
Dの取り付け中心方向の領域毎に段階的にグライドヘッ
ド14の送り速度が大きくなるようにパルスモータ18
を制御してキャリッジ16を移動させ、ハードディスク
Dの回転速度に対してグライドヘッド14の送り速度を
近似的に比例させて、ハードディスクDの内側で突起の
検出の重なり具合をなくす。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、製造工程におけるハー
ドディスクの突起検査を行うハードディスク検査装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ハードディスクの製造工程におけ
るバニッシュおよびグライドテスト(BおよびG)工程
では、バニッシュヘッドでハードディスク上の突起を削
り取って滑らかにし、この後、ハードディスクを回転さ
せるとともに、グライドヘッドを中心方向に搬送し、こ
の時のグライドヘッドと突起との衝突による信号を検出
して、ハードディスク上の突起の有無を検査している。
【0003】この場合、ハードディスク検査装置では、
グライドヘッドの浮上量を常時一定に保持する必要があ
り、このためグライドヘッドの送り位置に合わせてハー
ドディスクの回転速度を変化させて、その周速を一定に
している。図4は、グライドヘッド2の位置と周速との
関係を示したものであり、回転速度ω(RPM)は、
【0004】
【数1】
【0005】で表され、回転速度ωと半径Rとは反比例
する。このため、グライドヘッドがハードディスクの半
径R(mm)が小さくなる中心方向に進むにしたがっ
て、回転速度ωを大きくし、また、グライドヘッドがハ
ードディスクの全面を移動する必要があるためグライド
ヘッドをキャリッジで連続的に移動させている。所謂、
スパイラル軌跡を描くようにして、ハードディスクの全
面の突起の有無を検査している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来例
のハードディスク検査装置では、図5に示すようにハー
ドディスクの半径R(mm)が小さくなる中心方向に進
むにしたがって、回転速度ω(RPM)を大きくする必
要があり、この曲線に合うようにキャリッジでグライド
ヘッドを送る場合、その構成および制御処理が複雑化す
る欠点がある。
【0007】さらに、ハードディスク上のグライドヘッ
ドの軌跡は内側程、重なり部分が増大して、グライドヘ
ッドが同一突起に衝突する回数が増加してしまい、全体
として正確な突起有無のデータが得られ難いという欠点
がある。本発明は上記課題に鑑みてなされ、高精度の突
起検査ができ、且つ、構成および信号処理が簡素化でき
る優れたハードディスク検査装置を提供することを目的
とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のハードディスク検査装置は、情報記録媒体
盤の中心部を取り付け、且つ回転させる回転手段と、情
報記録媒体盤に有する突起を検出するためのグライドヘ
ッドと、グライドヘッドを情報記録媒体盤の半径線上で
移動させる移動手段と、情報記録媒体盤の半径線上を複
数の領域に分割し、この複数の領域を取り付け中心方向
順に、異なる増加率で回転速度が大きくなるように回転
手段を制御し、且つ、取り付け中心方向の領域毎に段階
的にグライドヘッドの送り速度が大きくなるように移動
手段を制御する制御手段とを備えるものである。
【0009】
【作用】上記の本発明のハードディスク検査装置では、
情報記録媒体盤の回転速度に対してグライドヘッドの送
り速度を近似的に比例させて変化させることにより、情
報記録媒体盤の内側で突起の検出が重なり合うことな
く、高精度の突起検査ができるとともに、その構成なら
びに信号処理が簡素化できる。
【0010】
【実施例】以下、本発明のハードディスク検査装置の一
実施例について図面を参照して説明する。図1は実施例
の全体構成を示している。図1において、検査対象のハ
ードディスクDの中心部がスピンドル10に取り付けら
れるとともに、スピンドル10がモータ12で回転駆動
されるようになっている。
【0011】ハードディスクD上には、グライドヘッド
14がキャリッジ16から延在して配置されている。ま
た、キャリッジ16をボール螺子等の送り機構で駆動す
るパルスモータ18が設けられている。さらに、この装
置全体を制御するための制御部20が設けられている。
制御部20は、周知のCPUと、RAMと、I/Oとと
もに、近似的にハードディスクDの回転速度に対してグ
ライドヘッド14の送り速度を比例させて変化させる制
御プログラム等を格納したROM等を有している。
【0012】この制御部20には、グライドヘッド14
からの信号を制御部20が処理可能に処理した突起検出
信号Saを供給する突起検出回路22が接続されてい
る。さらに、制御部20には、キャリッジ速度値および
距離制御信号Sbが供給されるパルス発生器24が接続
されている。パルス発生器24の出力端には、分周器2
6と、パルスモータドライバ28とが接続されるととも
に、夫々パルス列信号Scが供給される。パルスモータ
ドライバ28からのドライブ信号がパルスモータ18に
供給されて、このパルスモータ18の回転駆動によりキ
ャリッジ16が往復移動するようになっている。
【0013】また、制御部20から速度増加距離信号S
eが分周器26に供給されるとともに、この分周器26
からの分周パルス信号が供給される速度設定カウンタ3
0が設けられている。さらに、速度設定カウンタ30か
らのカウント信号と、制御部20からのスピンドル回転
速度値信号Sdとが供給され、制御部20からのセレク
ト信号Sfで選択して出力するセレクタ32と、このセ
レクタ32で選択した信号が供給されて、モータ12に
回転駆動信号を出力するスピンドルモータドライバ34
が設けられている。
【0014】さらに、制御部20には、情報入力操作を
行うキーボード40と、表示器(ディスプレイ)42
と、検査情報をフロッピーデスク、ICカード等に記憶
保存するための外部記憶装置44とが接続されている。
次に、上記構成における動作について説明する。先ず、
基本的動作を説明する。スピンドル10の回転速度ω
と、グライドヘッド14のハードディスクD上における
半径位置Rの関係は、従前の図5に示す曲線となる。こ
の実施例では、この曲線を半径方向に4分割した直線近
似としている。
【0015】図2は、この直線近似の状態を示してい
る。ここでは、以降に説明するようにキャリッジ16が
中心方向に指定の速度増加距離値を進む毎にスピンドル
10の回転速度ωを最小単位である10RPMを増加さ
せる。この速度増加距離値は図1の信号Seに相当す
る。すなわち、速度増加距離をSeとすると、このSe
は、
【0016】
【数2】
【0017】で表され、ここで曲線を4分割した近似誤
差は、例えば、1.7%である。同時にキャリッジ16
の移動においては自起動周波数内で段階的速度制御を行
う。図3は、この段階的速度変化の状態を示している。
キャリッジ16の送り速度Vc(mm/s)は、
【0018】
【数3】
【0019】で表される。次に、この基本的動作を図1
の構成をもって説明する。図3に示すように制御部20
に予めキーボード40からハードディスクDの半径線上
を4領域(M)に分割し、また4領域(M)をハードデ
ィスクDの取り付け中心方向、すなわち、スピンドル1
0の中心方向の領域毎に段階的(Aa)、(Ab)、
(Ac)、(Ad)にグライドヘッド14の送り速度が
大きくなるように設定する。なお、キャリッジ16はハ
ードディスクDの外側から中心に向かって移動する。
【0020】この設定のキャリッジ速度値および距離信
号Sbが制御部20からパルス発生器24に供給され、
ここから段階的(Aa)、(Ab)、(Ac)、(A
d)に対応したパルス列信号Scがパルスモータドライ
バ28に供給されて、ここからの駆動信号でパルスモー
タ18を回転駆動する。この回転駆動によりボール螺子
を通じてキャリッジ16を1パルスにつき2ミクロンづ
つ移動させ、グライドヘッド14を段階的(Aa)、
(Ab)、(Ac)、(Ad)に、スピンドル10の中
心方向に移動させる。
【0021】この段階的(Aa)、(Ab)、(A
c)、(Ad)の移動に対応して、取り付け中心方向順
に異なる増加率により(Ba)、(Bb)、(Bc)、
(Bd)で回転速度が大きくなるようにモータ12、す
なわち、スピンドル10を回転制御する。スピンドル回
転速度値信号Sdが速度設定カウンタ30およびセレク
タ32に供給される。一方、分周器26には制御部20
から速度増加距離信号Seが供給される。例えば、速度
増加距離信号Se=50とすると、分周器26に50が
セットされる。すると、分周器25では、パルス発生器
24から供給されるパルス列信号Scを1/50に分周
する。すなわち、分周器25は、パルス列信号Scが5
0供給される毎に、出力パルスを速度設定カウンタ30
に供給する。この出力パルスにより、速度設定カウンタ
30で設定される速度が増加される。
【0022】セレクタ32は、スピンドル回転速度値信
号Sdと速度設定カウンタ30からの入力の一方を、制
御部20からのセレクト信号Sfによって選択し、これ
をスピンドルモータドライバ34に供給する。セレクタ
32においては、スピンドルを加速制御する時はB側を
選択し、中心から外側に戻る時はA側を選択し、スピン
ドル10を定速とする。
【0023】スピンドルモータドライバ34からは、図
2に示す増加率(Ba)、(Bb)、(Bc)、(B
d)のように増加する駆動信号がモータ12に供給され
る。これにより、スピンドル10、すなわち、ハードデ
ィスクDの回転速度が増加率(Ba)、(Bb)、(B
c)、(Bd)のように増加する。この増加率(B
a)、(Bb)、(Bc)、(Bd)は、キャリッジ1
6、すなわち、グライドヘッド14の段階的(Aa)、
(Ab)、(Ac)、(Ad)の移動(図3)に対応し
ており、ハードディスクDの回転速度に対してグライド
ヘッド14の送り速度が近似的に比例する。
【0024】このハードディスクDの回転速度に対する
グライドヘッド14の送り速度が近似的に一定の状態で
グライドヘッド14からハードディスクDの突起と衝突
して得られる検出信号が突起検出回路22に供給され、
ここからの突起検出信号Saが制御部20に取り込まれ
る。この突起検出信号Saは所定の処理が施されて表示
器42に表示され、また、外部記憶装置44のメディア
に記憶される。
【0025】この場合、ハードディスクDの回転速度に
対するグライドヘッド14の送り速度を近似的に一定に
しているため、ハードディスクDの内側で突起の検出が
重なり合うことなく、高精度の突起検査ができるように
なる。また、従前の説明のようにハードディスクDの中
心方向へのグライドヘッド14の進行とともに回転速度
ω(RPM)が大きくなる曲線に、キャリッジ16およ
びスピンドル10を制御する場合に比較して、実施例で
はキャリッジ16を段階的(Aa)、(Ab)、(A
c)、(Ad)に移動させ、さらにスピンドル10の回
転速度を増加率(Ba)、(Bb)、(Bc)、(B
d)で増加するようにしているため、ハードディスクD
の回転およびグライドヘッド14の搬送部の構成および
信号処理が簡素化できることになる。
【0026】
【発明の効果】上記説明から明らかなように本発明のハ
ードディスク検査装置は、近似的に情報記録媒体盤の回
転速度に対するグライドヘッドの送り速度を一定にし、
情報記録媒体盤の内側で突起の検出が重なり合うことな
く、高精度の突起検査が可能となり、さらに、構成およ
び信号処理が簡素化できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のハードディスク検査装置の一実施例を
示す構成図である。
【図2】実施例における半径に対する回転速度の曲線を
4分割した直線近似の説明のための図である。
【図3】実施例におけるキャリッジの段階的速度変化の
説明のための図である。
【図4】従来例の説明に供され、グライドヘッド位置と
周速との関係を示す図である。
【図5】従来の動作説明に供され、半径に対する回転速
度を示す図である。
【符号の説明】
10 スピンドル 12 モータ 14 グライドヘッド 18 パルスモータ 20 制御部 24 パルス発生器 26 分周器 30 速度設定カウンタ D ハードディスク

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 情報記録媒体盤の中心部を取り付け、且
    つ回転させる回転手段と、 上記情報記録媒体盤に有する突起を検出するためのグラ
    イドヘッドと、 上記グライドヘッドを上記情報記録媒体盤の半径線上で
    移動させる移動手段と、上記情報記録媒体盤の半径線上
    を複数の領域に分割し、この複数の領域を取り付け中心
    方向順に、異なる増加率で回転速度が大きくなるように
    上記回転手段を制御し、且つ、上記取り付け中心方向の
    領域毎に段階的に上記グライドヘッドの送り速度が大き
    くなるように上記移動手段を制御する制御手段と、 を備えるハードディスク検査装置。
JP27144291A 1991-10-18 1991-10-18 ハードデイスク検査装置 Pending JPH05109057A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27144291A JPH05109057A (ja) 1991-10-18 1991-10-18 ハードデイスク検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27144291A JPH05109057A (ja) 1991-10-18 1991-10-18 ハードデイスク検査装置

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Publication Number Publication Date
JPH05109057A true JPH05109057A (ja) 1993-04-30

Family

ID=17500083

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27144291A Pending JPH05109057A (ja) 1991-10-18 1991-10-18 ハードデイスク検査装置

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JP (1) JPH05109057A (ja)

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