JPH05104447A - ポリツシングデイスク - Google Patents

ポリツシングデイスク

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Publication number
JPH05104447A
JPH05104447A JP12495891A JP12495891A JPH05104447A JP H05104447 A JPH05104447 A JP H05104447A JP 12495891 A JP12495891 A JP 12495891A JP 12495891 A JP12495891 A JP 12495891A JP H05104447 A JPH05104447 A JP H05104447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
volume
chromium oxide
concentration
polishing
resin
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP12495891A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Shimoda
弘 下田
Masanori Sone
正則 曽根
Masaki Kobayashi
正樹 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tungaloy Corp
Original Assignee
Toshiba Tungaloy Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Tungaloy Co Ltd filed Critical Toshiba Tungaloy Co Ltd
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Publication of JPH05104447A publication Critical patent/JPH05104447A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 メカノケミカルポリッシングを利用したポリ
ッシングディスクによる除去量を増加させるとともに良
好な平坦度を維持する。 【構成】 ポリッシングディスク1は、3μm以下の酸
化クロムを砥材として含む高濃度のレジン結合顆粒部分
4および低濃度の結合相部分5が一体的に焼成されるこ
とにより構成される。 高濃度のレジン結合顆粒部分4
は、全体の30〜80容量を%占めるものであり、前記
酸化クロムを70〜97容量%含有する。残りの低濃度
の結合相部分5は、酸化クロムを10〜50容量%含有
する。また、前記高濃度のレジン結合顆粒部分の砥材
は、その含有量の一部10〜70容量%を他の砥材で置
換できるものである。置換成分は、3μm以下のダイヤ
モンド、SiC、CeO2、Fe23、CBNの1種ま
たは2種以上である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、シリコンナイトライド
(Si34)、シリコンカーバイド(SiC)、チタン
ボライド(TiB2)などのセラミックス焼結体、結晶
化ガラスなどを鏡面加工するポリッシングディスクに関
し、特に研磨能率を向上し得るようにしたものである。
【0002】
【従来の技術】従来、シリコンナイトライド、シリコン
カーバイド、チタンボライドなどのセラミックス焼結体
を鏡面加工する場合、一般的には、ダイヤモンド砥粒を
用いて加工を行なっている。
【0003】また、一部では、特公昭56−23746
号公報にみられるように機械的な除去作用と化学的な除
去作用を併用したいわゆるメカノケミカルポリッシング
が行なわれている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ダイヤ
モンド砥粒による方法では、砥粒先端における微小切削
作用もしくは熱流動作用を利用した加工法であるため、
スクラッチが多く、表面変質や残留ひずみも大きく、加
工変質層を1μm以下に抑えることがむずかしい問題点
があった。また、研磨周辺のダレや面精度の点で必ずし
も優れているものではなかった。
【0005】これに対し、特公昭56−23746号公
報にみられるようなメカノケミカルポリッシングでは、
加工ひずみや加工変質層が少なく、また面精度の高いと
いう優れた点を有しているが、研磨能率が低いという問
題点があった。
【0006】このようなことから、本発明では、メカノ
ポリッシングを応用したポリッシングディスクを提供し
て研磨能率が向上するようにしたものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の点に鑑
みなされたもので、ポリッシングディスクは、3μm以
下の酸化クロムを砥材として含む高濃度のレジン結合顆
粒部分および低濃度の結合相部分が一体的に焼成される
ように構成したものである。この場合、高濃度のレジン
結合顆粒部分は、全体の30〜80容量%占めるととも
に、酸化クロムを70〜97容量%含有しているもので
ある。これに対し、残りの低濃度の結合相部分は、酸化
クロムを10〜50容量%含有しているものである。
【0008】また、前記高濃度のレジン結合顆粒部分に
ついては、砥材含有量のうち、一部10〜70容量%に
ついて、ダイヤモンド,SiCなどによって置換されて
いるものである。
【0009】
【作用】本発明のポリッシングディスクは、高濃度のレ
ジン結合顆粒部分および低濃度の結合相部分が一体的に
焼成されたものであるから、機械的な除去作用が大きく
なって研磨能率の向上が得られるものである。また、面
精度、平坦度についてもメカノケミカルポリッシングと
同様に良好となるものである。これは、ポリッシング時
には、高濃度のレジン結合顆粒部分がCr23を連続的
に補給し、低濃度の結合相部分のCr23が形状を維持
するからである。
【0010】
【実施例】以下、本発明ポリッシングディスクの一実施
例について、図を参照しながら説明する。
【0011】図1および図2において、1は、支持台金
2に接合された一般的にはφ150〜φ350mmの直
径を有するポリッシングディスクであり、取付け軸3に
よって回転する。回転速度は、一般的には、乾式では1
00〜350m/min,湿式では60〜120m/m
inである。
【0012】前記ポリッシングディスク1は、図1で概
念的に示されているように、3μm以下の酸化クロムを
砥材として含む高濃度のレジン結合顆粒部分4および低
濃度の結合相部分5が一体的に焼成されたものであり、
網目構造を呈するものである。この場合、酸化クロムを
3μm以下としたのは、3μmをこえると研磨時のスク
ラッチの原因となるためである。そして、高濃度のレジ
ン結合顆粒部分4は、全体の30〜80容量%を占める
とともに、酸化クロムを70〜97容量%含有している
ものである。全体の30〜80容量%としたのは、研磨
能率および平坦度の兼合いからの理由であり、特に30
%未満では研磨能率が悪く、80%をこえるとレジンが
少なくなり焼成が不具合となるためである。また、酸化
クロムを10〜70容量%としたのも上記の理由と同様
である。なお、高濃度のレジン結合顆粒部分4は、一般
的には0.5〜3mm程度の粒径を有している。
【0013】残りの前記低濃度の結合相部分5は、酸化
クロムを10〜50容量%含有しているものである。こ
のように、酸化クロムの含有量について高低をつけたの
は、被研磨体の平坦度、寸法精度を充たすためである。
【0014】また、高濃度のレジン結合顆粒部分のCr
23については、砥材含有量の一部である10〜70容
量%をダイヤモンド、SiC、CeO2、Fe23、C
BNの1種または2種以上で置換できるものである。こ
れは主として、研磨除去量を増加する配慮である。
【0015】
【実施例1】実施例1は、平均粒径1μm以下の酸化ク
ロムを砥材として含む高濃度のレジン結合顆粒部分4お
よび低濃度の結合相部分5からなるポリッシングディス
ク1を本発明品として製作した。この場合、高濃度のレ
ジン結合顆粒部分4および低濃度の結合相部分5は、1
〜3μmのCr23を含有し、その配合量については表
1のとおりである。また、結合材はフェノールとし、焼
成温度を180℃とした。
【0016】これに対し、被研磨材は、Si34および
SiC焼結体とし、研磨条件は、ディスクの回転速度:
100m/min,荷重0.5kg/cm2として乾式
で60分ポリッシングした。
【0017】
【表1】単位容量% この結果、本発明品1〜4は、いずれも除去速度にすぐ
れていた。これに対し、比較品5については、ディスク
の外周部が破損し、面ダレ大で40分以上続行不能であ
った。
【0018】
【実施例2】実施例2は、実施例1における高濃度のレ
ジン結合顆粒部分4のCr23の一部をダイヤモンド、
SiCなどで置換したものである。配合組成および結果
は表2のとおりであり、また、研磨条件は実施例1と同
じとした。
【0019】
【表2】単位容量% この結果、高濃度のレジン結合顆粒部分4のCr23
一部をダイヤモンド、SiCなどで置換したものは有効
であることが確認された。
【0020】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように酸化クロ
ムを砥材として含む特定範囲の高濃度のレジン結合顆粒
部分および低濃度の結合相部分が一体的に焼成されたポ
リッシングディスクを提供したものであるから、セラミ
ックス焼結体、結晶化ガラスなどの鏡面加工において、
その除去量を大きくできるとともに、平坦度も良好に加
工できるという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明ポリッシングディスクの一実施例を示す
模式的な要部の説明図、
【図2】全面的な形状を示す断面図である。
【符号の説明】
1 ポリッシングディスク 4 高濃度のレジン結合顆粒部分 5 低濃度の結合相部分

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 3μm以下の酸化クロム(Cr23)を
    砥材として含む高濃度のレジン結合顆粒部分および低濃
    度の結合相部分が一体的に焼成されたポリッシングディ
    スクであって、 高濃度のレジン結合顆粒部分は、全体の30〜80容量
    %を占めるとともに、前記酸化クロムを70〜97容量
    %含有しており、 残りの低濃度の結合相部分は、前記酸化クロムを10〜
    50容量%含有していることを特徴とするポリッシング
    ディスク。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載された高濃度のレジン結
    合顆粒部分に含まれる砥材含有量のうち、その一部10
    〜70容量%が3μm以下のダイヤモンド,SiC,C
    eO2,Fe23,CBNの1種または2種以上で置換
    されていることを特徴と するポリッシングディスク。
JP12495891A 1991-04-26 1991-04-26 ポリツシングデイスク Withdrawn JPH05104447A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0888849A2 (en) * 1997-06-30 1999-01-07 Toyoda Koki Kabushiki Kaisha Grinding wheel
CN102248495A (zh) * 2011-08-12 2011-11-23 河南工业大学 玻璃抛光盘及其制造方法
CN104070466A (zh) * 2014-06-25 2014-10-01 江苏吉星新材料有限公司 一种树脂抛光盘
CN110549257A (zh) * 2019-09-23 2019-12-10 北京爱克瑞特金刚石工具有限公司 一种陶瓷结合剂金刚石砂轮的加工工艺

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0888849A2 (en) * 1997-06-30 1999-01-07 Toyoda Koki Kabushiki Kaisha Grinding wheel
EP0888849A3 (en) * 1997-06-30 2002-03-20 Toyoda Koki Kabushiki Kaisha Grinding wheel
CN102248495A (zh) * 2011-08-12 2011-11-23 河南工业大学 玻璃抛光盘及其制造方法
CN104070466A (zh) * 2014-06-25 2014-10-01 江苏吉星新材料有限公司 一种树脂抛光盘
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Effective date: 19980711