JPH05102852A - A/d converting device - Google Patents
A/d converting deviceInfo
- Publication number
- JPH05102852A JPH05102852A JP28708891A JP28708891A JPH05102852A JP H05102852 A JPH05102852 A JP H05102852A JP 28708891 A JP28708891 A JP 28708891A JP 28708891 A JP28708891 A JP 28708891A JP H05102852 A JPH05102852 A JP H05102852A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analog
- register
- digital
- comparator
- comparison value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明はアナログ信号を逐次比
較してデジタル信号に変換するとともに、アナログ/デ
ジタル変換結果のテスト機能を有するアナログ/デジタ
ル変換装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analog / digital converter having a function of sequentially comparing analog signals to convert them into digital signals and having a test function for the result of analog / digital conversion.
【0002】[0002]
【従来の技術】図2は従来のアナログ/デジタル変換装
置の構成を示すブロック図である。図2において、2は
外部からのアナログ信号を入力するためのアナログ入力
ピン、3は逐次比較レジスタのデジタル信号をアナログ
信号に変換するデジタル/アナログ(D/A)変換器、
4はアナログ入力ピン2からのアナログ信号とデジタル
/アナログ変換器3からのアナログ信号とを逐次比較す
るコンパレータ、5はコンパレータ4からの比較結果の
デジタル信号を逐次格納する逐次比較レジスタ、1はア
ナログ入力ピン2及び逐次比較レジスタ5の動作タイミ
ングを制御する制御回路である。2. Description of the Related Art FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a conventional analog / digital converter. In FIG. 2, 2 is an analog input pin for inputting an analog signal from the outside, 3 is a digital / analog (D / A) converter for converting the digital signal of the successive approximation register into an analog signal,
Reference numeral 4 is a comparator for successively comparing the analog signal from the analog input pin 2 and the analog signal from the digital / analog converter 3, 5 is a successive approximation register for sequentially storing the digital signal of the comparison result from the comparator 4, and 1 is an analog It is a control circuit that controls the operation timing of the input pin 2 and the successive approximation register 5.
【0003】次に動作について説明する。このアナログ
/デジタル変換装置のデジタル部である逐次比較レジス
タ5に対する書き込み及び読み出しのテストを行う場
合、例えばテスト用デジタル/アナログ変換器6を用い
て既知のアナログ信号(アナログ電圧)をアナログ入力
ピン2へ入力する。コンパレータ4は、アナログ入力ピ
ン2へ入力されたアナログ信号とデジタル/アナログ変
換器3からのアナログ信号とを逐次比較してデジタル信
号に変換して逐次比較レジスタ5に格納する。この逐次
比較レジスタ5の内容を読み出しデジタル/アナログ変
換器3でアナログ信号に変換し、再びコンパレータ4で
そのアナログ信号とアナログ入力ピン2からのアナログ
信号を比較して、この比較結果のデジタル信号を逐次比
較レジスタ5に格納する。したがって、逐次比較レジス
タ5に格納されたデジタル信号を読み出すことにより、
この逐次比較レジスタ5に対する書き込み及び読み出し
のテストを行うことができる。Next, the operation will be described. When performing writing and reading tests on the successive approximation register 5 which is the digital section of the analog / digital converter, for example, a known analog signal (analog voltage) is supplied to the analog input pin 2 using the test digital / analog converter 6. To enter. The comparator 4 sequentially compares the analog signal input to the analog input pin 2 and the analog signal from the digital / analog converter 3, converts the analog signal into a digital signal, and stores the digital signal in the successive approximation register 5. The contents of the successive approximation register 5 are read out and converted into an analog signal by the digital / analog converter 3, the comparator 4 again compares the analog signal with the analog signal from the analog input pin 2, and the digital signal of the comparison result is obtained. Store in successive approximation register 5. Therefore, by reading the digital signal stored in the successive approximation register 5,
It is possible to test writing and reading with respect to the successive approximation register 5.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来のアナログ/デジ
タル変換装置は以上のように構成されているので、テス
トの可制御性が悪く(テストのために実施できる制御の
範囲が狭く)、期待した値を逐次比較レジスタに書き込
むためには、高精度のテスト用デジタル/アナログ変換
器と、低ノイズのテスト環境が必要であり、また不良解
析時の効率が悪いなどの問題点があった。Since the conventional analog / digital converter is constructed as described above, the controllability of the test is poor (the range of control that can be performed for the test is narrow), and it is expected. In order to write the value to the successive approximation register, a high-precision test digital / analog converter and a low-noise test environment are required, and there are problems such as poor efficiency during failure analysis.
【0005】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、テスト用のアナログ信号を外部
から与えることなく、逐次比較レジスタへ期待値を書き
込めるようにし、テストの可制御性の向上及び不良解析
時の効率の向上を図れるアナログ/デジタル変換装置を
提供することを目的とする。The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and an expected value can be written to the successive approximation register without externally supplying an analog test signal, and the controllability of the test is improved. It is an object of the present invention to provide an analog / digital conversion device capable of improving the efficiency and efficiency during failure analysis.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この発明に係るアナログ
/デジタル変換装置は、コンパレータ4の出力に相当す
る比較値をソフトウエアによって設定する比較値設定レ
ジスタ8と、コンパレータ4の出力端と比較値設定レジ
スタ8の出力端の何れかを選択し逐次比較レジスタ5の
入力端に接続するスイッチ7とを備えたものである。An analog / digital conversion device according to the present invention comprises a comparison value setting register 8 for setting a comparison value corresponding to the output of a comparator 4 by software, an output terminal of the comparator 4 and a comparison value. A switch 7 for selecting any one of the output terminals of the setting register 8 and connecting it to the input terminal of the successive approximation register 5 is provided.
【0007】[0007]
【作用】テストモード時には、スイッチ7は比較値設定
レジスタ8の出力端を逐次比較レジスタ5の入力端に接
続する。これにより比較値設定レジスタ8の比較値は逐
次比較レジスタ5に格納される。その比較値はソフトウ
エアによって自由に設定される。In the test mode, the switch 7 connects the output end of the comparison value setting register 8 to the input end of the successive approximation register 5. As a result, the comparison value of the comparison value setting register 8 is stored in the successive approximation register 5. The comparison value is freely set by software.
【0008】[0008]
【実施例】図1はこの発明の一実施例に係るアナログ/
デジタル変換装置の構成を示すブロック図である。図1
において、図2に示す構成要素に対応するものには同一
の符号を付し、その説明を省略する。図1において、8
はコンパレータ4の出力に相当する比較値をソフトウエ
アによって設定する比較値設定レジスタ、7はコンパレ
ータ4の出力端と比較値設定レジスタ8の出力端の何れ
かを選択し逐次比較レジスタ5の入力端に接続するスイ
ッチである。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows an analog / analog according to an embodiment of the present invention.
It is a block diagram which shows the structure of a digital converting device. Figure 1
In FIG. 2, components corresponding to those shown in FIG. 2 are designated by the same reference numerals, and their description will be omitted. In FIG. 1, 8
Is a comparison value setting register for setting a comparison value corresponding to the output of the comparator 4 by software, and 7 is an input terminal of the successive approximation register 5 by selecting either the output end of the comparator 4 or the comparison value setting register 8. Is a switch to connect to.
【0009】次に動作について説明する。ここではテス
トモード時の動作について述べる。スイッチ7を図1に
示すように比較値設定レジスタ8と逐次比較レジスタ5
を接続するように切り換える。これによりアナログ入力
ピン2、デジタル/アナログ変換器3、及びコンパレー
タ4からなるアナログ部と、逐次比較レジスタ5及び比
較値設定レジスタ8からなるデジタル部とを分離するこ
とができ、比較値設定レジスタ8の1ビット分を、コン
パレータ4の出力としてソフトウエアによって自由に設
定できる。Next, the operation will be described. Here, the operation in the test mode will be described. As shown in FIG. 1, the switch 7 includes a comparison value setting register 8 and a successive approximation register 5
Switch to connect. As a result, the analog part including the analog input pin 2, the digital / analog converter 3 and the comparator 4 and the digital part including the successive approximation register 5 and the comparison value setting register 8 can be separated from each other, and the comparison value setting register 8 can be separated. 1 bit can be freely set by software as the output of the comparator 4.
【0010】このようにソフトウエアによってコンパレ
ータ4の比較結果に相当する比較値を比較値設定レジス
タ8において設定できるため、テストの分解能の数だけ
比較値の書き込みを比較値設定レジスタ8に対して行え
ば、逐次比較レジスタ5の全ビットに期待値を書き込む
ことができる。また、比較値設定レジスタ8へ書き込ん
だ値は次の書き込みまで保持されるため、逐次比較レジ
スタ5の全ビットに同じ値を書き込む場合は比較値設定
レジスタ8への書き込みは1回でよい。また、テストモ
ード時の切換えを行うスイッチ7を設けたこと以外は従
来と全く同じ構成であるため各種モードのテストは、外
部からアナログ信号を与えた場合と同じイメージで行う
ことができる。As described above, since the comparison value corresponding to the comparison result of the comparator 4 can be set in the comparison value setting register 8 by software, the comparison values are written to the comparison value setting register 8 by the number of test resolutions. For example, the expected value can be written in all the bits of the successive approximation register 5. Further, since the value written in the comparison value setting register 8 is retained until the next writing, when writing the same value in all the bits of the successive approximation register 5, the writing in the comparison value setting register 8 only needs to be performed once. Further, since the configuration is exactly the same as the conventional one except that the switch 7 for switching in the test mode is provided, the tests in various modes can be performed with the same image as when an analog signal is externally applied.
【0011】なお、上記実施例では制御回路1の制御信
号をそのまま逐次比較レジスタ5のタイミング信号に使
用するため、比較値設定レジスタ8への書き込みタイミ
ングを考慮する必要があるが、比較値設定レジスタ8へ
の書き込み信号により逐次比較レジスタ5への書き込み
を行うようにすれば、比較値設定レジスタ8へ書き込む
タイミングを考慮する必要がなくなるとともに連続して
書き込むことで、実際のアナログ/デジタル変換を行っ
た場合に比べ大幅にテストを高速化できる。In the above embodiment, since the control signal of the control circuit 1 is used as it is as the timing signal of the successive approximation register 5, it is necessary to consider the write timing to the comparison value setting register 8. If the writing signal to 8 is used to write to the successive approximation register 5, it is not necessary to consider the timing of writing to the comparison value setting register 8 and continuous writing is performed to perform actual analog / digital conversion. The test can be significantly speeded up compared to the case where
【0012】[0012]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、テストモ
ード時にはコンパレータの出力に相当する比較値をソフ
トウエアによって比較値設定レジスタに設定し、この比
較値設定レジスタの比較値を逐次比較レジスタに与える
ようにスイッチを切替えるように構成したので、テスト
用のアナログ信号を外部から与えることなく、デジタル
部のテストが可能となり、逐次比較レジスタへ期待値を
ソフトウエアによって自由に書き込むことができ、これ
によりテストの可制御性が向上し、また、不良検出率が
著しく高まり、不良解析時の効率が向上するという効果
が得られる。As described above, according to the present invention, in the test mode, the comparison value corresponding to the output of the comparator is set in the comparison value setting register by software, and the comparison value of the comparison value setting register is set to the successive approximation register. Since it is configured to switch the switch so as to give to, the digital part can be tested without giving an analog signal for testing from the outside, and the expected value can be freely written to the successive approximation register by software. As a result, the controllability of the test is improved, the defect detection rate is significantly increased, and the efficiency at the time of defect analysis is improved.
【図1】この発明の一実施例のアナログ/デジタル変換
装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an analog / digital conversion apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】従来のアナログ/デジタル変換装置の構成を示
すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional analog / digital conversion device.
2 アナログ入力ピン 3 デジタル/アナログ変換器 4 コンパレータ 5 逐次比較レジスタ 7 スイッチ 8 比較値設定レジスタ 2 Analog input pin 3 Digital / Analog converter 4 Comparator 5 Successive approximation register 7 Switch 8 Comparison value setting register
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成4年8月21日[Submission date] August 21, 1992
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】符号の説明[Correction target item name] Explanation of code
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【符号の説明】1 制御回路 2 アナログ入力ピン 3 デジタル/アナログ変換器 4 コンパレータ 5 逐次比較レジスタ6 テスト用デジタル/アナログ変換器 7 スイッチ 8 比較値設定レジスタ[Description of reference symbols] 1 control circuit 2 analog input pin 3 digital / analog converter 4 comparator 5 successive approximation register 6 test digital / analog converter 7 switch 8 comparison value setting register
Claims (1)
のアナログ入力ピンと、下記逐次比較レジスタのデジタ
ル信号をアナログ信号に変換するデジタル/アナログ変
換器と、上記アナログ入力ピンからのアナログ信号と上
記デジタル/アナログ変換器からのアナログ信号とを逐
次比較するコンパレータと、このコンパレータからの比
較結果のデジタル信号を逐次格納する逐次比較レジスタ
とを備えたアナログ/デジタル変換装置において、上記
コンパレータの出力に相当する比較値を設定する比較値
設定レジスタと、上記コンパレータの出力端と上記比較
値設定レジスタの出力端の何れかを選択し上記逐次比較
レジスタの入力端に接続するスイッチとを備え、テスト
モード時には上記比較値設定レジスタの出力端を上記ス
イッチにより上記逐次比較レジスタの入力端に接続する
ことを特徴とするアナログ/デジタル変換装置。1. An analog input pin for inputting an analog signal from the outside, a digital / analog converter for converting a digital signal of the successive approximation register into an analog signal, an analog signal from the analog input pin and the digital signal. In an analog / digital conversion device provided with a comparator for successively comparing the analog signal from the analog / analog converter and a successive approximation register for successively storing the digital signal of the comparison result from the comparator, this corresponds to the output of the comparator. A comparison value setting register for setting a comparison value; and a switch for selecting one of the output end of the comparator and the output end of the comparison value setting register and connecting the input end of the successive approximation register. The output end of the comparison value setting register is An analog / digital conversion device characterized by being connected to an input terminal of a next comparison register.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28708891A JPH05102852A (en) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | A/d converting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28708891A JPH05102852A (en) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | A/d converting device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05102852A true JPH05102852A (en) | 1993-04-23 |
Family
ID=17712902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28708891A Pending JPH05102852A (en) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | A/d converting device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05102852A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100340057B1 (en) * | 1998-12-24 | 2002-07-18 | 박종섭 | Testing method of analog to digital conveter |
-
1991
- 1991-10-07 JP JP28708891A patent/JPH05102852A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100340057B1 (en) * | 1998-12-24 | 2002-07-18 | 박종섭 | Testing method of analog to digital conveter |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5510789A (en) | Algorithmic A/D converter with digitally calibrated output | |
KR930004772Y1 (en) | Apparatus for testing analog to digital | |
US4903024A (en) | A/D converter system with error correction and calibration apparatus and method | |
US4580126A (en) | Method of testing analog/digital converter and structure of analog/digital converter suited for the test | |
US4527148A (en) | Analog-digital converter | |
JPH08330959A (en) | Detection for fault of a-d input circuit | |
JP2566205B2 (en) | Analog-to-digital converter | |
JPH05102852A (en) | A/d converting device | |
US4924224A (en) | High-accuracy A/D converter | |
KR20010051846A (en) | Analog-to-digital converter, microcomputer, and analog-to-digital conversion method | |
USH241H (en) | Programmable telemetry word selector | |
JPH1155120A (en) | A/d converter and microcomputer incorporating it | |
JPS60182220A (en) | Analog-digital converter | |
JP2592656B2 (en) | Testing method of AD converter with multiplexer | |
JPH118557A (en) | A/d converter | |
KR100280494B1 (en) | Analog / Digital Converter | |
JPH0376428A (en) | A/d converter | |
JPH03198428A (en) | A/d converter | |
JPH0683068B2 (en) | Analog signal input / output circuit | |
KR20000007224A (en) | Digital/analog converter test device | |
KR0183933B1 (en) | Multi-channel a/d converter test method and circuit | |
JPH02268520A (en) | Successive approximation analog/digital conversion circuit | |
JPH06164391A (en) | A/d converter | |
JP2000131399A (en) | Ic tester | |
JP2001203575A (en) | Analog/digital converter |