JPH05102307A - Lsiの設計ルール検証方法 - Google Patents

Lsiの設計ルール検証方法

Info

Publication number
JPH05102307A
JPH05102307A JP3259005A JP25900591A JPH05102307A JP H05102307 A JPH05102307 A JP H05102307A JP 3259005 A JP3259005 A JP 3259005A JP 25900591 A JP25900591 A JP 25900591A JP H05102307 A JPH05102307 A JP H05102307A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
macro
layout
hierarchy
design rule
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3259005A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoko Yamanari
聡子 山成
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3259005A priority Critical patent/JPH05102307A/ja
Publication of JPH05102307A publication Critical patent/JPH05102307A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】第1ステップで論理設計における接続記述を、
自動レイアウト時に使用する階層(ユーザマクロ)情報
1を持たせて作成する。第2,第3ステップでは、その
階層情報11を基にレイアウト時の配線長を考慮したフ
ァンアウト制限チェックおよびレイアウトプログラムで
の制限値を考慮したマクロ内セル数、ネット数、ピンペ
ア数チェックを行う。 【効果】自動レイアウトで用いる階層を考慮して設計ル
ール検証を行うことによって、レイアウトプログラムで
エラーになる制限値を予めチェックし、マクロ内、マク
ロ間を考慮した実配線長に近い値でファンアウトをチェ
ックすることができ、レイアウト後に接続情報の不具合
を修正することが少なくなり、TATを短くできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSIの論理設計にお
ける設計ルール検証方法に関し、特に階層設計の設計ル
ール検証方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、LSIの設計における論理接続
情報を作成した段階では、回路の接続が正しいかどう
か、またライブラリや後で使うレイアウトプログラム等
によって規定される制限値を越えていないかどうか等の
検証を行っている。
【0003】従来、この種の検証プログラムではベタ
(一階層)に展開した接続情報を使用していた。従って
ファンアウト制限値をチェックする場合、ファンアウト
数及び下地の大きさから割り出される平均予想配線長か
ら容量を求め、この容量が制限値を越えていないかどう
かを検証していた。また、セル数、ネット数、ピンペア
数については、回路全体の合計値を算出して検証するだ
けであった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の説明ルール
検証方法では、自動レイアウト時に用いられる階層の情
報を考慮したチェックが行われなかった。レイアウトプ
ログラムで、まずマクロ毎にマクロ内の配置配線を行
い、その後回路レベルでマクロの配置マクロ間配線を行
う場合、マクロの内部および外部でまたマクロの規模に
よって、異った配線長が予測されるはずである。
【0005】しかし、従来の方法ではこれを回路全体一
律の値で予測するため、実際のレイアウト後の配線長と
の誤差が大きくなり、ファンアウト検証も不正確にな
り、またレイアウトプログラムがもつマクロ内ネット
数、ピンペア数、セル数の制限値をチェックしていない
ため、レイアウトプログラムでエラーが生じてから階層
を組み替えを行うことになり、設計のTATが長くなる
という欠点があった。
【0006】本発明の目的は、これらの欠点を除き、フ
ァンアウト検証を正確にすると共に、設計のTATを短
縮した設計ルール検証方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の設計ルール検証
方法の構成は、LSIの論理設計における接続記述を、
自動レイアウト時に使用する階層(ユーザマクロ)情報
を持たせて作成する第1のステップと、その階層情報を
基にレイアウト時の配線長を考慮したファンアウト制限
チェックおよびレイアウトプログラムでの制限値を考慮
したマクロ内セル数、ネット数、ピンペア数チェックを
行う第2のステップとを有することを特徴とする。
【0008】
【実施例】図1は、本発明の一実施例の概念フロー図で
ある。まず、ステップ1において、論理接続情報作成を
行う、ここで作成された接続情報11には、レイアウト
時に使用する階層の情報が入っている。ステップ2以降
は、設計ルール検証の内部処理となっている。
【0009】ステップ2では、接続情報11から階層単
位の情報を、ステップ3では階層を展開レベルにした情
報をとりこむ。これら両方の情報からステップ4の設計
ルール検証を行う。ステップ2で得たマクロ毎の情報か
ら、マクロ内のセル数、ネット数、ピンペア数を出し、
レイアウトプログラムからの制限値をもったルールファ
イル12と比較してチェックを行う。さらにマクロ毎の
予想面積から、予想配線長を算出し、ステップ3のベタ
展開データで得た接続及びそのネットの予想配線長(マ
クロ内、マクロ間により場合分け)から容量を算出して
ファンアウト制限値チェックを行う。
【0010】こうして出力した検証結果13はステップ
5でレイアウトプログラムのマクロの制限値をチェック
し、またレイアウト後の配線長に近い値を考慮している
ためファンアウトチェックの精度があがるのでレイアウ
ト前に不都合な接続情報を修正できる。
【0011】図2は図1のファンアウトチェック部分の
詳細フロー図であり、予想配線遅延算出、ファンアウト
制限チェックの部分の詳細例である。また、図3は図2
を説明する配線図である。
【0012】ステップ21で接続情報内の階層情報をも
とにマクロ面積を予想し、ステップ22でその面積から
マクロ内の配線長を予想する。同様にステップ23,2
4では、回路レベル即ちマクロ間の配線長を予想する。
ステップ25ではマクロ内かマクロ間か判断しネットの
配線長を算出する。
【0013】図3において、マクロAとマクロB、そし
て回路の予想配線長を合計したものは、(a+b+c)
となる。このネットの容量及び入力端子のファイン容量
から、ステップ26で容量の合計を算出し制限値チェッ
クを行う。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は自動レイ
アウトで用いる階層を考慮して設計ルール検証を行うこ
とによって、レイアウトプログラムでエラーになる制限
値を予めチェックし、マクロ内、マクロ間を考慮した実
配線長に近い値でファンアウトをチェックすることがで
き、レイアウト後に接続情報の不具合を修正することが
少なくなり、TATを短くできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の概念フロー図。
【図2】図1のファンアウト制限値チェック部の詳細フ
ロー図。
【図3】図2の配線例としてマクロ間配線を示す接続
図。
【符号の説明】
1 接続情報作成ステップ 2 マクロ内情報取得ステップ 3 内部展開処理ステップ 4 設計ルール検証ステップ 11 階層付接続情報 12 ルールファイル 13 検証結果 21 マクロ面積予測ステップ 22 マクロ内予想配線長算出ステップ 23 回路面積予測ステップ 24 マクロ間予想配線長算出ステップ 25 ネット配線長算出ステップ 26 F/0値検証ステップ a マクロA内予想配線長 b マクロB内予想配線長

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 LSIの論理設計における接続記述を、
    自動レイアウト時に使用する階層(ユーザマクロ)情報
    を持たせて作成する第1のステップと、その階層情報を
    基にレイアウト時の配線長を考慮したファンアウト制限
    チェックおよびレイアウトプログラムでの制限値を考慮
    したマクロ内セル数、ネット数、ピンペア数チェックを
    行う第2のステップとを有することを特徴とするLSI
    の設計ルール検証方法。
JP3259005A 1991-10-07 1991-10-07 Lsiの設計ルール検証方法 Pending JPH05102307A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3259005A JPH05102307A (ja) 1991-10-07 1991-10-07 Lsiの設計ルール検証方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3259005A JPH05102307A (ja) 1991-10-07 1991-10-07 Lsiの設計ルール検証方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05102307A true JPH05102307A (ja) 1993-04-23

Family

ID=17328033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3259005A Pending JPH05102307A (ja) 1991-10-07 1991-10-07 Lsiの設計ルール検証方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05102307A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8286117B2 (en) 2007-12-27 2012-10-09 Fujitsu Limited Macro layout verification apparatus to detect error when connecting macro terminal in LSI design layout

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8286117B2 (en) 2007-12-27 2012-10-09 Fujitsu Limited Macro layout verification apparatus to detect error when connecting macro terminal in LSI design layout
US8539412B2 (en) 2007-12-27 2013-09-17 Fujitsu Limited Macro layout verification appartus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6026228A (en) Integrated circuit design method, database apparatus for designing integrated circuit and integrated circuit design support apparatus
US7243315B2 (en) Methods for producing structured application-specific integrated circuits that are equivalent to field-programmable gate arrays
US5724250A (en) Method and apparatus for performing drive strength adjust optimization in a circuit design
US5719783A (en) Method and apparatus for performing timing analysis on a circuit design
US5726903A (en) Method and apparatus for resolving conflicts between cell substitution recommendations provided by a drive strength adjust tool
US6536023B1 (en) Method and system for hierarchical metal-end, enclosure and exposure checking
CN112069763B (zh) 修正电路的方法
US11574101B2 (en) Techniques for providing optimizations based on categories of slack in timing paths
JPH06274568A (ja) 階層図形データの展開方法
US11270052B2 (en) System and method of timing characterization for semiconductor circuit
JP2802140B2 (ja) 論理回路の設計方法
JPH05102307A (ja) Lsiの設計ルール検証方法
JPWO2006025412A1 (ja) 論理検証方法、論理モジュールデータ、デバイスデータおよび論理検証装置
US6434723B1 (en) System and method for evaluating a very large scale integrated circuit for potential design errors
US10049174B2 (en) Exact delay synthesis
JP5059657B2 (ja) マクロ内端子配線を考慮したネットリストによって信号の遅延時間を予測する設計方法、及び、プログラム
JP2872216B1 (ja) マクロの設計方法
JP3288336B2 (ja) 半導体集積回路の設計方法
US10747925B1 (en) Variable accuracy incremental timing analysis
JP2845154B2 (ja) 論理シミュレーション用モデルの作成方法
JP2785708B2 (ja) 論理シミュレーション方法
Golshan Design Verification
JP2996153B2 (ja) Asic検証方法
JP4252236B2 (ja) 半導体集積回路の論理設計方法
JP3652220B2 (ja) 論理回路検証装置及び論理回路検証方法及び論理回路検証プログラムを格納した記録媒体