JPH05101788A - フリーマン型イオン源 - Google Patents
フリーマン型イオン源Info
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- JPH05101788A JPH05101788A JP3289536A JP28953691A JPH05101788A JP H05101788 A JPH05101788 A JP H05101788A JP 3289536 A JP3289536 A JP 3289536A JP 28953691 A JP28953691 A JP 28953691A JP H05101788 A JPH05101788 A JP H05101788A
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- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 abstract description 11
- 238000000605 extraction Methods 0.000 abstract description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 フィラメントの消耗によるイオンビ−ムの特
性変化を抑えること。 【構成】 アークチェンバ1のイオン引出し孔2に近い
ところに2個の熱電子放出用フィラメント41、42を並
設する。両フィラメントには互いに逆方向のフィラメン
ト電流I1、I2を流し、両電流の差(代数和)、I1−
I2=△Iが常に一定と成るように両フィラメント電流
を制御する。イオン源の運転に伴いスパッタ等によりフ
ィラメントが消耗し、フィラメント電流は減らされる
が、その差は一定であるから、両フィラメントの周囲に
生ずる回転磁界の強度は変化しない。イオン引出し孔付
近のプラズマ生成状態の変化が抑えられ、特性が一定の
イオンビ−ムを引出すことができる。
性変化を抑えること。 【構成】 アークチェンバ1のイオン引出し孔2に近い
ところに2個の熱電子放出用フィラメント41、42を並
設する。両フィラメントには互いに逆方向のフィラメン
ト電流I1、I2を流し、両電流の差(代数和)、I1−
I2=△Iが常に一定と成るように両フィラメント電流
を制御する。イオン源の運転に伴いスパッタ等によりフ
ィラメントが消耗し、フィラメント電流は減らされる
が、その差は一定であるから、両フィラメントの周囲に
生ずる回転磁界の強度は変化しない。イオン引出し孔付
近のプラズマ生成状態の変化が抑えられ、特性が一定の
イオンビ−ムを引出すことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、フィラメントの消耗に
よるプラズマ、イオンビ−ムの特性変化を抑えることが
できるフリーマン型イオン源に関する。
よるプラズマ、イオンビ−ムの特性変化を抑えることが
できるフリーマン型イオン源に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は従来のフリーマン型イオン源の一
例を示す要部断面図であり、アークチェンバ1の側壁に
イオン引出し孔(スリット)2、イオン物質源蒸気、ガ
スの導入口3が形成されている。タングステン、タンタ
ル線等で作った直線状の熱電子放出用フィラメント4が
アークチェンバ1の端壁に絶縁部材5を用いて取り付け
られて、アークチェンバ1の中心からずれたイオン引出
し孔2に近いところに配置されており、フィラメント4
は電流導入端子6を介して図示しない電源に接続されて
いる。
例を示す要部断面図であり、アークチェンバ1の側壁に
イオン引出し孔(スリット)2、イオン物質源蒸気、ガ
スの導入口3が形成されている。タングステン、タンタ
ル線等で作った直線状の熱電子放出用フィラメント4が
アークチェンバ1の端壁に絶縁部材5を用いて取り付け
られて、アークチェンバ1の中心からずれたイオン引出
し孔2に近いところに配置されており、フィラメント4
は電流導入端子6を介して図示しない電源に接続されて
いる。
【0003】フィラメント4はアノードとなるアークチ
ェンバ1に対して負電位にバイアスされており、アーク
チェンバ1の外部からフィラメント4に平行に20〜1
00Gauss の外部磁界が作用している。所定の真空雰囲
気中において、フィラメント4に150〜200Aのフ
ィラメント電流を供給し、ガス導入口3からイオン物質
源ガスを供給する。フィラメント4とアークチェンバ1
間にアーク放電が生じ、アークチェンバ1内にイオン物
質のプラズマを生成する。プラズマ生成後はアーク電流
が一定となるようにフィラメント電流を制御する。フィ
ラメント電流によってフィラメント4の周囲に回転磁界
ができ、この磁界とフィラメント4と平行な外部磁界と
の合成磁界によってイオン引出し孔2の近くに密度の高
いプラズマが生成され、静電引出し方式によってイオン
引出し孔2からイオンビ−ムが引出される。
ェンバ1に対して負電位にバイアスされており、アーク
チェンバ1の外部からフィラメント4に平行に20〜1
00Gauss の外部磁界が作用している。所定の真空雰囲
気中において、フィラメント4に150〜200Aのフ
ィラメント電流を供給し、ガス導入口3からイオン物質
源ガスを供給する。フィラメント4とアークチェンバ1
間にアーク放電が生じ、アークチェンバ1内にイオン物
質のプラズマを生成する。プラズマ生成後はアーク電流
が一定となるようにフィラメント電流を制御する。フィ
ラメント電流によってフィラメント4の周囲に回転磁界
ができ、この磁界とフィラメント4と平行な外部磁界と
の合成磁界によってイオン引出し孔2の近くに密度の高
いプラズマが生成され、静電引出し方式によってイオン
引出し孔2からイオンビ−ムが引出される。
【0004】かかるフリーマン型イオン源は、一般に、
イオンビ−ムの安定度がよい、イオンビ−ム量の可変範
囲が広い、板状のイオンビ−ムが容易に引出せる、メン
テナンスも容易であるという利点を有し、大電流のイオ
ン注入装置に利用されているところである。
イオンビ−ムの安定度がよい、イオンビ−ム量の可変範
囲が広い、板状のイオンビ−ムが容易に引出せる、メン
テナンスも容易であるという利点を有し、大電流のイオ
ン注入装置に利用されているところである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フィラ
メント4はイオン源の運転に伴い、スパッタ等により消
耗していく。フィラメント4が消耗すると、抵抗値が増
加し、所要の熱電子放出のためのフィラメント温度は、
より小さいフィラメント電流で維持することができ、フ
ィラメント4の消耗に伴い、フィラメント電流は当初の
例えば150A程度から50〜60A程度でも充分な状
態へと変化する。かかるフィラメント電流の変化は、回
転磁界強度の変化をもたらし、生成されるプラズマ、し
たがって引出されるイオンビ−ムの特性を変化させる。
イオン注入装置にあっては、かかる特性が変化するとい
う現象によって、最適なイオンビ−ムを得るためのイオ
ン源以降の運転パラメータが変化し、装置の完全自動化
が困難になっている。
メント4はイオン源の運転に伴い、スパッタ等により消
耗していく。フィラメント4が消耗すると、抵抗値が増
加し、所要の熱電子放出のためのフィラメント温度は、
より小さいフィラメント電流で維持することができ、フ
ィラメント4の消耗に伴い、フィラメント電流は当初の
例えば150A程度から50〜60A程度でも充分な状
態へと変化する。かかるフィラメント電流の変化は、回
転磁界強度の変化をもたらし、生成されるプラズマ、し
たがって引出されるイオンビ−ムの特性を変化させる。
イオン注入装置にあっては、かかる特性が変化するとい
う現象によって、最適なイオンビ−ムを得るためのイオ
ン源以降の運転パラメータが変化し、装置の完全自動化
が困難になっている。
【0006】本発明は、フィラメントの消耗によるプラ
ズマ、イオンビ−ムの特性の変化を抑えることができる
フリーマン型イオン源を提供することを目的とするもの
である。
ズマ、イオンビ−ムの特性の変化を抑えることができる
フリーマン型イオン源を提供することを目的とするもの
である。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、フリーマン型
イオン源において、並設された複数個の熱電子放出用フ
ィラメントを有し、これらフィラメントには、フィラメ
ント電流の代数和が一定の値となるようにフィラメント
電流が供給されるように構成したことを特徴とするもの
である。
イオン源において、並設された複数個の熱電子放出用フ
ィラメントを有し、これらフィラメントには、フィラメ
ント電流の代数和が一定の値となるようにフィラメント
電流が供給されるように構成したことを特徴とするもの
である。
【0008】
【作用】複数個の熱電子放出用フィラメントには、これ
らフィラメント電流の代数和が一定となるように電流を
供給するから、フィラメント周囲の回転磁界の強度は一
定に保たれ、プラズマの特性、したがってイオン源から
引出されるイオンビ−ムの特性の変化が抑えられる。
らフィラメント電流の代数和が一定となるように電流を
供給するから、フィラメント周囲の回転磁界の強度は一
定に保たれ、プラズマの特性、したがってイオン源から
引出されるイオンビ−ムの特性の変化が抑えられる。
【0009】
【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。図1は一実施例の要部断面図、図2は同実施例の
電気回路接続図である。図4と同一符号は同等部分を示
す。アークチェンバ1の側壁にイオン引出し孔(スリッ
ト)2、イオン物質源ガスの導入口3が形成されてい
る。タングステン、タンタル線等により直線状に形成さ
れた第1及び第2の熱電子放出用フィラメント41、42
がアークチェンバ1の端壁に絶縁部材51、52を用いて
取り付けられて、アークチェンバ1の中心からずれたイ
オン引出し孔2に近いところに並設されている。両フィ
ラメント41、42には電流導入端子61、62を介して図
2に示すように、それぞれフィラメント電源71、72か
ら互いに逆方向にフィラメント電流I1、I2が供給さ
れ、両フィラメントの周囲にはフィラメント電流I1と
I2との差に比例した回転磁界が生ずる。第1及び第2
の熱電子放出用フィラメント41、42はアークチェンバ
1に対して、それぞれバイアス電源81、82によって負
電位にバイアスされている。
する。図1は一実施例の要部断面図、図2は同実施例の
電気回路接続図である。図4と同一符号は同等部分を示
す。アークチェンバ1の側壁にイオン引出し孔(スリッ
ト)2、イオン物質源ガスの導入口3が形成されてい
る。タングステン、タンタル線等により直線状に形成さ
れた第1及び第2の熱電子放出用フィラメント41、42
がアークチェンバ1の端壁に絶縁部材51、52を用いて
取り付けられて、アークチェンバ1の中心からずれたイ
オン引出し孔2に近いところに並設されている。両フィ
ラメント41、42には電流導入端子61、62を介して図
2に示すように、それぞれフィラメント電源71、72か
ら互いに逆方向にフィラメント電流I1、I2が供給さ
れ、両フィラメントの周囲にはフィラメント電流I1と
I2との差に比例した回転磁界が生ずる。第1及び第2
の熱電子放出用フィラメント41、42はアークチェンバ
1に対して、それぞれバイアス電源81、82によって負
電位にバイアスされている。
【0010】イオン源の運転時、プラズマ生成後はフィ
ラメント41、42とアークチェンバ1との間に生ずるア
ーク電流が一定となるようにフィラメント電流I1、I2
を制御するが、I1とI2の差、即ち両フィラメント電流
の代数和が、 I1−I2=△I=一定 となるように制御し、この一定の△Iに比例した回転磁
界が両フィラメントの周囲に発生する。△Iの値は従来
例におけるフィラメント電流の最小運転値相当(50〜
60A)に設定する。したがって、イオン源の運転に伴
いフィラメント41、42が消耗し、フィラメント電流I
1、I2の値が低下しても、その差は一定であるから、フ
ィラメント41、42による回転磁界の強度に変化はな
く、イオン引出し孔3付近のプラズマの特性、引出され
るイオンビ−ムの特性はフィラメントの消耗に拘らず一
定に保たれる。
ラメント41、42とアークチェンバ1との間に生ずるア
ーク電流が一定となるようにフィラメント電流I1、I2
を制御するが、I1とI2の差、即ち両フィラメント電流
の代数和が、 I1−I2=△I=一定 となるように制御し、この一定の△Iに比例した回転磁
界が両フィラメントの周囲に発生する。△Iの値は従来
例におけるフィラメント電流の最小運転値相当(50〜
60A)に設定する。したがって、イオン源の運転に伴
いフィラメント41、42が消耗し、フィラメント電流I
1、I2の値が低下しても、その差は一定であるから、フ
ィラメント41、42による回転磁界の強度に変化はな
く、イオン引出し孔3付近のプラズマの特性、引出され
るイオンビ−ムの特性はフィラメントの消耗に拘らず一
定に保たれる。
【0011】図3はフィラメント41、42にフィラメン
ト電流I1、I2を供給するフィラメント電源71、72の
一具体例のブロック図である。フィラメント電流I1を
供給するフィラメント電源71は、比較部91、増幅部1
01、電力制御部111からなる。比較部91はアーク電
流の設定値Iarとフィラメント41、42とアークチェ
ンバ1との間に生ずるアーク電流の実際値とを比較し、
この実アーク電流値は、バイアス電源81及び同82に流
れる電流Ia1及びIa2を検出し、その和として得られ
る。増幅部101は比較部91からの設定アーク電流値と
実アーク電流値との偏差、Iar−(Ia1+Ia2)を
増幅し、制御部111は増幅部101の出力に応答しフィ
ラメント電流I1を制御する。フィラメント42にフィラ
メント電流I2を供給するフィラメント電源72は設定部
92、増幅部102、制御部112を有する。比較部92は
フィラメント電流I1から所定の一定値△Iを差し引い
た値と実際のフィラメント電流I2とを比較し、制御部
112は、増幅部102からの(I1−△I)−I2につい
ての増幅出力に応答しフィラメント電流I2を制御す
る。したがって、フィラメント電流I1は実際のアーク
電流に応じて制御され、フィラメント電流I2はフィラ
メント電流I1より所定の一定値△Iだけ低い値に追従
制御されることになり、結局、フィラメント電流I1と
I2の差を一定値に保ちつつ、設定アーク電流値が得ら
れるように両フィラメント電流は制御される。
ト電流I1、I2を供給するフィラメント電源71、72の
一具体例のブロック図である。フィラメント電流I1を
供給するフィラメント電源71は、比較部91、増幅部1
01、電力制御部111からなる。比較部91はアーク電
流の設定値Iarとフィラメント41、42とアークチェ
ンバ1との間に生ずるアーク電流の実際値とを比較し、
この実アーク電流値は、バイアス電源81及び同82に流
れる電流Ia1及びIa2を検出し、その和として得られ
る。増幅部101は比較部91からの設定アーク電流値と
実アーク電流値との偏差、Iar−(Ia1+Ia2)を
増幅し、制御部111は増幅部101の出力に応答しフィ
ラメント電流I1を制御する。フィラメント42にフィラ
メント電流I2を供給するフィラメント電源72は設定部
92、増幅部102、制御部112を有する。比較部92は
フィラメント電流I1から所定の一定値△Iを差し引い
た値と実際のフィラメント電流I2とを比較し、制御部
112は、増幅部102からの(I1−△I)−I2につい
ての増幅出力に応答しフィラメント電流I2を制御す
る。したがって、フィラメント電流I1は実際のアーク
電流に応じて制御され、フィラメント電流I2はフィラ
メント電流I1より所定の一定値△Iだけ低い値に追従
制御されることになり、結局、フィラメント電流I1と
I2の差を一定値に保ちつつ、設定アーク電流値が得ら
れるように両フィラメント電流は制御される。
【0012】上述の実施例では、アークチェンバ1に対
する両フィラメント41、42のバイアス電源として各別
の電源81、82を用いたものを示したが、共通のバイア
ス電源によって両フィラメントを同じ負電位にバイアス
してもよく、この場合には当然に実アーク電流検出手段
は1個ですむ。また、熱電子放出用フィラメントとして
2個のフィラメント41、42を設けたものを示したが、
フィラメント数は適宜増加することができ、その場合に
は、各フィラメントに流れる電流の方向に応じて、フィ
ラメント電流の代数和が一定となるように各電流を制御
すればよい。
する両フィラメント41、42のバイアス電源として各別
の電源81、82を用いたものを示したが、共通のバイア
ス電源によって両フィラメントを同じ負電位にバイアス
してもよく、この場合には当然に実アーク電流検出手段
は1個ですむ。また、熱電子放出用フィラメントとして
2個のフィラメント41、42を設けたものを示したが、
フィラメント数は適宜増加することができ、その場合に
は、各フィラメントに流れる電流の方向に応じて、フィ
ラメント電流の代数和が一定となるように各電流を制御
すればよい。
【0013】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成したの
で、熱電子放出用フィラメントの消耗した場合にあって
も、回転磁界の強度を一定に維持することができるか
ら、特性が一定のイオンビ−ムを引出すことができ、イ
オン注入装置にあっては、運転パラメータの完全自動化
を達成することができる。
で、熱電子放出用フィラメントの消耗した場合にあって
も、回転磁界の強度を一定に維持することができるか
ら、特性が一定のイオンビ−ムを引出すことができ、イ
オン注入装置にあっては、運転パラメータの完全自動化
を達成することができる。
【0014】並設された複数個のフィラメントの電流の
代数和△Iの設定によりフィラメント周囲の回転磁界強
度を任意に設定できるから、イオン種、イオンの質量に
応じて△Iの大きさを設定し、外部磁界との合成によ
り、フィラメントの周囲に最適なスパイラル磁界を形成
させることができる。
代数和△Iの設定によりフィラメント周囲の回転磁界強
度を任意に設定できるから、イオン種、イオンの質量に
応じて△Iの大きさを設定し、外部磁界との合成によ
り、フィラメントの周囲に最適なスパイラル磁界を形成
させることができる。
【0015】並設された複数個のフィラメントについ
て、隣接するフィラメントの電流を逆方向にすることに
より、各フィラメントには間隔が広がる方向の斥力が作
用するから、フィラメント間における放電を防止するこ
とができる。
て、隣接するフィラメントの電流を逆方向にすることに
より、各フィラメントには間隔が広がる方向の斥力が作
用するから、フィラメント間における放電を防止するこ
とができる。
【図1】本発明の実施例の要部断面図である。
【図2】実施例の電気回路接続図である。
【図3】フィラメント電源のブロック図である。
【図4】従来例の要部断面図である。
1 アークチェンバ 2 イオン引出し孔 3 ガス導入口 41、42 熱電子放出用フィラメント 51、52 絶縁部材 61、62 電流導入端子 71、72 フィラメント電源 81、82 バイアス電源
Claims (1)
- 【請求項1】 並設された複数個の熱電子放出用フィラ
メントを有し、これらフィラメントには、フィラメント
電流の代数和が一定の値となるようにフィラメント電流
が供給されてなることを特徴とするフリーマン型イオン
源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3289536A JPH05101788A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | フリーマン型イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3289536A JPH05101788A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | フリーマン型イオン源 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05101788A true JPH05101788A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=17744518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3289536A Pending JPH05101788A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | フリーマン型イオン源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05101788A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101764020A (zh) * | 2008-12-24 | 2010-06-30 | 株式会社昭和真空 | 离子管 |
CN108172490A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-15 | 广州今泰科技股份有限公司 | 多用途灯丝气体离子源装置 |
-
1991
- 1991-10-09 JP JP3289536A patent/JPH05101788A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101764020A (zh) * | 2008-12-24 | 2010-06-30 | 株式会社昭和真空 | 离子管 |
CN108172490A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-15 | 广州今泰科技股份有限公司 | 多用途灯丝气体离子源装置 |
CN108172490B (zh) * | 2017-12-26 | 2020-01-03 | 广州今泰科技股份有限公司 | 多用途灯丝气体离子源装置 |
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