JPH0495224A

JPH0495224A - 光学的情報記録／再生装置およびカートリッジ

Info

Publication number: JPH0495224A
Application number: JP2212537A
Authority: JP
Inventors: Naoyasu Miyagawa; 直康宮川; Yasuhiro Goto; 泰宏後藤
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1990-08-09
Filing date: 1990-08-09
Publication date: 1992-03-27
Anticipated expiration: 2012-07-02
Also published as: JP2626205B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は情報信号の記録、再生または消去が可能な光デ
ィスク装置に関するものである。

従来の技術近年、ＣＤプレーヤなどの再生専用の光ディスク装置に
加えて、信号の記録再生の可能な光ディスク装置の開発
が盛んである。

通常、光ディスクの記録再生は、半導体レーザなどの放
射ビームをレンズによって光ディスクの記録層に集束さ
せることによって行われる。ここで、記録層とは、ＣＤ
ではピット層を、記録可能光ディスクでは集束レーザビ
ームによって変形または磁区の形成などがなされる層の
ことである。

光ディスクの記録密度を上げるためには、この集束ビー
ムのスポット径ｒを小さくする必要があるが、ｒはレン
ズの開口数ＮＡとレーザ光の波長λに対し次式のような
関係になる。

ＮＡ上記（１）式は、ＮＡの大きなものがスポット径ｒを小
さくでき、高密度記録が可能であることを示している。

ところが、高ＮＡレンズを使用する場合は、ディスクの
傾き（チルト）などによるスポットの収差が大きくなる
。これを抑えるには光ディスクのディスク基板の厚さを
薄くすると効果があるため、高密度記録が可能な光ディ
スクではディスク基板の厚さが従来の光ディスクに比べ
て薄い方が好ましい。

従って、光ディスクの記録密度を上げるための方策とし
て、光ディスク側では従来よりも薄いディスク基板を採
用し、光ディスク装置側では高ＮＡのレンズを使用し、
かつ、薄いディスク基板に対応した集束光学系の光ヘッ
ドが必要となる。

第９図はそのような光ディスク装置の構成を示す図であ
る。同図において、１０１は光ディスクであり、第１０
図に示すように、従来よりも薄い厚さｄのディスク基板
と、記録またはピット層と、保護層とから構成されてい
る。１０２は光ヘッドであり、図示しない高ＮＡの対物
レンズ、半導体レーザ、フォトディテクタなどの光学素
子からなる。１０３はリニアモータであり、光ディスク
１０１の下部に設置されている。１０４はりニアモータ
１０４を駆動するためのドライブ回路、１０５はスピン
ドルモータ、１０６はサーボ回路、１０７はコントロー
ラである。

以上のように構成された従来の光ディスク装置について
、以下その動作を説明する。サーボ回路１０６は、スピ
ンドルモータ１０５を制御し、光ディスク１０１を線速
度一定（ＣＬＶ）または周速度一定（ＣＡＶ）などで回
転される。光ヘッド１０２は、光ディスク１０１の記録
またはピント層にレーザ光を集束し、しかも、厚さｄの
基板による収差を補正するような光学系が設計されてお
り、ディスク上に信号を記録し、また、ディスク上の信
号を再生する。また、サーボ回路１０６は、光ヘッド１
０２の出力するサーボ信号にしたがって、レーザ光を光
ディスク１０１に集束させたり、コントローラ１０７の
命令によって、ドライブ回路１０４を通じてリニアモー
タ１０３を制御し、光ヘッド１０２をディスクの内周方
向または外周方向へ移動させる。

発明が解決しようとする課題しかしながら、もしこのような薄いディスク基板に対応
した光ディスク装置で、従来の厚いディスク基板を有す
る光ディスク上にレーザ光を集束させようとすると、デ
ィスク基板の厚さの違いのためビームスポットに収差が
生じ、信号の記録または再生が困難になる。すなわち、
互換が実現できないという課題を有していた。

本発明はかかる点に鑑み、ディスク基板の厚さの異なる
Ｎ個の光ディスクに、信号を記録、再生または消去可能
な光ディスク装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段この目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、
ディスク基板の厚さの異なるＮ個の光ディスクに対応し
たＮ個の集束光学系を備えた構成を有している。

作用本発明は前記した構成により、光ディスクの基板の厚さ
に対応した集束光学系を有する光ヘッドによって、どの
光ディスクの記録層にでもレーザ光を収差なく集束させ
、信号を記録または再生することができる。

実施例本実施例においては、ディスク基板の厚さは２種類とし
て以下説明する。

第１図は本発明の第１の実施例における光ディスク装置
の構成図、第２図は同実施例の主要部の配置を示す平面
図、第３図は同実施例における光ディスクのカートリッ
ジの斜視図である。以上の３つの図において、１は第１
または第２の光ディスクであり、それぞれディスク基板
の厚さが異なる。２はディスクを収納して保護するカー
トリッジであり、プラスチックなどの剛性を有した材料
で形成されている。３と５は第１の光ヘッドおよび第２
の光ヘッドであり、それぞれ図示しない対物レンズ、半
導体レーザ、フォトディテクタ、ビームスプリッタなど
からなる集束光学系と、ベースおよびアクチュエータな
どで構成される。４は光ディスク１の下面に設置され、
第１の光ヘッド３をディスクの半径方向に、ディスク面
からの距離を一定に保って移動させる第１のりニアモー
タである。また、６は光ディスク１の下面に第１のりニ
アモータ４と対向して設置され、第２の光ヘッド５を同
様に移動させる第２のりニアモータであるが、第２図で
わかるように移動範囲は第１のりニアモータ４よりも長
く、光ディスク１の外周部より外側まで延長されている
。従って、第２の光ヘッド５が最もディスクの外側へ移
動したときには、ディスク面の外側にはみ出すことにな
る。

７はカートリッジ２の表面に設置された識別孔である。

第３図にしたがって本実施例のカートリッジについて説
明すると、収納されている光ディスクが第１の光ディス
クの場合には、識別孔７は閉じられており、第２の光デ
ィスクの場合には開けられている。また同図において、
１４はスライドシャッタであり、本実施例では２つの光
ヘッドを使用するために、２箇所に設けられている。ま
た、光ディスク装置から取り外されているときは、防塵
のために閉じられている。８はカートリッジ２が本実施
例の光ディスク装置に装着されたときに、識別孔７の上
部に位置するように設置されたＬＥＤであり、９はＬＥ
Ｄ８とカートリッジ２をはさんで対向する位置に設置さ
れたフォトダイオードであり、検出信号を後述するコン
トローラ１３に出カスる。１０はリニアモータ４および
６を駆動するためのドライブ回路である。１１はサーボ
回路であり、第１の光ヘッド３または第２の光ヘッド５
からサーボ信号を入力され、それに応じて第１の光ヘッ
ド３または第２の光ヘッド５のアクチュエータに駆動電
流を供給する。また、ドライブ回路１０に制御信号を出
力し、後述するスピンドルモータ１２に制御信号を出力
する。１３はフォトダイオード９の出力によって制御信
号をドライブ回路１０やサーボ回路１１に出力するコン
トローラである。

ここで、第１の光ディスクは、従来のＣＤまたは同等の
記録密度を有するもので、第４図（ａ）に示すようにデ
ィスク基板の厚さをｄ、とする。例えばｄ＋＝１．２ｍ
ｍである。また、第２の光ディスクはそれよりも高密度
に記録が可能な光ディスクであり、第４図（ｂ）に示す
ようにディスク基板の厚さをｄ２とする。チルトずれに
よる集光スポットの収差を小さくするために、ｄ２はｄ
＋よりも小さく設計されており、例えばｃｉ２：ｏ、３
ｍｍとする。

これに対し、第１の光ヘッド３は、例えば波長７８０　
ｎｍの半導体レーザに対しＮＡが０．４５の対物レンズ
を用いており、このときのディスクにおける集光スポッ
ト径は約φ２．１μｍとなる。

しかも、対物レンズの光学設計は、厚さ１．２ｍｍのデ
ィスク基板による収差を補正するようになされている。

また、第２の光ヘッド５は、例えばＮＡが０．　７〜０
．８の対物レンズを用いており、このときのスポット径
は約φ１．４〜１．２μｍである。しかも、対物レンズ
の光学設計は、厚さ０．３ｍｍのディスク基板による収
差を補正するようになされている。

このように、第１の光ヘッド３は第１の光ディスクに対
応して集束光学系が形成されており、第２の光ヘッド５
は第２の光ディスクに対応して集束光学系が形成されて
いる。

以上のように構成された本実施例の光ディスク装置にお
いて、以下その動作を説明する。ます、第１または第２
の光ディスクの入ったカートリッジ２が本実施例の光デ
ィスク装置に装着されると、ＬＥＤ８が発光し、識別孔
７を通過する透過光の有無をフォトダイオード９が検出
する。透過光が検出された場合は、コントローラ１３は
、装着されたカートリッジ２の中身が第２の光ディスク
であると判断し、第２の光へ、ド５と第２のりニアモー
タ６を駆動するようサーボ回路１１に制御信号を出力す
る。その後はカー）　ＩＪツノ２か脱着されるまで、第
２の光ヘッド５によって光ディスク１の記録または再生
が行われる。

すなわち、サーボ回路１１は、スピンドルモータ１２を
制御し、光ディスク１をＣＬＶまたはＣＡＶなどで回転
させる。第２の光ヘッド５は、光ディスク１のビット層
にレーザ光が集束されるような光学系が、ディスク基板
の厚さｄ２を考慮して形成されており、ディスク上に信
号を記録し、また、ディスク上の信号を再生する。また
、サーボ回路１１は、第２の光ヘッド５の出力するサー
ボ信号にしたがって、レーザ光を光ディスク１の適切な
位置に集束させたり、コントローラ１３の命令によって
、ドライブ回路１０を通して第２のりニアモータ６を制
御し、第２の光ヘッド５を内周方向または外周方向へ移
動させる。

一方、フォトダイオード９が透過光を検出しない場合は
、コントローラ１３はカートリ７ノ２の中身を第１の光
ディスクであると判断し、第１の光ヘッド３と第１のり
ニアモータ４を駆動にするようサーボ回路１１に制御信
号を出力する。その後はカートリッジ２が脱着されるま
で、光ディスク１の記録または再生は第１の光へラド３
によって行われる。

同時に、第１の光ヘッド３の動作中には、コントローラ
１３は第２のりニアモータ６を制御し、第２の光ヘッド
５を第２図に示したようにディスク面の外側に退避させ
る。これによって、第２の光ヘッドの作動距離の短い高
ＮＡ対物レンズが、ディスクの面振れによってディスク
の表面に衝突しないようにしている。

以上のように本実施例によれば、第１および第２の光デ
ィスクのディスク基板の厚さに対応した集束光学系を有
する、第１の光ヘッド３および第２の光ヘッド５を備え
たことにより、それぞれのディスク基板の厚さに適した
集束光学系の光ヘッドで、信号を良好に記録再生するこ
とができる。

しかも、カートリッジ２上に設けられた識別孔７と、そ
の開閉を検出するＬＥＤ８とフォトダイオード９からな
るディスク判別手段とを備えたことにより、カートリノ
ン２か装着されるたけて各々の光ヘッドを自動的に正し
く選択することかできる。

第５図は本発明の第２の実施例における光ディスク装置
の構成図を示すものである。同図において、１の光ディ
スク、２のカートｌＪ７’；、４の第２のりニアモータ
、７の識別孔、８のＬＥＤ、９のフォトダイオード、　
１０のドライブ回路、１１のサーボ回路、１３のコント
ローラは基本的には第１の実施例と同しであり、第１の
光ヘッド３および第２の光ヘッド５の代わりに光へ、ド
２０の第３の光ヘッドを備えた構成を有している。

さらに、第６図は本発明の第２の実施例における第３の
光ヘッド２０の詳細な構成図を示すものである。同図に
おいて、１は第１または第２の光ディスク、２２は光源
となる第１の半導体レーザ、２３は第１の半導体レーザ
２２からの光を平行化する第１のコリメータレンズ、２
４は光を２分割する第１のビームスプリッタ、２５は光
の方向を変える第１のミラー　２６は光を光ディスク１
上に集光する第１の対物レンズ、２７はビームスプリッ
タ２４で分割された反射光を集光する第１のセンサーレ
ンズ、２８は集光された反射光から情報再生信号やフォ
ーカスエラー信号、トラ、ッキングエラー信号を得るた
めの第２のフォトディテクタであり、第１の実施例で述
べた第１の集束光学系２１を構成している。また、３２
は光源となる第２の半導体レーザ、３３は第２の半導体
レーザ３２からの光を平行化する第２のコリメータレン
ズ、３４は光を２分割する第２のビームスプリッタ、３
５は光の方向を変える第２のミラー　３６は光を光ディ
スク１上に集光する第２の対物レンズ、３７は第２のビ
ームスプリッタ３４で分割された反射光を集光する第２
のセンサレンズ、３８は集光された反射光から情報再生
信号やフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号
を得るための第２のフォトディテクタであり、第１の実
施例で述べた第２の集束光学系３１を構成している。

そして、以上の第１の集束光学系２１および第２の集束
光学系３１は、図示しない同一のベース部材上に設置さ
れ、第３の光ヘッド２０を構成している。このベース部
材は通常アルミニウムなどで形成され、上記の第１の集
束光学系２１および第２の集束光学系３１を支持すると
ともに、第１のりニアモータ４に支持されている。

ここでも、本発明の第１の実施例で述へたたことと同様
に、例えば、第１の対物レンズ２６は、半導体レーザの
放射光の波長７８０ｎｍに対しＮＡ＝０．４５であり、
このときのディスクにおける集光スポット径は約φ２．
１μｍとなる。しかも、１．２ｍｍのディスク基板によ
る収差を補正するように設計されている。また、第２の
対物レンズ３６は、例えばＮＡ＝０．７〜０．８であり
、このときのスポット径は約φ１．４〜１．２μｍであ
る。しかも、厚さ０．３ｍｍのディスク基板による収差
を補正するように設計されている。

以上のように構成された本実施例の光ディスク装置にお
いて、以下その動作を説明する。ます、カー１−　ＩＪ
ッジ２が本実施例の光ディスク装置に装着されると、Ｌ
ＥＤ８が発光し、識別孔７を通過する透過光の有無をフ
ォトダイオード９が検出する。透過光が検出された場合
は、コントローラ１３は、装着されたカートリッジ２の
中身か第２の光ディスクであると判断し、第３の光へ、
ド２０の第２の集束光学系３１を選択し、第２の半導体
レーザ３２および第２のフォトディテクタ３８を動作さ
せるよう、第３の光ヘッド２０およびサーボ回路１１に
制御信号を出力する。すなわち、第２の集束光学系３１
では、第２の半導体レーザ３２の放射した光が第２のコ
リメータレンズ３３によって平行光にされ、第２のビー
ムスプリッタ３４、第２のミラー３５を経て第２の対物
レンズ３６によって、第２の光ディスク上に集光される
。

ディスクによって反射された光は、再び第２の対物レン
ズ３６によって平行光にされ、第２のミラー３５を経て
第２のビームスプリッタ３４によって分離され、第２の
センサレンズ３７によって第２のフォトディテクタ３８
上に集光される。第２のフォトディテクタ３８は、集光
されたディスク反射光から、フォーカスエラー信号やト
ラッキングエラー信号をサーボ回路１１に出力したり、
ディスク上の情報信号を再生する。このような動作は、
カートリッジ２が脱着されるまで行われる。

また、サーボ回路１１はスピンドルモータ１２を制御し
、光ディスク１をＣＬＶ、ＣＡＶなどで回転させる。ま
た、サーボ回路１１は、第３の光ヘッド２０の出力する
フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号などの
サーボ信号にしたがって、レーザ光を光ディスク１に集
束させたり、コントローラ１３の命令によって、ドライ
ブ回路１０を通じて第１のりニアモータ４を制御し、第
３の光ヘッド２０を内周方向または外周方向へ移動させ
る。

一方、フォトダイオード９が透過光を検出しないときは
、コントローラ１３はカートリッジ２の中身を前述の第
１の光ディスクであると判断し、第３の光ヘッド２０の
第１の集束光学系２１を選択し、第１の半導体レーザ２
２および第１のフォトディテクタ２８を動作させるよう
、第３の光ヘッド２０及びサーボ回路１１に制御信号を
出力する。第１の集束光学系２１の動作は基本的には前
述した第２の集束光学系３１と同じであり、カートリッ
ジ２が脱着されるまで第１の光ディスクの記録または再
生が第１の集束光学系２１によって行なわれる。

以上のようにこの実施例によれば、カートリ。

ジ２上に設けられた識別孔７と、その開閉を検出するＬ
ＥＤ８とフォトダイオード９からなる判別手段と、第１
の光ディスクのディスク基板の厚さに対応した第１の集
束光学系２１と、第２の光ディスクのディスク基板の厚
さに対応した第２の集束光学系３１とを共通のベース上
に設置した第３の光ヘッド２０を備えたことにより、そ
れぞれのディスク基板の厚さに適した集束光学系で、信
号を良好に記録再生することができる。

しかも、第１の集束光学系２１と第２の集束光学系３１
とを、同一ベース上に設置して第３の光ヘッド２０を構
成したことにより、リニアモータを共通化して部品点数
の削減を図り、装置の小型化を実現することができる。

第７図は本発明の第３の実施例における光ディスク装置
の構成図を示すものである。同図において、４０の第４
の光へ、ド以外は第５図に示した第２の実施例における
光ディスク装置と同し構成であるので、光ディスク装置
全体の詳細な説明は省略する。

さらに、第８図は本発明の第３の実施例における第４の
光ヘッド４０の詳細な構成図を不すものである。同図に
おいて、１は第１または第２の光ディスク、４２は光源
となる第３の半導体レーザ、４３は第３の半導体レーザ
４２からの光を平行化する第３のコリメータレンズ、４
４は光を２分割する第３のビームスプリッタ、４５は光
の方向を変える第３のミラーである。２６と３６は本発
明の第２の実施例で述べた第１の対物レンズと第２の対
物レンズと同じもので、それぞれ第３のビームスプリッ
タ４４および第３のミラー４５と光ディスク１との間に
設置されている。４６は第１の対物レンズ２６を通る光
路上で第３のビームスプリッタ４４との間に設置された
第１のシャッタ、４７は第２の対物レンズ３６を通る光
路上で第３のミラー４５との間に設置された第２の７ヤ
ツタであり、それぞれコントローラ１３の制御信号によ
り光路の開閉を行う。４８はビームスプリ、り４４で分
割された反射光を集光する第３のセンサレンズ、４９は
集光された反射光から情報再生信号やフォーカスエラー
信号、　トラッキングエラー信号を得るための第３のフ
ォトディテクタである。

以上述べた構成要素のうち、第１の対物レンズ２６は第
３の半導体レーザ４２、第３のコリメータレンズ４３、
第３のビームスプリッタ４４とともに本発明の第２の実
施例で述べた第１の集束光学系を構成し、第２の対物レ
ンズ３６は第３の半導体レーザ４２、第３のコリメータ
レンズ４３、第３のビームスプリッタ４４、第３のミラ
ー４５とさもに第２の集束光学系を構成している。そし
て、両者は第１のシャッタ４６及び第２のシャッタ４７
とともに図示しない共通のベース上に設置され、第４の
光ヘッド４０を構成している。

以上のように構成された本実施例における第４の光ヘッ
ド４０について、以下その動作を説明する。ます、コン
トローラ１３から、第２の集束光学系を選択するよう第
４の光ヘッド４０に制御信号が入力されると、第１のン
ヤノタ４６は閉じ、第２のシャッタ４７は開いた状態に
なる。この状態では、第３の半導体レーザ４２の放射し
た光が第３のフリメータレンズ４３によって平行光にさ
れ、第３のビームスプリンタ４４て透過光と反射光とに
２分割されるが、反射光は第１の／ヤ、り４６によって
遮断される。そこで、透過光のみが第３のミラー４５、
第２の／ヤノタ４７を経て第２の対物レンズ３６によっ
て、光ディスク１上に集光される。光ディスク１によっ
て反射された光は、再び第２の対物レンズ３６によって
平行光にされ、第３のシャッタ４７と第３のミラー４５
を経て第３のビームスプＩＪ　’ｙり４４によって反射
分離され、第３のセンサレンズ４８によって第３のフォ
トディテクタ４９上に集光される。第３のフォトディテ
クタ４９は、集光されたディスク反射光から、フォーカ
スエラー信号やトラッキングエラー信号をサーボ回路１
１に出力したり、ディスク上の情報信号を再生する。こ
のような動作は、カートリッジ２が脱着されるまで行わ
れる。

一方、コントローラ１３から、第１の集束光学系を選択
するよう第４の光ヘッド４０に制御信号が入力されると
、第１のシャッタ４６は開き、第２のシャッタ４７は閉
じた状態になる。この状態では、第３のビームスプリッ
タ４４における透過光と反射光のうち、透過光の方が第
２のシャッタ４７で遮断され、反射光のみが第１のシャ
ッタ４ｅを経て、第１の対物レンズ２６によって光ディ
スク１上に集光される。以後の動作は前述した第２の集
束光学系が選択された場合と同じである。

以上のように本実施例によれば、カートリッジ２上に設
けられた識別孔７と、その開閉を検出するＬＥＤ８とフ
ォトダイオード９からなる検出手段と、第１の光ディス
クのディスク基板の厚さに対応した第１の集束光学系と
、第２の光ディスクのディスク基板の厚さに対応した第
２の集束光学系とを共通のベース上に設置した第４の光
ヘッド４０を備えたことにより、それぞれのディスク基
板の厚さに適した集束光学系で、信号を良好に記録再生
することができる。しかも、光束選択手段として、第１
のシャッタ４６及び第２のシャッタ４７を備えたことに
より、それぞれの集束光学系のうち半導体レーザ、コリ
メータレンズ、ビームスプリッタ、センサレンズ、フォ
トディテクタを共通化でき、光ヘッドの小型軽量化を実
現することができる。これにより、シーク時間の短縮等
の性能向上を図ることが可能となる。

なお、以上３つの実施例においては、ディスク基板の厚
さが２Ｎ類として説明したが、３Ｍ類以上でも本発明は
適用できる。この場合には、例えばカー）　ＩＪッジの
識別孔の個数を複数にすれば、３種類以上の光ディスク
の識別が可能になる。例えば、ｎ個の識別孔を設けるこ
とにより　２　ｎ種類の光ディスクを識別できる。

また、ディスク判別手段として、カートリッツ２上に設
けられた識別孔７とＬＥＤ８及びフォトダイオード９を
用いたが、識別孔の代わりに反射率の異なる塗料で着色
したり、ＬＥＤとフォトダイオードの代わりに機械式の
スイッチなどを用いてもよい。

更に、カートリッジを用いずにディスクからの反射レー
ザ光によって、直接ディスク基板の板厚の違いを判別し
てもよい。例えば、薄い基板厚に対応した集束光学系で
は、厚い基板厚の光ディスクからは集束ビームの球面収
差のため、通常トラッキングエラー信号を得ることがで
きない。従ってトラッキングエラー信号の有無から、２
つの板厚の光ディスクを判別できる。この場合、ＬＥＤ
やフォトダイオードなどの検出器が不要になり、装置が
簡略になるという、優れた効果がある。

発明の詳細な説明したように、本発明によれば、Ｎ個のディスクの
それぞれの基板厚に対応した集束光学系を選択する構成
をとったために、どの光ディスクに対しても記録または
再生が可能な光ディスク装置が実現でき、その実用的効
果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例における光ディスク装置
の構成図、第２図は同実施例における光ディスク装置の
主要部の配置を示した平面図、第３図は同実施例におけ
る光ディスクのカートリッジの斜視図、第４図は同実施
例における光ディスクの断面と対物レンズによる集光の
様子を示す模式図、第５図は本発明の第２の実施例にお
ける光ディスク装置の構成図、第６図は同実施例におけ
る光ヘッドの詳細な構成図、第７図は本発明の第３の実
施例における光ディスク装置の構成図、第８図は同実施
例におけ墨光ヘッドの詳細な構成図、第９図は従来の光
ディスク装置の構成図、第１０図は従来の光ディスク装
置における光ディスクの断面と対物レンズによる集光の
様子を示す模式図である。１・・・光ディスク、　　２・・・カートリッジ、３・
・・第１の光ヘッド、　　５・・・第２の光ヘッド、７
・・・識別孔、　　８・・・ＬＥＤ、　　　９・・・フ
ォトダイオード、　　２０・・・第３の光ヘッド、　　
２１・・・第１の集束光学系、　　２２・・・第１の半
導体レーザ、２４・・・第１のビームスプリンタ、　　
２６・・・第１の対物レンズ、　　２８・・・第１のフ
ォトディテクタ、３１・・・第２の集束光学系、　　３
２・・・第２の半導体レーザ、　　３４・・・第２のビ
ームスプリッタ、３６・・・第２の対物レンズ、　　３
８・・・第２のフォトディテクタ、　　４０・・・第４
の光ヘッド、　　４２・・・第３の半導体レーザ、　　
４４・・・第３のビームスプリッタ、　　４６・・・第
１のシャッタ、　　４７・・・第２のシャッタ、　　４
９・・・第３のフォトディテクタ。代理人の氏名　弁理士　粟野　１孝　はか１名児テイス
クト区第図第１０図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）ディスク基板の厚さの異なるＮ（Ｎ≧２）個の光
ディスクに対応したＮ個の集束光学系を備え、それぞれ
の光ディスクに応じて前記Ｎ個の集束光学系の中から一
個を選択する光ディスク装置。
（２）Ｎ個の集束光学系のそれぞれが配されたＮ個の光
ヘッドと、光ディスクの下面に設置され、それぞれの光
ヘッドを前記光ディスクの半径方向に沿って移動せしめ
るＮ個の光ヘッド移動手段とを有する請求項１記載の光
ディスク装置。
（３）Ｎ個の集束光学系を１つに配した光ヘッドと、光
ディスクの下面に設置され、前記光ヘッドを前記光ディ
スクの半径方向に沿って移動せしめる光ヘッド移動手段
とを有する請求項１記載の光ディスク装置。
（４）Ｎ個の光ヘッドの１つが動作中は、他の光ヘッド
をディスク面の外側へ移動させる退避手段を備えた請求
項２記載の光ディスク装置。
（５）Ｎ個の集束光学系のそれぞれは、半導体レーザか
ら放射される光束を光ディスク上に集光する対物レンズ
と、前記光ディスクからの反射光を検出する光検出手段
とを備えた請求項３記載の光ディスク装置。
（６）Ｎ個の集束光学系は、半導体レーザの放射方向に
置かれ、放射された光束をＮ個の光束に分割し互いに異
なる方向へ変向せしめる光束分割手段と、前記Ｎ個の光
束の光路中に配置され、前記Ｎ個の光束を光ディスク上
に集光せしめ、あるいは前記光ディスクからの反射光を
集光するＮ個の対物レンズと、前記光束分割手段によっ
て分割されたＮ個の光束の中から１つを選び前記Ｎ個の
対物レンズのうちの１つに入射せしめる光束選択手段と
、前記光ディスクからの反射光を検出する光検出手段と
を備えた請求項３記載の光ディスク装置。
（７）ディスク基板の厚さの異なるＮ個の光ディスクに
対応したＮ個の集束光学系と、前記Ｎ個の光ディスクを
判別するディスク判別手段とを備え、判別した結果に応
じて前記Ｎ個の集束光学系の中から一個を選択する光デ
ィスク装置。
（８）ディスク判別手段は、光ディスクを収納するカー
トリッジと、前記カートリッジに設置され、前記光ディ
スクのディスク基板の厚さに対応してその開閉の状態が
異なる識別孔と、前記識別孔の開閉の状態を検出する検
出手段とからなる請求項７記載の光ディスク装置。