JPH0493654A - ガスクロマトグラフ - Google Patents
ガスクロマトグラフInfo
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
性の差を利用してガス分析を行うガスクロマトグラフに
関し、特にそのカラムのつまりをモニタするための自己
診断機能を持つガスクロマトグラフに関するものである
。
ガスの成分分析を行い、その分析結果に基づいて各プロ
セス工程を監視したり各種制御を行ったりするための検
出装置としてガスクロマトグラフが従来から一般に用い
られている。
カラムはサンプルガスに応じて異なるが、活性炭、活性
アルミ九モレキュラーシーブ等の粒度を揃えた粉末が固
定相として充填されており、この固定相とサンプルガス
中の各ガス成分との吸着性や分配係数の差異に基づく移
動速度の差を利用して、各ガス成分を相互に分離し、こ
れを熱伝導度素子(T CDセンサ)等の検出器によっ
て検出するものとなっている。
ルガス所謂プロセスガス中に含まれるダスト ミストな
どによりカラムにつまりゃ性能劣化が起こるトラブルが
多々生じるという問題があった。
るためになされたもので、カラムのダスト ミストによ
るつまりをモニタすることによりカラムの自己診断を行
うことのできるガスクロマトグラフを提供することを目
的とする。
フは、同一基板上にガス成分の熱伝導度によって生じる
抵抗値の変化を検出する熱伝導度素子と流量を検出する
流量検出素子が形成されたマイクロダイヤフラムセンサ
を検出器として用い、キャリアガスの圧力を設定する減
圧弁の二次圧倒波路に設けられた圧力センサと、前記流
量検出素子によって検出される信号に応じてキャリアガ
スの流量を設定すると共に、その流量を前記圧力センサ
から得られる信号によって一定に保つように前記減圧弁
の設定圧を自動的に制御するキャリアガス流量制御手段
と、前記圧力センサから得られる信号と予め決められた
しきい値とを比較してその比較結果に基づきカラムを診
断する診断手段を備えたものである。
センサとマイクロダイヤフラムセンサの流量検出素子を
利用して、キャリアガスの流量を一定に保つように減圧
弁の設定圧(二次圧)を自動的に変化させる。これによ
って、減圧弁の二次正流路側に配設されるカラムのつま
りにより流体抵抗が増すと、減圧弁の二次圧が高くなる
。そのため、この圧力をモニタすることによりカラムの
つまりを検知し、カラム寿命を知ることができる。
する。
示す基本的構成図で、恒温槽を形成し所定温度に保持さ
れるアナライザ本体1.このアナライザ本体1内に配置
されるサンプルバルブ2カラム3および検出器4.計量
管5.ヘリウム等の不活性ガスからなるキャリアガスC
Gを所定圧POに減圧する減圧弁6等を備え、測定時に
サンプルバルブ2の流路を実線の状態から破線の状態に
切替えることにより、計量管5によって分取した測定す
べきサンプルガスSGをキャリアガスCGによってカラ
ム3内に送り込むようにしている。
して充填されており、この固定相とサンプルガスSG中
の各ガス成分との吸着性や分配係数の差異に基づく移動
速度の差を利用して、各ガス成分を相互に分離し、これ
を検出器4によって検出し電気信号に変換する。この電
気信号はガス成分濃度に比例し、これを信号処理系によ
り波形処理したり記録紙に記録する。
態に切替えることにより、キャリアガスCGをカラム3
および検出器4へ導いている。
11A、IIBに仕切るダイヤフラム12と、内室11
に連通ずるキャリアガス供給通路13およびキャリアガ
ス排出通路14と、ポペット弁15と、圧縮コイルばね
16等を備え、下側の室11Aが圧力室、下側の室11
Bが背圧室をそれぞれ形成している。そして、キャリア
ガス供給流路13より送られてくるキャリアガスCGの
圧力を所定圧Poに減圧する減圧弁εの背圧室11Bに
は1つの出入口17を有し、この出入口17はキャリア
ガス供給流路13がら分岐されキャリアガス排出流路1
4に連通ずる背圧流路18に分岐路19を介して連通さ
れている。また、分岐路19には焼結金属等からなる固
定絞り20が配置されている。一方、背圧流路18には
分岐路19を挟んでその上流側と下流側に位置する2つ
の電磁弁21.22が配置され、また下流側電磁弁22
の下流側には減圧弁6の2次側圧力Poを検出する圧力
センサ7が設けられている。
13を経て減圧弁6の圧力室11A側に一次側圧力Ps
として送られると共に、上流側電磁弁21を開くと、背
圧流路18−分岐路19−固定絞り20を通って背圧室
11Bにも背圧P。
コイルばね16のばね圧の和と対応させている。そして
背圧P、は下流側電磁弁22を開くと低下する。
PVと、CPU (マイクロコンピュータ)23からの
キャリア流量設定信号SPがD/A変換器24を経て入
力されると、これら両信号を比較してその比較結果に基
いて2つの電磁弁2122を開閉制御し、2次側圧力P
oが常に設定圧力と等しくなるようにしている。この場
合、キャリアガスCGの1次側圧力Ps、背圧P、およ
び2次側圧力Poの関係は、Ps≧P、>Poとなる。
下限値以下の場合、2次側圧力Poは設定圧力より低い
。この時、電磁弁駆動回路25からの信号によって上流
側電磁弁21を開く一方、下流側電磁弁22を全閉状態
に保持し、背圧室11Bに供給されるキャリアガスCG
の流量を増加させる。すると、背圧P、が増大し、ダイ
ヤフラム12を圧縮コイルばね16に抗して下方に変位
させ、ボベフト弁15を開く。したがって、圧力室lI
Aへ供給されるキャリアガスCGの流量が増加し、2次
側圧力Poを増大させる。2次側圧力Poが増加して設
定圧力と一致すると、検出信号pvがキャリア流量設定
信号SPの範囲内に入るため上流側電磁弁21を閉鎖す
る。外乱等によって2次側圧力Poが設定圧力より太き
(なり、検出信号pvの値がキャリア流量設定信号SP
の上限値を越えると、今度は下流側電磁弁22を開いて
背圧P、を下げる。すると、その分だけダイヤフラム1
2が上方に変位してボベ、ト弁15が閉まり、2次側圧
力Poを低下させる。そして2次側圧力Poが設定圧と
一致すると、下流側電磁弁22を閉鎖する。
ンサの一例を示すパターン構造の概略平面図である。こ
のマイクロダイヤフラムセンサ30は、通常の半導体製
造プロセスを用いて、第2図に示すように単結晶シリコ
ン基板31上の中央部にパーマロイ等からなる薄膜ヒー
タ32を熱伝導度素子として形成すると共に、該薄膜ヒ
ータ32の両側に各々独立した上流側温度センサ33゜
下流側温度センサ34を流量検出素子として形成する。
ための多数の細いスリット35を設け、これら薄膜ヒー
タ32及び温度センサ33゜34の下側および周辺を、
そのシリコン基板表面に設けた多数の細いスリット35
を介して例えば水酸化カリウムのようなエツチング液等
の異方性エツチング方法によりエツチングすることによ
り空隙化し、断面形状が略逆台形状のパターンを持つ空
隙部36を形成する。これにより、その空隙部36の上
部には、シリコン基板31からダイヤフラム状に空間的
に隔離され、その基板より薄膜ヒータ32及び上流側温
度センサ33.下流側温度センサ34が熱的に絶縁され
て支持されたダイヤフラム37が形成されている。なお
、前記薄膜ヒータ32.各温度センサ33.34は窒化
シリコンなどの保護膜によって被覆されているものであ
る。第2図中、38は温度測定用のセンサであり、39
はガスの流れを示す。
第3図に示すように、薄膜ヒータ32に数100mA程
度の定電流11を流してその電流の変化を検出するオペ
アンプからなる電流検出回路40を設け、この薄膜ヒー
タ32を所定温度に加熱したうえ、該薄膜ヒータ32の
抵抗値がガス成分の熱伝導度によって変化するのを利用
してそのガスの濃度を電圧出力v ycn として検出
できる。
は固定抵抗42.43とゼロ調整用可変抵抗44を含む
ブリッジ回路4工の各辺に接続し、その出力を検出する
オペアンプ46〜48からなる差動増幅回路45を構成
する。そして薄膜ヒータ32を加熱した状態で、測定ガ
スの流れがあると上流側温度センサ33は冷却されて抵
抗値が減るのに対し、下流側温度センサ34は加熱され
て抵抗値が増加するのを利用してその差からキャリアガ
スの流量を電圧出力VFLOWとして検出できる。
を流してその電流の変化をオペアンプからなる電流検出
回路49で取り出しその温度を電圧出力■、ゆ、として
検出することができる。なお、第3図中50.51は電
流制限用の抵抗、■1〜■3は各々の駆動電源である。
器4としてのマイクロダイヤフラムセンサ30での流量
を一定に保つ必要がある。しかるに、本実施例では、マ
イクロダイヤフラムセンサ30の流量出力V FLO−
をA/D変換器26を経てCPU23に入力しており、
所定のキャリア流量から変化した場合、CPL123は
キャリア流量設定信号SPの値を変化させ、電磁弁駆動
回路25を介して減圧弁6の設定圧を変えてキャリア圧
力を変えることにより、一定のキャリア流量を保持させ
ている。そして電磁弁駆動回路25のフィートバンク信
号である圧力センサ7の検出信号PVをA/D変換器2
7を経てCPU23に送出することにより、このCPU
23はキャリア圧力の変化を読むことができる。すなわ
ち、カラム3が時間の経過とともにつまってゆくとする
と、第4図に示すように圧力センサ7の検出出力pvが
変化する。
リア圧力をしきい値として求めておき、そのしきい値P
VT)1を越えた時点1.でカラム交換を知らせること
ができる。なお、第4図中耕号t0はスタート時点を示
し、同じくP■。はスタート時の圧力センサ7の出力値
を示す。
れば、キャリア圧力を設定する減圧弁の2次圧倒流路に
設けた圧力センサとマイクロダイヤフラムセンサに設け
た流量検出素子を利用して、キャリアガスの流量を一定
に保つように減圧弁の設定圧を自動的に制御するととも
に、その圧力センサの検出出力をモニタすることにより
、カラムのダストやミストによるつまりを検知してカラ
ムの自己診断が可能になる。これによって、装置の保守
、メインテナンスを良好ならしめることができる。
示す基本的構成図、第2図は第1図のマイクロダイヤフ
ラムセンサの一例を示すパターン構造の概略平面図、第
3図は上記マイクロダイヤフラムセンサの検出回路の一
例を示す回路構成図、第4図は上記実施例の動作説明に
4供する説明図である。 1・・・アナライザ本体、2・・・サンプルハスブ、3
・・・カラム、4・・・検出器、5・・・計量管、6・
・・減圧弁、7・・・圧力センサ、23・・・CPU、
24・・・D/A変換器、25・・・電磁弁駆動回路、
26.27・・・A/D変換器、30・・・マイクロダ
イヤフラムセンサ、31・ ・ ・シリコン基牟反、3
2・ ・ ・薄膜ヒータ(熱伝導度素子)、33.34
・・・温度センサ(流量検出素子)、41・・・ブリッ
ジ回路、45・・・差動増幅回路。
Claims (1)
- キャリアガスを減圧弁およびサンプルバルブを経てカ
ラムに導き、該サンプルバルブの流路切替によりサンプ
ルガスを前記カラムに導いて各ガス成分に分離し、これ
を検出器によって検出するガスクロマトグラフにおいて
、前記検出器は、同一基板上にガス成分の熱伝導度によ
って生じる抵抗値の変化を検出する熱伝導度素子と流量
を検出する流量検出素子が形成されたマイクロダイヤフ
ラムセンサから成り、前記減圧弁の2次圧倒流路に設け
られた圧力センサと、前記流量検出素子によって検出さ
れる信号に応じてキャリアガスの流量を設定すると共に
、その流量を前記圧力センサから得られる信号によって
一定に保つように前記減圧弁の設定圧を自動的に制御す
るキャリアガス流量制御手段と、前記圧力センサから得
られる信号と予め決められたしきい値とを比較してその
比較結果に基づき前記カラムを診断する診断手段を備え
たことを特徴とするガスクロマトグラフ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2205063A JP2517459B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | ガスクロマトグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2205063A JP2517459B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | ガスクロマトグラフ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0493654A true JPH0493654A (ja) | 1992-03-26 |
JP2517459B2 JP2517459B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=16500821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2205063A Expired - Lifetime JP2517459B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | ガスクロマトグラフ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2517459B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7559227B2 (en) * | 2006-12-15 | 2009-07-14 | Agilent Technologies, Inc. | Pneumatic testing for gas chromatograph inlet |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60161558A (ja) * | 1984-02-02 | 1985-08-23 | Olympus Optical Co Ltd | カラムの異常検知方法 |
-
1990
- 1990-08-03 JP JP2205063A patent/JP2517459B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60161558A (ja) * | 1984-02-02 | 1985-08-23 | Olympus Optical Co Ltd | カラムの異常検知方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7559227B2 (en) * | 2006-12-15 | 2009-07-14 | Agilent Technologies, Inc. | Pneumatic testing for gas chromatograph inlet |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2517459B2 (ja) | 1996-07-24 |
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