JPH0478298B2

JPH0478298B2 -

Info

Publication number: JPH0478298B2
Application number: JP58162521A
Authority: JP
Inventors: Tadashi Fujii
Original assignee: Terumo Corp
Current assignee: Terumo Corp
Priority date: 1983-09-06
Filing date: 1983-09-06
Publication date: 1992-12-10
Also published as: JPS6055260A

Description

【発明の詳細な説明】発明の背景Ａ技術分野本発明は超音波を物体に送信し物体の内部から
の反射超音波を受信して物体内部の音響特性を測
定する超音波測定装置の改良に係り、特に物体内
部の超音波伝播による減衰度を近似的に測定し、
物体の超音波減衰に関する情報を提供する超音波
測定装置に関する。

Ｂ先行技術とその問題点超音波測定技術は現在金属探傷、魚群探知、医
療診断分野等広範囲にわたつて利用されている。
中でも、医療用の超音波断層装置の最近の発展に
は目をみはるものがある。この装置は原理的には
パルスエコー法を用いており、生体内へ送信され
た超音波パルスが生体内部の音響インピーダンス
の異なる境界で反射する現象を利用しており、こ
の反射波（エコー）を受信していわゆるＢモード
法による断層像を表示するものである。従つてこ
のエコーには生体内部での超音波の減衰音響イン
ピーダンス、音速等の様様な情報が含まれている
にもかかわらず、従来の装置ではこれらの各情報
が明確に分離されず、ただエコーの振幅を表示し
ているにすぎない。

具体的には生体内の音速を一定と仮定し、生体
内の超音波伝播による減衰は、いわゆるSTC回
路（Sensitivity Time Control）あるいはTGC
回路（Time Gain Control）と呼ばれる回路に
よつて任意的に補正をしたエコー振幅値を輝度変
調によつてブラウン管に断層像として表示してい
るにすぎない。従つて得られた断層像は生体内部
の音響インピーダンスの境界面の２次元的分布を
定性的に画像化しているわけであり、必然的に生
体組織の位置や形に関する形態情報がその利用の
中心となつている。しかし生体組織の特性である
減衰情報等は、抽出されていないのが現状であ
る。

生体組織の減衰情報を得ようとする試みがいく
つか報告されているが、後で詳しく述べるように
エコー波形には、生体組織伝播による吸収と音響
インピーダンスの異なる境界での反射強度の２つ
の情報が含まれており、両者はいずれも未知であ
り、厳密にこの２つの影響を分離することは今の
ところ極めて困難であると言わざるを得ない。反
射強度が超音波の周波数に依存しないと仮定した
場合には、２つ以上の異なる周波数の超音波を送
信し、同一被測定部分についてそのエコーを受信
することによつて、エコーの各周波数成分の音圧
比を測定すれば、反射強度の影響をなくして吸収
係数を求めることが可能となる。このような仮定
は超音波の波長に比べて十分大きな広がりをもつ
例えば平面反射板の場合には成立するが、実際の
生体組織では波長程度あるいはそれ以下の散乱体
が存在することが多いので、この仮定は、生体組
織全体について必ずしも成立するとは考えにく
い。

また生体組織のある部分で、反射強度がほぼ一
定であるという仮定をすれば、組織のその部分の
前後におけるエコー音圧の比はそのまま吸収係数
に比例すると考えられる。

また反射強度の周波数依存性の関数を仮定し、
３つ以上の複数周波数によつて超音波エコーを、
同一部分について送受信することによつて、エコ
ーの各周波数成分の音圧から吸収係数を求めると
いう試みも報告されている（特開昭56−147082）。

以上のように、いずれの場合も反射強度につい
てある仮定をし、単数あるいは複数の周波数成分
をもつ超音波を送受信することで吸収係数を分離
して測定するという方法をとつている。

発明の目的本発明は、従来技術のようにある仮定を設けて
超音波の吸収と反射ないしは散乱とを分離するの
ではなく、両者の複合による生体組織からの相対
的減衰情報を得ることができる超音波測定装置を
提供することを目的とする。

本発明によれば、超音波パルスを被測定物に送
信する送信手段と、被測定物体から反射された超
音波エコー信号を検出する検出手段を備え、これ
によつて該物体における超音波の減衰度を測定す
る超音波測定装置において、検出手段は、超音波
パルスの送信後における少なくとも２つの時点に
対応した被測定物体における領域を設定する領域
設定手段と、超音波エコー信号を蓄積する蓄積手
段と、蓄積手段に蓄積されたエコー信号から少な
くとも２つの時点について超音波の周波数と距離
の関数としての振幅を求め、振幅を所定の媒質に
おける所定の反射による超音波エコー信号により
規格化し、設定された領域における超音波の減衰
度を算出する演算手段を備えたものである。

本発明の他の態様によれば、検出手段は、超音
波エコー信号を対数圧縮する対数増幅器を含み、
演算手段は、対数圧縮された信号を平滑化し、平
滑化された信号を少なくとも２つの時点について
直線近似し、直線近似により得られた直線の傾斜
から前記設定された領域における超音波の減衰度
を算出するものである。

本発明の他の態様によれば、検出手段は、前記
求められた減衰度を可視表示する表示手段を含
む。

本発明の他の態様によれば、演算手段は、超音
波パルスを送信した被測定物体について単位領域
当りの減衰度を算出し、表示手段は、算出した減
衰度を被測定物体における分布像として輝度変調
により表示する。

本発明の他の態様によれば、検出手段は超音波
エコー信号をSTC補正するSTC補正手段を含み、
演算手段は、超音波パルスを送信した被測定物体
について超音波エコー信号の振幅の減少を求め、
求めた振幅の減少と所定のレベルとの差分をと
り、STC補正手段は、算出した差分に応じてエ
コー信号のSTC補正を行なう。

発明の具体的説明および作用次に添付図面を参照して本発明による超音波測
定方法およびその装置の実施例を詳細に説明す
る。

第１図に示す実施例では、生体１４などの被測
定物の表面に設定された電気信号と超音波の相互
変換を行なう超音波トランスジユーサ２に送信回
路１が接続されて送信系が構成され、また受信回
路３、対数増幅器４、検波回路５およびSTC回
路６によつて受信系が構成されている。トランス
ジユーサ２による走査は走査回路１６によつて制
御回路８の制御のもとに行なわれる。

生体１４の内部で反射された超音波エコーはモ
ニタデイスプレイ７に可視像として表示される。
モニタ７に表示されるのは、本発明に従つて算出
された、たとえばエコー振幅の減衰度であるが、
これは、受信した超音波エコーから２つのメモリ
回路９および１０を使用して演算回路１１によつ
て得られる。

本発明の基本的な原理を説明する。第１図にお
いて送信回路１によつて超音波トランスジユーサ
２は所定の駆動電圧および周波数で駆動され生体
１４内に超音波パルス１７が、第２図のように送
信される。このパルスは生体内を伝播し、散乱体
１５によつて一部が、反射（散乱）され、再び生
体内を伝播し、トランスジユーサ２に受信エコー
１８として受信される。一部の超音波パルス１８
ａは、散乱体１５を透過しさらに生体の奥へと伝
播して行く。

反射波１８の振幅Ｖ（ｆ，ｘ）は次式のように
表わされる。

Ｖ（ｆ，ｘ）＝V_p（ｆ）・Ｒ（ｆ，ｘ）・exp（−2∫
^x _pα（ｆ，ｘ）dx）(1) 但しここでV_p（ｆ）は送信波１７の振幅、ｆは
周波数、Ｒ（ｆ，ｘ）は、生体表面から、距離ｘ
にある散乱体１５の反射強度、α（ｆ，ｘ）は散
乱体１５と生体表面の間の組織の吸収係数であ
る。

(1)式の両辺の自然対数をとり変形をすると次の
ようになる。

ln〔Ｖ（ｆ，ｘ）／V_p（ｆ）〕＝ln〔Ｒ（ｆ，ｘ）〕
−2∫^x _pα（ｆ，ｘ）dx(2) 生体の組織の収吸係数は骨等を除けばほぼ周波
数に比例する。すなわちα（ｆ，ｘ）＝α（ｘ）ｆ
とおける。従つて(2)式は次のようになる。ただし（ｘ）＝∫^x _pα（ｘ）dxである。

（ｘ）＝−１／2fx｛ln〔Ｖ（ｆ，ｘ）／V_p（ｆ）
〕−ln〔Ｒ（ｆ，ｘ）〕｝(3) よつて反射強度Ｒ（ｆ，ｘ）が求められれば
（ｘ）が測定できる。しかしながらＲ（ｆ，ｘ）は
未知であり純粋に（ｘ）を分離して求めること
は極めて難しい。

再び(2)式に戻り、それぞれ距離x₁，x₂（x₂＞x₁）
にある２つの散乱体からのエコーＶ（ｆ，x₁），Ｖ
（ｆ，x₂）について式をたてると次のようになる。

ln〔Ｖ（ｆ，x₁）／V_p（ｆ）〕＝ln〔Ｒ（ｆ，x₁）〕
−2∫^x1 _pα（ｆ，ｘ）dx(4) ln〔Ｖ（ｆ，x₂）／V_p（ｆ）〕＝ln〔Ｒ（ｆ，x₂）〕
−2∫^x _2pα（ｆ，ｘ）dx(5) (4)式と(5)式の差分をとると次のようになる。

ln〔Ｖ（ｆ，x₁）／Ｖ（ｆ，x₂）〕＝ln〔Ｒ（ｆ，
x₁）／Ｒ（ｆ，x₂）〕＋2∫^x2 _x1α（ｆ，ｘ）dx (6) ＝ln〔Ｒ（ｆ，x₁）／Ｒ（ｆ，x₂）〕＋２（x₂−x₁）
α（ｘ）ｆ (7) ここでＲ（ｆ，ｘ）に周波数依存性がなければ、
すなわちＲ（ｆ，ｘ）がＲ（ｘ）であれば、(7)式を
周波数で微分すると∂R（ｘ）／∂f＝０より ∂／∂f〔lnV（ｆ，x₁）／Ｖ（ｆ，x₂）〕＝２（x₂−
x₁）（ｘ）(8) となる。つまり２つの周波数について差分をとれ
ば（ｘ）は次式で測定できる。

（ｘ）＝１／２（x₂−x₁）〔ln（Ｖ（f₁，x₁）／Ｖ
（f₁，x₂）／Ｖ（f₂，x₁）／Ｖ（f₂，x₂））〕・１／（
f₁，f₂）(9) またＲ（ｆ，x₁）Ｒ（ｆ，x₂）であれば(7)式よ
り次のように（ｘ）＝１／２（x₂−x₁）〔ln（Ｖ（ｆ，x₁）／Ｖ
（ｆ，x₂））〕・１／ｆ(10) （ｘ）が求められる。しかしながら前にも述べ
たように生体組織では一般にＲ（ｆ，ｘ）の形で
反射強度が与えられるので必ずしも(9)あるいは(10)
式によつて（ｘ）が測定できるとは言えない。

よつて本発明では(6)式を基本式として減衰度β
（ｘ）を次式のように定義する。

β（ｘ）∂／∂x（ln〔Ｖ（ｆ，ｘ）〕） (11) β（Δx）ln〔Ｖ（ｆ，x₁）／Ｖ（ｆ，x₂）〕・１
／（x₂−x₁）(12) ただしβ（Δx）はx₁からx₂までの区間における
単位長さ当りの減衰度である。つまりβ（Δx）は
x₁とx₂からのエコー振幅の比の自然対数をとつた
ものをx₁とx₂の距離（x₂−x₁）で割つたものすな
わちエコー信号１９の減衰度に対応しているわけ
である。

ところで現実には、超音波プローブ２から、例
えば減衰の極めて小さい水中に向けて送信された
超音波ビームは、そのプローブ２の開口、あるい
は、中心周波数によつてその音場が変化する。音
場は、近似的には、第３図Ａのようになり、また
中心軸上の強度は超音波プローブ２からの距離ｘ
によつて同Ｂに示すように変化する。なお同Ｂの
縦軸は、最大強度I₀に対する距離ｘにおける強度
を示している。

そこで装置の実用上はこれを較正しておかなけ
れば正しい測定が行なえない。すなわち、音圧の
変動をあらかじめ標準媒質で測定し、被測定物体
からのエコー振幅（音圧）を標準音圧で割り算し
規格化することで、超音波プローブの音場特性の
影響を除き、測定された減衰度を、より普遍的な
値とすることが可能となる。

標準媒質による測定は次のようにして行なうの
が適当である。第４図のように、脱気水１００中
にたとえばステンレスの完全反射体１０２を、設
け、この完全反射体１０２からのエコー振幅を標
準音圧とする。超音波プローブ２と完全反射体１
０２の距離を相対的に変化させ、各距離からのエ
コー振幅を測定すれば、標準音圧曲線が第５図の
ように求められる。さらに好ましくは第６図のよ
うに生体とほぼ同じ減衰特性をもつ例えばひまし
油１００ａを脱気水１００の代わりに、媒質とし
て使用すれば、減衰により超音波の平均周波数が
低くなつていく影響も除くことが可能となり、よ
り実際的（生体に近い）な標準音圧曲線を得るこ
とができる。

但しここで、注意しなければならない点がいく
つかある。１つは完全反射体１０２の裏面からの
エコーと表面からのエコーが時間的に重複しない
ように、完全反射体１０２の厚さを、選択する必
要がある。２つにはひまし油１００ａの減衰特性
は温度依存性があるので、温度管理する必要があ
る。生体の減衰に近づけるためには温度はほぼ20
℃〜30℃の間が適当である。

実用に適した装置としては、標準音圧曲線をあ
らかじめ測定し、装置内に記憶させておくことが
有利である。又再度標準音圧曲線を測定したい場
合には、第７図のように階段状の完全反射体１０
２ａを有する装置を作成すればよい。すなわち超
音波プローブ２を走査機構１０４で水平走査する
と、超音波プローブ２と反射体１０２ａの反射面
との距離が段階的に変化する。そこで完全反射体
１０２ａからのエコー振幅を測定し、順次記憶す
れば標準音圧曲線を得ることが可能となる。

以下この減衰度の具体測定法について述べる。
第２図に戻つて、トランスジユーサ２で受信され
たエコー列１９（第８図）は生体での減衰のため
受信時間の経過に伴つて指数関数的に減少してい
く傾向にある。信号１９の局部的な凹凸は生体組
織の音響インピーダンスの異なる界面からのエコ
ーの大小に関連している。エコー列１９は受信回
路３で増幅され、対数増幅回路４で対数増幅され
ると２０のような信号となる。この信号２０は検
波回路５で検波され、同図の２１の出力信号を得
る。この信号２１は適宜のＡ／Ｄ変換回路（図示
していない）によつてデイジタル信号に変換さ
れ、メモリ回路９にデイジタルデータとして入力
され、記憶される。この信号を基に次に述べるよ
うな処理を演算回路１１で行うことで減衰度に関
する情報を得る。

本実施例では３つの表示モードをとることがで
きる。以下各表示モードについて詳細説明を行
う。

第１のモードは従来のＢモード像上の指定され
た２点間の減衰度を測定し表示するモードであ
る。

従来のＢモード像は、生体１４内の減衰情報が
含まれている信号２１をSTC回路６で処理して
減衰を補正し、切替回路１２から直接モニタデイ
スプレイ７上に、輝度変調像として表示される。
しかし本実施例では、後に第３のモードとして説
明するように、従来のようなオペレータの主観的
判断でSTC回路６を調整するのではなく、減衰
度に応じたSTC補正を行なつている。本実施例
ではＢモード像表示の他に、次のようにして２点
間の減衰度を算出して表示することができる。オ
ペレータは関心領域設定回路１３を操作し、モニ
タ７の表示画像上において減衰度を測定したい区
間（２点間）あるいは部分を第８図のようにマー
カ２２で指定する。演算回路１１は、この区間あ
るいは部分の信号をメモリ回路９から読み出し、
たとえば区間指定の場合には第９図のフローチヤ
ートに従つて減衰度を算出し、結果をモニタデイ
スプレイ７上に画像とともに表示する。

第９図の左側のフローに対応して右側のグラフ
にその処理結果が示されている。また、演算回路
１１の機能ブロツクが第１６図に示されている。
まず、平滑処理部５０ではメモリ９から読み出し
た受信信号レベルを区間t₁〜t_oについて平滑化す
る（200）。後述のように生体１４内の音速C₀を
一定としているので、指定区間x₁〜x_oは受信信号
の時間t₁〜t_oで表わすことができる。つぎに平均
値算出部５２ではこの区間t₁〜t_oを単位区間ΔT
に分けて各区間の平均値〓_Tiを求める（202）。

次に、近似直線算出部５４はこれらの平均値
〓_Ｔｉを１本の近似直線で代表するような傾斜線Ｖ＝
mtをたとえば最小自乗法によつて求め、この直
線においてt₁およびt_oにおける値Ｖ（t₁）およびＶ
（t_o）を求める（204）。

そこで、トランスジユーサ２による音圧特性を
校正するため、規格化部５６では前述のようにし
て標準媒質１００または１００ａなどで求めたt₁
およびt₂における受信レベルＵ（t₁）およびＵ（t₂）
でＶ（t₁）およびＶ（t_o）をそれぞれ規格化する
（206）。これがV′（t₁）およびV′（t_o）である。

生体１４内の音速C₀を一定、たとえばC₀＝
1530メートル／秒と仮定しているので、区間x₁〜
x_oの長さｌは指定区間距離算出部５８において
C₀（t_o−t₁）より得られる（208）。したがつてこ
の区間x₁〜x_oにおける単位長さ当りの減衰度βは
減衰度算出部６０において〔V′（t₁）−V′（t_o）〕／
ｌとなる演算によつて求めることができる
（210）。これは前述の(10)式を実行したことに他な
らない。結果の減衰度はたとえば（cm^-1）の次元
で表示される。又必要ならばdB換算によつて
（dB／cm）として表示してもよい。

部分指定の場合には超音波の進行に対する横方
向についても同様な処理を行う。すなわち、走査
毎に平均値V₁（t₁）〜V₁（t_o），V₂（t₁）〜V₂（t_o），
…Vk（t₁）〜Vk（t_o）を求め（但しｋは走査線の
本数）、これからＶ（tm）＝１／ｋ_k Σⁱ⁼¹ Vi（t_n）なる演算によつて平均値Ｖ（t_n）を求める。次にこのＶ
（t_n）から区間指定の場合と同様にして傾斜線Ｖ
＝mtを求め、これにより得られたＶ（t₁）および
Ｖ（t_o）とこの部分の面積（ｓ）（Ｓ＝ｌ×（ｋ−
１）・ｄ、但しｄは走査線の間隔）とからこの部
分の単位面積当りの減衰度Ｖ（t₁）−Ｖ（t_o）／Ｓ
＝β（cm^-2）を算出する。

第２のモードでは、全画面に対して単位面積当
りの減衰度β＝ΔV／ΔSを上記と同様の処理によ
つて求め（第１０図）、この値をメモリ回路１０
に入力して記憶させ（第１１図）、次に切替回路
１２を切り換えて、メモリ回路１０の内容モニタ
７に読み出し、これを従来のＢモード像の代わり
に減衰度分布像として表示させることができる。
この分布像は当然、従来のＢモード像に比べて空
間分解能はかなり悪い、モザイク状の像となつて
しまうが、表示されている内容としては単位面積
内での減衰度であるので、いわゆるコントラスト
分解能の良い像であると考えられる。

なお、実際のオペレーシヨンはたとえば次のよ
うに行われる。従来のＢモード断層像を、観察中
に、目的の断層像が得られたときに通常のいわゆ
る映像凍結のためのフリーズ・スイツチ（図示し
ていない）を操作し画像をメモリ回路１０内でフ
リーズさせる。メモリ回路１０はいわゆるフリー
ズメモリであり、フリーズスイツチに応動してた
とえば１画面の静止画情報を記憶する。これは切
替回路１２を通してモニタデイスプレイ７に静止
画像として再生することができる。メモリ回路１
０に画像がフリーズされると、制御回路８はこの
画像に対応する信号２１をメモリ回路９に記憶さ
せ、演算回路１１はすでに、説明した方法で単位
面積当りの減衰度を演算し、結果をメモリ回路１
０に記憶する。なお、従来のＢモード像も、同時
に記憶させたい場合にはメモリ回路１０の記憶容
量を２画面分とすればよい。

第３のモードは、第２のモードで得られた減衰
度をSTC回路６に帰還させ、これに応じて正確
なSTC補正をエコー信号について行なうもので
ある。より詳細には、第１２図に示すように、Ｂ
モード像の走査方向ｙに単位幅Δyをもつた深さ
方向ｘの斜線部分２２０の超音波伝播区間x₁，x_o
の減衰度傾斜Ak（第１０図）をSTC補正に使用
する。すなわち、第１３図に示すように、まず演
算回路１１において切替スイツチ６２がレベル比
較部６４側に接続され、レベル比較部６４におい
て端子６６から与えられる所定の基準レベル
Vrefと減衰度傾斜Akによる振幅Ｖとを比較し、
その差分ΔV＝Vref−Ｖをx₁〜x_oについて計算す
る。そこでSTC回路６においてこの差分ΔVを、
原信号２１に加えてやれば適切にSTC補正され
た信号２１ａがSTC回路６から出力され、モニ
タ７に表示される。この基準レベルVrefはあら
かじめ固定しておいてもよいし、外部から設定可
能にしてもよい。

ここで本発明によるSTC補正の優れた点をよ
り明確にするために従来のSTC補正方式との比
較を行う。第１４図は従来の方式の模式図である
が、xk〜xeの区間に吸収の少ない組織（例えば
水がたまつている組織）があつた場合受信信号の
レベルがあまり変化しない領域２３０が生ずる。
そこで、これに点線２３２で示されたSTC補正
を加えてやるとこのX_e以降の部分は、実は、x_k
以前の区間と減衰度が同じにもかかわらず、
STC補正後は高い振幅レベルに補正されてしま
う。つまり表示上吸収が小さく、あるいは反射強
度が強く表現されてしまう欠点があつた。

しかし、第１５図のように本発明によるSTC
補正では、信号の減衰度を測定し、Vrefとの差
分を補正する方式なので、X_l以降の振幅レベルが
不当に強調されることなく、正確に減衰度の補正
ができ、反射強度の分布をより忠実に表現するこ
とが可能である。

なお実施例はパルスエコー法による超音波測定
法であるが、リニア電子スキヤン、セクタ電子ス
キヤン、メカニカル・セクタ・スキヤン、コンパ
ウンドスキヤン等の各種スキヤン方式に適用でき
ることは言うまでもない。

発明の具体的効果以上のように本発明によれば、受信信号の減衰
度を演算することで、従来得られなかつた組織に
おける超音波の減衰度が測定できる。また、Ｂモ
ード画像における任意部分の減衰度の測定、画像
全体の単位面積毎の減衰度の分布像、およびこの
減衰度によつて正確にSTC補正されたＢモード
像を、得ることができる。したがつて従来のＢモ
ード像による生体組織の形態的情報に加えて、従
来のパルスエコー法によるSTC補正前のＡモー
ド信号を処理することで近似的な減衰情報を提供
することができ、超音波診断がより有用なものと
なる。

さらに、減衰度と所定の基準レベルとの差分を
とり、これに応じて原信号のSTC補正を行なう
ことで、従来に比べて正確な減衰補正が実現され
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による超音波測定方法を実現す
る装置の実施例を示すブロツク図、第２図は本発
明の原理説明に使用する説明図、第３図ないし第
７図は、第１図の実施例に使用する超音波トラン
スジユーサの較正を説明するための説明図、第８
図は本発明の原理を説明する説明図、第９図は、
第１図に示す実施例の１つの動作モードをそれに
対応する演算のグラフとともに示すフロー図、第
１０図ないし第１３図は、第１図に示す実施例の
他の動作モードを説明する説明図、第１４図およ
び第１５図は本発明の実施例におけるSTC補正
の効果を従来の方式と比較して説明するためのグ
ラフ、第１６図は第１図の実施例における演算回
路の構成例を示す機能ブロツク図である。主要部分の符号の説明、１…送信回路、２…超
音波トランスジユーサ、３…受信回路、４…対数
増幅回路、５…検波回路、６…STC回路、７…
モニタデイスプレイ、８…制御回路、９…メモリ
回路、１０…メモリ回路、１１…演算回路、１２
…切替回路、１３…関心領域設定回路、１４…生
体、１５…散乱体、１６…走査回路、２２…マー
カ、５２…平均値算出部、５４…近似直線算出
部、５６…規格化部、６０…減衰度算出部、６４
…レベル比較部、Ｖ（ｆ，ｘ）…反射波の振幅、
β（ｘ）…減衰度。

Claims

【特許請求の範囲】１超音波パルスを被測定物に送信する送信手段
と、該被測定物体から反射された超音波エコー信
号を検出する検出手段を備え、これによつて該物
体における超音波の減衰度を測定する超音波測定
装置において、該検出手段は、前記超音波パルスの送信後における少なくとも
２つの時点に対応した前記被測定物体における領
域を設定する領域設定手段と、前記超音波エコー信号を蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積されたエコー信号から前記
少なくとも２つの時点について前記超音波の周波
数と距離の関数としての振幅を求め、該振幅を予
め測定し装置内に記憶された所定の媒質における
所定の反射による超音波エコーにより規格化し、
前記設定された領域における超音波の減衰度を算
出する演算手段を備えたことを特徴とする超音波
測定装置。２前記検出手段は、前記超音波エコー信号を対
数圧縮する対数増幅器を含み、前記演算手段は、
該対数圧縮された信号を平滑化し、該平滑化され
た信号を前記少なくとも２つの時点について直線
近似し、該直線近似により得られた直線の傾斜か
ら前記設定された領域における超音波の減衰度を
算出することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の超音波測定装置。３前記検出手段は、前記求められた減衰度を可
視表示する表示手段を含むことを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の超音波測定装置。４前記演算手段は、前記超音波パルスを送信し
た被測定物体について単位領域当たりの減衰度を
算出し、前記表示手段は、該算出した減衰度を前
記被測定物体における分布像として輝度変調によ
り表示することを特徴とする特許請求の範囲第１
項または第３項記載の超音波測定装置。５前記検出手段は、前記超音波エコー信号を
STC補正するSTC補正手段を含み、前記演算手
段は、前記超音波パルスを送信した被測定物体に
ついて前記超音波エコー信号の振幅の減少を求
め、該求めた振幅の減少と所定のレベルとの差分
をとり、前記STC補正手段は、該算出した差分
に応じて前記エコー信号のSTC補正を行なうこ
とを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の超音
波測定装置。