JPS62123355A - 媒体の超音波エコーグラフィック検査方法及び装置 - Google Patents
媒体の超音波エコーグラフィック検査方法及び装置Info
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- JPS62123355A JPS62123355A JP61068869A JP6886986A JPS62123355A JP S62123355 A JPS62123355 A JP S62123355A JP 61068869 A JP61068869 A JP 61068869A JP 6886986 A JP6886986 A JP 6886986A JP S62123355 A JPS62123355 A JP S62123355A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波エコーグラフィによって物体を走査する
方法にあって、少なくとも１個の超音波トランスジュー
サによって超音波信号を繰返し伝送し、これらの超音波
信号の伝搬方向にて伝送された信号が遭遇する主要障害
物に対応する超音波エコーを受信するようにして物体を
走査する方法に関するものである。
方法にあって、少なくとも１個の超音波トランスジュー
サによって超音波信号を繰返し伝送し、これらの超音波
信号の伝搬方向にて伝送された信号が遭遇する主要障害
物に対応する超音波エコーを受信するようにして物体を
走査する方法に関するものである。
本発明は超音波信号を繰返し伝送する送信機段と、超音
波信号の伝搬方向にて伝送された信号が遭遇する主要障
害物に対応する超音波エコーを受信するための受信機段
とに接続される少なくとも１個の超音波トランスジュー
サを含み、上述したような方法を実施するための装置に
も関するものである。
波信号の伝搬方向にて伝送された信号が遭遇する主要障
害物に対応する超音波エコーを受信するための受信機段
とに接続される少なくとも１個の超音波トランスジュー
サを含み、上述したような方法を実施するための装置に
も関するものである。
斯種の装置は例えば材料の非破壊試験用及び生体組織の
走査用に用いることができる。
走査用に用いることができる。
慣例の超音波エコーダラムは、生体組織内に超音波ビー
ムによって発生されるエコーの包絡線を検出することに
よって得られる。最も重要なエコーは器官の境界部にて
起生ずるため、これらのエコーダラムは主としてこれら
器官の境界部を示す。
ムによって発生されるエコーの包絡線を検出することに
よって得られる。最も重要なエコーは器官の境界部にて
起生ずるため、これらのエコーダラムは主としてこれら
器官の境界部を示す。
この場合には超音波信号の位相、従って周波数に関する
情報がすべて失われてしまう。この情報は、他の手段に
よって診断するのが困難な何等かの不明瞭な疾患に関す
る適当な指針に関連付けることができる。
情報がすべて失われてしまう。この情報は、他の手段に
よって診断するのが困難な何等かの不明瞭な疾患に関す
る適当な指針に関連付けることができる。
アイ・イー・イー・イー１９８３ウルトラソニフク・シ
ンポジウム・プロシーディンゲス（ＩＩｉＥＩｌｉ １
９８３Ｕ１ｔｒａｓｏｎｉｃ°Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ Ｐ
ｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ）の第８３５〜８４０頁にジェー
・エル・ベルナテッッ（Ｊ、Ｌ、Ｂｅｒｎａｔｅｔｓ）
及びエフ・ホラティール（Ｆ、Ｈｏｔｔｉｅｒ）により
提案された「エコーグラフィックＡ−ラインを表わす時
間−周波数による生体組織における周波数依存度の概算
」なる題名の論文には、エコーグラフィック信号のパワ
ースペクトル５（ｆ）（ｆは周波数）を決定することに
よってエコーグラフィック信号を分析する方法について
記載されている。斯かるパワースペクトルの数式は被検
査物体の散乱関数を含んでいる。この場合には仮説を考
慮して、減衰特性を周波数の関数として知ろうとしてい
るだけである。
ンポジウム・プロシーディンゲス（ＩＩｉＥＩｌｉ １
９８３Ｕ１ｔｒａｓｏｎｉｃ°Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ Ｐ
ｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ）の第８３５〜８４０頁にジェー
・エル・ベルナテッッ（Ｊ、Ｌ、Ｂｅｒｎａｔｅｔｓ）
及びエフ・ホラティール（Ｆ、Ｈｏｔｔｉｅｒ）により
提案された「エコーグラフィックＡ−ラインを表わす時
間−周波数による生体組織における周波数依存度の概算
」なる題名の論文には、エコーグラフィック信号のパワ
ースペクトル５（ｆ）（ｆは周波数）を決定することに
よってエコーグラフィック信号を分析する方法について
記載されている。斯かるパワースペクトルの数式は被検
査物体の散乱関数を含んでいる。この場合には仮説を考
慮して、減衰特性を周波数の関数として知ろうとしてい
るだけである。
本発明の目的は、異なる仮説によって、良好な病理学上
の指針となり得る他のパラメータの周波数依存度、即ち
検査すべき物体の散乱関数を決定し得る超音波エコーグ
ラフィによって物体を検査する方法を提供することにあ
る。
の指針となり得る他のパラメータの周波数依存度、即ち
検査すべき物体の散乱関数を決定し得る超音波エコーグ
ラフィによって物体を検査する方法を提供することにあ
る。
この目的達成のため、本発明による方法は、（ａｌ
メモリにエコーグラフィックラインを記憶する工程と； （ｂｌ 回折及び減衰の影響を補正する工程を含み、
所定の観測深度に対するパワースペクトルを決定する工
程と； （Ｃ） 被検査物体の散乱関数を周波数の関数として
メモリに記憶させるか、又は表示装置にて表示させるか
のいずれか一方又は双方とする工程と；（ｄ） 或る
所定のエコーグラフィックライン上の各所望深度に対し
て前記（ｂｌ及び（Ｃ）の工程を繰返すと共に、他のエ
コーグラフィックラインに対して前記（ａｌ、 （ｂ）
及び（ｃ）の工程を繰返す工程；とを含むことを特徴と
する。
メモリにエコーグラフィックラインを記憶する工程と； （ｂｌ 回折及び減衰の影響を補正する工程を含み、
所定の観測深度に対するパワースペクトルを決定する工
程と； （Ｃ） 被検査物体の散乱関数を周波数の関数として
メモリに記憶させるか、又は表示装置にて表示させるか
のいずれか一方又は双方とする工程と；（ｄ） 或る
所定のエコーグラフィックライン上の各所望深度に対し
て前記（ｂｌ及び（Ｃ）の工程を繰返すと共に、他のエ
コーグラフィックラインに対して前記（ａｌ、 （ｂ）
及び（ｃ）の工程を繰返す工程；とを含むことを特徴と
する。
この方法を用いて、被検査物体の散乱関数を量的に決定
して、その物体を特徴付けることができると共にその物
体の病理学上の状態を決定することができる。
して、その物体を特徴付けることができると共にその物
体の病理学上の状態を決定することができる。
本発明の他の目的は前述した本発明による方法を実施し
得る超音波エコーグラフィによって物体を走査する装置
を提供することにある。
得る超音波エコーグラフィによって物体を走査する装置
を提供することにある。
この目的達成のために、本発明による装置は、前記受信
機段が： （Ａ）アナログ−ディジタル変換器とディジタルメモリ
とから成り、エコーグラフィックラインを記憶するため
のメモリ段と； （Ｂ）観測深度を選択するための選択回路と、該選択回
路の出力信号にエコーグラフィックライン記憶用の前記
メモリ段の出力信号を乗じるための乗算回路と、フーリ
エ変換を計算するための算術回路と、絶対値の自乗を計
算するための算術回路と、回折の影響を補正するための
補正段と、減衰の影響を補正するための補正段とから成
り、パワースペクトルを決定するだめのパワースペクト
ル決定段と；（Ｃ）前記パワースペクトル決定段の出力
信号を増幅する対数増幅器と、被走査物体の散乱関数を
周波数の関数として記憶するか、又は該散乱関数を表示
装置に表示するための算術回路とから成り、被検査物体
の散乱関数をメモリに記憶及び／又は表示装置に表示さ
せるための段；とを含むことを特徴とする。
機段が： （Ａ）アナログ−ディジタル変換器とディジタルメモリ
とから成り、エコーグラフィックラインを記憶するため
のメモリ段と； （Ｂ）観測深度を選択するための選択回路と、該選択回
路の出力信号にエコーグラフィックライン記憶用の前記
メモリ段の出力信号を乗じるための乗算回路と、フーリ
エ変換を計算するための算術回路と、絶対値の自乗を計
算するための算術回路と、回折の影響を補正するための
補正段と、減衰の影響を補正するための補正段とから成
り、パワースペクトルを決定するだめのパワースペクト
ル決定段と；（Ｃ）前記パワースペクトル決定段の出力
信号を増幅する対数増幅器と、被走査物体の散乱関数を
周波数の関数として記憶するか、又は該散乱関数を表示
装置に表示するための算術回路とから成り、被検査物体
の散乱関数をメモリに記憶及び／又は表示装置に表示さ
せるための段；とを含むことを特徴とする。
以下本発明を実施例につき説明する。
被検査物体の散乱関数の周波数依存度についての分析は
平均パワースペクトルを比較することによって行われる
。平均パワースペクトルに対する公式は瞬時τにおける
タイムスロットＷに対しつぎのように表わすことができ
ることは既知である。
平均パワースペクトルを比較することによって行われる
。平均パワースペクトルに対する公式は瞬時τにおける
タイムスロットＷに対しつぎのように表わすことができ
ることは既知である。
即ち、
ｓ＋、（τ、ｆ）＝ ｌ Ｇ（ｆ） ｌ ２・ｌ Ｕ（
ｆ） ｌ ”−Ｄ（ｒ 、ｆ）・ｅ−””ｅτ）（１）
上式におけるｌ Ｇ（ｆ） ｌ ”は伝送された信号と
、トランスジューサの音響的及び電気的特性とにだけ依
存し；Ｄ（τ、ｆ）は回折によって生ずるフィルタ効果
であり；α（ｆ）及びＣは被検査物体中における超音波
の減衰度及び伝搬速度をそれぞれ示し；Ｕ （ｆ）は物
体の散乱関数を表わす。
ｆ） ｌ ”−Ｄ（ｒ 、ｆ）・ｅ−””ｅτ）（１）
上式におけるｌ Ｇ（ｆ） ｌ ”は伝送された信号と
、トランスジューサの音響的及び電気的特性とにだけ依
存し；Ｄ（τ、ｆ）は回折によって生ずるフィルタ効果
であり；α（ｆ）及びＣは被検査物体中における超音波
の減衰度及び伝搬速度をそれぞれ示し；Ｕ （ｆ）は物
体の散乱関数を表わす。
式（１）から次式が導出される。即ち、ｌ Ｕ （ｆ）
ｌ ’ｓｗ（ｒ Ｉｆ）／ ｌ Ｇ（ｆ） ｌ ”・
ＤＣｒ 、ｆ）・ｅ−２”（” ｃｊ） （２１本発明
による走査装置はＩＵ（ｆ）＋２を決定することができ
、ついでこれから散乱関数の周波数依存度を導出するこ
とができる。この場合における第１図に示す装置は単一
のプローブ（探触子）を具えており、このプローブは超
音波トランスジューサ１０用のキャリヤを形成し、かつ
斯かるプローブによって生体組織の如き物体の八−タイ
プのエコーダラムを得ることができる。本発明は組織の
単一ラインの代りに、その組織の完全に扁平なスライス
を、相対的に変位自在にプローブか、又はレーダータイ
プの表示装置に接続される所謂扇形機械角度変位を伴な
うプローブによるか、或いは検査すべき組織における平
行走査方向の数（ｐ）に対応するｐ個の超音波トランス
ジューサから成り、エコー処理装置を各有効トランスジ
ューサ又はトランスジューサのグループに連続的に切換
えるスイッチング回路に接続されるｐ個の超音波トラン
スジューサの線形アレイによるか、或いは所謂扇形電子
走査され、同じく、エコー処理装置を切換えるスイッチ
ング回路に接続されると共に遅延線又は移相器の回路網
にも接続されるトランスジューサのアレイによるいずれ
かによって走査する場合にも全く同様に用いることがで
きることは明らかである。
ｌ ’ｓｗ（ｒ Ｉｆ）／ ｌ Ｇ（ｆ） ｌ ”・
ＤＣｒ 、ｆ）・ｅ−２”（” ｃｊ） （２１本発明
による走査装置はＩＵ（ｆ）＋２を決定することができ
、ついでこれから散乱関数の周波数依存度を導出するこ
とができる。この場合における第１図に示す装置は単一
のプローブ（探触子）を具えており、このプローブは超
音波トランスジューサ１０用のキャリヤを形成し、かつ
斯かるプローブによって生体組織の如き物体の八−タイ
プのエコーダラムを得ることができる。本発明は組織の
単一ラインの代りに、その組織の完全に扁平なスライス
を、相対的に変位自在にプローブか、又はレーダータイ
プの表示装置に接続される所謂扇形機械角度変位を伴な
うプローブによるか、或いは検査すべき組織における平
行走査方向の数（ｐ）に対応するｐ個の超音波トランス
ジューサから成り、エコー処理装置を各有効トランスジ
ューサ又はトランスジューサのグループに連続的に切換
えるスイッチング回路に接続されるｐ個の超音波トラン
スジューサの線形アレイによるか、或いは所謂扇形電子
走査され、同じく、エコー処理装置を切換えるスイッチ
ング回路に接続されると共に遅延線又は移相器の回路網
にも接続されるトランスジューサのアレイによるいずれ
かによって走査する場合にも全く同様に用いることがで
きることは明らかである。
トランスジューサ１０は一方では送信機段２０に接続さ
れ、この送信機段はトランスジューサが超音波信号を被
検査組織を経て任意の走査方向に繰返し送信するように
し、他方ではトランスジューサによって受信されると共
に送信された信号がそれらの伝搬方向にて遭遇される主
要障害物に対応する超音波エコーを処理するのに仕える
受信段に接続される。これらの障害物の状態は組織間の
境界部を表わす高振幅値のエコーによってエコーダラム
で規定することができ、このために超音波減衰度の差分
係数を決定すべきである。上述した関係は一般に選択回
路４０によって得られ、この選択回路は送信機段か、受
信機段のいずれかを専らトランスジューサに接続せしめ
る。斯種の選択回路については例えば米国特許第４，１
３９，８３４号に開示されている。選択回路４０は送信
した信号が、受信される信号により悪影響を受けないよ
うにすると共に、受信信号が送信信号によりマスクされ
るのも防止する。
れ、この送信機段はトランスジューサが超音波信号を被
検査組織を経て任意の走査方向に繰返し送信するように
し、他方ではトランスジューサによって受信されると共
に送信された信号がそれらの伝搬方向にて遭遇される主
要障害物に対応する超音波エコーを処理するのに仕える
受信段に接続される。これらの障害物の状態は組織間の
境界部を表わす高振幅値のエコーによってエコーダラム
で規定することができ、このために超音波減衰度の差分
係数を決定すべきである。上述した関係は一般に選択回
路４０によって得られ、この選択回路は送信機段か、受
信機段のいずれかを専らトランスジューサに接続せしめ
る。斯種の選択回路については例えば米国特許第４，１
３９，８３４号に開示されている。選択回路４０は送信
した信号が、受信される信号により悪影響を受けないよ
うにすると共に、受信信号が送信信号によりマスクされ
るのも防止する。
上述した例の受信機段は、メモリにエコーグラフィック
ライン（八−タイプ）を記憶するためのメモリ回路１０
０と、処理回路２００と、周波数依存度を決定する決定
回路３００との直列回路を具えている。メモリ回路１０
０はクロック回路１２５（このクロック回路それ自体は
送信機段のクロックによって制御される）によって制御
されるアナログ−ディジタル変換器１０１及びディジタ
ルメモリ１０２を具えている。処理回路２００は時間選
択回路２０２と、フーリエ変換を計算するための算術回
路２０３と、パワースペクトルを計算するために絶対値
の自乗を計算するための算術回路２０４と、回折に対す
る補正回路と減衰に対する補正回路とをこの順序で具え
ている。本例の時間選択回路２０２はメモリ１０２の出
力信号に方形波信号を逓倍する乗算回路によって形成さ
れ、上記方形波信号はタイムスロットを形成し、このタ
イムスロットの位置は例えば方形波信号の前縁に対応す
るように選択される通過時間（ｔｒａｎｓｉｔ−ｔｉｍ
ｅ）を選択するための選択回路２０１によって決定され
る。なお、通過時間の選択は被検査物体における観測深
度の選択と同じである。
ライン（八−タイプ）を記憶するためのメモリ回路１０
０と、処理回路２００と、周波数依存度を決定する決定
回路３００との直列回路を具えている。メモリ回路１０
０はクロック回路１２５（このクロック回路それ自体は
送信機段のクロックによって制御される）によって制御
されるアナログ−ディジタル変換器１０１及びディジタ
ルメモリ１０２を具えている。処理回路２００は時間選
択回路２０２と、フーリエ変換を計算するための算術回
路２０３と、パワースペクトルを計算するために絶対値
の自乗を計算するための算術回路２０４と、回折に対す
る補正回路と減衰に対する補正回路とをこの順序で具え
ている。本例の時間選択回路２０２はメモリ１０２の出
力信号に方形波信号を逓倍する乗算回路によって形成さ
れ、上記方形波信号はタイムスロットを形成し、このタ
イムスロットの位置は例えば方形波信号の前縁に対応す
るように選択される通過時間（ｔｒａｎｓｉｔ−ｔｉｍ
ｅ）を選択するための選択回路２０１によって決定され
る。なお、通過時間の選択は被検査物体における観測深
度の選択と同じである。
回折の影響を補正するための補正回路は除算回路２０５
によって形成され、この除算回路の第１入力端子は絶対
値の自乗を計算する算術回路２０４の出力信号を受信し
、第２入力端子は回折を補正するためにメモリ２５０か
ら除算信号を受信する。メモリ２５０は送信機段のクロ
ックによって制御されるクロック回路１２５によって制
御され、このメモリには通過時間を選択するための選択
回路２０１の出力端子も接続する。メモリ２５０はプロ
グラマブル読取専用メモリ（ＦＲＯＭ）か、ランダム・
アクセス・メモリ（ＲＡＭ）のいずれかとし、このメモ
リには（トランスジューサがフォーカシング形のもので
あるか、否かに無関係に）つぎのようにしてデータをロ
ードさせる。検査すべき物体のスライスは、（走査装置
に対して）物体の前部にあり、しかも超音波の伝搬する
主軸線上の或る距離Ｚの個所に位置するものを選択し、
このスライスと装置との間には例えば水のような減衰度
の低い中間媒体を設ける。一定の伝送信号を用いて、こ
の位置にてエコーグラフィック信号のエネルギースペク
トルを決定し、ついで例えばその同じ位置のまわりの１
００個のスペクトルから平均スペクトルを決定すること
によって平均エネルギースペクトルを得るために斯かる
操作を、距離は同じくＺであるが、超音波が伝搬する主
軸線に対して垂直方向に走査装置を変位させて得られる
他の位置に対して繰返・えす。ついで、タイムスロット
を規定する時間選択回路の影響下で常に同じ物体のスラ
イスを検査するものとする場合には、走査装置と検査す
べき物体との間の他の距離Ｚに対して同じようにして平
均エネルギースペクトルを決定する。つぎに、軸線Ｚに
沿うあらゆる連続位置に対して回折の影響に対する補正
値を計算しく中間媒体を適切に選定することにより、測
定値には減衰による影響がなくなる）、これらの補正値
をメモリ２５０に書込む。非フォーカシング・トランス
ジューサの場合には、検査すべき物体のスライスを用い
なくても、即ち単に例えば基準物体の扁平又は球状反射
面を用いるだけで補正値を決定することもできる。
によって形成され、この除算回路の第１入力端子は絶対
値の自乗を計算する算術回路２０４の出力信号を受信し
、第２入力端子は回折を補正するためにメモリ２５０か
ら除算信号を受信する。メモリ２５０は送信機段のクロ
ックによって制御されるクロック回路１２５によって制
御され、このメモリには通過時間を選択するための選択
回路２０１の出力端子も接続する。メモリ２５０はプロ
グラマブル読取専用メモリ（ＦＲＯＭ）か、ランダム・
アクセス・メモリ（ＲＡＭ）のいずれかとし、このメモ
リには（トランスジューサがフォーカシング形のもので
あるか、否かに無関係に）つぎのようにしてデータをロ
ードさせる。検査すべき物体のスライスは、（走査装置
に対して）物体の前部にあり、しかも超音波の伝搬する
主軸線上の或る距離Ｚの個所に位置するものを選択し、
このスライスと装置との間には例えば水のような減衰度
の低い中間媒体を設ける。一定の伝送信号を用いて、こ
の位置にてエコーグラフィック信号のエネルギースペク
トルを決定し、ついで例えばその同じ位置のまわりの１
００個のスペクトルから平均スペクトルを決定すること
によって平均エネルギースペクトルを得るために斯かる
操作を、距離は同じくＺであるが、超音波が伝搬する主
軸線に対して垂直方向に走査装置を変位させて得られる
他の位置に対して繰返・えす。ついで、タイムスロット
を規定する時間選択回路の影響下で常に同じ物体のスラ
イスを検査するものとする場合には、走査装置と検査す
べき物体との間の他の距離Ｚに対して同じようにして平
均エネルギースペクトルを決定する。つぎに、軸線Ｚに
沿うあらゆる連続位置に対して回折の影響に対する補正
値を計算しく中間媒体を適切に選定することにより、測
定値には減衰による影響がなくなる）、これらの補正値
をメモリ２５０に書込む。非フォーカシング・トランス
ジューサの場合には、検査すべき物体のスライスを用い
なくても、即ち単に例えば基準物体の扁平又は球状反射
面を用いるだけで補正値を決定することもできる。
減衰度を補正するための補正回路は乗算回路２０６によ
って形成し、この乗算回路の第１入力端子は除算回路２
０５の出力信号を受信し、第２入力端子は減衰度を補正
するための補正信号を受信し、この補正信号の式はｅ＋
ｚａｈｔ＋ ｃτとして表わされる。
って形成し、この乗算回路の第１入力端子は除算回路２
０５の出力信号を受信し、第２入力端子は減衰度を補正
するための補正信号を受信し、この補正信号の式はｅ＋
ｚａｈｔ＋ ｃτとして表わされる。
減衰度を補正するための斯かる補正信号の値は補正メモ
リ２６０によって供給する。このメモリはクロック回路
１２５によって制御されると共に通過時間を選択する選
択回路２０１によっても制御される。
リ２６０によって供給する。このメモリはクロック回路
１２５によって制御されると共に通過時間を選択する選
択回路２０１によっても制御される。
前述したように、このメモリもＰＲＯＭタイプの読取専
用メモリ又はランダム・アクセス・メモリとすることが
できる。
用メモリ又はランダム・アクセス・メモリとすることが
できる。
乗算回路２０６の出力はＩＵ（ｆ）ｌ”に比例する信号
を供給し、この信号は周波数依存度決定用回路３００の
入力端子に供給される。散乱関数は多項式形態Ｕ （ｆ
）＝ａｆ’で表わすことができるものとするため、周波
数依存度決定回路３００はっぎのような回路を具えてい
る。即ち、２ｂ２ｂ１ｏ。ｆに比例する信号を供給する
対数増幅器３０１及び算術回路３０２を具えており、こ
れにより散乱関数の周波数依存度をメモリに記憶させた
り、及び／又は（第２図に示すように、対数座標で）表
示させることができ、この表示は表示装置３０３にて行
なう。
を供給し、この信号は周波数依存度決定用回路３００の
入力端子に供給される。散乱関数は多項式形態Ｕ （ｆ
）＝ａｆ’で表わすことができるものとするため、周波
数依存度決定回路３００はっぎのような回路を具えてい
る。即ち、２ｂ２ｂ１ｏ。ｆに比例する信号を供給する
対数増幅器３０１及び算術回路３０２を具えており、こ
れにより散乱関数の周波数依存度をメモリに記憶させた
り、及び／又は（第２図に示すように、対数座標で）表
示させることができ、この表示は表示装置３０３にて行
なう。
これらの計算は各所望深度に対して繰返えされるため、
選択回路２０１によって決定される観測深度の段数は検
査すべき像が細くなるにつれて少なくなる。慣例の機械
的又は電子的走査装置を用いるか、或いは単なる手動変
位の走査装置を用いて同様な方法で他のエコーグラフィ
ックラインを順次検査して、Ｂ−タイプの像を得ること
ができる。
選択回路２０１によって決定される観測深度の段数は検
査すべき像が細くなるにつれて少なくなる。慣例の機械
的又は電子的走査装置を用いるか、或いは単なる手動変
位の走査装置を用いて同様な方法で他のエコーグラフィ
ックラインを順次検査して、Ｂ−タイプの像を得ること
ができる。
いずれの場合にも散乱関数を所定深度に対して周波数の
関数として記憶及び／又は表示させるか、或いは所定周
波数に対して深度の関数として記憶及び／又は表示させ
ることができる。
関数として記憶及び／又は表示させるか、或いは所定周
波数に対して深度の関数として記憶及び／又は表示させ
ることができる。
第１図は本発明による装置の一例を示すブロック線図、
第２図は第１図の装置における算術回路によって行われ
た演算結果を表わす特性図である。 １０・・・トランスジューサ ２０・・・送信機段４０
・・・選択回路 １００・・・メモリ回路１０
１・・・Ａ／Ｄ変換器 １０２・・・ディジタルメ
モリ１２５・・・クロック回路 ２００・・・処理回
路２０１・・・観測深度（通過時間）選択回路２０２・
・・乗算回路 ２０３・・・フーリエ変換計算用算術回路２０４・・・
絶対値の自乗算術回路 ２０５・・・回折補正用除算回路 ２０６・・・減衰度補正用乗算回路 ２５０ ・・・メモリ ２６０ ・・・メモ
リ３００・・・周波数依存度決定回路 ３０１・・・対数増幅器 ３０２・・・算術回路３
０３・・・表示装置
た演算結果を表わす特性図である。 １０・・・トランスジューサ ２０・・・送信機段４０
・・・選択回路 １００・・・メモリ回路１０
１・・・Ａ／Ｄ変換器 １０２・・・ディジタルメ
モリ１２５・・・クロック回路 ２００・・・処理回
路２０１・・・観測深度（通過時間）選択回路２０２・
・・乗算回路 ２０３・・・フーリエ変換計算用算術回路２０４・・・
絶対値の自乗算術回路 ２０５・・・回折補正用除算回路 ２０６・・・減衰度補正用乗算回路 ２５０ ・・・メモリ ２６０ ・・・メモ
リ３００・・・周波数依存度決定回路 ３０１・・・対数増幅器 ３０２・・・算術回路３
０３・・・表示装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、超音波エコーグラフィによって物体を走査する方法
にあって、少なくとも１個の超音波トランスジューサに
よって超音波信号を繰返し伝送し、これらの超音波信号
の伝搬方向にて伝送された信号が遭遇する主要障害物に
対応する超音波エコーを受信するようにして物体を走査
する方法において、該方法が： （ａ）メモリにエコーグラフィックラインを記憶する工
程と； （ｂ）回折及び減衰の影響を補正する工程を含み、所定
の観測深度に対するパワースペクトルを決定する工程と
； （ｃ）被検査物体の散乱関数を周波数の関数としてメモ
リに記憶させるか、又は表示装置にて表示させるかのい
ずれか一方又は双方とする工程と； （ｄ）或る所定のエコーグラフィックライン上の各所望
深度に対して前記（ｂ）及び（ｃ）の工程を繰返すと共
に、他のエコーグラフィックラインに対して前記（ａ）
、（ｂ）及び（ｃ）の工程を繰返す工程； とを含むことを特徴とする物体走査方法。 ２、超音波信号を繰返し伝送する送信機段と、超音波信
号の伝搬方向にて伝送された信号が遭遇する主要障害物
に対応する超音波エコーを受信するための受信機段とに
接続される少なくとも１個の超音波トランスジューサを
含み、超音波エコーグラィによって物体を走査する装置
において、前記受信機段が： （Ａ）アナログ−ディジタル変換器とディジタルメモリ
とから成り、エコーグラフィックラインを記憶するため
のメモリ段と； （Ｂ）観測深度を選択するための選択回路と、該選択回
路の出力信号にエコーグラフィックライン記憶用の前記
メモリ段の出力信号を乗じるための乗算回路と、フーリ
エ変換を計算するための算術回路と、絶対値の自乗を計
算するための算術回路と、回折の影響を補正するための
補正段と、減衰の影響を補正するための補正段とから成
り、パワースペクトルを決定するためのパワースペクト
ル決定段と；（Ｃ）前記パワースペクトル決定段の出力
信号を増幅する対数増幅器と、被走査物体の散乱関数を
周波数の関数として記憶するか、又は該散乱関数を表示
装置に表示するための算術回路とから成り、被検査物体
の散乱関数をメモリに記憶及び／又は表示装置に表示さ
せるための段； とを含むことを特徴とする物体走査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8504821 | 1985-03-29 | ||
| FR8504821A FR2579763B1 (fr) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | Procede et appareil d'exploration de milieux par echographie ultrasonore |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123355A true JPS62123355A (ja) | 1987-06-04 |
| JPH0713631B2 JPH0713631B2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=9317757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61068869A Expired - Lifetime JPH0713631B2 (ja) | 1985-03-29 | 1986-03-28 | 媒体の超音波エコーグラフィック検査方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4688428A (ja) |
| EP (1) | EP0196713B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0713631B2 (ja) |
| DE (1) | DE3672166D1 (ja) |
| FR (1) | FR2579763B1 (ja) |
| IL (1) | IL78287A0 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS645533A (en) * | 1987-06-26 | 1989-01-10 | Fujitsu Ltd | Ultrasonic diagnostic apparatus |
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| FR2579765B1 (fr) * | 1985-03-29 | 1988-05-06 | Labo Electronique Physique | Procede et appareil d'exploration de milieux par echographie ultrasonore |
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| US4867167A (en) * | 1988-06-30 | 1989-09-19 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for determining and displaying the absolute value of quantitative backscatter |
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| AU767312B2 (en) | 1997-08-19 | 2003-11-06 | Philipp Lang | Measurement of capillary related interstitial fluid using ultrasound methods and devices |
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| US6776760B2 (en) | 2002-03-06 | 2004-08-17 | Alfred E. Mann Institute For Biomedical Engineering At The University Of Southern California | Multi-mode processing for ultrasonic imaging |
| JP3875581B2 (ja) * | 2002-03-18 | 2007-01-31 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 超音波診断システム |
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| US4470303A (en) * | 1982-09-20 | 1984-09-11 | General Electric Company | Quantitative volume backscatter imaging |
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| FR2556844B1 (fr) * | 1983-12-14 | 1987-11-13 | Labo Electronique Physique | Appareil d'examen de milieux par echographie ultrasonore |
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1985
- 1985-03-29 FR FR8504821A patent/FR2579763B1/fr not_active Expired
-
1986
- 1986-03-21 EP EP86200474A patent/EP0196713B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-21 DE DE8686200474T patent/DE3672166D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-25 US US06/843,906 patent/US4688428A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-03-27 IL IL78287A patent/IL78287A0/xx not_active IP Right Cessation
- 1986-03-28 JP JP61068869A patent/JPH0713631B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2579763A1 (fr) | 1986-10-03 |
| DE3672166D1 (de) | 1990-07-26 |
| FR2579763B1 (fr) | 1987-04-10 |
| US4688428A (en) | 1987-08-25 |
| EP0196713B1 (fr) | 1990-06-20 |
| IL78287A0 (en) | 1986-07-31 |
| EP0196713A1 (fr) | 1986-10-08 |
| JPH0713631B2 (ja) | 1995-02-15 |
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