JPH0475293A - 高周波加熱装置および高周波加熱装置用電磁波検出器 - Google Patents
高周波加熱装置および高周波加熱装置用電磁波検出器Info
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- JPH0475293A JPH0475293A JP19118290A JP19118290A JPH0475293A JP H0475293 A JPH0475293 A JP H0475293A JP 19118290 A JP19118290 A JP 19118290A JP 19118290 A JP19118290 A JP 19118290A JP H0475293 A JPH0475293 A JP H0475293A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は食品の有無や解凍状態等を自動的に検知する高
周波加熱装置及び、その高周波加熱装置用電磁波検出器
に関するものである。
周波加熱装置及び、その高周波加熱装置用電磁波検出器
に関するものである。
従来の技術
近年、高周波加熱装置を用いた食品の解凍を自動化する
動きが高まっている。
動きが高まっている。
従来は、食品重量をキー人力するタイムオートや、食品
重量を自動的に検出する重量センサを用いて食品重量を
知り、あらかじめ食品重量毎に設定されている最適加熱
時間まで加熱するという手段が主流であった。ところが
、タイムオートではあらかじめ使用者が食品重量を調べ
る必要があり、重量センサでは皿や容器の上に食品を載
せて使用すると重量判定を間違うという問題があった。
重量を自動的に検出する重量センサを用いて食品重量を
知り、あらかじめ食品重量毎に設定されている最適加熱
時間まで加熱するという手段が主流であった。ところが
、タイムオートではあらかじめ使用者が食品重量を調べ
る必要があり、重量センサでは皿や容器の上に食品を載
せて使用すると重量判定を間違うという問題があった。
さらに両手段とも食品の初期温度によらず一定の時間加
熱してしまうので、半分解けかけているような物では加
熱しすぎとなり、異常に低温のものでは加熱不足となる
ため、出来栄えがばらつく問題があった。
熱してしまうので、半分解けかけているような物では加
熱しすぎとなり、異常に低温のものでは加熱不足となる
ため、出来栄えがばらつく問題があった。
上記欠点を解決するものとして、加熱室内の電磁波を検
出する手段がある。即ち、加熱室内にマイクロ波検波素
子(即ちアンテナ)を配置し、食品に吸収されずに素子
に検出されるマイクロ波電力が食品の重量に反比例する
特性を用いるもの(特公昭52−2133号公報)であ
り、以下、その構成について第1O図を用いて説明する
。
出する手段がある。即ち、加熱室内にマイクロ波検波素
子(即ちアンテナ)を配置し、食品に吸収されずに素子
に検出されるマイクロ波電力が食品の重量に反比例する
特性を用いるもの(特公昭52−2133号公報)であ
り、以下、その構成について第1O図を用いて説明する
。
加熱室1内に冷凍の食品2が置かれ、電波放射部3より
電波4が加えられる。この時、食品2に吸収されなかっ
た電波の一部5が、加熱室1内に取付けられたアンテナ
6で検出され、検波回路7で検波されるが、この検出量
は食品20重量におおよそ反比例するので逆に、食品2
の重量を判別できるのである。
電波4が加えられる。この時、食品2に吸収されなかっ
た電波の一部5が、加熱室1内に取付けられたアンテナ
6で検出され、検波回路7で検波されるが、この検出量
は食品20重量におおよそ反比例するので逆に、食品2
の重量を判別できるのである。
また、第1ttgの様に食品2の電波の吸収しやすさ(
εr−tans)は食品2の温度(T)により変化する
ので、アンテナ6で検出した電波を検波回路7により検
波した検波出力も第12図の様に温度(T)によって変
化する。よって初期検波出力や検波出力の経時変化で逆
に食品2の初期温度と重量を判別できる□のである。
εr−tans)は食品2の温度(T)により変化する
ので、アンテナ6で検出した電波を検波回路7により検
波した検波出力も第12図の様に温度(T)によって変
化する。よって初期検波出力や検波出力の経時変化で逆
に食品2の初期温度と重量を判別できる□のである。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、従来の高周波加熱装置では、検波回路を
構成する場合チップ部品のみで構成している事が多く、
検波ダイオード以外のチップ部品に高周波が乗るので、
チップ部品の取付は方により出力ばらつきが大きくなっ
たり、チップ部品で損失する電力が大きいため出力がか
せげなかったり、検波出力に高周波成分がのったりして
、検波回路としての特性が悪く、高周波加熱装置の解凍
検知についても安定性がないという課題があった。
構成する場合チップ部品のみで構成している事が多く、
検波ダイオード以外のチップ部品に高周波が乗るので、
チップ部品の取付は方により出力ばらつきが大きくなっ
たり、チップ部品で損失する電力が大きいため出力がか
せげなかったり、検波出力に高周波成分がのったりして
、検波回路としての特性が悪く、高周波加熱装置の解凍
検知についても安定性がないという課題があった。
そこで、本発明は検波amの特性を向上させ、信鯨度の
高い解凍検知を実現できる高周波加熱装置を提供するこ
とを第1の目的としている。
高い解凍検知を実現できる高周波加熱装置を提供するこ
とを第1の目的としている。
また、本発明は高周波加熱装置の電磁波検出にとって極
めてばらつきが少なく特性の良い電磁波検出器を提供す
ることを第2の目的としている。
めてばらつきが少なく特性の良い電磁波検出器を提供す
ることを第2の目的としている。
課題を解決するための手段
上記第1の目的を達成するために、本発明の高周波加熱
装置は、食品を格納する加熱室と、食品に電磁波を放射
して加熱する電波放射部と、加熱室内の電磁波の一部を
検出するアンテナと、アンテナの検出した電力を検波す
るために、マイクロストリップラインと検波ダイオード
等のチップ部品を有する検波回路と、検波回路出力によ
り各種機器動作を制御する制御器とを備える構成として
いる。
装置は、食品を格納する加熱室と、食品に電磁波を放射
して加熱する電波放射部と、加熱室内の電磁波の一部を
検出するアンテナと、アンテナの検出した電力を検波す
るために、マイクロストリップラインと検波ダイオード
等のチップ部品を有する検波回路と、検波回路出力によ
り各種機器動作を制御する制御器とを備える構成として
いる。
また、第2の目的を達成するために、本発明の高周波加
熱装置用電磁波検出器は、基板材料の両面に銅箔を施し
た両面基板上に、電磁波検出用のアンテナと、マイクロ
ストリップラインと検波ダイオード等のチップ部品を有
する検波回路とを備えている。
熱装置用電磁波検出器は、基板材料の両面に銅箔を施し
た両面基板上に、電磁波検出用のアンテナと、マイクロ
ストリップラインと検波ダイオード等のチップ部品を有
する検波回路とを備えている。
作用
本発明の高周波加熱装置は、アンテナで検出した高周波
電力を検波するために、検波回路中にマイクロストリッ
プラインと検波ダイオード等のチップ部品を有するので
、検波ダイオード以降の回路部品に高周波が乗らないよ
うにマイクロストリップラインを構成することが出来る
ので、検波回路の特性が良いものである。
電力を検波するために、検波回路中にマイクロストリッ
プラインと検波ダイオード等のチップ部品を有するので
、検波ダイオード以降の回路部品に高周波が乗らないよ
うにマイクロストリップラインを構成することが出来る
ので、検波回路の特性が良いものである。
さらに、高周波加熱装置用電磁波検出器は、同一基板上
にアンテナと検波回路を構成するので、アンテナと検波
回路間のマツチングばらつきが少な(、検波回路中にマ
イクロストリップラインと検波ダイオード等のチップ部
品を有するので、検波ダイオード以降の回路部品に高周
波が乗らないように、マイクロストリップラインを構成
することが出来るので、ばらつき要因が少なく検波回路
の特性が良いものである。
にアンテナと検波回路を構成するので、アンテナと検波
回路間のマツチングばらつきが少な(、検波回路中にマ
イクロストリップラインと検波ダイオード等のチップ部
品を有するので、検波ダイオード以降の回路部品に高周
波が乗らないように、マイクロストリップラインを構成
することが出来るので、ばらつき要因が少なく検波回路
の特性が良いものである。
実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す高周波加熱装置の構成
断面図である。加熱室1内に配置された食品2に、電波
放射部3より電波4が放射される。
断面図である。加熱室1内に配置された食品2に、電波
放射部3より電波4が放射される。
この時、食品2に吸収されなかった電波の一部5が、樹
脂製のスリットカバー8を抜け、加熱室1壁面に開けら
れたスリット9を通り、プリント基板10上にある銅箔
で出来たアンテナ6で検知され、プリント基板10の裏
面にある検波回路7に伝達され、検波したのち検波回路
出力としてリード11によって制御器12まで送られる
。検波量に応じて制御器12は食品の状態を知り、最適
解凍時間を判定し、電波放射部3や電波放射部冷却用の
ファン13の動作を制御する。
脂製のスリットカバー8を抜け、加熱室1壁面に開けら
れたスリット9を通り、プリント基板10上にある銅箔
で出来たアンテナ6で検知され、プリント基板10の裏
面にある検波回路7に伝達され、検波したのち検波回路
出力としてリード11によって制御器12まで送られる
。検波量に応じて制御器12は食品の状態を知り、最適
解凍時間を判定し、電波放射部3や電波放射部冷却用の
ファン13の動作を制御する。
第2図は検波回路7およびアンテナ6を加熱室lの壁面
にとの様に取付けているかの一例を示す要部斜視図であ
る。アンテナ6と検波回路7を表と裏に持つプリント基
板10のアース面を、金属板14の半田付は用凸部15
の4ケ所に半田付けする。
にとの様に取付けているかの一例を示す要部斜視図であ
る。アンテナ6と検波回路7を表と裏に持つプリント基
板10のアース面を、金属板14の半田付は用凸部15
の4ケ所に半田付けする。
その上から電波遮断用の金属カバー16でおおい、加熱
室1壁面にスポット溶接溶接で取付けた金属支持具17
にビス18でとも締めする。この構成ではプリント基板
10(検波回路7)のアースは金属板14への半田付け
で確実にとれ、金属板14と金属支持具17はビス止め
により確実にショートし、金属支持具17と加熱室l壁
面は溶接により確実にショートするため、取付は位置精
度が良く、アースは確実でビス締めによるストレスを金
属板14が吸収するため検波回路へのストレスが抑えら
れることが判る。
室1壁面にスポット溶接溶接で取付けた金属支持具17
にビス18でとも締めする。この構成ではプリント基板
10(検波回路7)のアースは金属板14への半田付け
で確実にとれ、金属板14と金属支持具17はビス止め
により確実にショートし、金属支持具17と加熱室l壁
面は溶接により確実にショートするため、取付は位置精
度が良く、アースは確実でビス締めによるストレスを金
属板14が吸収するため検波回路へのストレスが抑えら
れることが判る。
ここで、プリント基板IOと金属板14と金属カバー1
6を合わせて電磁波検出器19と呼び、電磁波は金属板
すきま20よりアンテナ6に入るのである。
6を合わせて電磁波検出器19と呼び、電磁波は金属板
すきま20よりアンテナ6に入るのである。
第3図を用いて電磁波検出器19についてもう少し説明
を加える。
を加える。
図中(a)のような外観構成の電磁波検出器を■)の様
にA−A″線断面図で見ると、金属カバー16と金属板
14とを金属カバー16のツメ21を折曲げることで仮
止めしていることが判る。この電磁波検出器19ば、リ
ード線11まで含んだユニットとしてどこにでも移動が
出来て、ノイズにも強いものであ一方、電磁波検出器1
9の心臓部とも言えるアンテナと検波回路の構成につい
て第4図で説明する。
にA−A″線断面図で見ると、金属カバー16と金属板
14とを金属カバー16のツメ21を折曲げることで仮
止めしていることが判る。この電磁波検出器19ば、リ
ード線11まで含んだユニットとしてどこにでも移動が
出来て、ノイズにも強いものであ一方、電磁波検出器1
9の心臓部とも言えるアンテナと検波回路の構成につい
て第4図で説明する。
第4図はプリント基板10の一例を検波回路7側から見
た図である0図中破線は基板の裏側のパターンを示し、
−点鎖線は裏面でパターンはあるがレジストの無い部分
(即ち、第2図で述べた金属板14に半田付けするため
のアース)である。アンテナ6から伝達された電波は、
マルーホール22より検波回路7へ導かれ、ショットキ
ーバリア・ダイオード23等のチップ部品とマイクロス
トリップラインで構成される検波回路7で検波されて、
リード線11以降直流となった状態で信号が伝送される
。ここで、プリント基板10は高周波損失の少ないガラ
ス熱硬化材やテフロン材で、両面に銅箔のパターンがあ
る物を使用している。
た図である0図中破線は基板の裏側のパターンを示し、
−点鎖線は裏面でパターンはあるがレジストの無い部分
(即ち、第2図で述べた金属板14に半田付けするため
のアース)である。アンテナ6から伝達された電波は、
マルーホール22より検波回路7へ導かれ、ショットキ
ーバリア・ダイオード23等のチップ部品とマイクロス
トリップラインで構成される検波回路7で検波されて、
リード線11以降直流となった状態で信号が伝送される
。ここで、プリント基板10は高周波損失の少ないガラ
ス熱硬化材やテフロン材で、両面に銅箔のパターンがあ
る物を使用している。
続いて、第5図の検波回路7の等価回路を用いて、動作
の説明をする。アンテナ6より電磁波が検波回路7内に
入ると、電磁波の中心周波数に対してマイクロストリッ
プラインLm 24. LL 25は以降の部品に対
してオーブン(インピーダンスが無限大)となり、マイ
クロストリップラインCs26はグランドに対してショ
ート(インピーダンスがOのオーブンスタブ)となる様
に設計しているため、高周波は抵抗R,27とショット
キーバリア・ダイオード23を介してCs26によりグ
ランドに落ちる。この時ショットキーバリア・ダイオー
ド23により整流された正方向の出力は直流として負荷
抵抗R428に流れる。直流の閉ループを形成するため
に抵抗R124にも同じ電流が流れ、R,→R11−+
D→R4のループをつくる。負荷抵抗に流れた電流によ
り得られた半波整流波形を抵抗R)+30とコンデンサ
31が平滑してルート線11に伝えられるのである。ち
なみに、検波回路7中のマイクロストリップライン以外
の部品は全て、チップ部品である。
の説明をする。アンテナ6より電磁波が検波回路7内に
入ると、電磁波の中心周波数に対してマイクロストリッ
プラインLm 24. LL 25は以降の部品に対
してオーブン(インピーダンスが無限大)となり、マイ
クロストリップラインCs26はグランドに対してショ
ート(インピーダンスがOのオーブンスタブ)となる様
に設計しているため、高周波は抵抗R,27とショット
キーバリア・ダイオード23を介してCs26によりグ
ランドに落ちる。この時ショットキーバリア・ダイオー
ド23により整流された正方向の出力は直流として負荷
抵抗R428に流れる。直流の閉ループを形成するため
に抵抗R124にも同じ電流が流れ、R,→R11−+
D→R4のループをつくる。負荷抵抗に流れた電流によ
り得られた半波整流波形を抵抗R)+30とコンデンサ
31が平滑してルート線11に伝えられるのである。ち
なみに、検波回路7中のマイクロストリップライン以外
の部品は全て、チップ部品である。
ここで、R127の存在意識を、第6図、第7図を使う
て説明する。高周波加熱装置に電磁波検出器19を用い
ると、中に入る食品2によりアンテナ6が検出する電力
量や検波回路出力は大きく変化する。例えば、第6図の
様に、横軸が重量で縦軸が検波回路出力であり、初期温
の低いものがa、初期温の高いものがbとすると、Vs
minからVsmaxまで変化するという具合である。
て説明する。高周波加熱装置に電磁波検出器19を用い
ると、中に入る食品2によりアンテナ6が検出する電力
量や検波回路出力は大きく変化する。例えば、第6図の
様に、横軸が重量で縦軸が検波回路出力であり、初期温
の低いものがa、初期温の高いものがbとすると、Vs
minからVsmaxまで変化するという具合である。
第7図はショットキーバリア・ダイオード23の電圧−
電流特性で、この時Rヵ27が(ショットキーバリア・
ダイオード23と直列)に無く、第7図のO−V、の間
の範囲で動作していたとすると、■1付近での感度(変
化率又は傾き)とO付近での感度が極端に違うことにな
り、第6図で示した軽負荷は判別しやすいが大負荷は感
度が鈍いという直線性の無い判別をすることになる。と
ころがR027を入れることにより、電力の幾らかをR
027でロスするようにすれば、ショットキーバリア・
ダイオード23が0〜■3間の範囲で動作するようにな
り、直線性をもたせることが出来るのである。
電流特性で、この時Rヵ27が(ショットキーバリア・
ダイオード23と直列)に無く、第7図のO−V、の間
の範囲で動作していたとすると、■1付近での感度(変
化率又は傾き)とO付近での感度が極端に違うことにな
り、第6図で示した軽負荷は判別しやすいが大負荷は感
度が鈍いという直線性の無い判別をすることになる。と
ころがR027を入れることにより、電力の幾らかをR
027でロスするようにすれば、ショットキーバリア・
ダイオード23が0〜■3間の範囲で動作するようにな
り、直線性をもたせることが出来るのである。
続いて、第5WJで述べたマイクロストリップラインに
ついて説明する。第8図(a)に特性インピーダンスZ
、で長さiのマイクロストリップライン32に負荷イン
ピーダンスZL33が接続されている場合を示している
。この時のインピーダンスZiは一般に、 となる。但しλgは基板上の波長を示す。
ついて説明する。第8図(a)に特性インピーダンスZ
、で長さiのマイクロストリップライン32に負荷イン
ピーダンスZL33が接続されている場合を示している
。この時のインピーダンスZiは一般に、 となる。但しλgは基板上の波長を示す。
この(1)式より第5図にあてはめてみると、マイクロ
ストリップラインCs、、は負荷インピーダンスを接続
しないいわゆるオープンスタブであり、第8図b)の様
になる。この時(1)式でZ、=ωとして簡単にすると
、 Zi=−jZocot β! Z i = −j Z ocot −=0となる。即ち
、高周波的にショートとなるのである。
ストリップラインCs、、は負荷インピーダンスを接続
しないいわゆるオープンスタブであり、第8図b)の様
になる。この時(1)式でZ、=ωとして簡単にすると
、 Zi=−jZocot β! Z i = −j Z ocot −=0となる。即ち
、高周波的にショートとなるのである。
一方、第5図のLm 24. LL25等は、第8図
(C)の様に考えられC,34,CL 35 (あるい
はC36)をある程度大きな容量のコンデンサを選ぶと
、負荷 並列に接続された抵抗等も無視できる。即ち、(])式
でZL=oとして簡単にすると、 Zi=−jZotanβ2 Zi雪jZotan −=o。
(C)の様に考えられC,34,CL 35 (あるい
はC36)をある程度大きな容量のコンデンサを選ぶと
、負荷 並列に接続された抵抗等も無視できる。即ち、(])式
でZL=oとして簡単にすると、 Zi=−jZotanβ2 Zi雪jZotan −=o。
となる、即ち、高周波的にオーブンとなるのである。
よって、第5図で述べた動作が実現され、高周波が負荷
抵抗RL側に伝わらない様にしているのである。
抵抗RL側に伝わらない様にしているのである。
第9図にマイクロストリップラインを用いた時のインピ
ーダンスの周波数特性を示す、Cs26は図中a、Ls
24やLL25は図中すに担当し、電磁波の中心周波数
fo近傍では設計通りの特性を示す。
ーダンスの周波数特性を示す、Cs26は図中a、Ls
24やLL25は図中すに担当し、電磁波の中心周波数
fo近傍では設計通りの特性を示す。
実施例の効果について以下に示す。
アンテナやマイクロストリップラインをパターンで形成
しているので、寸法精度はエツチング精度と等しく、極
めて精度が良い効果がある。
しているので、寸法精度はエツチング精度と等しく、極
めて精度が良い効果がある。
プリント基板の材質としてガラス熱硬化材やテフロン材
を使用するので、基板としての高周波伝送損失が少なく
、厚みの管理もされており、ばらつきが少ない効果があ
る。
を使用するので、基板としての高周波伝送損失が少なく
、厚みの管理もされており、ばらつきが少ない効果があ
る。
発明の効果
本発明によると以下の効果がある。
(1) 第1の発明の高周波加熱装置に関して、マイ
クロストリップラインとチップ部品で検波回路を構成す
るので、ショットキーバリア・パイオード以降に高周波
を伝えないことか容易で、チップ部品の取付は方による
マツチングへの影響を極力抑えることが出来て、チップ
部品での不要な高周波損失を抑える事が出来て、出力に
高周波が乗る事もないため、検波回路の特性が極めて安
定で、極めて精度良い解凍検知が実現できる。
クロストリップラインとチップ部品で検波回路を構成す
るので、ショットキーバリア・パイオード以降に高周波
を伝えないことか容易で、チップ部品の取付は方による
マツチングへの影響を極力抑えることが出来て、チップ
部品での不要な高周波損失を抑える事が出来て、出力に
高周波が乗る事もないため、検波回路の特性が極めて安
定で、極めて精度良い解凍検知が実現できる。
(2)第2の発明の高周波加熱装置用電磁波検出器に関
して、同一基板上にアンテナとマイクロストリップライ
ンとチップ部品から成る検波回路とを構成するので、ア
ンテナと検波回路間のマツチングは極めて安定であり、
(1)と同様に検波回路の特性が極めて安定である効果
を有する。
して、同一基板上にアンテナとマイクロストリップライ
ンとチップ部品から成る検波回路とを構成するので、ア
ンテナと検波回路間のマツチングは極めて安定であり、
(1)と同様に検波回路の特性が極めて安定である効果
を有する。
は検波回路出力の温度特性図である。
■・・・・・・加熱室、2・・・・・・食品、3・・・
・・・電波放射部、6・・・・・・アンテナ、7・・・
・・・検波回路、10・・・・・・プリント基板、12
・・・・・・制御器、19・・・・・・電磁波検出器、
23・・・・・・ショットキーバリア・バイレード、2
4〜26・・・・・・マイクロストリップライン。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1老成図、第3
図a、bは電磁波検出器の平面図、断面図、第4図は検
波回路の正面図、第5図は検波回路の等価回路構成図、
第6図は重量に対する検波回路の出力変化を示す特性図
、第7図はショットキーバリア・ダイオードの電圧−電
流特性図、第8図a、b、cはそれぞれマイクロストリ
ップラインの構成図、第9図はマイクロストリップライ
ンを用いたインピーダンスの周波数特性図、第10図は
従来の高周波加熱装置の構成を示すブロック図、第11
図はε、・tan Sの温度特性図、第12図画 2
図 加 鰭 璽 賞品 電テま放射卸 フ)テナ 慢着回路 アリント菖伍 副111!S 電10出す 図 ど 第 図 第 図 [7] 第 図 第 図 第 図 第11図 O [°C] 第 図 第10口 第12図 了 [°C]
・・・電波放射部、6・・・・・・アンテナ、7・・・
・・・検波回路、10・・・・・・プリント基板、12
・・・・・・制御器、19・・・・・・電磁波検出器、
23・・・・・・ショットキーバリア・バイレード、2
4〜26・・・・・・マイクロストリップライン。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1老成図、第3
図a、bは電磁波検出器の平面図、断面図、第4図は検
波回路の正面図、第5図は検波回路の等価回路構成図、
第6図は重量に対する検波回路の出力変化を示す特性図
、第7図はショットキーバリア・ダイオードの電圧−電
流特性図、第8図a、b、cはそれぞれマイクロストリ
ップラインの構成図、第9図はマイクロストリップライ
ンを用いたインピーダンスの周波数特性図、第10図は
従来の高周波加熱装置の構成を示すブロック図、第11
図はε、・tan Sの温度特性図、第12図画 2
図 加 鰭 璽 賞品 電テま放射卸 フ)テナ 慢着回路 アリント菖伍 副111!S 電10出す 図 ど 第 図 第 図 [7] 第 図 第 図 第 図 第11図 O [°C] 第 図 第10口 第12図 了 [°C]
Claims (4)
- (1)食品を格納する加熱室と、前記食品に電磁波を放
射して加熱する電波放射部と、前記加熱室内の電磁波の
一部を検出するアンテナと、前記アンテナの検出した電
力を検波するために、マイクロストリップラインと検波
ダイオード等のチップ部品を有する検波回路と、前記検
波回路からの出力により各種機器動作を制御する制御器
とを備えた高周波加熱装置。 - (2)基板材料の両面に銅箔を施した両面基板上に、電
磁波検出用のアンテナと、マイクロストリップラインと
検出ダイオード等のチップ部品を有する検波回路とを備
えた高周波加熱装置用電磁波検出器。 - (3)検波ダイオードに直列にチップ抵抗を接続する構
成とした特許請求の範囲第(2)項記載の高周波加熱装
置用電磁波検出器。 - (4)検波ダイオードの出力側に、検出すべき電磁波の
中心周波数に対してグランドに短絡するオープンスタブ
のマイクロストリップラインを設ける構成とした特許請
求の範囲第(2)項記載の高周波加熱装置用電磁波検出
器。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19118290A JP2917448B2 (ja) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | 高周波加熱装置および高周波加熱装置用電磁波検出器 |
AU80355/91A AU628266B2 (en) | 1990-07-17 | 1991-07-10 | High frequency heating apparatus |
DE69119986T DE69119986T2 (de) | 1990-07-17 | 1991-07-12 | Hochfrequenzheizgerät und elektromagnetischer Wellendetektor zum Gebrauch im Hochfrequenzheizgerät |
EP91111588A EP0467224B1 (en) | 1990-07-17 | 1991-07-12 | High frequency heating apparatus and electromagnetic wave detector for use in high frequency heating apparatus |
KR1019910012119A KR920003808A (ko) | 1990-07-17 | 1991-07-16 | 고주파 가열장치 및 고주파 가열장치용 전자파검출기 |
BR919103068A BR9103068A (pt) | 1990-07-17 | 1991-07-17 | Aparelho de aquecimento por inducao de alta frequencia e detector de ondas eletromagneticas para emprego no mesmo |
US07/953,780 US5237141A (en) | 1990-07-17 | 1992-09-30 | High frequency heating apparatus and electromagnetic wave detector for use in high frequency heating apparatus |
KR2019950002461U KR960003794Y1 (ko) | 1990-07-17 | 1995-02-16 | 고주파 가열장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19118290A JP2917448B2 (ja) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | 高周波加熱装置および高周波加熱装置用電磁波検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0475293A true JPH0475293A (ja) | 1992-03-10 |
JP2917448B2 JP2917448B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=16270268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP19118290A Expired - Fee Related JP2917448B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-18 | 高周波加熱装置および高周波加熱装置用電磁波検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2917448B2 (ja) |
-
1990
- 1990-07-18 JP JP19118290A patent/JP2917448B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2917448B2 (ja) | 1999-07-12 |
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