JPH0465896A - Film carrier type - Google Patents

Film carrier type

Info

Publication number
JPH0465896A
JPH0465896A JP18002490A JP18002490A JPH0465896A JP H0465896 A JPH0465896 A JP H0465896A JP 18002490 A JP18002490 A JP 18002490A JP 18002490 A JP18002490 A JP 18002490A JP H0465896 A JPH0465896 A JP H0465896A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tape
opening
film carrier
distortion
deformation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18002490A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahide Koyama
賢秀 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP18002490A priority Critical patent/JPH0465896A/en
Publication of JPH0465896A publication Critical patent/JPH0465896A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To absorb a longitudinal distortion of a film carrier tape by forming a distortion absorbing hole between an opening part and an opening. CONSTITUTION:Many rectangular openings 2 are opened at a pitch along a longitudinal direction of a tape 1 at the tape 1. A chip C is bonded via inner leads in the opening 2. After the chip is bonded via the leads, a lead part L is punched along a broken line (a) to obtain a device P. A hole 5 for absorbing a distortion to be formed between the opening 2 and the opening part 2 is formed in a slit state laterally of the tape 1. The width of the tape 1 is generally several cm, and hence lateral deformation of thermal deformation upon inner lead bonding, curing contraction deformation upon sealing of resin is small, and the tape 1 itself is slightly deformed to sufficiently absorb the lateral distortion.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフィルムキャリアテープに関し、チップをイン
ナーリントボンディングする開口部と開口部の間に、歪
み吸収用の孔部を形成したものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a film carrier tape, in which holes for strain absorption are formed between openings for inner lint bonding of chips.

(従来の技術) 合成樹脂により形成されたフィルムキャリアテープにチ
ップをボンディングし、次いでこのフィルムキャリアテ
ープのリード部を打抜き、打抜いて得られたデバイスを
、基板にボンディングすることにより、電子部品を製造
することが、TAB法として知られている。
(Prior art) Electronic components are manufactured by bonding a chip to a film carrier tape made of synthetic resin, then punching out the lead portion of this film carrier tape, and bonding the punched device to a substrate. The manufacturing process is known as the TAB method.

上記のようにフィルムキャリアテープにチップをボンデ
ィングすることは、インナーリードボンディングと呼ば
れている。またフィルムキャリアテープを打抜いて得ら
れたデバイスを、基板にボンディングすることはアウタ
ーリードボンディングと呼ばれている。
Bonding a chip to a film carrier tape as described above is called inner lead bonding. Furthermore, bonding a device obtained by punching out a film carrier tape to a substrate is called outer lead bonding.

第2図は、TAB法により形成されたデバイスPを示す
ものである。リード部りには、インナーリードボンディ
ング手段によりチップCがボンディングされている。K
は、リード部りがアウターリードボンディングされる基
板Sの電極である。
FIG. 2 shows a device P formed by the TAB method. Chip C is bonded to the lead portion by inner lead bonding means. K
is an electrode of the substrate S to which the lead portion is subjected to outer lead bonding.

(発明が解決しようとする課題) インナーリードボンディングは、フィルムキャリアテー
プのリード部をチップ上面の電極に接合させ、このリー
ド部に熱圧着子を押し当てることにより、リード部を電
極に熱溶着してボンディングする。ところがその際、リ
ード部は熱圧着子により加熱されることから熱変形を生
じ、このためリード部りを基板Sの電極Kにボンディン
グする際に、リード部りは電極Kに対して位置ずれし、
リード部りを電極Kに正確に接合させてボンディングし
にくい問題があった。
(Problem to be Solved by the Invention) Inner lead bonding involves bonding the lead portion of a film carrier tape to an electrode on the top surface of a chip, and then pressing a thermocompression bonder against this lead portion to thermally weld the lead portion to the electrode. and bond. However, at that time, the lead portion is heated by the thermocompression bonder, causing thermal deformation, and therefore, when bonding the lead portion to the electrode K of the substrate S, the lead portion is misaligned with respect to the electrode K. ,
There was a problem in that it was difficult to accurately join the lead portion to the electrode K for bonding.

また後工程において、リード部りには、その保護のため
に樹脂封止が施されるが、その際にも、樹脂の硬化収縮
のために、リード部は変形しやすい問題があった。
Further, in a post-process, the lead portion is sealed with resin to protect it, but even at that time, there is a problem that the lead portion is easily deformed due to curing and shrinkage of the resin.

上記のようなリード部りの変形は、フィルムキャリアテ
ープテープの巾方向よりも、長さ方向において顕著に生
じる。すなわち、フィルムキャリアテープの巾は、一般
に数1にすぎないので、リード部りの巾方向の変形は、
フィルムキャリアテープが変形することにより吸収可能
であるが、フィルムキャリアテープの長さ方向の変形は
、長さ方向に沿って多数個のチップがインナーリードボ
ンディングされることもあって、十分に吸収できず、上
記のようにリード部ばかなりの変形を生じる。
The deformation of the lead portion as described above occurs more noticeably in the length direction of the film carrier tape than in the width direction. In other words, since the width of a film carrier tape is generally only a number 1, the deformation of the lead portion in the width direction is
This can be absorbed by deformation of the film carrier tape, but deformation in the length direction of the film carrier tape cannot be fully absorbed because a large number of chips are inner lead bonded along the length. First, as mentioned above, the lead portion undergoes considerable deformation.

そこで本発明は、このようなフィルムキャリアテープの
長さ方向の歪みを吸収できる手段を提供することを目的
とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a means that can absorb such distortion in the length direction of a film carrier tape.

(課題を解決するための手段) 本発明は、チップをインナーリードボンディングする開
口部が、長さ方向に沿ってピ・7チをおいて形成された
フィルムキャリアテープにおいて、上記開口部と開口の
間に、歪み吸収用の孔部を形成したものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention provides a film carrier tape in which openings for bonding chips to inner leads are formed at intervals of 7 pitches along the length direction. A hole for strain absorption is formed in between.

(作用) 上記構成によれば、インナーリードボンディングにとも
なう熱変形や、樹脂封止にともなう硬化収縮変形は、孔
部により吸収され、変形のないリード部を得ることがで
きる。
(Function) According to the above configuration, thermal deformation caused by inner lead bonding and hardening shrinkage deformation caused by resin sealing are absorbed by the holes, and a lead portion without deformation can be obtained.

(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。(Example) Next, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図はフィルムキャリアテープの平面図である。この
フィルムキャリアテープlは、ポリイミド樹脂などの合
成樹脂により、極細のフィルム状に形成されている。テ
ープ1には、その長さ方向に沿って、矩形の開口部2が
ピンチをおいて多数個開口されている。この開口部2に
は、チップCがインナーリードボンディングされる。L
はこの開口部2から4方向に延出するリード部である。
FIG. 1 is a plan view of the film carrier tape. This film carrier tape 1 is made of synthetic resin such as polyimide resin and is formed into an extremely thin film shape. A large number of rectangular openings 2 are formed in the tape 1 along its length. A chip C is bonded to the opening 2 by inner lead bonding. L
are lead portions extending from this opening 2 in four directions.

チップCをインナーリードボンディングした後、このリ
ード部りを破線aに沿って打抜くことにより、第2図に
示すデバイスPが得られる。3は開口部2の4方に形成
された目印用の長孔、4はピッチ送り用のスプロケット
孔である。5は開口部2と開口部2の間に形成された歪
み吸収用の孔部である。この孔部5は、テープ1の巾方
向にスリット状に形成されている。
After inner lead bonding is performed on the chip C, a device P shown in FIG. 2 is obtained by punching out the lead portion along the broken line a. Reference numeral 3 indicates elongated holes for marks formed on four sides of the opening 2, and reference numeral 4 indicates sprocket holes for pitch feeding. Reference numeral 5 denotes a hole for strain absorption formed between the openings 2. The hole 5 is formed in the shape of a slit in the width direction of the tape 1.

テープ1の巾は一般に数口であり、したがってインナー
リードボンディングにともなう熱変形や、樹脂封止にと
もなう硬化収縮変形のうち、巾方向の変形はわずかであ
り、テープ1自身がわずかに変形することにより、巾方
向の歪みは十分に吸収できる。一方、テープlは長尺で
あって、その長さ方向に沿って多数個のチップCがイン
ナーリードボンディングされることから、長さ方向の変
形量は相当大きい。しかしながらこのテープ1には、開
口部2と開口部2の間に孔部5を形成しているので、長
さ方向の変形はこの孔部5により吸収され、したがって
リード部りは変形せず、精度の良いリード部りを得るこ
とができる。なお孔部5の形成タイミングは自由であっ
て、開口部2や長孔3と一緒に打抜き形成してもよく、
あるいは開口部2や長孔3を形成した後、このテープ1
にインナーリードボンディングを行う際に、このインナ
ーリードボンディングに先立って形成してもよい。
The width of the tape 1 is generally several widths, and therefore, among the thermal deformation associated with inner lead bonding and the curing shrinkage deformation associated with resin sealing, deformation in the width direction is slight, and the tape 1 itself is slightly deformed. Therefore, distortion in the width direction can be sufficiently absorbed. On the other hand, since the tape l is long and a large number of chips C are inner lead bonded along its length, the amount of deformation in the length direction is quite large. However, since this tape 1 has holes 5 formed between the openings 2, the deformation in the length direction is absorbed by the holes 5, so that the lead portion does not deform. A highly accurate lead portion can be obtained. Note that the timing of forming the hole 5 is free, and it may be formed by punching together with the opening 2 and the elongated hole 3.
Alternatively, after forming the openings 2 and long holes 3, this tape 1
It may be formed prior to inner lead bonding when inner lead bonding is performed.

(発明の効果) 以上説明したように本発明は、チップをインナーリード
ボンディングする開口部が、長さ方向に沿ってピンチを
おいて形成されたフィルムキャリアテープにおいて、上
記開口部と開口の間に、歪み吸収用の孔部を形成してい
るので、インナーリードボンディングや樹脂封止にとも
なうフィルムキャリアテープの長さ方向の歪みを吸収し
、精度の良いリード部を得ることができる。
(Effects of the Invention) As explained above, the present invention provides a film carrier tape in which an opening for bonding a chip to an inner lead is formed with a pinch along the length direction, between the openings. Since the holes for strain absorption are formed, strain in the length direction of the film carrier tape due to inner lead bonding or resin sealing can be absorbed, and a highly accurate lead portion can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は本発明の実施例を示すものであって、第1図はフィ
ルムキャリアテープの平面図、第2図はデバイスの斜視
図である。 1・・・フィルムキャリアテープ 2・・・開口部 5・・・孔部
The drawings show an embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is a plan view of a film carrier tape, and FIG. 2 is a perspective view of a device. 1... Film carrier tape 2... Opening 5... Hole

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  チップをインナーリードボンディングする開口部が、
長さ方向に沿ってピッチをおいて形成されたフィルムキ
ャリアテープにおいて、上記開口部と開口の間に、歪み
吸収用の孔部を形成したことを特徴とするフィルムキャ
リアテープ。
The opening for inner lead bonding of the chip is
What is claimed is: 1. A film carrier tape formed at intervals along the length of the tape, characterized in that holes for strain absorption are formed between the openings.
JP18002490A 1990-07-06 1990-07-06 Film carrier type Pending JPH0465896A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18002490A JPH0465896A (en) 1990-07-06 1990-07-06 Film carrier type

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18002490A JPH0465896A (en) 1990-07-06 1990-07-06 Film carrier type

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0465896A true JPH0465896A (en) 1992-03-02

Family

ID=16076135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18002490A Pending JPH0465896A (en) 1990-07-06 1990-07-06 Film carrier type

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0465896A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0883866A (en) Production of single side resin sealed semiconductor device and carrier frame therefor
US20100155110A1 (en) Wiring board
US20030067083A1 (en) Packaged stacked semiconductor die and method of preparing same
KR100187580B1 (en) Method for sticking an insulating film to a lead frame
JPH05267555A (en) Semiconductor device and its manufacture, and lead frame used for it and its manufacture
JPH043450A (en) Resin sealed semiconductor device
JPH0465896A (en) Film carrier type
TW419756B (en) Process for producing BGA type semiconductor device, TAB tape for BGA type semiconductor device, and BGA type semiconductor device
JP2867954B2 (en) Manufacturing method of chip type semiconductor device
US5661900A (en) Method of fabricating an ultrasonically welded plastic support ring
US6737733B2 (en) Sealed semiconductor device and lead frame used for the same
JP3024608B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
JP2734761B2 (en) TAB film carrier and inner lead bonding method for TAB mounted semiconductor device
JPH04279052A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2582534B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
JPS63248155A (en) Semiconductor device
JPH03124055A (en) Manufacture of lead frame and semiconductor device using same
JP3119243B2 (en) Resin-sealed semiconductor device
JPH0366150A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH02209760A (en) Multiple lead frame
JPH04316340A (en) Resin-sealed type semiconductor device
JPH02130857A (en) Semiconductor packaging board and manufacture thereof
JPH03102859A (en) Manufacturing method of semiconductor device
JPS63228630A (en) Method and apparatus for sealing
JPS63164226A (en) Manufacture of tape carrier element