JPH0461624A - 磁気カードストライプ幅検査方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気カードの磁気膜ストライプの寸法幅を
検査する方式に関する。

［従来の技術］ 最近、各方面で多用されている磁気カードは用途に応じ
て各種の形式のものがある。その内に゛は第２図に示す
ように、プラスチック製のカード１の表面または裏面に
磁気膜のストライプ２を塗布したものがあり、ＩＤ（個
人の識別）カードなどに使用される。磁気カードは、多
数の端末機器に共通使用されるので、磁気膜の記録性能
とともに、その縦横寸法ＬＨ，ＬＤ　、厚さｄおよびス
トライプ幅りには精度の高い規格があり、また生産量が
極めて多量であるので、製造段階で検査ラインにより記
録性能と寸法検査が行われる。検査順序は、まず縦横寸
法と厚さがローラーを利用した機械的な方法により計測
され、ついで、ストライプ幅と記録性能が磁気的方法に
より検査される。記録性能に対しては移動する磁気カー
ドに対して磁気へソドによりテストデータの書込みと読
み出しを行って検査される。ただし、ストライプ２の幅
に対しては、移動状態で検査できる適当な方法が見当た
らないので、次に述べる方法により磁気カードを静止し
て行われている。これを第３図により説明する。

第３図において、静止した磁気カード１の磁気膜ストラ
イブ２に対して、磁気ヘッド４ａ、４ｂ、４Ｃ・・・・
・・を矢印Ａに示す方向に移動して適当な信号を書込ん
で磁化する。ついで磁気ヘッドを反対方向に移動して磁
化信号を読み出し、ストライプのエツジにおける読み出
し信号の変化を検出する。

この検出パルスに対する磁気ヘッドの移動距離によりス
トライプの幅が数箇所で計測される。この場合、磁気ヘ
ッドを１個とし矢印Ｂに従って所定の距離づつ移動して
計測することもできるが、移動機構が複雑なばかりでな
く検査時間が長（なるので、計測する各箇所に対して磁
気ヘッド４ａ、４ｂ　＋　４　ｃ・・・・・・を設けて
同時計測を行うものである。

［解決しようとする課題］ 上記のストライプ幅の計測は、磁気カードを静止状態と
する必要があるので検査ライン中で計測を行うときは、
計測の都度、検査ラインの流れが停止して他の項目の検
査を妨害して検査効率が低ドする。そこで、ストライプ
幅の計−１だけをオフラインとして別途の装置により行
っているが、磁気カードの付替などに手間がかかってや
はり検査効率が低下する。また上記の方法は複数の磁気
ヘッドを必要とすることも欠点である。以上に対して、
光学式によれば検査ライン中で停止することなく１組の
センサにより計測が可能と考えられる。

しかし、カード而がストライプと同色の場合は計測でき
ず、また文字等の印刷があると反射光が変化して正確に
計測できないなどの欠点がある。以上により、１組の磁
気ヘッドにより、検査ラインを一時停止することなく磁
気膜ストライプの幅を検査する方式が望まれている。

［課題を解決するための手段］ この発明は、磁気カードの検査ラインにおける磁気膜ス
トライプ幅の検査方式であって、検査ラインの方向に磁
気膜ストライプを一様に磁化する励磁器と、磁気カード
に対して直角方向に適当な速度で往復移動する１個の読
み取り磁気ヘッドを設ける。励磁器を通過して磁化され
、移動中の磁気膜ストライプのエツジにおける磁化強度
の変化を磁気ヘッドにより検出し、この検出パルスに対
する磁気ヘッドの移動距離により磁気膜ストライプの幅
を測定する。

上記の磁気ヘッドの往復移動速度を、磁気ヘッドが磁気
膜ストライプの数箇所で交わるように設定し、その交点
のストライプ幅を計測するものである。

［作用］ 以上の磁気膜ストライプ幅検査方式においては、検査ラ
インを流れる磁気カードの磁気膜ストライプは、励磁器
により検査ラインの方向に一様に磁化され、ついで１個
の読み取り磁気ヘッドが検査ラインに対して直角方向に
適当な速度で往復移動する。磁気膜ストライプのエツジ
では磁化強度が変化するので、これを磁気ヘッドにより
検出し、検出パルスに対する磁気ヘッドの移動距離によ
り磁気膜ストライプの幅が計測される。

上記の磁気ヘッドの往復移動速度として、磁気ヘッドが
磁気膜ストライプの数箇所と交わるように設定されるの
で、ストライプ幅が数箇所で計測される。

以上におけるストライプの磁化とエツジの検出とは、と
もに磁気カードの移動中に行われて検査ラインの流れを
一時停止することなく、またただ１個の磁気ヘッドによ
り磁気膜ストライプの幅が高精度で検査されるものであ
る。

［実施例］ 第１図（ａ）、（ｂ）は、この発明による磁気カードス
トライプ幅検査方式の実施例における、検査ラインの構
成図と磁気膜ストライプの幅の計測方法の説明図を示す
。図（ａ）において、磁気カード１は、検査ラインによ
り矢印Ｃ１に従って移動し、励磁器３の磁界Ｈにより磁
気膜ストライプ２は検査ラインの方向に一様に磁化され
る。励磁器３には励磁の不要なマグネットを使用するこ
とがよい。

以］−により磁気膜ストライプが磁化された磁気カード
は、矢印Ｃ２に従って磁気へッドアッセンブＵ　５を通
過する。磁気ヘッドアッセンブリは磁気へラド５ａと移
動機構５ｂとよりなり、磁気ヘッドが移動機構により図
示上下方向に往復移動して磁気膜ストライプのエツジ２
ａ、２ｂを検出し、検出パルスに対する磁気ヘッドの移
動距離よりストライブの幅が計測される。図（ｂ）は、
磁気ヘッドの往復移動と検出パルスの関係を示すもので
、移動する磁気カード１に対して磁気ヘッド５ａにより
図示の正弦波曲線が描かれる。エツジ２ａ、２ｂにおい
て上下方向の磁化強度が変化するので、エツジと正弦波
曲線の交点ｐ　ａｕ、　　ｐ　ａｄ、　　ｐ　ｂｄ、　
ｐ　ｂｕ・・・・・・の磁化強度の変化が磁気ヘッドに
より検出されて検出パルスが出力される。移動機構５ｂ
による磁気ヘッドの移動は図示しない制御機構により制
御され、検出パルスの検出時点における磁気ヘッドの位
置が判明するので、検出パルスの間隔Ｄａ、ｐｂ・・・
・・・が各位置における磁気膜ストライプの幅として計
測される。なお、磁気ヘッドの往復移動速度は磁気ヘッ
ドが数箇所でストライブに交わるように設定する。図の
例では２．５往復して５箇所が計測されているが、往復
速度を変更すれば計測箇所数を任意とすることができる
ことは勿論である。

［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
カードストライプ幅検査方式においては、励磁器により
磁化された磁気膜ストライプに対して、直角方向に往復
移動する磁気ヘッドによりストライプのエツジが検出さ
れ、検出パルスに対する磁気ヘッドの移動距離によりス
トライプ幅が計測される。磁気ヘッドが磁気膜ストライ
プと数箇所で交わるように設定することにより、ストラ
イプ幅が数箇所で計測されるもので、磁気ヘッドが１個
であるので移動機構が簡易化されるとともに、検査ライ
ン中の流れ状態で磁気膜ストライプの幅が高精度で検査
され、磁気カードのラインの簡易化と検査効率を向上す
る効果には大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気カー
ドストライプ幅検査方式の実施例における、検査ライン
の構成図と磁気膜ストライプの幅の計測方法の説明図、
第２図は磁気カードと磁気膜ストライプの説明図、第３
図は従来の磁気膜ストライプ幅の計測方法の説明図であ
る。 １・・・磁気カード、　　　　２・・・磁気膜ストライ
プ、２ａ、２ｂ・・・ストライプのエツジ、３・・・励
磁器、　　　　　４・・・磁気ヘッド、５・・・磁気ヘ
ッドアッセンブリ、 ５ａ・・・磁気ヘッド、　　５ｂ・・・移動機構、ＬＨ
，ＬＤ・・・縦横寸法、　ｄ・・・厚さ、Ｄ・・・磁気
膜ストライプの幅、Ｈ・・・磁界、Ａ、Ｂ、Ｃ・・・移
動方向を示す矢印。 第１図 （Ｑ） （ｂ）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）磁気カードの検査ラインにおいて、該検査ライン
   の方向に該磁気カードの磁気膜ストライプを様に磁化す
   る励磁器と、上記磁気カードに対して直角方向に適当な
   速度で往復移動する１個の読み取り磁気ヘッドとを設け
   、該励磁器を通過して磁化され、移動中の上記磁気膜ス
   トライプのエッジにおける磁化強度の変化を該磁気ヘッ
   ドにより検出し、該検出パルスに対する上記磁気ヘッド
   の移動距離により上記磁気膜ストライプの幅を測定する
   ことを特徴とする、磁気カードストライプ幅検査方式。
2. （２）前記磁気ヘッドの往復移動速度を、上記磁気ヘッ
   ドが上記磁気膜ストライプの数箇所と交わるように設定
   し、該数箇所のストライプの幅を計測する請求項１記載
   の磁気カードストライプ幅検査方式。