JPH0457427A - ソータの故障検出方式 - Google Patents

ソータの故障検出方式

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JPH0457427A
JPH0457427A JP2166685A JP16668590A JPH0457427A JP H0457427 A JPH0457427 A JP H0457427A JP 2166685 A JP2166685 A JP 2166685A JP 16668590 A JP16668590 A JP 16668590A JP H0457427 A JPH0457427 A JP H0457427A
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sorter
test
test data
output
switching
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JP2166685A
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English (en)
Inventor
Yoshikatsu Uetake
植竹 芳勝
Kentaro Hayashi
健太郎 林
Yoshihiro Jin
吉廣 神
Nobuya Arakawa
荒川 暢也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野] 本発明は、電子交換機のスイッチ内のソータの故障を検
出するソータの故障検出方式に関する。
[従来の技術] 電子交換機には、各々が送信先を示すへ・ンダが収容さ
れているヘッダ部と送信すべきデータ本文である情報部
からなる複数のデータが入力されるパイソニックスイッ
チが設けられており、このパイソニックスイッチは、複
数の入力データが入力された場合、ヘッド部の内容に応
じて入力データを切替えて所定の出力ラインに出力する
。このように入力されたヘッダ部のデータに基づいて入
力データの切替動作を行なうパイソニックスイッチは、
ソータとルータとからなり、ソータは各ヘッダ部の内容
(ヘッダ)の大小に応じて各データを並び換え、ルータ
はソータによって並び換えられた各データをヘッド部の
内容に応じて目的の送信先に繋がっている出力ラインに
出力する。本発明は、上記したソータの故障検出に関す
る。
従来、ソータの故障検出は、テストデータ群をソータに
入力し、ソータから出力された各デ゛−タが、ソータの
正常切替動作時における出力データパターンと一致して
いるか否かを判断することで行なっていた。
このような故障検出方法によって、ソータ全体としての
故障の有無だけを検出するのであれば、1組のテストデ
ータ群を用いるだけで充分である。
しかしながら、ソータが個別部品で構成されている場合
には、その故障部品を検出して故障部品を取り替えるこ
とが必要である。一方、ソータがIC(半導体集積回路
)で構成されている場合には、そのICを取り替えるだ
けでなく、故障箇所や故障内容を特定して設計や製造工
程までフィードバックして同様の故障の発生を未然に防
止する必要があり、IC内の故障箇所や故障内容をも特
定しなければならない。
このような場合、1組のテストデータ群を用いるだけで
はソータ内の特定の部位の故障箇所や故障内容を特定す
ることができず、従来方法では、多種のテストデータ群
を用いて複数回ソータのテストを繰り返してソータ内の
故障箇所及び故障内容の特定を行なっている。
[発明が解決しようとする課題] 上述した従来のソータ故障検出方法においては、まず、
多種のテストデータを用いて繰り返しテストをするから
、故障検出に多くの工数を必要とし、故障検出時間も長
いという問題があった。
特に、ソータがIC化されている場合には、ソータ内の
各エレメントスイッチや各リンクを個別的に検査するこ
とができないので、テストデータ群による検査だけで故
障検出を行わなければならす、そのテストデータ群も個
別部品の検査のテストデータ群よりずっと多くなり、さ
らに多くの検査工数が必要となる。
本発明は、上述した問題、すなわち、ICなどで構成さ
れたソータ内の故障検出箇所の特定及び故障内容の特定
にあたって多種のテストデータ群を用いることに伴って
生ずる検査工数の増大の問題を克服し、かつ簡単な回路
構成で短時間でソータの故障箇所及び故障内容を特定で
きるソータの故障検出方式を提供するものである。
[課題を解決するため手段] ソータ内の故障箇所及び故障内容を短時間で特定できな
いという問題を解決するため、本発明においては、テス
トモードにおいて協働する、テスト制御手段、テストデ
ータ発生手段及びチェック手段を設けた。
テスト制御手段はソータ内のエレメントスイッチを各段
毎に直進、交差切替動作又は交換動作させる切替モード
信号を出力するものである。テストデータ発生手段は該
ソータの入力側に所定のパターンのテストデータを印加
するものである。そして、ソータ内のエレメントスイッ
チは、テスト制御手段からの切替モード信号に応答して
入力データを、交換させ、直進させ、又は交差させて出
力するように構成されている。チェック手段はソータの
出力信号を入力して、ソータ内の故障を検出するもので
゛ある。
特定的には、リンク単体の故障又はリンク相互間の故障
を検出するため、テスト制御手段は、他の段のエレメン
トスイッチを直進動作状態に保ち、特定1段のエレメン
トスイッチを強制的に交差切替動作させるように構成さ
れている。
また特定的には、エレメントスイッチの故障を検出する
ため、テスト制御手段は他の段のエレメントスイッチを
直進動作状態に保ち、テストデータ発生手段は所定のテ
ストデータパターンのテストデータを出力すると共に、
テスト制御手段は特定1段のエレメントスイッチを交換
動作させるように構成されている。テストデータ発生手
段のテストデータのパターンは交換動作で所定のパター
ンの出力がソータから出力されるようになされている。
[作用〕 テスト制御手段はソータ内のエレメントスイッチを各段
毎に、交換動作、強制的に直進動作又は強制的に交差切
替動作させる切替モード信号を出力する。テストデータ
発生手段はソータの入力側に所定のパターンのテストデ
ータを印加する。そして、ソータ内のエレメントスイッ
チはテスト制御手段からの切替モード信号に応答して入
力されたテストデータを、交換させ、直進させ、又は交
差させて出力する。チェック手段はソータの出力信号を
入力して、テスト制御手段の切替モード信号、テストデ
ータ発生手段からのテストデータパターン、及び、ソー
タの出力データパターンとから、ソータ内のエレメント
スイッチ又はリンクの故障箇所及び故障内容を検出する
リンク単体の故障又はリンク相互間の故障を検出するた
めには、対象とするリンクの前後のエレメントスイッチ
を強制直進動作及び強制交差切替動作させてソータの出
力データを認識する。すなわち、テスト制御手段は、他
の段のエレメントスイッチを直進動作状態に保ち、特定
1段のエレメントスイッチを交差切替動作させる。この
とき、必要ならば特定1段を順次変えていく。チェック
手段は、これらの切替動作に伴うソータの出力データを
順次検査して、リンクの所定の論理状態での固定故障(
断線又は常時電圧印加状態)又はリンク相互間の短絡を
検出する。
エレメントスイッチの故障を検出するためには、エレメ
ントスイッチを直進動作及び交換動作させ、ソータの出
力データを判別する。すなわち、テスト制御手段は他の
段のエレメントスイッチを直進動作状態に保ち、テスト
データ発生手段は所定のテストデータパターンのテスト
データを出力すると共にテスト制御手段は特定1段のエ
レメントスイッチを交換動作させる。この場合にも、必
要ならば特定1段を順次切り換えていく。チェック手段
はこれらの切替動作に伴うソータの出力を検査して、直
進動作動作又は交差切替動作状態で固定したエレメント
スイッチを検出する。
[実施例〕 本発明の実施例について添付図面を参照して述べる。
第1図は本発明の実施例のソータ故障検出方式の構成を
示すブロック図である。第2図は第1図のソータに入力
されるデータのフォーマットを示す図であり、第3図は
第1図のソータを構成するエレメントスイッチの通常の
切替動作態様を示す図である。
第1図には、本発明の故障検査対象となるソータ1、こ
のソータ1にテストデータを与えるテストデータ発生回
路2、通常の入力信号SIN○〜5IN7とテストデー
タ発生回路2からのテストデータTDO〜TD7とを切
り換えるセレクタ5ELO〜5EL7、ソータ1内の各
エレメントスイッチに切替モード信号を出力するテスト
制御回路4、及び、ソータ1からの出力をチェックする
チェック回路3が示されている。
第1図のソータ1は、直列に設けられた6段の切替段1
0.20.30.40.50.60と、これらの隣接す
る切替段を結ぶ5段のリンク段120.230.340
.450.560からなる。
各切替段はそれぞれ4個の並列に設けられたエレメント
スイッチからなる。例えば、切替段10を例にとると、
エレメントスイッチ11〜14からなる。他の切替段2
0〜60のエレメントスイッチの構成も同様である。
リンク段について述べると、各エレメントスイッチの2
つの出力端子に2個のリンクが接続されているので、各
リンク段当たり8個のリンクがある。例えば、リンク段
120を例にとると前段の切替段10内の4個のニレメ
ンt−スイッチ11〜14のそれぞれの出力端子と後段
の切替段20内の4個のエレメントスイッチ21〜24
の8つの入力端子とを結ぶ8本のリンク121〜128
からなる。その他のリンク段についても同様である。
そして、第1の切替段10の各エレメントスイッチ11
〜14はセレクタ5ELO〜5EL7からの出力信号I
NO〜IN7を入力し、第2段以降の切替段20〜60
の各エレメントスイッチは前段のエレメントスイッチか
らの出力を対応するリンクを介して入力するように構成
されている。
セレクタ5ELO〜5EL7への入力信号5INO〜5
IN7及びテストデータ発生回路2からのテストデータ
TDO〜TD7はそれぞれ第2図に示すように、各々、
送信先を示すヘッダが収容されているヘッダ部HEA、
及び、送信すべきデータ本文が収容されている情報部M
ESからなる。
なお、セレクタ5ELO〜5EL7は、通常モードにお
いては、通常の入力信号5INO〜5IN7をソータ1
に出力し、後述するテストモードにおいてはテストデー
タ発生回路2からのテストデータTDO〜TD7をソー
タ1に出力する。
ソータ1内の各エレメントスイッチには、テスト制御回
路4から交換モード信号E、強制直進モード信号S、又
は、強制交差切替モード信号Cが印加され、各エレメン
トスイッチは入力された信号をこの切替モード信号に応
答して切替動作して出力するように構成されている。こ
のエレメントスイッチの切替動作について述べる。
まず、テスト制御回路4から交換モード信号Eが印加さ
れた場合、各エレメントスイッチは、入力端子に入力さ
れた2つの入力信号を以下のように切替動作する。
第1図において、下向きの矢印を付して示したエレメン
トスイッチ11.13.211.22.31.32.4
1〜44.51〜54.61〜64は、入力された2人
力のヘッダ部HEAのヘッダが大きいデータを下側の出
力端子から出力し、ヘッダ部HEAのヘッダが小さいデ
ータを上側の出力端子から出力する。すなわち、下側の
入力信号のヘッダ部HEAのヘッダが大きい場合には、
第3図(C)に示すように入力された2人力化号をエレ
メントスイッチ内を直進させ、一方、上側の入力信号の
へツタ部HE Aのヘッダが大きい場合には、第3図(
D)に示すように入力された2信号をエレメントスイッ
チ内で交差させて(入替えて)出力端子に出力する。
他方、第1図において、上向きの矢印を付して示したエ
レメントスイッチ12.14.23.24.33.34
は、上述した下向きの矢印を付したエレメントスイッチ
とは逆の切換動作を行なう。
すなわち、入力された2人力のヘッダ部HEAのヘッダ
が大きいデータを上側の出力端子から出力し、ヘッダ部
HEAのヘッダが小さいデータを下側の出力端子から出
力する。つまり、下側の入力信号のヘッダ部HEAのヘ
ッダが大きい場合には、第3図(E)に示すように入力
された2人力化号をエレメントスイッチ内で交差させ、
一方、上側の入力信号のヘッダ部HEAのヘッダが大き
い場合には、第3図(F)に示すように入力された2つ
の入力信号をエレメントスイッチ内を直進させて出力す
る。
次に、テスト制御回路4から強制直進モード信号Sが各
エレメントスイッチに印加された場合、各エレメントス
イッチは、ヘッダ部HEAのヘッダに大小関係に拘らず
、第3図(A)に示したように入力された2人力をその
エレメントスイッチ内を直進させて出力する。
さらに、テスト制御回路4から強制交差切替モード信号
Cが印加された場合、各エレメントスイッチはヘッダ部
HEAのヘッダの大小関係に拘らず、第3図(B)に示
したように入力された2人力信号を交差させて出力する
上述した各エレメントスイッチ11〜142.61〜6
4の信号切替属性、すなわち、第1図における下向きの
矢印か上向きの矢印かによって示される切替属性、及び
、各切替段を結ぶリンク段の各リンク121〜128、
・・・、561〜568の次の切替段の各エレメントス
イッチへの接続状態は、この実施例においては、ソータ
1が、ソータ1に入力された信号をヘッダ部HEAのヘ
ッダの小さい順に切替えられてソータ1から出力信号0
UTO〜0UT7として出力する交換動作を行うように
、設計されている。
以下、ソータ1の構成及び動作の詳細を述べる。
第1の切替段10のエレメントスイッチ11及び12か
ら第3の切替段30内のエレメントスイッチ31及び3
2に至る処理系での各エレメントスイッチ及び各リンク
は、第1の切替段10のエレメントスイッチ11及び1
2に入力された4個の入力データINO〜IN3をヘッ
ダ部HEAのヘッダの小さい順に並べ換えて第3の切替
段30内のエレメントスイッチ31及び32から出力す
るように構成されている。
第1の切替段10のエレメントスイッチ13及び14か
ら第3の切替段30内のエレメントスイッチ33及び3
4に至る処理系での各エレメントスイッチ及び各リンク
は、第1の切替段10のエレメントスイッチ13及び1
4に入力された4個の入力データIN4〜IN7をヘッ
ダ部HEAのヘッダの大きい順に並べ換えて第3の切替
段30内のエレメントスイッチ33及び33から出力す
るように構成されている。
第3の切替段30から延出されている以降の各リンク及
び各エレメントスイッチは、入力信号INO〜IN3を
昇順に並べた第3の切替段30内のエレメントスイッチ
31及び32の出力信号と、入力信号IN4〜IN7を
降順に並べた第3の切替段30内のエレメントスイッチ
33及び34の出力信号とに基づいて、入力信号INO
〜IN7をヘッダ部HEAのヘッダの小さい順に並べ換
えるように構成されている。
このように、ソータ1に入力された信号INO〜IN7
はヘッダ部HEAのヘッダの小さい順に切替えられてソ
ータ1から出力信号5OUTO〜5OUT7として出力
される。
上記したソータ1の正常性(又は故障)を検査するため
、上述したテストデータ発生回路2、テスト制御回路4
、及び、チェック回路3が設けられている。
テストデータ発生回路2はソータ1を検査するためのテ
ストデータTDO〜TD7を発生ずるが、これらのテス
トデータTDO〜TD7はテストモードにおいて、セレ
クタ5ELO〜5EL7を介して選択的に出力され、ソ
ータ1の第1の切替段10の各エレメントスイッチ11
〜14に入力信号INO〜IN7として印加される。す
なわち、セレクタ5ELO〜5EL7は、通常動作モー
ドにおいては通常人力5INO〜5IN7をソータ1に
出力し、テストモードにおいては、テストデータ発生回
路2からのテストデータTDO〜TD7をソータ1に出
力する。
また、ソータ1の出力(則に設けられたチェック回路3
が、テストモードにおいて、出力データラインから分岐
された各ラインを介してソータ1の出力信号5OUTO
〜5OUT7を入力して、テスト制御回路4からの切替
モード信号及びテストデータ発生回路2からのテストデ
ータパターンを参照して、ソータ1内の故障箇所の特定
及び故障内容の特定を行なう。
なお、通常モードおいては、ソータ1からの出力データ
はルータ(図示せず)に印加されて、従来と同様に処理
される。
以下、ソータ1内の故障箇所の特定及び故障内容を特定
するための検査について述べる。この検査はテストモー
ドにおいて行なう。
本発明の実施例におけるソータ1内の故障内容としては
次の3種を考慮している。
故障a;リンクが信号論理レベル「0」 (通常断線を
意味する)又は論理レベル「1」(電圧が常時印加され
た状態)に固定 された故障 故障b:ある段のリンクとリンクとが短絡した故障 故障C;エレメントスイッチの切替動作が直進動作又は
交差切替動作のいずれかに固 定された故障(正常な切替動作ができ ない故障) まず、第4図(A)〜(C)を参照して、リンク567
がや論理r1.に固定された故障(故障a)の検出方法
について述べる。
第4図(A)〜(C)は、第5の切替段50と第6の切
替段60との間のリンク567が信号論理「1」に固定
された故障状態と、テストデータ発生回路2からセレク
タ5ELO〜5EL7を介してテス■・データTDO〜
TD7が入力データINO〜IN7としてソータ1に印
加された場合に、前述した方法で入力データをルーチン
グした状態図を示している。エレメントスイッチの左側
の括弧内の数字はセレクタ5ELO〜5EL7からソー
タ1に印加される入力データINO〜IN7の識別番号
を示し、データの進行経路を判りやすくしたものである
まず、第4図(A>に示したように、テスト制御回路4
は各エレメントスイッチ11〜141.61〜64に強
制直進モード信号Sを与える。そして、テストデータ発
生回路2が所定のパターンのテストデータTDO〜TD
7を同時に出力する。このテストデータパターンは、情
報部MESに、対応するテストデータの識別番号を示す
値を設定したものである。これにより、チェック回路3
はソータ1からの出力がどの入力テストデータTDO〜
TD7に対応しているかを容易に識別することができる
以上により、ソータ1の第1の切替段10に並列して同
時に印加された入力信号INO〜IN7、すなわち、テ
ストデータ発生回路2からのテストデータTDO〜TD
7は、第4図(A)に示す経路に従って、入力されたそ
の順序でソータ1の最終段の切替段60から出力される
ただし、リンク567が信号論理「1」に固定されてい
るので、エレメントスイッチ63の下側の入力のデータ
は論理「1」であり、エレメントスイッチ63の下側の
データの出力は第5番目のテストデータTD5ではなく
論理「1」となる。
ソータ1のこれらの出力5OUTO〜5OUT7がチェ
ック回fN3に入力されてソータ1の故障判別が行われ
る。その結果、エレメントスイッチ63の下側の出力が
、正常な5番目のテストデータTD5ではなく、論理「
1」に固定されていることか検出される。
この故障がエレメントスィッチ63自体の故障であるか
、それ以前のエレメントスイッチ、リンクなどの他の構
成要素に基づく故障かは、この出力だけでは判断できな
い。そこで、チェック回路3はテスト制御回路4を介し
て、第4図(B)に示すように、最終段の切替段60の
全エレメントスイッチ61〜64に強制交差切替モード
信号Cを印加させる。他の切替段10〜50のエレメン
トスイッチに対するモード信号は強制直進モードSのま
まである。これによって、第6の切替段60におけるエ
レメントスイッチ61〜64が交差切替動作を行う。こ
の状態で、テストデータ発生回路2から上述したパター
ンのテストデータTDO〜TD7が出力される。
チェック回路3はこの状態で出力信号5OUTO〜5O
UT7をチェックし、論理「1」のデータが、前回の5
OUT5から5OUT4に切り替わったことを検出して
、エレメントスィッチ63自体の切替動作は正常である
ことを認識する。
そこで、チェック回路3は、第4図(C)に示したよう
に、テスト制御回路4を介して、第5の切替段のエレメ
ントスイッチ51〜54を強制交差切替動作させ、その
他の切替段10〜40.60は直進動作させる。テスト
データ発生回路2から前述したパターンのテストデータ
TDO〜TD7が出力され、そして、チェック回路3は
再び、出力データ5OUTO〜5OUT7を入力して、
エレメントスイッチ54で切替られなテストデータのう
ちテストデータTD7が5OUT5として論理「1」に
固定されていることを検出する。
以上から、前後のエレメントスイッチを交差切替動作さ
せた場合、その切替動作が正常に行なわれる一方、出力
5OUT5の出力レベルが常に論理「1」であることか
ら、この出力5OUT5を導くリンク567が論理「1
」に固定されている故障を識別できる。すなわち、これ
により、故障箇所と故障内容とが検出できた。
もし、リンクの故障が第4の切替段40と第5の切替段
50との間のリンク458(第4図<A))であった場
合、第4の切替段40について交差切替動作させて上記
した検査を行なえば良い。
以上に述べたように、テストデータ発生回路2は簡単な
パターンのテストデータを出力し、テスト制御回路4は
検査対象とするリンクの前後のエレメントスイッチ段を
各段ごと一括して交互に直進動作、交差切替動作させる
ように切替モード信号を出力し、チェック回F!!13
は簡単な予想用カバターンを参照して故障を検出する構
成であるから、回路槽或は簡単である。また、検査対象
とする前後のエレメントスイッチを各段ごと一括して切
替動作させ、しかも、検査対象とする前後のエレメント
スイッチ段について切替動作させるので、検査時間が短
い。
以上、論理「1」に固定された場合の故障について述べ
たが、論理「0」 (断線状態)に固定された場合の故
障検出も同様である。
次に、第5図(A)〜(C)を参照して、リンク567
と568とが短絡している故障すを検出する方法につい
て述べる。
第5図(A>は、テスト制御回路4から全エレメントス
イッチに強制直進モード信号Sが印加され、テストデー
タ発生回路2からテストデータTDO−TD7が出力さ
れた状態を示している。テストデータTDO〜TD7の
パターンは前述したものと同して゛ある。リンク567
と568とが短絡されているから、出力S’OU T 
5と5OUT7は本来のテストデータTD5、TD7で
はなく、合成されたデータ列aとなっている。チェック
回路3はこの出力5OUT5及び5OUT7が不良であ
ることを検出する。
この不良を検出したチェック回路3は、テスト制御回路
4を介して、第5図(B)に示すように、エレメントス
イッチ61〜64を強制交差モードCで、他のエレメン
トスイッチは強制直進モードSで動作させる。テストデ
ータ発生回路2がらセレクタ5ELO〜5EL7を介し
てソータ1にテストデータTDO〜TD7が印加された
後、チェック回路3がソータ1の出力5OUTO〜5O
UT7を入力して、データ列aが出力5OUT4及び6
に移動したことを知ると同時に、前回不良が生じた出力
5OUT5及び5OUT7には正常なテストデータTD
4及びTD6が出力されたことを知る。これにより、チ
ェック回路3はエレメントスイッチ63.64は正常で
あることを認識する。
さらに、チェック回路3はテスト制御回路4を介して、
第5図(C)に示したように、第5段目のエレメントス
イッチ51〜54のみを強制交差モードCで動作させ、
他のエレメントスイッチを強制直進モードSで動作させ
、テストデータ発生回路2からテストデータTDO−T
D7をソータ1に出力させる。チェック回路3は出力デ
ータ5OUTO〜5OUT7を入力して、出力データ5
OUT5及び’5OUT7にデータ列aが出力されるこ
とを検出し、以上の検出結果から、エレメントスイッチ
54の出力側で隣接するリンク567と568とが短絡
していることを検出する。
他のリンク同士が短絡している場合も同様に、検出対象
となる前後のエレメントスイッチ段を交差切替動作させ
ることにより、検出できる。
さらに、第6図(A)〜(D)を参照して、エレメント
スイッチが交差状態で固定している故障Cを検出する方
法について述べる。
前述したように、リンクが論理「1」又は論理r□」で
固定していない場合、そして、リンク同士の短絡がない
場合、エレメントスイッチの故障を検出する。このエレ
メントスイッチの故障検出方法は、所定のテストデータ
状態で、最終段から最初の段に向かって順次、各段のエ
レメントスイッチを交換モードE及び強制直進モードS
で動作させていき、本来のテストデータがソータ1がら
出力されるか否かを判断してエレメントスイッチの故障
を検出するものである。以下、具体的にエレメントす故
障検出法を述べる。
まず、第6図(A>に示したように、テスト制御回路4
からのモード信号によって、第6段目のエレメントスイ
ッチ61〜64を交換モードEで動作させ、その他のエ
レメントスイッチは強制直進モードSで動作させる。こ
の場合にテストデータ発生回路2から出力されるテスト
データTDO〜TD7は、これらのテスI・データの番
号が識別可能なデータを情報部MESに設定しておき、
さらに、各テストデータのヘッダ部HEAのヘッダh 
(TDX) 、ただし、Xはテストデータの番号を下記
のように設定しておく。
テストデー パターン1 h (TDO)>h (TDI) h (TD2)>h (TD3) h (TD4)>h (TD5) h (TD6)>h (TD7) このテストデータがソータ1に印加され、全てのエレメ
ントスイッチが正常ならば、第6図(A)に示したよう
に、ソータ1の出力は上から順に、TDI、TDO1T
D3、TD2、TD5、TD4、TD7、TD6となる
。チェック回路3はこの出力状態を検出し、エレメント
スイッチ61〜64が正常に交換切替動作をしているこ
とを識別する。
次に、第6図(B)に示すように、テスト制御回路4は
エレメントスイッチ61〜64を交換モードEで動作さ
せ、その他の段のエレメントスイッチを強制直進モード
Sで動作させるように、モード信号を出力する。この場
合のテストデータ発生回路2からのテストデータパター
ンは、ソータ1の出力が上から順次TDO〜TD7にな
るように、下記のパターンとする。
テストデータパターン2 h (TD l ) >h (TDO h (TD3)>h (TD2 h (TD5)>h (TD4 h (TD7)>h (TDに のとき、エレメントスイッチ61〜64が正常に直進切
替動作を行なえば、第6図(B)に示したように、ソー
タ1の出力は上から順次、TDOlTDl、TD2、T
D3、TD4、TD5、TD6、TD7どなる。チェッ
ク回路3はこれらの出力をチェックしてエレメントスイ
ッチ61〜64が正常動作することを認識する。
以上から、最終段のエレメントスイッチに故障がないの
で、その前段のエレメントスイッチ列50の故障判別を
行なう。この場合も、テスト制御回路4は、第6図(C
)に示したように、対象とする第5段目のエレメントス
イッチ51〜54をまず交換モードEで動作させ、その
他の段のエレメントスイッチは強制直進モードSで動作
させるようにモード信号を出力する。この場合、テスト
データ発生回路2からのテストデータは、エレメントス
イッチ51〜54が交換動作するように、下記のテスト
データパターンである。
テストデー パ −ン3 h (TDO)>h (TD2) h (TD4)>h (TD6) h (TDI)>h (TD3) h (TD5)>h (TD7) エレメントスイッチ51〜54が正常に交換動作した場
合、ソータ1の出力は、第6図(C)に示したようにな
る。チェック回路3はこれらの出力をチェックしてエレ
メントスイッチ51〜54が正常に切替動作しているこ
とを認識する。
次に、第6図(D)に示すように、テスト制御回路4は
エレメントスイッチ51〜54を交換モードEで動作さ
せ、その他の段のエレメントスイッチを強制直進モード
Sで動作させるように、モード信号を出力する。この場
合のテストデータ発生回路2からのテストデータパター
ンは、ソータ1の出力が上から順次TDO〜TD7にな
るように、下記のパターンとする。
テストデータパターン4 h (TD2>>h (TDO h (TD6)>h (TD4 h (TD3)>h (TDI h (TD7)>h (TD5 この場合、エレメントスイッチ54が交換切替動作のま
まで固定し、直進切替動作ができないとすると、第6図
(D)に示したように、出力S○UT5と5OUT7が
逆になる。チェック回路3はこの出力不良状態を検出し
て、エレメントスイッチ54が交差切替状態で固定して
いることを認識する。
エレメントスイッチ54が直進切替で固定しているとき
は、出力5OUT5と5OUT7とが、第6図(C)に
示したTD7、TD5からTD5、TD7となるので、
チェック回路3はエレメントスイッチ54の直進切替状
態で固定していることを検出で゛きる。
上記エレメントスイッチの故障検出は、他の段のエレメ
ントスイッチについても同様に、まず、交換モードEで
所定の交差切替パターンのテストデータをソータ1に印
加する検査と、所定の直進切替パターンデータのテスト
データをソータ1に印加する検査とで達成される。
以上の実施例においては、ソータ1が順次小さいヘッダ
から出力する構成について述べたが、その逆に大きい法
から順に出力する構成においても、テストデータ発生回
H@ 2からのテストデータパターンを変えるだけで、
上記同様に故障を検出できる。
以上の実施例では、テストデータ発生回路2、チェック
回路3及びテスト制御回路4をハードウェアで構成した
回路の例を述べたが、これらの回路はそれぞれマイクロ
コンピュータを用いて構成しても良い。
また、テストデータ発生回路2、チェック回路3及びテ
スト制御回路4は個別の構成とした例について述べたが
、上記したように、これらは協働してソータ1の故障検
出を行うので、一体止して構成しても良い。
「発明の効果〕 以上に述べたように、本発明によれば、簡単な回路構成
で協働するテストデータ発生手段、チェック手段及びテ
スト制御手段を検査対象であるソータに接続し、テスト
モードにおいてのみ、これらを作動させ、かつ、テスト
制御手段からの切替モード信号に応じてソータ内のエレ
メントスイッチを切替動作可能に構成し、ソータ内の各
エレメントスイッチ段毎にテスト制御手段から適宜切替
モード信号を出力すると共に検査に応じたパターンのテ
ストデータをテストデータ発生手段からソータに印加し
、ソータの出力をチェック手段で入力し、上記切替モー
ド及びテストデータのパターンを参照することにより、
ソータ内の故障箇所及び故障内容を特定できる。
又は、テスト制御手段からの切替モード信号は各エレメ
ントスイッチ段毎に行ない、ニレメン【ヘスイッチ又は
リンクの故障検出を順次各段毎に行なうので、換言すれ
ば、テストデータのパターンを繰り返して反復検査する
必要がないので、短時間で故障検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例が適用されるソータと、この
ソータの基本構成及びそめ動作、並びに、このソータの
故障を検出する回路の接続関係を示す図、第2図は第1
図のソータに印加される入力信号のフォーマットを示す
図、第3図(A)〜(F)は第1図のエレメントスイッ
チの動作態様を説明する図、第4図(A)〜(C)は本
発明の実施例のソータ内のリンクが論理「1」状態で固
定している故障を検出する態様図、第5図(A)〜(C
)は本発明の実施例のソータ内のリンク同士が短絡して
いる故障を検出する態様図、第6図(A)〜(D)は本
発明の実施例のエレメントスイッチが交差切替動作状態
で固定している故障を検出する態様図である。 1・・・ソータ、2・・・テストデータ発生回路、3・
・・チェック回路、4・・・テスト制御回路、11〜1
4゜61〜64・・・エレメントスイッチ、121〜1
28.・ ・ ・、561〜568・・・リンク。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)2つの入力データのヘッダ部の内容を比較し予め
    定められた切替モードに応じて該2入力データをそのま
    ま直進又は交差させて出力するエレメントスイッチが各
    段複数個並列に設けられ、隣接する各段のエレメントス
    イッチの出力端子と入力端子間を所定の接続関係で接続
    する複数のリンクを備え、複数の入力データをヘッダ部
    の内容に応じて並べ換えて出力するソータの故障を検出
    する方式であつて、 テストモードにおいて、前記エレメントスイッチを、各
    段毎に、入力データを強制的に直進させるか、強制的に
    交差切替動作させるか又は交換動作させる切替モード信
    号を出力するテスト制御手段と、 テストモードにおいて、該ソータの入力側に所定のパタ
    ーンのテストデータを印加するテストデータ発生手段と
    、 テストモードにおいて、該ソータの出力信号を入力して
    前記ソータの動作状態をチェックするチェック手段とを
    備え、 前記エレメントスイッチは、前記テスト制御手段からの
    切替モード信号に応答して入力データを直進又は交差さ
    せるように構成され、 前記テスト制御手段、前記テストデータ発生手段及び前
    記チェック手段が協働して前記動作を行ない、前記チェ
    ック手段が前記テスト制御手段の切替モード信号、前記
    テストデータ発生手段からのテストデータパターン、及
    び、前記ソータの出力データパターンとから、前記ソー
    タ内の故障箇所及び故障内容を検出することを特徴とす
    るソータの故障検出方式。
  2. (2)前記テスト制御手段は、特定1段のエレメントス
    イッチを強制的に交差切替状態にし、他段のエレメント
    スイッチを直進動作状態に保ち、この状態での検査を、
    少なくとも1回以上しかも特定1段を変えて実行させ、 前記チェック手段は、これらの切替え動作に伴う前記ソ
    ータの出力データを順次検査してリンクの所定の故障又
    はリンク相互間の短絡を検出する、請求項1記載のソー
    タの故障検出方式。
  3. (3)前記テスト制御手段は、特定1段のエレメントス
    イッチを交換動作状態にし、他段のエレメントスイッチ
    を直進動作状態に保ち、この状態での検査を、少なくと
    も1回以上しかも特定1段を変えて実行させ、 前記テストデータ発生手段は所定のテストデータパター
    ンのテストデータをソータに出力し、前記チェック手段
    は、これらの切替え動作に伴う前記ソータの出力データ
    を順次検査して、直進動作又は交差切替動作状態で固定
    したエレメントスイッチを検出する、請求項1記載のソ
    ータの故障検出方式。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01225187A (ja) * 1988-03-04 1989-09-08 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
CN117933846A (zh) * 2024-02-01 2024-04-26 杭州聚萤软件有限公司 一种基于大数据技术的电商智慧化物流配送系统及方法

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JPH01225187A (ja) * 1988-03-04 1989-09-08 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
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