JPH0456250B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0456250B2
JPH0456250B2 JP57130096A JP13009682A JPH0456250B2 JP H0456250 B2 JPH0456250 B2 JP H0456250B2 JP 57130096 A JP57130096 A JP 57130096A JP 13009682 A JP13009682 A JP 13009682A JP H0456250 B2 JPH0456250 B2 JP H0456250B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical waveguide
optical
light
optical waveguides
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57130096A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5919908A (ja
Inventor
Masayuki Izutsu
Tadashi Sueda
Masaharu Matano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Priority to JP57130096A priority Critical patent/JPS5919908A/ja
Publication of JPS5919908A publication Critical patent/JPS5919908A/ja
Priority to US06/816,974 priority patent/US4674827A/en
Priority to US07/000,865 priority patent/US4850666A/en
Publication of JPH0456250B2 publication Critical patent/JPH0456250B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/72Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
    • G01C19/721Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/24Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
    • G01L1/242Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet the material being an optical fibre
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/125Bends, branchings or intersections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、温度変化を光の強度変化に変換し
て検出する光学的温度センサに関する。
温度計測には従来から、サーミスタ、熱電対の
ような電気的な計測手段が広く用いられている。
ところが、このような電気的温度計測装置は、電
気的雑音が存在する環境では計測精度が低下す
る、電気スパークによる火災または爆発のおそれ
がある、雰囲気によつては金属導電体が腐蝕しや
すいなどの問題があつた。そこで、これらの諸問
題を解消する計測装置として光学的に温度変化を
測定するものが脚光をあびてきた。光を用いた温
度センサとしては、透明媒質の相転移や光の吸収
端の温度変化にもとづく透過光量の変化を利用し
たものや、螢光体の発光時間または残光時間の温
度変化を利用したものが案出されている。しかし
ながら、相転移を利用したものは、測定温度範囲
が狭いため、広い温度範囲をカバーするためには
多重の媒質を組み合わせる必要があるという問題
がある。また、吸収端の温度変化を利用するもの
では、その温度変化が小さいために精度の高い計
測を行なうのは困難である。いずれにしてもこれ
らの温度計測装置では、透過光量の温度変化を利
用しているので透過光量は既存の光量変換素子に
よつて容易に検出できる長所をもつ反面、測定す
る光学系に伝達損失が生じるとその損失がそのま
ま測定誤差となるという問題がある。しかも実際
に生じる損失の例としてはゴミ、汚れの付着など
があり、これらの要因によつて微妙な光量変化が
生じるという不測の誤差があるため、これら不測
の損失誤差に対応できないという欠点がある。螢
光体を利用したものでも、発光強度の温度変化が
小さいためにS/Nの高い計測が困難であること
や、残光強度の測定が難しく、残光強度が零にな
つた時点の判断に誤差が生じやすいために残光時
間を正確に測定できないなどの大きな問題があ
る。
この発明は、わずかな温度変化に対しても大き
な光量変化が得られるので高精度の温度測定が可
能であり、しかも構成が簡単で製造が容易な光学
的温度センサを提供することを目的とする。
この発明による光学的温度センサは、少なくと
も1つの入出力用単一モード光導波路と、この入
出力用光導波路の一端に結合された1対の温度検
出用単一モード光導波路とを有する基板、および
温度検出用光導波路の光波を反射させる手段を備
え、1対の温度検出用光導波路の長さが互いに異
なることを特徴とする。入出力用光導波路に入力
した光波は、1対の温度検出用光導波路に分岐し
て伝搬し、反射手段によつて反射されて反対方向
に伝搬し再び入出力用光導波路に入つて重ね合わ
される。1対の温度検出用光導波路の長さが互い
に異なるから、それらの熱膨脹係数が等しくて
も、温度変化に対するそれらの長さの変化は互い
に異なり、1対の光導波路の長さの差は温度によ
つて変化する。したがつて、1対の光導波路を伝
搬する光波の位相差が温度によつて変化する。入
出力用光導波路から出射される光の強度はこの位
相差の変化によつて変化するから、出射光の強度
を測定することにより、温度を知ることができ
る。所定の基準温度において、1対の温度検出用
光導波路の長さを、両光導波路を伝搬する光波の
位相差が0°または180°になるように設定しておく
ことが好ましい。
この発明においては、1対の光導波路の長さの
差の温度による変化を利用しているから、温度を
精度よく検出することができる。しかも基板上に
形成された光導波路構造および反射手段という簡
単な構造であり、製作が容易となる。
この発明の実施例の説明に先だち、その実施例
が利用される特殊な光導波路構造について説明し
ておく。
第1図において、1対の単一モード光導波路1
と2がその一端において微小角度θ1で交差してい
る。これらの光導波路1と2とは等しい巾W1,
W2を有しており、したがつて位相定数が等しく
設定されている。もう1対の単一モード光導波路
3と4とがあり、これらの光導波路3と4もまた
一端にて微小角度θ2で交差している。光導波路3
と4の巾W3とW4とは異なり、光導波路4の巾
W4は光導波路3の巾W3よりも狭くなつている。
したがつて、光導波路3と4の位相定数は異な
り、光導波路3の方が大きい。このような光導波
路1,2と光導波路3,4とは、これらの光導波
路がほぼ直線状になるように、それぞれの交差部
で結合されている。この結合部を符号5で示す。
説明の便宜のために、光導波路1,2から光導波
路3,4に向う方向をZ軸、紙面に垂直な方向を
X軸として、XYZ座標軸をとる。また、光導波
路1,2を対称側、光導波路3,4を非対称側と
呼ぶ。
簡単のために、X方向には変化のない2次元構
造を考える。また、2つの交差角θ1,θ2はいずれ
も十分に小さく、光波はほぼZ方向に進行し、Z
方向の微小変化に対して光導波路1と2の間隔、
および光導波路3と4の間隔の変化は無視できる
ものとする。すなわち、結合部5を除いて、微小
区間を考えれば、2本の平行な光導波路があり、
Y方向に一様な5層構造が形成されている、とみ
なすことができるものとする。このような場合に
は、ローカル・ノーマル・モード(Local
Normal Mode)による解析法が適用できる。
よく知られているように、2つの単一モード光
導波路からなる5層光導波路の固有モードには、
偶モードと奇モードの2種類がある。第2図a,
bには、この5層光導波路構造における偶モード
と奇モードの伝搬状態がそれぞれ示されている。
第2図cには、この5層光導波路構造の偶、奇両
モードの位相定数の変化の様子が示されている。
光導波路1,2からなる対称側において、結合部
5から十分に遠く、光導波路1と2の間隔が広い
位置では、光導波路1と2の間の結合が無視でき
るため2つの固有モードは縮退し、両モードの位
相定数は等しい。結合部5に近づくにつれて縮退
がとけて両モードの位相定数の差が大きくなる。
結合部5では、2つの光導波路が1つになり、3
層光導波路構造となるため、偶モードは3層光導
波路の基本モード(位相定数の大きい方)に、奇
モードは1次モード(位相定数の小さい方)にそ
れぞれ移行する。結合部5を過ぎて、光導波路3
と4からなる非対称側にはいると、非導波路3と
4の間隔が再び拡大するため両モードの位相定数
の差は減少するが、光導波路3と4の位相定数が
異なるので偶、奇モードの位相定数はそれぞれ異
なる値に漸近する。この例では、光導波路3の幅
が光導波路4の幅より広くなつているから、位相
定数は光導波路3のほうが大きい。したがつて、
偶モードの光波パワーは光導波路3に、奇モード
の光波パワーは光導波路4にそれぞれ集中する。
上述の説明は、光が対称側から非対称側に伝搬
する場合のものであるが、非対称側から対称側に
光が進む場合には、上述の説明を逆にたどればよ
い。
第3図は、上述の光導波路に対称側から種々の
光波を入力したときに得られる光波出力を示して
いる。第3図aは、対称側の2つの光導波路1,
2に同相の光波が入力した場合である。対称側で
は偶モードが励振されて伝搬し、結合部5では基
本モードに、非対称側では再び偶モードにそれぞ
れ変化する。非対称側における偶モードの光波パ
ワーは光導波路3に集中しているため、出力光波
は光導波路3から得られる。第3図bは、互いに
逆相の光波を対称側の2つの光導波路1,2に入
力した場合である。対称側では奇モードが励振さ
れて伝搬し、結合部5では1次モードに、非対称
側では再び奇モードにそれぞれ変化する。非対称
側における奇モードの光波パワーは光導波路4に
集中しているため、出力光波は光導波路4から得
られる。第3図cは、光波が光導波路1にのみ入
力した場合である。この場合には、対称側で偶モ
ードと奇モードとが等しいパワーで励振されたと
考えられるから、第3図aとbの重ね合わせとな
り、光導波路3と4に等しいパワーの光波が出力
される。
光波が非対称側から入力することもでき、この
場合には上述した逆の過程をたどる。たとえば、
光導波路3に光波が入力した場合には、対称側の
両光導波路1と2とから同相の光波が出力される
(第3図aに破線の矢印で示す)。他についても同
じように考えることができる。以上の考案から、
この光導波路構造が通常の光ビーム・スプリツタ
(たとえばハーフ・ミラー)と等価な機能を有す
るものであることが理解されよう。
第4図は実施例を示している。Zカツトの
LiNbO3結晶基板10の一面上に、Tiを熱拡散す
ることにより、第1図に示すような光導波路1と
2の対、光導波路3と4の対およびこれらの交差
部の結合部5が形成されている。これらの光導波
路1〜4の結合部5と反対側端部には、平行な光
導波路11,12,13,14がそれぞれ連続し
ている。光導波路3,13が入力用、光導波路
4,14が出力用、光導波路1,2,11,12
が温度検出用である。このような使い方は、第3
図aに破線で示すように、光波を非対称側から入
力するものと同じである。光導波路1と2の交差
角、光導波路3と4の交差角θ1,θ2はいずれも
1.2°以下の小さい値にとられている。基板10の
光導波路11,12側の端面にはAlを蒸着する
ことにより反射膜6が形成されている。
入力用光導波路13には適当な光源(図示略)
から光学系または光フアイバなどを通して光が入
射される。出力用光導波路14は、光学系または
光フアイバを介して光電検出器(図示略)に結合
されている。光導波路13から入射された光は両
光導波路1,2に等しく分れて伝搬し、反射膜8
で反射したのち再び光導波路11,12をそれぞ
れ伝搬して結合部5に至る。両光導波路11,1
2(すなわち1,2)の光波が同相であれば両光
波はすべて光導波路3に移つて光導波路13から
出力光が得られる。光導波路11,12を伝搬す
る光波に位相差があると、この位相差に応じた強
度の光が光導波路14から出射する。したがつ
て、この出力光の強度を測定することにより温度
を知ることができる。
光導波路1および11の長さの和すなわち光導
波路1および11を通る結合部5から反射膜6ま
での距離と、光導波路2および12の長さの和す
なわち光導波路2および12を通る結合部5から
反射膜6までの距離との差ldを、所定の基準温度
たとえば0℃または室温(20℃)において、次式
を満足するように設定しておく。
ld=M×(λo/2n) ……(1) ここでMは整数、λoは自由空間での光の波長、
nは光導波路の等価屈折率である。
上記の所定基準温度においては、結合部5で光
導波路1,2に分岐し、反射膜6で反射して再び
結合部5に戻つてきた光波が結合部5で重ね合わ
されるときに、これらの光波の位相差は、光導波
路中の波長λo/nの整数M倍となるため、これ
らの重ね合わされた光波は光導波路3にのみ進
み、出力光は光導波路13から得られる。
交差角θ1,θ2は非常に小さく、すべての光導波
路は同じ方向(この実施例ではX軸方向、第1図
の軸方向とは異なる)にそつていると考えられ
る。したがつて、温度による光導波路の長さの変
化を熱膨脹係数αxxを用いて計算することができ
る。LiNbO3の場合には、αxx=1.54×10-50C-1
である。温度変化ΔTに対する光導波路の長さの
差ldの変化Δldは次式で与えられる。
Δld/ld=1.54×10-5×ΔT ……(2) 第(1)式および第(2)式より、 ΔT=(2n/Mλo)(Δld/1.54×10-5) ……(3) を得る。
Δldがλo/4nのときに、結合部5で重ね合わさ
れる光波にλo/2nの位相差、すなわち光導波路
中の光の波長の半分の位相が生じ、光導波路13
からの出力光は零となり、光導波路14からのみ
出力光が得られる。このときには、第(3)式より、 ΔT≒32500/M ……(4) となる。温度の変化に帯する光導波路14からの
出力光の変化の特性が第5図に示されている。光
導波路の長さの差ldを適当に設定することによ
り、温度測定の範囲および精度を選定することが
できる。
第4図において、光導波路14から光を入射さ
せ光導波路13から検出光を得るようにしてもよ
い。また、光導波路1,11,2,12を入出力
用、光導波路3,13,4,14を温度検出用と
することも可能である。
光導波路11と12における光の反射位置を、
λo/4nだけ異ならせておけば、基準温度におい
て光導波路14から最大強度の出力光が得られ
る。光の反射手段は基板10に形成せずに、基板
10の外部に設けてもよい。そして、反射手段と
しては反射鏡以外にたとえば光フアイバの端面を
利用してもよい。
第6図はこの発明の他の実施例を示している。
ガラス基板20上に銀イオンを電界拡散させるこ
とにより、入出力用単一モード光導波路24、こ
の光導波路24に結合され長さの異なる分岐路部
分をもつY字形光分岐路23、およびこのY字形
光分岐路23にそれぞれつながる1対の平行な温
度検出用単一モード光導波路21,22が形成さ
れ、基板20の光導波路21,22側端面にAl
を蒸着することにより反射膜25が形成されてい
る。分岐点から反射膜25までの光導波路21と
22の長さは上述の実施例の場合と同じように異
なつている。この実施例においては、光導波路2
4が光波の入力用および出力用になつている。光
導波路24から出力される光は温度によつて強度
変調される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、導波形光ビーム・スプリツタの動作
原理を示す構成図、第2図a,bは、このビー
ム・スプリツタにおける固有モードの伝搬の様子
を示す図、第2図cは位相定数の変化を示すグラ
フ、第3図は、このビーム・スプリツタへの光波
の入力と出力との種々の関係を示す図、第4図
は、この発明の実施例を示す斜視図、第5図は、
出力光の強度の温度による変化を示すグラフ、第
6図はこの発明の他の実施例を示す斜視図であ
る。 1,2,11,12,21,22……温度検出
用単一モード光導波路、3,4,13,14,2
4……入出力用単一モード光導波路、10,20
……基板、6,25……反射膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 少なくとも1つの入出力用単一モード光導波
    路と、この入出力用光導波路の一端に結合された
    1対の温度検出用単一モード光導波路とを有する
    基板、および温度検出用光導波路の光波を反射さ
    せる手段を備え、1対の温度検出用光導波路の長
    さが互いに異なる、光学的温度センサ。 2 入出力用光導波路に光波を入射させる手段、
    および入出力用光導波路から出射する光の強度を
    検出する手段を備えている、特許請求の範囲第1
    項記載の光学的温度センサ。
JP57130096A 1982-05-20 1982-07-26 光学的温度センサ Granted JPS5919908A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57130096A JPS5919908A (ja) 1982-07-26 1982-07-26 光学的温度センサ
US06/816,974 US4674827A (en) 1982-05-20 1986-01-06 Slab-type optical device
US07/000,865 US4850666A (en) 1982-05-20 1987-01-06 Slab-type optical device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57130096A JPS5919908A (ja) 1982-07-26 1982-07-26 光学的温度センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5919908A JPS5919908A (ja) 1984-02-01
JPH0456250B2 true JPH0456250B2 (ja) 1992-09-07

Family

ID=15025857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57130096A Granted JPS5919908A (ja) 1982-05-20 1982-07-26 光学的温度センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5919908A (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4756627A (en) * 1984-08-17 1988-07-12 Sperry Corporation Optical temperature sensor using photoelastic waveguides
DE4114671A1 (de) * 1991-05-06 1992-11-12 Hoechst Ag Verfahren und messanordnung zur beruehrungslosen on-line messung
TW200931088A (en) * 2007-09-27 2009-07-16 Alps Electric Co Ltd Crossover optical guide path
KR101019229B1 (ko) 2008-12-16 2011-03-03 전남대학교산학협력단 광섬유 온도센서
CN102354023B (zh) * 2011-10-27 2012-11-07 电子科技大学 一种1×n波导型可调光功率分束器

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5919908A (ja) 1984-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4850666A (en) Slab-type optical device
US5073024A (en) Integrated optical device for measuring the refractive index of a fluid
US4756627A (en) Optical temperature sensor using photoelastic waveguides
US4818071A (en) Fiber optic doppler anemometer
JPH0456250B2 (ja)
EP0449193A1 (en) Optical coupling apparatus for coupling light into a waveguide
JPH1183894A (ja) 光学式加速度計
JPH0319937B2 (ja)
JPS5923305A (ja) 光学的計測器
EP0059644A1 (en) Optical gyroscope
JPS59166873A (ja) 光応用電圧・電界センサ
JPH04232429A (ja) 干渉形波長測定装置
JPS63216006A (ja) 光センサ
JPH0470561B2 (ja)
JPS58202406A (ja) 導波形光ビ−ム・スプリツタ
JPH03257353A (ja) 空気の屈折率測定装置
JPS59166830A (ja) 光学的圧力センサ
JPS63222232A (ja) 波長センサ
JP2692551B2 (ja) 変位センサ用光導波路基板
JPH06201320A (ja) 測定部によつて相互に分離された組込ユニツトおよび反射ユニツトを有する干渉計
JPH0635147Y2 (ja) 光検出器
JPS627484B2 (ja)
JPS6283731A (ja) 光スイツチ
JP3430340B2 (ja) 電界センサ
JPH02300726A (ja) 光切替部品