JPH04503409A - 柱状エレメントを使った内反射装置及び方法 - Google Patents

柱状エレメントを使った内反射装置及び方法

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JPH04503409A
JPH04503409A JP2503791A JP50379190A JPH04503409A JP H04503409 A JPH04503409 A JP H04503409A JP 2503791 A JP2503791 A JP 2503791A JP 50379190 A JP50379190 A JP 50379190A JP H04503409 A JPH04503409 A JP H04503409A
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ドイル、ウォルター、エム
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アキショム・アナリティカル・インコーポレーテッド
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 柱状エレメントを使った内反射装置及び方法発明の背景 本発明は、IREg(内反射エレメント)が柱状体である内反射分光学に関する ものである。“減衰全反射”(ATR)なる語は内反射分光学に関連して使用さ れることがよくある。
正方形断面を有するIREsは広く使用されているけれど、円形断面のIREs が、(a)信頼性があり、使い易い“O”リングシールに適合すること、(b) 好都合な流体動特性、そして(c)典型的なFTIR分光計の円形断面の赤外( IR)ビームに適合することに大きく起因して、ますます人気のあるものになり つつある。
しかしながら、柱状のIREsが定量的な分析に対して信頼され得る範囲に関し て相当な関心が持たれて来た。この関心はブロウ(Braue)とバネラ(Pa nnel Ia)により行われた詳細な研究によって商業的に有用なIREに向 けられ、そこではアセトンと水の混合物が四箇月の期間にわたって実行された5 組の三行程(five sets ofthree runs)において分析さ れた。実験者の報告はApPliedSpectroscopy″、第4巻、N o、 6(1987)(第1057−1066頁)に発表されている。これらの 著者は、水溶液の正確な定置的分析が柱状IREsを使って可能であると結論を 下し、彼らは、(a)内反射エレメントの位置決めへの測定結果の著しい依存性 、(b)高い吸光度の値でのピーク高さの測定値の激しい非線形性を含むいくつ かの限界を観察した。
内反射エレメント(柱状及び断面正方形の双方)は人気があるけれども、内反射 スペクトルの測定でそれらを使用するといくつかの因子が非線形になり得る。こ れらは、少なからず内反射プロセス自身が非常に高い吸光度の値で非常に非線形 的になるという事であり、ハリツク(Harrick)著“Internal  Reflectance 5pectroscopy″(1987)、第22− 23頁参照。非線形性の他の原因は、化学的相互作用、有限の機器の分解能、及 び最後に赤外輻射入射角への測定された吸光度の依存性を含んでいる。この最後 の因子はここでの開示の第1のテーマである。
内反射現象は、本質的に内反射エレメントとアナライト(analyte)との 間の境界での輻射光の入射角に大いに依存している。ハリツクの本(上掲)にお けるコンピュータにより作成された曲線から分かるように、入射角の100の変 化は有効なサンプル厚さにおいて、そしてそれ故に測定された吸光度において容 易に二つの因子の変化に導くことがある。もし、ある角度範囲をカバーする輻射 が用いられるならば、その効果はくさび形セルが透過分光学で使われたときに得 られるものと類似したものとなるであろう。バーシュフェルト(H4rschf eld)著”Fourier Transform Infrared Spe ctrogcopy”第2巻(Ferrara & Ba5ile編 1979 )第193−第239頁に詳細に論じられているように、この状況は測定されて いる化学的濃度に対する測定された吸光度の非線形的依存性を生じさせている。
(さび形セルの場合、原則的には、その(さびの厚さと角度が知られているなら ば、そのデータは修正され得る。このことは内反射分光学においては当てはまら ず、その理由は有効厚さの角度への依存性が非線形で、角度分布が全体的に十分 特徴づけられないからである。
この結果、IREsを用いて線形データを得るためには、内反射エレメントを通 過して進む光線の広がり角度を最小にする必要がある。
本発明は、従来装置の欠陥に注意が注がれたものである。柱状のIREsの初期 の構造的に単純な使用はウィルクス(llilks)の特許第3.370,50 2号に示されており、それは輻射を入れて、出すための円錐状の端部を有するI REである“シリンダ又はロッド”を開示している。ウィルクスの第3図では、 “内壁31が反射面である円錐30が入射光線をその端面に対して実質的に垂直 な端部32に導くために使われている。この装置は分光光度計におけるように入 射する平行光線に対して特に適している。その出口端部33は光線を分光光度計 の指示又は記録部に導くために同様な円錐34を有している°゛(第2欄、第5 0−56行目)。
このウィルクスの案は重大な欠陥を有しており、それは入りそして出てゆく平行 化されたビーム内の異なる光線が端面及びIREの内面に当たる広範囲の角度に 起因している。
スティング(St ing)の特許第4,595,833号は、“エレメントの 出口端部からの輻射を集めるためだけでなく、柱状の内反射エレメントの入口端 部内へ赤外輻射を導くための”リフラフシコン光学(reflaxicon o ptics)″に関するものである(第5欄、第11−14行目)。スティング は第4欄、第4−10行目においてウィクルスの特許(第3,370,502号 )に係る装置を次のように批判している。:“この形態は分光光度計におけるよ うに、入射する平行光線(平行化された光源の赤外輻射)に対して特に適してい ると示されている。しかしながら、漏斗形状の鏡の光学は入射角の望ましくない 巾広い変動を有している。さらにまた、突然生じた赤外輻射を検出器上に集束さ せるのは困難である。” “入射角の巾広い変動”の問題を解決しようとしてスティングにより使われ、市 販の文献において“円形セル”(Circle−Ce11”)″と呼ばれている 相当複雑な装置自身は重大な角拡散(angle divergence)の問 題を有している。これはブロクとパネラ(上掲)がテストで使用した装置である 。
IRE(ATR)サンプリングシステムは、平行化されるか、或は集束させられ た輻射とともに使用するために形成してもよい。円形セル8の場合、分光計のサ ンプル室内の集束させられたビームは遮られ、そしてIREの水晶の円錐の端部 上に鋭く集束させられる。
水晶内で、光線はアナライトとの境界にて一般に40’から49゜にわたる入射 角を有している。この広い範囲の角度でもって、有効サンプル厚さは二つの因子 と同じ大きさだけ変動することが可能である。加えて、各反射でより強く吸収さ れる光線はまた最も多くの反射をも経験する。これらの二つの相互に関係のある 効果は組み合わさって入射角に対する吸収の非常に強い依存性を生じさせている 。
円形セル3に用いられている広い範囲の角度(40″から49°まで)が与えら れると、これらの二重の効果は分析データの線形性がひどく低下するのを助ける 。
発明の概要 本発明は、IREの各端部にて反射円錐を使用することにより、柱状のTHEの 円錐状端部に入り、ここを出てゆく光線の拡散を最小にし、その構造的なエレメ ント及び寸法は入って来る光線の各々が実質的に同じ入射角で円錐IREの端面 に当たるようになっている。入力及び出力反射円錐の双方の大きい端部に光学的 遮蔽物(optical 5tops)を提供するための手段が含まれており、 その結果入力円錐により最初に反射されることなくIREを通過して進む如何な る光線も除去するようになっている。斯る遮蔽物を使い、そして反射円錐の人口 径(entering diameter)の寸法を適切に決めると、IREに 入る各光線が反射円錐により一度、しがち一度だけ反射される構造となる。
本発明では、THEを通過して進む事実止金ての光線は狭い角度範囲内にあり、 水晶/アナライトの境界に同じ回数だけ当たる。その結果は、強い吸収バンドに 対してさえ(ベールの法則に対する)非常に高度の吸光度の線形性である。
本発明における光線の角拡散は平行化された入力ビームが使われたときに最小で あるが、本発明はまた入力ビームが集束させられたビームであるときに従来の装 置に比して著しい改善をなすものである。
本発明の一変形例では、IREの各端部にカセグレーン(Cassθ−grai n)の対物鏡が用いられており、より小さい鏡、各カセグレーンにおける物は反 射円錐により反射されない光線を除去するための所望の光学的遮蔽物を提供して いる。
置皿2国巣μ輩囚 第1図はウィルクスの特許第3,370,502号の第3図に示されているタイ プの装置を横切る輻射ビーム内の光路をトレースしたものである。第2図はステ ィングの特許第4.595.833号の第2図に示されるタイプの装置を横切る 輻射ビーム内の光路をトレースしたものである。第3図は本発明の基本概念の概 略を示し、ある入射光線のうちの光線をトレースしたものを含んでいる。第4図 は第3図中のIREの入口部の光線を遮る遮蔽物を支持する構造の端面図である 。第5図はIREの出口に位置する遮蔽物の遮蔽効果を示す光線をトレースした ものを第3図に追加している。第6図は本発明をより詳細に示し、IRE内の所 望光路をたどる幾つかの光線のトレースを含んでいる。第7図はIREに入って 来る輻射を制限する構造物内の二つの重要な直径の比を示す端面図である。第8 図。
第9図は第3図−第7図に示す構造物の入力及び出力端部におけるカセグレーン の対物鏡の使用を示している。第10図は第3図−第9図に示される概念の比較 的詳細で、かつ完全なハードウェア(hardware)の実施例の部分断面図 である。第11図と第12図は、入力輻射(赤外領域)が第3図−第9図に示さ れる平行化されたビームの代わりに、集束させられたビームである場合の本発明 の利点の概略を示している。第13図と第14図は二つの異なった液体サンプル を備えた本発明を使って得られるスペクトルデータを示している。第15図は本 発明に係る装置を使って測定された一連のサンプルの既知の濃度に対する測定さ れたピークの吸光度のプロットである。
特有の実施例の詳細な説明 第1,2図は柱状のIREs内で理想的な挙動を与えるための従来技術の成果が 欠陥のある理由を示している。
第1図はウィルクスの特許第3,370,502号(第3図)に類似のIRE構 造を示している。ウィルクスの特許は非常に単純な仕組を開示したもので、そこ では輻射は反射円錐によって各端部にて円形断面のIREロッドの円錐状端部内 へ、そしてそこから外へつながっている。スティングの特許第4,595,83 3号は“漏斗形状の鏡の光学は入射角の望ましくない広い変動を有している”と 述べることにより、この仕組の考え方を避けている。この陳述の発端を理解する ために、第1図を参照する。
第1図は円形断面のIRE20を示し、その端部21と22は円錐形状をしてお り、各円錐は90°の頂角を有している。光は反射円錐23及び24によりこれ らの円錐端部内へ、そしてそこから外部へ結合されており、その側部はIREの 軸に対して22.56をなしている。もし、平行化された入力輻射が考えられる ならば、三本の光線により示されるように、三つの異なった結合条件が生じ得る 。光線Qは反射円錐から一回だけ反射した後、法線方向に(垂直に)入射してI RE20に当たる。それから、それはIREとサンプルとの間の境界で角度45 °で繰返し反射させられる。この角度は、多くの典型的なサンプルに対しておお よそ最適で、相当大きい吸収深さを生じる。
光線Rは最初に反射円錐23に当たることなくIREの端部21に当たる。IR Eの入力表面でのその入射角は45°であるので、それはIREのロッドに入る と屈折させられる。それは入射角約62°でTHEとサンプルとの間の境界に当 たる。この角度で、有効吸収深さは実質的に45°におけるよりも小さくなる。
光線Sは反射円錐23に二度当たり、そしてそれから光線Rから法線方向の(垂 直の)反対側の側部に入射角45°でIREの端部21に当たる。それは屈折さ せられ、そして約28°の入射角でIRE/サンプルの境界に当たる。
第1図の特徴を有する装置は、異なった厚さを有する三つの透過セルを並列に結 合したのと同等になるであろう。斯る装置でもって得られたデータは非常に非線 形的であって、定量分析を全く困難なものにするであろう。IRE/アナライト の入射における28°から62°(34°)までの角度範囲はスティングの特許 第4.595゜833号により正確に原因究明された不満足な挙動に帰着する。
上述したように、内反射現象はIREとアナライトとの間の境界での輻射の入射 角に本質的に大いに依存する。
スティングの特許第4,595,833号の円形セル1の光学はIRE内の光線 のIRE/アナライトの入射角の発散を実質的に低減させるけれど、その発散は 未だ約8.5°(49,2°−40,8°)であり、線形測定を成立させるには 余りにも大きい発散である。円形セル1の光学についての別の問題は、上掲のブ ロクとパネラにより述べられているように、行程間の円形セル3の光学台及びサ ンプル間のマイクロ−ボート(micro−boat)サンプリングセルの保存 が定量化結果に影響を及ぼすことである。
第2図は、円形セル”IRE装置における入射角の外れを示している。特許第4 ,595,833号に示すように、“リフラフシコン”と呼ばれる相当精巧な光 学装置はIREの円錐形入口表面内への直接の輻射を集束させるために、そして 出口表面から現われる輻射を集めるために使われる。この“リフラフシコン”は いずれかの軸平面(即ち、IREの軸を含む平面)内で見れば焦点を与える特性 を有し、一方この軸の回りの円対称(circular sy@@etry)を 保つ。
円形セル3は第1図の装置によって示される多種多様な別個の入射角の問題を示 すことはないが、それは入射角の範囲により特徴付けられる。事実、この範囲は 全く広(なり得る。スティングの特許の第2図に示される形態は典型的な商業用 円形セル8である。そのE表面の2.5倍の倍率を備えている。fニア、5の集 束されたビームサンプル−領域の光学(focused beam saspl e−region optics)を有する分光計とともに使用されたとき、そ れはIREにてf:3に等しい正味のf値になる。これは約19°の全包含角度 (totalincluded angle)に対応する。
典型的な光学システムの焦点面内では、各点は集束光学(focus−irlg  optics)の全エリアからの輻射によって照らされる。従って、上記円形 セル1の例に対して、IREの表面上の照らされた各点が、可能な全ての方向に 傾斜した、法線から9.5°までの全領域入射角の輻射を受けるであろうことが 想定される。これらは高い比率で著しく曲げられるであろう(即ち、最も近い軸 平面で大きい角度をなすであろう)。この状況がIRE内の各種の光線によりた どられる光路の著しい多様性に至らせることがあり得る。この問題はハリックサ イエンティフィックコーポレーシッン(Harrick 5cientific Corporat 1on)により出版された“データシート# 10 (Da ta 5heet#10)”内において指摘されている。
上掲のブロクとパネラにより使用された円形セル1の構造は軸から35°から5 5°までに及ぶ角度でIREエレメントに当たる集束された輻射が用いられてい る。使用されたZn5eでもってこの拡がりはアナライトとIREとの間の境界 で約41’から49°まで及ぶ入射角になろう。この範囲は有効サンプル厚さの 50%変動より多く生じるには十分である。さらに、図から分かるように、より 低い入射角を宵し、そしてそれ故に各反射においてより強く吸収されるこれらの 光線はまたより多くの反射を行う。示された条件に対して、その範囲は10から 14回の反射である。これらの二つの相互に関係し合った効果は結び合って吸光 度の入射角に対する強い依存性を生じる。この効果は報告された非線形挙動に対 して容易に説明できる。
さらに第2図は、用いられた広い範囲の角度でもって光線の伝播角度とロッドを 出て行(位置との間の相関関係が殆どないという事実を示している。
その結果、出力を集める光学(the output collecting  optics)の焦点に対する内反対エレメントの如何なる動作も光線の角分布 の選択的で予測できないぼかしに至らせることがあり得る。この効果は、もしロ ッドの端部が検出器の像によってあふれ出るほど満たされなければ強められる。
その結果は平均的な有効サンプル厚さにおける、そしてそれ故にそのシステムの 吸光度の線形性と校正における不揃いな変化である。
別の重大な関心事は、入力の“リフラフシコン”光学に対するIREの位置決め への円形セルの動作の感度である。リフラフシコンは鋭く収束する環状円錐の形 をした入力輻射をもたらす。IREの入口円錐が輻射円錐の先端にて正確に中心 合せされることは基本的なことである。IREの位置におけるいかなる移動もI REにより見られる光線の位置と角度の分布における、そしてそれ故にその内部 の光路の分布における重要な変化に至らせるであろう。これがデータに著しい変 化をもたらし得るという事実は、ブロクとパネラ(上掲)によって指摘されて来 た。
本発明の一実施例は第3図に示されており、従来技術の問題点を解決する簡単な 構造を明らかにしている。第3図は、基本的に平行化されて入って来る一本のビ ームの仮定に基き、IREを通過する光線の空間的な範囲を表す光線に対する光 線模様(ray pattern)を含んでいる。
柱状のIRE26が示されており、それは凸面の円錐形人口端部28と凸面の円 錐形出口端部30を有している。凹面の円錐形反射器32がIREの人口端部2 8に隣り合って位置しており、そして凹面の円錐形反射器34がIREの出口端 部30に隣り合って位置している。この構造は、ウィルクスの特許第3,370 .502号における第3図に外観上似ている。しかしながら、ウィルクスが認識 し損った問題が本発明において原因究明されて取り除かれている。
IRE内においてその動作を低下させる光線の存在を回避するために、IRE内 の光線を実質的に第1図における光線Qと同様な特性を有するものに限定するこ とが必要である。その光線は、第3図において円錐形の反射器32により一度だ け反射させられ、円錐形の端部表面に垂直な光路上のIREの円錐形端部28に 入る。
本発明は、第1図では円錐形反射器により二度反射させられる光線Sのような外 側の光線が、第3図ではこの円錐形反射器から全く外れるように構成されている 。さらに、第1図における光線Rの如(、内側の光線は円錐形反射器によって反 射させられず、円錐形反射器32の大径(the large diamete r)の端部に、或はその近くに位置する遮蔽物36により[RE26に入るのを 阻止されている。遮蔽物36は、第4図に示されているように円錐形反射器32 の入口端部に向けて、スパイダーアーム(spider aris) 38によ り支持されてもよい。
外側の光線のIREへの入射の阻止は円錐形反射器32と34の最大径の正確な 決定に依存する。Zn5eにより組立てられた実用的なIREに対して、そのI REの円錐の半頂角(α)は45°が代表的で、円錐形反射器の半頂角(β)は その半分、即ち22.5°となろう。その状態において、IREの直径“d”と 円錐形反射器の最大許容値径“D”との関係はD=2.414dとなるであろう 。
そのDの値の誘導は、次式に基いており、それはまたαとβの値に関する他の仮 定にも当てはまる。
第3図、第4図に示される構造は、上述のように、遮蔽物36がなければ最初に 円錐形反射器32に当たることなく直接IRE36に入るであろう光線を阻止す るために遮蔽物36を用いている。この遮蔽物36に対する最適直径は多分IR E26の直径に概略等しい。
ごく僅かに平行化された輻射でもってさえ、典型的な光線はそのシステムの軸に 対して有限の角度をなしている。従って、入口遮蔽物36を通るいくつかの光線 は直接IREに入るためにその軸に向かって十分傾斜させられるであろう。しか しながら、IREの長さは、IREの外縁部近くに必然的に入らなければらない 光線が外側の円錐縁部から遠い点で出て行くように選ぶことができ、そこではそ れはビームを再度平行化する第2の円錐形反射器34の大端部(large e nd)にて第2遮蔽物40により遮られる。この状況は第5図に示されており、 そこでは円錐形反射器32によって反射させられることなく IRE26の円錐 形端部に入る光線ZがIREの円錐形端部から出た後、遮蔽物40により阻止さ れている。IREの最適長さはスケッチで光線分析することにより、或はコンピ ュータの助けでもって与えられた状況に対して決定され得る。
第6図は基本的には第3図−第5図と同様の構造を示している。
しかしながら、第6図では複数の平行光線Q、、Q、及びQ3がIRE26を通 過してトレースされており、各光線はIREの円錐形端部に対して垂直な光路上 を入り、そして出て行き、そして各々はIREのサンプル−接触周縁部(the  sa+*ple−contacting periphery)に45°の角 度で当たっている。
第3図−第6図の先の記述では、IRE/サンプルの境界での望ましい入射角は 45°であると想定されて来た。これはセレン化亜鉛(zinc 5eleni de)により組立てられたIRE、或はセルに対して非常に望ましい入射角であ る。しかしながら、セレン化亜鉛以外のIRE材料、例えばゲルマニウムはIR Eにおいて異なった最適入射角度を有することになるであろう。ゲルマニウムに 対するIRE/サンプル最適入射角は約30°になるであろう。分析されるべき サンプルの性質はまた、IRE/サンプル最適入射角に影響を及ぼすが、サンプ ルの変化(var iat 1on)は入射角の選択において相対的に軽微な因 子である。
望ましいIRE/サンプル入射角は基本的に、その構造内の他の角度を決定する 。換言すれば、円錐形のIRE端部の包含する角度、及び円錐形反射器と輻射ビ ーム(及びIRE)の中心軸、即ち対称軸との間の角度は、異なるIRE材料を 収容するために変更しなくてもよい。
セレン化亜鉛の使用は扱い易い角度の値をもたらす。もし、IRE/サンプルの 入射角45°が望ましいならば、IREの円錐形人口端部の包含角度は90°に すべきで、入口円錐形反射鏡と構造物の軸との間の角度は22.5″にすべきで ある。これらと同じ角度はIREの円錐形出口端部に対してと、出口円錐形反射 鏡に対して使われるべきである。
もし、IRE/サンプルの境界の異なった角度が望まれるならば、IREの円錐 形端部の包含角度と円錐形反射鏡の角度の双方を変えるべきである。IREの直 径に対する入口円錐形鏡の大端部の直径の比もまた変えるべきである。
セレン化亜鉛の場合、円錐形IRE端部に入る光線が垂直であることは最大収集 開口部を提供し、この結果輻射の通過量(through−put)を増大させ る。他の状況においては、この最大収集開口部は垂直以外の入射光線の角度の方 向を使用することにより得られる。
第7図において、IREの直径に対する最大反射円錐の直径の比が、利用できる 環状エリアを通ってIREに入る光線を模したド・ソh (dots)でもって 示されている。第7図中のI RE2Bの直径は、上述のように実質的に遮蔽物 36の寸法と同じでよい。しかしながら、この寸法関係は変えてよい。
多くの状況においては、サンプルと相互作用をする反射の数を最大にするために 、IREの直径を制限することは望ましい。例えば、もし円形セル8内で一般的 に使われる直径6uのロッドが用いられるならば、入力円錐の最大直径は14. 511となるであろう。これは多くのFTIR分光計から得られるビーム径の約 半分である。そのような状況において、FTTRビームをサンプリング装置に合 わせるためにビームコンデンサー/エクスパンター(condenser/ 8 X−pander)構造物を使用するのが望ましい。いくつかの異なる構造が実 現可能であるけれども、カセグレーン光学の使用は魅力的であり、その理由はカ セグレーンの同軸性(the coaxial nature)が全体的な寸法 を最小にし、モしてカセグレーンの構造に固有の中心部のもうろうが望ましくな い中心部の光線を除くために必要とされる遮蔽物として利用できるからである。
この形態は第8図に示されている。ビーム径を縮小し、その強度を増大させた後 、平行化されたビームを受け、そして放つために調節されるカセグレーンが使用 されている。破線はカセグレーンにより送られた(軸に平行な)極端光線(th e extreme rays)を表わしている。その構造のパラメータは、外 側の光線が許容される外側の反射円錐の直径の最大のものに合っており、そして 内側の光線がIREの外縁部と一直線に並ぶように設定されている。この場合、 カセグレーンのより小さい(第2の)鏡によるもうろうはIREの端部上に写像 し、その結果必要とされる遮蔽物を提供する。
第8図に示すように、カセグレーンは、(a)柱状IRE52より大きい、しか しこれと−直線に並んだ中心開口部を有するより大きい凹面の環状腕50と、( b)より大きい鏡50より反射させられた゛入って来る輻射を受け、そしてIR Eの端部56内へのそのような輻射を反射するより小さい凸面鏡54とを備えて いる。カセグレーンは通常収束するか、或は発散するビームと結び付いているが 、第8図では、カセグレーン50154は平行化されたビームを入出力している 。本願出願人は“従来のり識”(スティングの特許第4,595.833号、第 3欄、第51〜61行目)に反して、ごく僅かに平行化された輻射とともにカセ グレーンのビームコンデンサ/エクスパンダを使用することは、現実に非常に都 合のよい装置を提供し、それはIRE/アナライトの境界に入射する光線の最小 の角発散を生じるということを発見した。
第8図において、接近しつつあるビームの外側の光線Aは最初に環状腕50の外 縁部から鏡54の外縁部に向けて反射させられ、そしてそれから反射円錐58の 大径縁部に向けて反射させられる。円錐58からの反射の後、光線AはIRE5 2内へ、その円錐形端部56に垂直で、そしてその頂点の近くに入る光路に沿っ て進む。この接近しつつあるビームにおける内側の光線Bは最初に環状腕50の 内側縁部から鏡54に向けて反射させられ、そしてそれから反射円N458の小 径縁部に向けて反射させられる。円錐58からの反射の後、光線BはTRE52 内へ、その円錐形端部56に垂直で、その周辺部近くに入る光路に〆0っで進む 。
第8図の外側及び内側の光線A、Bをトレースしたのに加えて、第9図は最初に 鏡50により、それから鏡54により、それから反射円錐58により、IRE5 2の円錐形端部表面に垂直な光路に沿って反射させられる中心光線Cを含んでい る。それがIREを通過する際、光線CはIREの外側の柱状壁に対して45° の入射角を有している。
第3図−第9図に示されているように、基本的に平行化された光線が使われ、構 造物に入り、そして出てゆく本発明は、IRE内の事実止金ての光線の発散を± 1°より小さい角度に制限できる。換言すれば、IRE/廿ンプルの境界におけ る光線の入射角は選択された値45°から1°以内に保つことができる。そして 全ての光線はIRE/ザンブルの境界で同数の反射を経験するであろう。その結 果は強い吸収バンドに対してさえ(ベールの法則に従って)、非常に高度の吸光 度の線形性である。最近実施された一組の実験において、深く沈められた環境に おいて使用さた本発明の構造物は(水中の)0.05%から50%までの濃度の アセトンに対して3%以内の線形性を得た。
本発明の構造物の別の重要な利点は、IREの位置と各種の光学エレメントとの 間の関係が機械的構造によって固定されているという事実である。事実、IRE 内への輻射を導く円錐形反射器はIRE自身と同様な構造物により支持されてい る。光学的整列が機械的構造物内に仕組まれる故、整列していない状態は起こり 得ない。その結果、与えられた装置は繰返される行程で同じ結果を与え、液体の 真の赤外領域の定量分析を現実的なものにする。
さらに、もし望むならば、軸に沿った運動はIREの長さの変化に対して補償す るために許容される。たとえそのような相対的な軸方向の運動が許容されても、 IREの端部に入る全ての光線が円錐形の人力表面における入射は直角に近いの で、システムの性能への影響は最小となるであろう。軸方向の調節ミスは単にI REを通過することができる光線の数を減らすだけになるであろうが、しかし入 射角、或は光路長の分布を実質的に変えることにはならないであろう。
本発明の原理を用いた実用的な構造物は第10図に示されている。
IRE60は固体金属ボディ64内に位置する環状で、長手方向に延びたサンプ ルチャンバ62内に装着されている。入口及び出ロポ−)66.68はサンプル 流体が環状チャンバ62を通って流れるのを許容する。Oリング70はチャンバ 62の各端部をシールするために使われている。
IRE80の各端部は、二つの円錐形反射器72.74のうちの一つの内側の縁 (lip)にも係合する0リング70の一つにより支持されている。円錐形の反 射器は環状金属エレメント76の内側表面として各々形成されている。各金属エ レメント76はボディ64の一端にてねじ付き開口部に係合するねじ付き周縁部 を有するナツト78によりボディ64内の位置に保たれる。
カセグレーンの支持構造物はボディ64の各端部に固定されている。この二つの 構造物は同一であってもよく、各々は小さい中心合わせされた凸面鏡61を含み 、それは適所に三つのスパイダーアーム63により保持され、そのうちの一つの 断面が示されている。各カセグレーン支持構造物において、スパイダーアームは 金属カセグレーンハウジング69の延在する柱状部69に形成された溝65内に て摺動する。各ハウジング69の内壁は小さい中心合わせされた鏡61に対向す る環状凹面鏡の表面71を備えたエレメントに固定されている。各カセグレーン ボディ69はナツト78のねじ付き外縁部に係合するねじ付き内縁部73と外側 のアセンブリイ固定(anouter assembly−securing) ナツト77のねじ付き内縁部に係合するねじ付き外縁部75とを有している。
第3図−第10図において、輻射の入側、及び出側端部における工学構造物は対 称である。これは一般的に望ましいが、必ずしも必要ではない。IREの入側、 及び出側端部及び両日錐形反射器にて使用されている角度は両端部にて同じであ るべきである。出側円錐形反射器の最大径は入側円錐形反射器のそれよりも大き くてよく、その理由は光源からの周縁部の光線の問題はIREの出口で存在しな いからである。出側端部でのカセグレーンの使用は入側端部でのカセグレーンの 使用程重要でない。しかしながら、ここに開示されたタイプの構造物は、光源か ら来るビームと検出器に至るビームの直径が同一であるシステム内に挿入される ことがよくあり、それ故にビームの縮小とビームの拡大とつり合わせる必要はな い。本発明の使用に有用な別の選択は、入って来る輻射と出てゆく輻射の双方が IREの同じ端部を通過し、そしてその他端が平らであるシングルエンディノド (a single−ended) I REの使用である。
上述したように、IRE/アナライトの境界における光線の最小角度発散は平行 化された入射ビームでもって得られるが、本発明の装置はまた僅かばかり集束さ れたビームが入射ビームであるとき、従来技術の構造物よりも良い性能を備える 。
第11図は典型的な集束されたビーム形態を示している。この場合には、僅かば かり平行化されたIRビーム(直径1.25’)は例えば、放物線状の反射器( ここでは、図の左に垂直直線80により図式的に示されている)集束光学エレメ ント(a focusing opticalelement)により集束させ られる。それがサンプルの小室の中心を通過した後、ビームは第2のエレメント (図示せず)により再び平行化される。
分光学的な分解能が過大でない限り、サンプル領域の中心における使用可能なエ リアは一般的に赤外検出器の像に一致するであろう。
11の検出器、 0.8’の焦点距離の検出器光学、8.0′の焦点距離のサン プル領域光学の組合せを想定すると、この組合せは82でlc+aの焦点を結ん だビーム径をもたらす(第11図では0.4′によって近似されている。) 図示されている光線は、極端光線、即ち集束光学の外縁部から出てきて、ビーム の焦点の両性縁部を通過する光線に相当する。焦点の中心を通る2本の光線もま た示されている。この例におけるいずれかの2本の光線間の最大角度は、示され ているように12°である。
光路の頂部に重ね合されているのは本発明のATRセルの入力端部84の輪郭で ある。理解されるように、この例における全ての光線は収集円錐の外周部86に よって定められるエリア内に入っている。より鋭く収束する光線は中心遮蔽物8 8により遮断される。この結果、収集開口部(the collecting  aperture)のいずれの側にも当たる光線の角度の広がり(the an gular 5pread)は12°より相当小さくなる。
第12図は収集光学(collecting optics)の開口部(ope n aper−ture)内に収まる極端光線の行路のより詳細な図である。は っきりさせるために、一本の極端光線(光線D)が含まれており、それは入力遮 蔽物88に当たっている。光線Eは入力遮蔽物を外れた光線であるが、下方に曲 げられ、その結果それは最初に反射円錐92に当たることなく、IREロッド9 0の端部に当たっている。この光線の行路は、それが結局は第2遮蔽物94に当 たるのを示すために、IREを通して途中全てがトレースされている。この結果 、光線の何パーセントかは最初に円錐92から反射されることなく、IRE90 に入ることができるけれども、これらのうちの僅かのパーセントのものだけがま た第2遮蔽物94を外れるに過ぎない。既に注目されたように、IRE90の長 さは望ましくない光線が入力及び出力遮蔽物88.94の双方を外れる可能性を 最小にするように選択できる。
第12図では、光線Fが入力光学上屋も低い位置から発する極端光線で、入力遮 蔽物88を外れることと反射円錐92に当たることとが両立している。光線Gは 、反射円錐92に当たることを可能とする集束光学の上縁部から発する最も低い 光線である。最後に、光線Hは極端上方光線である。
光線FとGは、明らかにATR(I RE)セル90を通過し得る光線の極端角 度限界に対応している。図示する場合には、それらの間の拡がりは6°である。
これらの光線がZn5elREに入った後(屈折率=2.4)、角度の拡がりは 小さくなり、IRE/アナライト境界に当たる全ての光線は約2.5°の範囲内 となるであろう。システムか軸対称であるから、入力円錐の下部に入る光線はま たこれと同じ角度範囲内で上記境界に当たる。
ヒ述した議論が示すように、集束されたビームの場合には、中央遮蔽物の使用に より、光線が最初に反射円錐92に当たることなくロッドに入るのを防ぐこと以 上の第2の利益が生じる。それはまた、システムの軸に関して大きな角度をなす 光線から選択的に識別もし、その結果角度の拡がりをIREロッド内に制限する 。
円形セルR(上掲)は中央の障害物を有していない。事実、集束されたビーム内 の正確な配置次第で、殆ど光線角度の全範囲がリフラフシコン光学の第1エレメ ントの一方の側に当たることができる。
この範囲は第2図の例に対して12°となるであろう。ビームを口・ノドの端部 上に集束させることにより、リフラフシコンはさらに全発散角度を増大する。商 業ユニットは代表的なものとして20’の角度分布を有するロッドの各々の側を 照射することが報告されている。
これはIRE内で概略8°に変えられる。
本発明の中央遮蔽物は、幾らかの光学エネルギを捨てることになるが、出願人の 配置におけるIREの透過は少なくとも20%になることが実験的に見出されて いる。これは円形セル1用いて得られるものに匹敵する。
第13.14図は、第3−7図に示された本発明の基本的な形の、即ちカセグレ ーンなしの構造を使って得られたスペクトルである。
これらの測定のために、装置は従来のFTIR分光計サンプル室の集束ビーム内 に装着された。この結果、光学配置は第12図に示される物に対応するものとな った。このIREの寸法及び機械的構造はIRE/アナライトの境界で約11回 反射させるようになっている。
第13.14図はそれぞれ純水と純粋のアセトンの吸光度スペクトルに対応して いる。両者の場合において、種々のピークに対して得られた吸光度値は、代表的 なものとしては他の円筒形的反射装置(ブロウ&パネラ、スブロウズ コレクシ ボン(Sprouse Co11ection)参照)を使った同じ物質に対し て得られたものよりも2倍から3倍大きい。
第13.14図に示される強められた吸光度はここに開示された装置の予期され た結果である。入射角度を制限することにより、本構造は全吸収を最大にし、そ の貢献(contribut 1ons)を加え合わせることに起因する非線形 効果を入射角度範囲から除去している。
上掲のブロクとパネラの線形データと直接比較するために、平行化された入力輻 射とアナライトの境界で5回反射させるIREとを使って、ここに開示された装 置の液体に浸し得る変形がテストされた。アセトンの体積比が0.16%から3 5%までの一連の水/アセトン混合体が準備された。各測定後、装置は乾燥され 、それが次の混合体に浸される前に如何なる残留液体もそのOリングシールから はじき出された。
第15図は、上記シリーズの全てのサンプルに対して既知の濃度に対する測定さ れた吸光度のピーク値のプロットで、原点と最も高い測定吸光度との間に直線が 引かれている。二つの低濃度点を除き、全てのデータポイントは直線から約3% の範囲内に収まっている。
このことはブロクとパネラによって得られたデータと著しく対照的である。彼ら の実験結果はアセトン濃度20%と50%のそれぞれで直線の下方12%と28 %が典型的なものである。
以上より、本出願において開示された装置及び方法は本明細書の前置き部分で要 約された重要な機能的利益を備えていることは明白であろう。
続く請求の範囲は開示された特定の実施例を含むだけでなく、従来技術によって 許容される最大幅で、かつ包括的な、ここで説明した創意に富んだ概念を含むこ とを意図している。
国際調査報告

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.輻射吸収を測定しようとする流体内へ内反射エレメントが延びた減衰させら れた全反射により流体を分析するのに使用するための光学システムにおいて、内 部で輻射が上記エレメントの径を横切ってあちらこちらに反射されるように全体 的に縦方向に進み、その輻射入口端部上に凸形円錐面を有する小径柱状断面の内 反射エレメントと、実質的にビーム内の全反射光線が内反射エレメントの側部へ の実質的に同じ入射角を有するように内反射エレメントを通過し、実質的にその 全ての光線が内反射エレメントの側部で同じ回数反射される輻射ビームを制御す る輻射指向手段と、内反射エレメントの入口端部への輻射を反射し、より小さい 方の端部が内反射エレメントに隣接した凹形円錐反射面を有する鏡とからなる光 学システム。
  2. 2.上記輻射指向手段が、輻射ビームを凹形円錐鏡のより大きな直径の端部に入 射させるための手段と、内反射エレメントの入口端部への途中で上記鏡により一 回以上反射させられる入射光線を受けるには小さ過ぎる鏡の上記のより大きな直 径の端部の直径と、鏡により反射されることなく内反射エレメントを通過しよう とする光線を遮るための内反射エレメントの少なくとも一端近くの遮蔽手段とか らなる請求項1に記載の光学システム。
  3. 3.上記円錐形鏡へ方向付けされた上記ビームが実質的に平行化されたビームで ある請求項2に記載の光学システム。
  4. 4.上記円錐形鏡へ方向付けされた上記ビームが実質的に集束させられたビーム である請求項2に記載の光学システム。
  5. 5.上記遮蔽手段が、入射して来ようとする光線を遮るための内反射エレメント の入口端部近くに配置されている請求項2に記載の光学システム。
  6. 6.上記遮蔽手段が、透過しようとする光線を遮るための内反射エレメントの出 口端部の近くに配置されている請求項2に記載の光学エレメント。
  7. 7.上記遮蔽手段が、入射して来ようとする光線を遮るための内反射エレメント の入口端部近くの第1遮蔽エレメントと、透過しようとする光線を遮るための内 反射エレメントの出口端部近くの第2遮蔽エレメントとからなる請求項2に記載 の光学システム。
  8. 8.より大きい直径の入射ビームを受け、より小さい直径の、強化されたビーム を円錐形反射鏡と内反射エレメントに方向付けするカセグレーン対物鏡を備えた 請求項2に記載の光学システム。
  9. 9.上記カセグレーン対物鏡が、入って来る輻射ビームを反射するより大きい凹 形環状鏡と、より大きい環状鏡から受けた輻射を円錐反射鏡と内反射エレメント へ反射し、そして円錐反射鏡により反射されることなく内反射エレメントに入射 しようとする入射輻射ビームの部分を実質的に遮るより小さい凸形円形鏡とから なる請求項8に記載の光学システム。
  10. 10.上記内反射エレメントの輻射出口端部に凸形円錐面と、内反射エレメント を出た後、輻射を反射する凹形円錐反射面を有する鏡と、同じ包含角度を有する 内反射エレメントの二つの円錐形端面と、輻射の対称軸に関して同じ角度を有す る二つの円錐形鏡面とを備えた請求項1に記載の光学システム。
  11. 11.内反射エレメントの輻射入口端部の上記凸形円錐面が90°の包含角度を 有し、上記凹形円錐鏡面が内反射エレメントの対称軸に関して22.5°の角度 をなす請求項1に記載の光学システム。
  12. 12.上記内反射エレメントに入射する輻射光線がその入射面に対して実質的に 垂直で、内反射エレメント内を進む輻射光線がその側面に対して約45°の入射 角度を有する請求項11に記載の光学システム。
  13. 13.分析しようとする流体サンプル内に柱状内反射エレメントを延在させ、1 以上の入射光線の侵入を許容しない最大直径を有する凹形円錐反射手段により内 反射エレメントの一端の方向に反射を向け、輻射を円錐反射手段から内反射エレ メントの凸形円錐入口端部への方向に向け、反射することなく内反射エレメント を通過しようとする光線を遮り、円錐形反射手段及び内反射エレメントの円錐形 端面の角度を、(a)内反射エレメント内の光線に上記サンプルと内反射エレメ ントの周辺部の境界で予め決められた実質的に同一の入射角度とし、(b)内反 射エレメント内の実質的に全ての光線に上記境界面で予め決められた等しい回数 の反射をさせるようにした流体分析方法。
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