JPH04500138A - Ptc回路保護器具アッセンブリ - Google Patents

Ptc回路保護器具アッセンブリ

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JPH04500138A
JPH04500138A JP1508413A JP50841389A JPH04500138A JP H04500138 A JPH04500138 A JP H04500138A JP 1508413 A JP1508413 A JP 1508413A JP 50841389 A JP50841389 A JP 50841389A JP H04500138 A JPH04500138 A JP H04500138A
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ホースマ、デイビッド・エー
カーマス、ハンディ・ピー
ファン、ショウ―ミアン
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 PTC回路保護器具アッセンブリ 本発明は、PTC材料を使用した電気器具に関する。
発明の背景 かなり狭い温度範囲において温度とともに鋭く増加する抵抗を有する多くの材料 が知られている。そのような材料は、rPTC材料」と呼ばれるかまたはrPT C挙動を示す」と言われる。PTCは正温度係数(positive temp erature coefficient)の略語である。多くの目的のため、 PTC材料は、少なくとも2.5のR14値および/または少なくとも10のR IOfl値を示すことが好ましく、少なくとも6のR3゜値を有することが特に 好ましい。ここで、R14は14℃範囲の終わりのと初めの抵抗率の比であり、 R1゜。は100℃範囲の終わりと初めの抵抗率の比であり、R3゜は30℃範 囲の終わりと初めの抵抗率の比である。多くのPTC材料が、これら最小値より もずっと大きな抵抗率増加を示す。温度に対するPTC素子(即ち、PTC組成 物から成る素子)の抵抗の対数のプロットは、組成物が少なくとも10のR,、 o値を有する温度範囲の一部分において鋭い傾きの変化を示すことが頻繁にある 。本明細書において、用語「スイッチング温度」 (通常、Tsと略す。)とは 、傾きの鋭い変化を示す部分の両側にあるそのようなプロットの実質的に直線状 の部分の延長線の交点に該当する温度を意味する。用語「ピーク抵抗率」は、組 成物がTs以上で示す最大抵抗率を意味し、用語「ピーク温度」は、組成物がピ ーク抵抗率を有する温度を意味する。
PTC素子は、自己調節型ヒーターおよび回路保護器具の要素として特に有用で あることがわかっている。そのような電気器具において使用されているまたはそ のような使用が提案されているPTC材料は、ある種のセラミックおよびある種 の導電性ポリマーである。
用語「導電性ポリマー」は、有機ポリマー(この用語は、ポリシロキサンを包含 する。)および有機ポリマー中に分散されたまたは他の形態で分布している粒状 導電性充填剤から成る組成物を意味する。
適切なセラミック材料は、ドープされたチタン酸バリウムを包含し、適切な導電 性ポリマーは、分散しているカーボンブラックを含有する結晶性ポリマーを包含 する。PTCセラミックは、一般に材料のキニーリ一点において鋭い抵抗率変化 を示し、PTC導電性ポリマーは、一般にポリマーマトリックスの結晶融点より も僅かに低い温度範囲において鋭い抵抗率変化を示す。工業的に使用されている PTCセラミックは、一般に、PTC導電性ポリマーよりも、鋭い抵抗率の増加 率を示す。PTCセラミックは一般に23℃で少なくとも30オーム・cmの抵 抗率を有し、PTC導電性ポリマーは、23℃でより低い抵抗率、例えば、約1 オーム・amまたはそれ以下の抵抗率を有し得る。PTCセラミックは、過剰な 電気ストレスにさらされた場合にひび割れる傾向を有しており、突然に破損する 。しかし、PTC導電性ポリマーは、かなり徐々に劣化する傾向を有する。
PTC導電性ポリマーを使用した回路保護器具を記載した文献は、アメリカ合衆 国特許第4.237,441.4,239,812.4、255.698.4. 315.237.4.317.027.4.329,726.4,352,08 3.4,475.138、4.481.498.4.639.818.4.64 7.894.4.645.896.4.685.025.4.689.475. 4.724,4コアおよび4.774.024号;ヨーロッパ特許出願公開第3 8.713号(1987年9月2日公開):国際出願公開筒W○8910316 2号(1989年4月6日公開):ならびに1987年1月にレイケム・コーポ レイションによって発行され、「ア・ジェネラル・アプローチ・トウー・サーキ ット・デザイン・ウィズ・ポリスイッチ・デバイシズ(A General、  Approach t。
C1rcuit Design with PolySwitch Devic es)j、「プロテクション・オブ・サブスクライバ−・ライン・インターフェ ース・サーキッツ・ウィズ・ポリスイッチ・デバインズ(P rotectio n ofSubscriber Line I nterface C1rcu its with PolySwitchDevicesJ、「プロテクション ・オブ・ピービーエンクス・アンド・キー・テレフォン・システムズ・ウィズ・ ポリスイッチ・デバイ/ズ (Protection of PBX and  Key Te1ephone Systems withPolySwitch  Devices)J、「プロテクション・オブ・テレコミュニケーションズ・ ネットワークス・ウィズ・ポリスイッチ・デバイシズ(Protection  of Telecommunications Networks withP olySwitch Devices)J、「プロテクション・オブ・ラウドス ピーカーズ・ウィズ・ポリスイッチ・デバインズ(Protection of Loudspeakers with Po1ySvitch Devices )Jおよび「プロテクション・オブ・バッチリーズ・ウィズ・ポリスイッチ・デ バイシズ(Protection of Batteries with Po lySwitch Devices)Jなる標題を有する商業用パンフレットを 包含する。(ポリスイッチ(PolySwitch)は、レイケム・コーポレイ ションの登録商標である。) 用語「保持電流」 (または「通過電流」)は、トリップ(即ち、高温高抵抗状 態になり、回路電流が非常に低いレベルに減少すること)を生じさせることなく  PTC回路保護器具を流れ得る最大定常電流を意味する。器具の保持電流は、 熱が器具から失われる速度に依存し、例えば、周囲温度が高ければ高いほど、保 持電流は高くなる。複数の実質的に同様の器具を並列に接続することによって、 個々の器具の保持電流の合計に実質的に等しい保持電流を有するPTC保護アッ センブリを供給することが知られている。PTC回路保護器具の性能は、トリッ プ状態において落下した電圧に顕著に依存し、電圧が高ければ高いほど、器具が 異常になって所望の保護を供給できないおよび/または危険な状態で破壊する、 即ち、爆発するまたは燃えるという危険性は高(なる。本明細書で参照として挙 げた特許および出願から明らかなように、PTC導電性ポリマー回路保護器具に おいて安全に落下し得る電圧を増加させることに多くの努力がなされている。一 般に、電極間の距離が長ければ長いほど、および導電性ポリマーの架橋度が高け れば高いほど、使用できる電圧は高くなる。約600ボルトRMSの電圧を安全 に扱い得る保護器具は入手できるが、より高圧に対する保護には問題がある。他 の未解決の問題は、現状の器具によって取り扱い得る電圧から保護する器具であ るが、設!のためまたは使用において(例えば、プリント回路板の上でまたは空 間が重要である他の状況において)および/または熱収支のために、より好都合 な形状(形状は、電極の形状および間隔によって大部方決められる。)を有する かおよび/または現状の器具よりも製造容易(例えば、架橋を全く要しないかま たは架橋をほとんど要しない)である器具を供給することである。
発明の概要 前記のように、複数の実質的に同様のPTC保護器具を並列に接続して、個々の 器具の保持電流の合計に実質的に等しい保持電流を有する保護アッセンブリを供 給することは既知である。しかし、複数のPTC保護器具を直列に接続して、個 々の器具のいずれかによって扱われ得るよりも高い電圧を安全に扱い得るアッセ ンブリを供給することは知られていない。これの理由は、以下の通りである。理 論的に考えれば、この望ましい結果が、正確に同様であり、正確に同様の熱的環 境にある複数の直列に接続されている器具によって達成されることは明確である 。しかし、当業者は、正確に同様である器具を製造することまたはそれらを正確 に同様の熱的環境に配置することは実際に可能ではないので、および異常状態に おける小さな差が器具の1つに他の器具よりもずっと急速な抵抗増加を生じさせ 、電圧負荷の全体をになわせるので、この望ましい結果は決して実際に達成され ないと確信していた。従って、当業者は、直列に接続された複数の器具の、過剰 の電流を制御する能力は、トリップする1つの器具の能力よりも大きくないと確 信していた。
この確信が正しくない多くの状況が存在することを見いだした。
特に、トリップ工程中の動的変数(例えば、電流変化速度、温度に対する抵抗率 の変化速度および(幾つかの場合には器具間における熱移動を含む)器具から熱 が除去される速度)を考慮した場合に、電気ストレスは器具間で配分できること を見いだした。幾つかの場合、電気ストレスの配分は限定時間のみで続き、トリ ップを生じさせた異常状態の持続によって、実質的に全ての電気ストレスは1つ の器具に集中する。幾つかのそのような場合において、これは満足な成果である 。なぜなら、電気ストレスの一時的配分のために実質的に長時間にわたってトリ ップ状態になっている1つの器具が、定常状態条件において落下する電圧を安全 に扱い得るからである。他のそのような場合において、上記のことは事実ではな いが、電気ストレスが配分されている時間はそれにもかかわらず非常に意味があ る。なぜなら、この時間は、たった1つのまたは少ない数の保護器具が存在する 場合のような他の条件よりも実質的に苛酷さの少ない条件において他の望ましい 変化(例えば、接触の形成および破壊)を可能にするように充分に長いからであ る。そのような他の変化が、(a)ストレスの最大配分を持っている器具におい て過剰の電気ストレスが存在する前に行われ、かつ(b)回路を中断する(また はその器具が過剰のストレスにさらされるのを他の形態で妨害する)ならば、直 列の器具は、器具のいずれか1つよりも実質的に高い電圧を安全に扱う。他の場 合において、電気ストレスは定常状態条件において配分されもし、1つよりも多 い保護器具はトリップ条件下にある。幾つかの場合において、1つまたはそれ以 上のトリップした器具がラッチ条件下にある(即ち、電力が回路から除去されな いならば、異常状態を除去しても器具は高抵抗状態にある。)。
この発見の1つの非常に重要な用途は、複数のPTC保護器具が直列に接続され ており器具アッセンブリを形成している回路保護用途である。異常状態が生じた 時に器具アッセンブリに及ぼされる電気ストレスに器具アッセンブリが耐えるな らば、器具アッセンブリは単独で使用できる。あるいは、アッセンブリは回路遮 断器とともに使用できる。後者の態様において、器具アッセンブリは、短時間で あるが、回路遮断器における電気ストレスを実質的に低減する時間にわたって、 過剰の電流を保持し、かつ制御する。したがって、回路遮断器の経費および複雑 さは実質的に低減される。
この発見の他の非常に重要な用途は、直列に接続されている複数のPTC保護器 具を有して成る器具アッセンブリを組み込んだスイッチング装置である。器具ア ッセンブリは、スイッチング操作の間、(分離されているかまたは係合されてい る)端末間で直列に接続されているが、スイッチが完全に開放している時に接続 解除されており、スイッチが完全に閉鎮している時に接続解除されているかまた は並列に接続されていることが好ましい。このようにして、器具アッセンブリは 、端末が分離されるかまたは係合される間の危険時間の間、電流を制御し、アー クが端末間で発生する危険性を低減する。
図面の簡単な説明 添付図面を参照して、本発明を説明する。
第1図は、回路保護のために本発明を使用した回路図である。
第2A図、第2B図および第2C図は、スイッチが開放される場合における本発 明を使用したスイッチの操作の連続的段階を示す図である。
第3図および第4図は、本発明の複合器具アッセンブリの断面図である。
第5図は、本発明の他の複合器具アッセンブリの平面図である。
第6図は、第5図の6−6線における断面図である。
発明の詳細な説明 直列に接続されている保護器具の数は、一般に少なくとも3、好ましくは少なく とも5であり、さらに多数であってよく、例えば100までであってよい。器具 は、全て、同様の製造法によって製造されている器具であることが好ましい。し かし、これは必須ではない。一般に、特定電圧(Aボルト)までの使用の定格を 有する器具を使用し、異常状態におけるアッセンブリの電圧がBボルトである場 合、直列に接続される器具の数はB/Aであることが好ましい。
しかし、定格は一般にゆとりを持って決められているので、多数の器具を使用す る場合に特に、B/Aよりも少ない数の器具を使用することが可能である。器具 アッセンブリの保持電流が確実に充分に高いことも重要であり、このために、複 数組の直列接続器具を相互に並列に配置できる。例えば、600KV 600ア ンペア回路を保護する器具アッセンブリは、並列に接続された600組を有して よく、それぞれの組は10個の600V 1アンペア保護器具から成る。
器具アッセンブリは、断熱条件下で作動でき、あるいはトリップ操作時に器具間 で熱が移動するものであってよい。例えば、器具は、不活性絶縁性液体などによ って相互に分離されていてよく、あるいは(特に、層状器具を使用する場合に) 相互に積み重ねられていてよくまたは熱伝導性基材に固定されていてよい。
添付図面を参照して本発明を説明する。第1図は、器具アッセンブリ1が回路遮 断器12、スイッチ13、電源14および負荷RLと直列に接続されている回路 図である。
第2図は、定置部分21および滑動可能部分22を有するスイッチの開放におけ る連続状態を示す。器具アッセンブリ1からの電気接続は定置端末23を介して 形成されている。スイッチが閉鎖されている場合(第2A図)、端末23は滑動 可能部分22と物理的に接触している。特別なできごと(例えば、電圧サージ) が生じた場合、スイッチの部分間の接触が破壊され、滑動可能部分22が定置部 分21から離れるように移動する(第2B図)。スイッチが完全に開放した場合 、端末23はスイッチの滑動可能部分22から物理的に離れている(第2C図) 。
第3図および第4図は、本発明の複合器具アッセンブリ30の断面図である。図 示するそれぞれのアッセンブリは、相互に隣接して相互に電気的に直列に接続さ れている3つの器具31を有する。器具は、PTC素子32および2つの電極3 3を有して成る。しかし、器具が物理的かつ熱的に接触している幾つかの態様に おいて、器具の幾つかまたは全てが1つの電極のみを有していてよい。電気リー ド線34がアッセンブリの向かい合う面に取り付けられており、電源または回路 に電気接続している。第3図のアッセンブリは、同様の寸法の器具を有して成る が、第4図に示すように、異なった寸法の器具および/または異なった抵抗率の 組成物を有して成る器具を使用してもよい。
第5図は、複合器具アッセンブリ50の平面図である。PTC組成物を有して成 る基材51が金属電極ストリ・ツブ52とともに、積層され、プリントされ、ま たは他の形態で供給されている。スロツト53がPTC基材の厚さにわたって機 械加工またはエツチングされており、リード線54が個々の器具55に取り付け られており、所望の並列/直列形態を形成する。
第6図は、PTC基材51が導電性ポリマーを有して成る第5図の6−6線にお ける断面図を示す。
寒奥男 以下に実施例を示し、本発明を具体的に説明する。
実施例1 以下の成分(容量%)をバンバリーミキサ−で混合することによって導電性ポリ マー組成物を製造した: 56.7%の高密度ポリエチレン[マーレックス(Marlex)(登録商標) 6003、フィリップス・ペトロリアム(PhillipsP etroleu m)から入手。]、25.1%のカーボンブラック[スターリイグ(S ter ling) (登録商標)S○、キャボット(Cabot)から入手。]、16 .5%のシラン被覆アルミナ三水和物[ソレム(Solem)(登録商標)91 6SP、ジェイ・エム・ツーバー(J、M、 Huber)から入手。コ、およ び 1.7%の酸化防止剤[アメリカ合衆国特許第3.986,981号に記載され ている4、4−チオビス(3−メチル−5−t−ブチルフェノール)のオリゴマ ー]。犬骨形状のダイを備えたブラベンダークロスヘッド押出機を使用して、黒 鉛/シリケート組成物[エレクトロダグ(E lectrodag) (登録商 標)181、アチェソン・コロイズ(Acheson Co11oids)から 入手。コで被覆されている2本の20AWG19/32ニツケル被覆銅線の周囲 に組成物のベレットを溶融押出した。押出物を器具の片に切断し、導電性ポリマ ーを器具の一部分から除去し、電極を露出した。器具を窒素雰囲気下150℃で 1時間熱処理し、1.5MeVの電子線を20Mラドの線量で照射し、2度目の 熱処理を行い、150Mラドの線量で照射し、3度目の熱処理を行った。加工後 、器具は、16.5〜18.5オームの抵抗を有し、600ボルトの最大電圧定 格および1アンペアの最大電流定格を有していた。
10個の器具を直列に電気接続し、熱分散液体[フルオリナート(F 1uor inertX登録商標)FC−75、デュポン(DuPont)から入手。コが 入ったビーカーに挿入した。100℃に加熱されている水浴中にビーカーを置き 、器具を温度に平衡化させた。器具を500オームの直列安定抵抗に接続し、次 いで、0.4秒間、6000ボルト/2アンペアRMSで電力供給した。試験時 にオシロスコープによって電圧および電流をモニターし、試験の開始および終結 におけるそれぞれの器具の抵抗を測定した。オシロスコープトレースによって、 トリップした器具が交流3サイクル以内でトリップしたことがわかった。
10個の器具からなる3つの異なった実験グループの抵抗を第1表に示す。試験 時にトリップしなかった器具は*印で示す。試験後の抵抗(Rf)の初期抵抗( Ri)に対する比が1.2以上である場合、器具はトリップしたと考えられる。
1.10〜1.19の比を有するものは完全にはトリップしていなかった。それ ぞれの試験において、50〜70%の器具がトリップした。
実施例2 56.1容量%の高密度ポリエチレン[マーレックス(MarlexX登録商標 )HXM 50100、フィリップス・ペトロリアム(Phillips Pe troleum)から入手。コ、26.7容量%のカーボンブラック[スタテッ クス(S tatex) (登録商標)G1コロンビアン・ケミカルズ(Col umbian Chemicals)から入手。]、 15.5容量%の水酸化マグネシウム[キスマ(Kisuma)(登録商標)5 A、キスマから入手。コ、および 1.7容量%の酸化防止剤[実施例1と同様のものコをバンバリーミキサ−で混 合して、約4オーム・cmの抵抗率を有する導電性ポリマー組成物を製造した。
組成物のペレットを押出し、厚さ0.040インチ(0,10cm)のシートを 製造した。電着ニッケル箔電極(フクダ(F ukuda)から入手)をシート のそれぞれの面に積層した後、シートに10Mラドの線量を照射した。0.36 0インチ(0,914cm)の直径および0.66オームの抵抗を有する器具を ブラックから切り取った。それぞれの器具は、定格上、60ポルト/40アンペ アの電力供給に耐え得た。3個の器具を相互に積み重ね、2本の金属リード線を 積み重ね物の頂表面および底表面にはんだ付けした。リード線取り付は工程時に 、はんだが3つのそれぞれの器具の電極の露出縁に付着し、器具を一体に溶融し 、2゜56オームの抵抗を有する複合器具アッセンブリを得た。600ボルト/ 1アンペアインパルス条件下で試験した場合、複合器具アッセンブリは破損前に 12〜18秒間耐えた。300ポルト71アンペアで試験した場合、複合器具ア ッセンブリは、17秒以内でトリップし、132試験サイクルに耐えた。従来の 試験において、複合器具アッセンブリを構成する個々の器具は300〜600ボ ルトの電圧インパルスに耐え得ない。
実施例3 実施例2に記載された5個の器具を積み重ねて、抵抗3.94オームの複合器具 アッセンブリを製造した。600ボルト/1アンペアで試験した場合、複合器具 アッセンブリはトリップ前に17秒間耐えた。300ポルト/1アンペアで試験 した場合、複合器具アッセンブリは、145サイクルに耐えた。
実施例4 65.8容量%の高密度ポリエチレン[マーレックス(MarlexX登録商標 )6003、フィリップス・ベトロリアム(P hillipsP etrol eum)から入手。コと34.2容量%のカーボンブラック[ラーベン(Rav enX登録商標)600、コロンビアンーケミカルズ(Columbian C hemicals)から入手。] をバンバリーミキサ−で混合して、約1オーム・cmの抵抗率を有する導電性ポ リマー組成物を製造した。実施例2と同様に、組成物を押出し、金属箔を積層し 、照射した。0.360インチ(0,91cm)の直径および0.148オーム の抵抗を有する2つの器具を積層シートから切り取った。実施例2と同様の手順 を用いて、実施例2に記載された器具の両面にこれら2つの器具を配置し、1. 185オームの抵抗を有する複合器具アッセンブリを得た。600ボルト/1ア ンペアで試験した場合、複合器具アッセンブリはトリップ前に45秒間耐えた。
300ボルト/1アンペアで試験した(40秒間電力供給)場合、複合器具アッ センブリは、145サイクルに耐えた。
実施例5 実施例2に記載された器具(直径0.360インチ)を、実施例4に記載された シートから切り取られた直径0.250インチ(0゜64cm)の2つの器具の 間に挟み、抵抗2.1オームの複合器具アッセンブリを製造した。600ボルト /1アンペアで電力供給した場合、複合器具アッセンブリは11秒でトリップし た。300ボルト/1アンペア/40秒で試験した場合、複合器具アッセンブリ は20〜120サイクルに耐えた。
Hθ−3FIG 4 FIG 5 FIG 6

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.直列に接続されている複数のPTC回路保護器具から成る器具アッセンブリ 。 2.直列に接続されている少なくとも3つの器具から成る請求項1記載のアッセ ンブリ。 3.アッセンブリが少なくとも3つの層状PTC素子を有して成り、該PTC素 子のそれぞれが2つの層状金属電極の間に挟まれており、PTC素子が相互の頂 部に積み重ねられているが、層状金属電極によって分離されている請求項1また は2記載のアッセンブリ。 4.器具が同様の製造法によって全て製造されている請求項1〜3のいずれかに 記載のアッセンブリ。 5.アッセンブリが複数の組の直列に接続されている器具から成り、該組が相互 に並列に接続されている請求項1〜4のいずれかに記載のアッセンブリ。 6.それぞれの器具が導電性ポリマーからできているPTC素子を有して成る請 求項1〜5のいずれかに記載のアッセンブリ。 7.それぞれの器具がセラミックからできているPTC素子を有して成る請求項 1、3または5に記載のアッセンブリ。 8.器具が絶縁性液体に浸漬されている請求項1〜7のいずれかに記載のアッセ ンブリ。 9.(1)回路遮断器、および (2)回路遮断器に直列に接続されている請求項1〜8のいずれかに記載の器具 アッセンブリ を有してなる電気回路遮断システム。 10.閉鎖状態、中間状態および開放状態を有し、(1)第1金属接触表面、 (2)第2金属接触表面、および (3)請求項1〜8のいずれかに記載の器具アッセンブリを有して成る電気スイ ッチングシステムであって、第1表面と第2表面は、システムが閉鎖状態にある 場合に、直接に物理的に接触しており;第1表面と第2表面は、システムが中間 状態にある場合に、物理的に相互に分離されているが器具アッセンブリを介して 電気的に相互に接続されており;第1表面と第2表面は、システムが開放状態に ある場合に、物理的および電気的に相互に分離されている電気スイッチングシス テム。
JP1508413A 1988-07-15 1989-07-14 Ptc回路保護器具アッセンブリ Pending JPH04500138A (ja)

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