JPH0449534A - 光学式読取り装置 - Google Patents

光学式読取り装置

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JPH0449534A
JPH0449534A JP2160382A JP16038290A JPH0449534A JP H0449534 A JPH0449534 A JP H0449534A JP 2160382 A JP2160382 A JP 2160382A JP 16038290 A JP16038290 A JP 16038290A JP H0449534 A JPH0449534 A JP H0449534A
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Mitsuhiro Togashi
光宏 富樫
Hiroyuki Shindo
博之 新藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、コンパクトディスク、光磁気ディスク、相変
化型ディスク、バーコードなどの情報媒体からの情報を
読取るための装置に係り、特に対物レンズの開口数を大
きくすることなく高密度情報の読取りを可能にした光学
式読取り装置に関する。
〔従来の技術1 第12図は従来の光デイスク用の光学式読取り装置の構
成を示している。
半導体レーザ1から発せられた検知光であるレーザ光は
、コリメートレンズ2により平行光束となる。この平行
光束はビームスプリッタ4により対物レンズ6に送られ
、この対物レンズ6によりディスク7の記録面に集光さ
れる。ディスク7の記録面から反射された戻り光は、ビ
ームスプリッタ4により直角方向に分岐され、受光レン
ズ8により集光されてビンホトダイオード10により検
知される。ディスク7の記録面に形成されている情報ビ
ットPによる光の拡散による変調がビンホトダイオード
10により検知され、これにより信号が再生される。
〔発明が解決しようとする課題] この種の読取り装置では、光学系のカットオフ周波数f
、(光学系で読取ることができる最大の空間周波数)は
、 fc=2XNA/λ ・(11 で決まる。 NAは対物レンズ6の開口数、λは検知光
の波長である。現状の半導体レーザの出力波長先は0.
67〜0.83μmであるため、1μm程度の長さのデ
ータを読取るためには、開口数NAが0.4〜0.6程
度の大きな対物レンズ6を使用することが必要である。
光学式読取り装置において、さらに高密度なデータを読
取る方法としては、前記fi1式から、検知光として波
長λの短いものを使用するか、あるいは開口数NAの大
きな対物レンズを使用することが必要である。しかしな
がら、まず現状の半導体レーザの出力波長λよりもさら
に短波長の光を効率よく使用することは回能である。ま
た対物レンズの開口数NAであるが、現状の光ピツクア
ップよりもさらに開口数NAの大きな対物レンズを使用
すると、ディスク7の面振れなどの外乱による性能劣化
が著しくなる。また対物レンズ6の開口数NAは、焦点
距離をFとし、光束半径なaとした場合に、 NA=a/F   ・・・(2) で決められる。またフォーカス補正動作により対物レン
ズ6は例えば±0.5mm程度光軸方向へ動作するので
、この対物レンズ6が補正動作によりディスク7に当た
らないようにするためには、焦点距離Fが3mm程度必
要である。よって大きな開口数NAを得るためには、(
2)式から、大径の光束を使用することが必要になる。
大径の光束を使用すると、読取り装置内の光学装置の寸
法が大きくなり、読取り装置が大型なものになる。
本発明は上記従来の課題を解決するものであり、使用す
る検知光の波長を短くすることなく、また対物レンズの
開口数を大きくすることなく、現状の装置よりもさらに
高密度のデータの読取りを可能にした光学式読取り装置
を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段1 本発明は、発光素子と、この発光素子から発せられる検
知光を情報媒体に集束させる対物レンズと、情報媒体か
らの戻り光を検知する受光素子とが備えられている光学
式読取り装置であって、発光素子から発せられた検知光
の経路に検知光を集束させる光学部材が設けられてその
焦点位置に変調用回折格子が設置され且つ情報媒体から
の戻り光の経路にこの戻り光を集束させる光学部材が設
けられその焦点位置に変調用回折格子が設置されている
ことを特徴とするものである。
また本発明は、発光素子と、この発光素子から発せられ
る検知光を情報媒体に集束させる対物レンズと、情報媒
体からの戻り光を検知する受光素子とが備えられている
光学式読取り装置であって、発光素子から発せられた検
知光の経路で且つ情報媒体からの戻り光の経路に光を集
束させる光学部材が設けられてその焦点位置に変調復調
兼用の回折格子が設置されていることを特徴とするもの
である。
さらに、上記手段において、焦点位置に設ける変調復調
兼用の回折格子の代わりに平行光束中に位置する回折フ
ィルタを設け、この回折フィルタには、前記回折格子に
よる回折像を、前記焦点位置上からレンズ開口面上に変
換したのと等価な曲線状格子が形成されているものであ
る。
〔作用] 上記手段では、発光素子から発せられた検知光を回折格
子により変調して対物レンズで情報媒体に集束させる。
この回折格子の変調ならびに情報媒体の記録情報により
作り出されたビート波が対物レンズに戻り受光素子にて
検知されることにより、従来の読取り装置では伝達でき
なかった高域の空間周波数スペクトルを伝達することが
でき、見かけ上のカットオフ周波数を前記(11式によ
り決定されるものよりも高くできる。よって高密度情報
の再生が可能になる。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面、によって説明する。
第1図は本発明の第1実施例による光学式読取り装置の
光学素子構成を示す側面図である。この第1実施例は最
も基本的な構成である。
符号1は半導体レーザ、4はビームスプリッタ、6は対
物レンズ、10はビンホトダイオード、11と15はコ
リメートレンズ、12は集光レンズ、17は受光レンズ
、7は情報媒体となる光ディスクである。
符号13は変調用回折格子、16は復調用回折格子であ
る。
第8図は第12図に示す従来の光学装置による光学的構
成のモデルを示しており、第7図は上記本発明の実施例
における光学的構成のモデルを示している。従来例では
、半導体レーザ1からの検知光をレンズLaにより情報
媒体7に集束させ、情報媒体7により変調された戻り光
をレンズLbにより、ビンホトダイオード10に戻して
受光検知している0本発明の実施例では、第7図に示す
ように、半導体レーザlからの検知光をレンズL0 (
集光レンズ12に相当する)で集束させその焦点位置に
ある変調用回折格子13により変調している。そしてさ
らにレンズL、(対物レンズ6に相当する)にて情報媒
体7に集束する。その戻り光はレンズLm  (対物レ
ンズ6に相当する)を経てその焦点位置にある復調用回
折格子16を透過して復調され、レンズL(受光レンズ
17に相当する)により集光され、ビンホトダイオード
lOにて受光検知される。これはモアレ縞超解像の原理
を使用しているものである。半導体レーザ1から発せら
れたレーザ光は変調用回折格子13により変調され、こ
の変調されたレーザ光と情報媒体7の情報ビットP(第
7図では説明の都合上情報ビットを格子として示してい
る)とでビート波が作られる。このビート波の周波数が
対物レンズ6のカットオフ周波数よりも低ければレンズ
Ltが戻り光中のビート波を伝達できる。このままでは
情報を読取ることができないため、復調用回折格子16
に集光して復調してビンホトダイオード10により受光
検知する。すなわち第8図に示す従来例のモデルにおい
て、レンズLbにより伝達できなかった高空間周波数の
信号がビート波としてレンズL2にて伝達することがで
き、情報密度の高い周波数の信号を検知できる。
ただし上記の原理では、復調の際に高空間周波数のノイ
ズを発生するため、光学系においてまたは電気回路にお
いてこのノイズに対する対策が必要になる。
上記対質の一例としては、復調用回折格子16を変調用
回折格子13に対して逆フィルタの関係、すなわち変調
を受けた元の光に戻すことができるようにすることが考
えられる。このフィルタの条件としては、第7図におい
て回折格子13による変調前の光の振幅分布をUo(x
、ylとし、回折格子16による復調後の振幅分布なU
 fx、yl  とすると、 U o fx、y) = U (x、ylとなることが
必要である。すなわち変調前の光の格子ピッチ方向の振
幅変調関数をgo(ylとし、復調後の振幅変調関数な
g fyl とすると、go(yl・g[yl=1 となることが必要である。ただし各回折格子13と16
への集束光の開口数が同じで且つ収差はないものとする
上記の逆フィルタを構成する例としては、第3A図に示
すように、各格子13と16とで、同じ位相で且つ同じ
深さの格子溝13a、16aとなるようにすればよい。
すなわち位相変調型の格子を使用すればよいことになる
また検知光の振幅が下がってもよい場合には、強度変調
型により両回折格子13と16を構成することも可能で
ある。すなわち第3B図に示すように、各回折格子13
と16の位相なy方向に180°ずらし、ハツチングの
部分の透過率をα%、白色の部分の透過率をβ%とした
場合、g ofyl・gfyl=α・β/106となる
。第3A図の場合よりも検知効率は低下するが、復調に
よるノイズを除去することが可能である。
第9図は第1図に示す実施例による光学装置を使用した
場合の読取りRF倍信号、横軸を時間、縦軸を振幅によ
り示しており、第10図は第12図に示す従来の光学装
置を使用した場合の読取りRF倍信号示している。
第11A図から第11工図は上記第9図と第10図の信
号を各時間長ごとの記録信号に相当するものに分割して
示したものである。この各図において*印は、本発明の
実施例による読取り信号を示し、無印は従来の読取り信
号を示している。
ディスクに記録されているビット信号のITを0.3μ
mとして測定したものであるが、第11A図では、IT
−ITの信号の読取りRF倍信号示している。この図か
ら、本発明の実施例においては、ビット変調を受けた信
号として読むことができるが、従来例では、ビットによ
る変調を受けた信号として読取ることができないことが
解る。第11B図から第1ID図はIT−2TからIT
−4Tまでの時間長のビット信号を読取った信号を示し
ているが、この場合、各時間長の信号について本発明の
実施例の方が感度よく検出されていることが解る。第1
1F図から第111図はIT−6TからIT−10Tの
時間長のビット信号を読取った場合を示している。これ
らの図から、本発明の実施例による読取り信号は立ち上
がりならびに立ち下がり傾斜が従来のものよりも急であ
り、読取り信号のスレッシヨレベルを正確に得やすくな
っていることが解る。
第2図は本発明の第2実施例を示している。
この実施例は第1図の実施例をさらに具体化したもので
ある。
半導体レーザ1から発せられた検知光は集光レンズ21
によりビームスプリッタ22の入射面に焦点が合うよう
に集束されている。またディスク7からの戻り光はコリ
メートレンズ15により集束され、ビームスブリック2
2により直角方向へ反射されてビームスブリック22の
出射面に焦点が合うように集束する。このビームスプリ
ッタ22の入射面に変調用回折格子22aを形成し、出
射面に復調用回折格子22bを形成することにより、第
1図と同じビート波による読取りを行なうことができる
第4図は本発明による光学式読取り装置の第3実施例を
示している。
この実施例では、変調復調兼用の回折格子26が用いら
れている。半導体レーザ1から出力される検知光はビー
ムスプリッタ4を透過し、集光レンズ25により回折格
子26に集束される6板27を透過し、対物レンズ6に
よりディスク7に集光される。ディスク7からの戻り光
は元の経路を戻り、波長板27を透過し回折格子26を
通過し、さらに集光レンズ25により集束されビームス
プリッタ4により直角方向へ反射されてビンホトダイオ
ード10により受光検知される。
この実施例では、回折格子26を変調用と復調用として
兼用しており、半導体レーザlから発せられた検知光が
回折格子26により変調されて、ディスク7の記録ビッ
トとでビート波が作り出される。そしてその戻り光が回
折格子26にて復調され、ビンホトダイオード10にて
検知される。
ここで、回折格子26により逆フィルタが構成されて復
調波のノイズが除去されるためには以下のような構造に
することが必要である。
回折格子26の基板26aとしては異方性結晶のものを
使用し、常光B0に対する屈折率をn。
異常光B、に対する屈折率をn、とする。また格子26
bは溝内に屈折nの崗′モを堆積したものとし、深さを
dとする。変調された常光に対しディスクから反射され
た異常光の逆フィルタを構成するためには、 n=(no + no ) / 2 であることが必要である。これにより、(no−n)d
=−(na−n)d となり、逆フィルタの関係が成立する。
具体的には、基板26aとして酸化亜鉛(ZnO)を使
用すればn o = 1.999− n e =2.0
15である。また誘電体としては5iO−とTazOs
をスパックにて堆積させた膜を使用すると、nを1.4
64から2.152の間で選ぶことができ、前記条件を
満足するn = 2.007にすることが可能である。
第5図は本考案の第4実施例を示している。
この実施例では、半導体レーザlから発せられる光がビ
ームスブリック4を透過してコリメートレンズ15によ
り平行光束となる。そして対物レンズ6によりディスク
7に集束される。そしてこの平行光束中にフィルタ31
が介在している。
フィルタ31には、第6図に示すように、x−y座標に
対して曲線状の格子が形成されている。このフィルタ3
1は第4図に示す変調復調兼用の回折格子26を焦点位
置上からレンズ開口面上となるようにフーリエ変換した
ものである。
すなわちレンズの開口面上における振幅分布なU(x、
yl  とすると、 Ufx、yl=ΣnA、T (−x−fan/qy)と
なる。ここで、AIlは格子のフーリエ係数、fは焦点
距離、nはフィルタ31の基板の屈折率、qは格子の周
期、んは使用光の波長である。
またTは次の関数である。
T(x、y)=1  (x” +ym≦82のとき)0
(上記以外のとき) ただし、aはフィルタ31の開口半径である。
上記実施例では、フィルタ31が平行光束中にあるため
、配置の自由度があり、組み立てが容易である。
なお本発明は、情報媒体が光ディスクである場合に限ら
れず、例えばバーコードの読取りなどにも使用すること
ができる。
〔効果〕
以上のように本発明によれば、高密度データの読取りが
可能になり、また対物レンズの開口数を大きくする必要
がなくなる。また逆に対物レンズの開口数を小さくして
も従来と同等の読取り精度を維持でき、小型化ならびに
組み立て調整の簡素化を図ることができるようになる。
請求項2記載の発明によれば、変調用と復調用の回折格
子を兼用しているため、構成する部品数を削減できる。
請求項3記載の発明によれば、フィルタが平行光束中に
配置されているため、配置の自由度があり、組み立てが
簡単である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例による光学式読取り装置の
構成を示す側面図、第2図は本発明の第2実施例による
光学式読取り装置の構成を示す側面図、第3A図と第3
B図は逆フィルタを構成できる場合の回折格子の断面図
、第4図は本発明の第3実施例による光学式読取り装置
の構成を示す側面図、第5図は本発明の第4実施例によ
る光学式読取り装置の構成を示す側面図、第6図は第4
実施例に使用されるフィルタの正面図、第7図は本発明
の光学装置のモデル図、第8図は従来の光学装置のモデ
ル図、第9図は本発明による光学装置による読取りRF
倍信号示す線図、第10図は従来の光学装置による読取
りRF倍信号示す線図、第11A図ないし第11工図は
第9図ならびに第1O図に示したRF倍信号各時間長の
異なる信号にわけてそれぞれ示した線図、第12図は従
来の光学式読取り光学装置の構成を示す側面図である。 1・・・半導体レーザ、4・・・ビームスプリッタ、6
・・・対物レンズ、7・・・ディスク、11.15・・
・コリメートレンズ、10・・・ビンホトダイオード、
12・・・集光レンズ、13.22a・・・変調用回折
格子、16,22b・・・復調用回折格子、26・・・
変調復調兼用回折格子、31・・・フィルタ。 区 区 1T−37 1T−47 −’、IIE図 第10図 第1旧図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、発光素子と、この発光素子から発せられる検知光を
    情報媒体に集束させる対物レンズと、情報媒体からの戻
    り光を検知する受光素子とが備えられている光学式読取
    り装置であって、発光素子から発せられた検知光の経路
    に検知光を集束させる光学部材が設けられてその焦点位
    置に変調用回折格子が設置され且つ情報媒体からの戻り
    光の経路にこの戻り光を集束させる光学部材が設けられ
    その焦点位置に変調用回折格子が設置されていることを
    特徴とする光学式読取り装置 2、発光素子と、この発光素子から発せられる検知光を
    情報媒体に集束させる対物レンズと、情報媒体からの戻
    り光を検知する受光素子とが備えられている光学式読取
    り装置であって、発光素子から発せられた検知光の経路
    で且つ情報媒体からの戻り光の経路に光を集束させる光
    学部材が設けられてその焦点位置に変調復調兼用の回折
    格子が設置されていることを特徴とする光学式読取り装
    置。 3、請求項2記載の発明において、焦点位置に設ける変
    調復調兼用の回折格子の代わりに平行光束中に位置する
    回折フィルタを設け、この回折フィルタには、前記回折
    格子による回折像を、前記焦点位置上からレンズ開口面
    上に変換したのと等価な曲線状格子が形成されている光
    学式読取り装置。
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