JPH0448544Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「考案の目的」 （産業上の利用分野） 本考案は、IC等の電子部品の端子テスト用ク
リツプに係り、特に端子数の異なる各種の電子部
品に対応し得るように構成したクリツプに関する
ものである。

（従来の技術） 所定位置に配置されたICの端子をテストする
ために使用されるIC用テストクリツプは一般に
第５図の断面図で示すように構成されている。図
において、２１はクリツプ本体を示し、先端部内
側に保持部２４を形成した対向的なレバー２２，
２３が中間部に形成した支持片２５で枢支２６す
ることにより開閉自在となつており、両レバー２
２，２３の後部側において両者間にコイルバネ２
７が装着されていると共に上記保持部２４に露呈
するようにテスト用の接触端子２８が配置されて
いる。使用に際しては上記挟持部にIC部品２９
を挟持することによりその端子３０と上記接触端
子２８を導通させるものである。なお、IC部品
はその端子数によつて各種のものがあるためこれ
らに対応できるようにテストクリツプも接触端子
数の異なる各種のものが製造されており、これら
を選択使用している。

（考案が解決しようとする問題点） ところが上記した従来のIC用テストクリツプ
にあつては、端子数の異なる各種のICにそれぞ
れ専用のテストクリツプを用意しなければならな
いため不経済でコストアツプとなる欠点がある。

本考案の目的は上記した従来の欠点を解消し、
接触端子数の異なる複数種（３ピン、４ピン、５
ピン、７ピン）のクリツプブロツクを形成し、こ
れらを任意に横方向に連結することにより端子数
の異なる全てのIC等の被テスト部品に対応する
ことができるようにした電子部品用テストクリツ
プを提供することにある。

「考案の構成」 （問題点を解決するための手段） 本考案に係る電子部品用テストクリツプは、対
向的なレバーを中間部で枢止することにより先端
部が開閉自在となつていると共に該先端部の対向
する挟持部には接触端子を有していて該挟持部で
電子部品を挟持することにより電子部品端子をテ
ストし得るように構成された電子部品用テストク
リツプにおいて、端子数の異なる電子部品に対応
できるように接触端子数の異なる複数種のクリツ
プブロツクを形成してこれらを横方向に任意に連
結し得るように構成したものである。

（作用） 接触端子数の異なる、例えば、３ピン、４ピ
ン、５ピン、７ピンのクリツプブロツクを任意に
選択してこれを横方向に連結することにより全て
の端子数の電子部品に対応させることができる。

（実施例） 本考案に係る電子部品用テストクリツプの実施
例を第１図乃至第４図に基づいて説明するが、第
１図は４ピン型クリツプブロツクの斜視図、第２
図は３ピン型クリツプブロツクの片側のレバーだ
けを示す斜視図、第３図は３ピン型と４ピン型を
連結した状態の片側レバーだけを示す斜視図、第
４図は３ピン型と５ピン型のクリツプブロツクを
連結した状態を示す正面図である。

図において、Ａ，Ｂ，Ｃは接触端子数の異なる
クリツプブロツクを示し、１はこれらを連結した
状態のテストクリツプ全体を指している。各クリ
ツプブロツクは対向的なレバー２，３を両レバー
に互い違いに突設した枢支部５で枢止６すると共
に後部側にはコイルバネ７が配置されていて先端
部が開閉自在となるように構成され、両レバー内
部を貫通する接触端子８は先端部の対向する挟持
部４に露呈しており、該挟持部で電子部品を挟持
することにより電子部品端子をテストし得るよう
に構成されている。

上記各クリツプブロツクＡ，Ｂ，Ｃは接触端子
数が異なつており、Ａは３ピン型、Ｂは４ピン
型、Ｃは５ピン型を示している。各クリツプブロ
ツクは単体でもそのピン数に応じた端子数の電子
部品をテストすることができるが、これらクリツ
プブロツクは横方向に連結し得るように構成され
ていて連結することによつてピン数を増加させ、
各種端子数の電子部品に対応できるようになつて
いる。連結手段としては側面を接着剤で接着して
もよく、或いは位置ずれを防止するために図示例
のように一方の側面には孔９を穿設すると共に他
方の側面には嵌合ピン１０を突設して連結すべき
クリツプブロツクの側面の穿設９に嵌合するよう
な形式としてもよい。

各クリツプブロツクのレバー２，３には対向的
なバネ座１１が突成されていてこれにバネ７を配
置するが、クリツプブロツクを連結した場合には
全てのバネ座にバネを配置する必要はない。

上記枢支部５を枢支６するためには貫挿孔６ａ
に軸棒６ｂを挿通しているが、この貫挿孔は二箇
所に設けられていてこの貫挿孔を選択することに
より両レバー２，３間の間隔を設定でき、巾の異
なる電子部品を挟持する場合にこれに対応できる
ようになつている。

「考案の効果」 本考案に係る電子部品用テストクリツプによれ
ば、接触端子数の異なる、例えば、３ピン、４ピ
ン、５ピン、７ピンのクリツプブロツクを任意に
選択してこれを横方向に連結することにより全て
の端子数の電子部品に対応させることができ、端
子数の異なる各電子部品毎に専用のテストクリツ
プを設ける必要がないから経済的であつてコスト
ダウンを図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第４図は本考案に電子部品用テスト
クリツプの実施例を示し、第１図は４ピン型クリ
ツプブロツクの斜視図、第２図は３ピン型クリツ
プブロツクの片側のレバーだけを示す斜視図、第
３図は３ピン型と４ピン型を連結した状態の片側
レバーだけを示す斜視図、第４図は３ピン型と５
ピン型のクリツプブロツクを連結した状態を示す
正面図である。第５図は従来のIC用テストクリ
ツプを示す断面図である。 １……連結されたテストクリツプ全体、Ａ，
Ｂ，Ｃ……クリツプブロツク、２，３……レバ
ー、４……挟持部、５……枢支部、７……バネ、
８……接触端子。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 対向的なレバーを中間部で枢止することにより
   先端部が開閉自在となつていると共に該先端部の
   対向する挟持部には接触端子を有していて該挟持
   部で電子部品を挟持することにより電子部品端子
   をテストし得るように構成された電子部品用テス
   トクリツプにおいて、 端子数の異なる電子部品に対応できるように接
   触端子数の異なる複数種のクリツプブロツクを形
   成してこれらを横方向に任意に連結し得るように
   構成されていることを特徴とする電子部品用テス
   トクリツプ。