JPH0447130Y2 - - Google Patents

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JPH0447130Y2
JPH0447130Y2 JP1987019586U JP1958687U JPH0447130Y2 JP H0447130 Y2 JPH0447130 Y2 JP H0447130Y2 JP 1987019586 U JP1987019586 U JP 1987019586U JP 1958687 U JP1958687 U JP 1958687U JP H0447130 Y2 JPH0447130 Y2 JP H0447130Y2
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tube
tube holder
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tubes
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、IC(LSIも含む)デバイスの検査
工程で用いられるICデバイス用チユーブホルダ
(以下「チユーブホルダ」と略す)に関するもの
である。
〔従来の技術〕
一般に、第1図のようなICデバイス1は、製
造されたのち、第2図に示すような断面形状が略
凹字状で一端側が開口された出荷用のプラスチツ
ク製チユーブ2に25個/1本単位程度で、列状に
収容されて検査工程に搬送される。そして、検査
工程においては、第3図のようなテスター13a
内蔵のICハンドラー装置13等の検査装置の挿
入口14にチユーブ2の開口部2bを合わせて斜
め下方に挿嵌することにより、ICデバイス1を
ICハンドラー装置13内に順次スライド挿入し、
内蔵されたテスター13aに順次自動的に検査さ
せ、そののち、取り出し口15からICハンドラ
ー装置13外に順次放出させ全数検査することが
行われる。また、上記チユーブ2を用いない場合
には、ICデバイス1を、300〜400個多列収容可
能なICデバイスホルダ(図示せず)に収容して
検査工程に大量に搬送し、検査工程において、
ICハンドラー装置13の挿入口14に挿入し検
査することが行われている。
〔考案が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記例示方法のうち、前者は多
数のチユーブを用いるため、運搬や検査に供する
場合における取り扱いが煩雑であるとう問題を有
している。後者は、ICデバイスホルダが高価で
あるうえ、外観検査等の抜き取り検査時には、ホ
ルダ中の任意のICデバイスの列をプラスチツク
製チユーブ2等に移し変える必要があり使い勝手
が悪いという問題を有している。
ところで、多数のICを充填したステイツク
(チユーブ)を複数本保持しうるIC自動挿入用の
ICストツカ(実開昭53−117958)が提案されて
いる。そこで、このものを、ICの検査工程に用
いることも考えられるが、この装置は、ステイツ
クの隣り合う側面を互いに接した状態で本体に保
持し、このステイツク列を、片側に向かつて押し
付け付勢して押し付けた端のチユーブから順次、
ICを取り出して所定の挿入口に落下投入するよ
うになつている。したがつて、この装置で保持で
きるステイツクは、断面形状が正、長方形のもの
に限られ、その以外の形状、例えば断面が略台形
のようなステイツクは、互いに当接すると盛り上
がつて安定的に保持することができない。このた
め、ステイツクに充填するICも、リードがパツ
ケージに対し垂直に起立するものでなければ、ス
テイツク内でがたついて安定的に保持することが
できない。また、必ず端にきたステイツクから順
次ICを取り出すようになつているため、任意の
列のステイツクからICを取り出して抜き取り検
査したい場合や、本体から任意の位置のステイツ
ク自体を取り出したい場合等には不向きであると
いう問題がある。あるいは、複数のステイツクか
ら同時にICを取り出したいような場合にも対応
できない。
また、電子部品供給装置に傾斜した上下のレー
ル対を取り付け、このレール対にステイツクマガ
ジンの上下端部を沿わせた状態で挿入するように
したマガジンホルダー(特開昭60−48804号公報)
が提案されている。しかしながら、このものも、
傾斜したレールに沿つて自重で走行し、下レール
の溝内に設けられて部品送出口に、順次ステイツ
クマガジンの下端開口を位置決めして、中のIC
を送出するようになつているため、ランダムな位
置のステイツクマガジンからICを取り出すこと
ができない。しかも、マガジンホルダーがレール
溝に沿つて走行する際には、必然的にステイツク
マガジンの端部は揃内袋が、マガジンホルダーを
レールから外すと、ステイツクマガジンに対する
固定手段がないため、ステイツクマガジンが立つ
方向にマガジンホルダーを傾けると、ステイツク
マガジンがばらばらに抜けやすく、その取り扱い
が困難である。
さらに、集積回路(IC)を多数個列状に収納
したステイツク体を上下一列に保持し、引き出し
のように一本一本引き出せるよう、上下のステイ
ツク体の間に摺動用突起を形成した収納ケース
(実開昭60−129138号公報)が提案されている。
しかしながら、上記摺動用突起は、挿入されるス
テイツク体の外形状に応じて形成されているた
め、ステイツク体の外形状が異なるものには対応
することができず、多種多様のステイツク体に対
し融通性のないものである。
この考案は、このような事情に鑑みなされたも
ので、断面形状が多種多様のICデバイス用チユ
ーブを、その断面形状にかかわらず複数個収容し
た状態で検査工程へ移送できる等の利点を有し、
安価で、しかも外観検査等の抜き取り検査にも便
宜なチユーブホルダの提供をその目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の目的を達成するため、この考案のチユー
ブホルダは、断面形状が略凹字状のICデバイス
用チユーブを複数個並列状態で保持するICデバ
イス用チユーブホルダであつて、上記ICデバイ
ス用チユーブの長手方向に沿う凹条と嵌合しうる
突条が一定間隔で複数個並列された固定板と、上
記固定板の、突条に平行な両側にそれぞれ設けら
れた支持枠と、上記固定板の他の両側にそれぞれ
設けられ、その高さが、固定板に嵌合されるチユ
ーブの端面開口底面よりも高く、かつチユーブ内
に収容されたICデバイスの下端部よりは低く設
定された抜け止め枠と、上記支持枠に取り付けら
れ支持枠上面に対し進退自在に構成されたチユー
ブホルダ浮き上がり防止用の押さえ板とを備え、
上記固定板の突条に複数個のチユーブを嵌合させ
た状態で、各チユーブの端面開口に、ICデバイ
ス抜け止め用のストツパーが着脱自在に挿着され
るようになつているという構成をとる。
〔作用〕
すなわち、このチユーブホルダは、固定板の突
条にICデバイス用チユーブの凹部を嵌合させ押
さえ板でその浮き上がりによる脱落を防止するこ
ともに、チユーブ端面開口の底面よりも高く設定
された抜け止め枠によつて左右方向へのチユーブ
の抜け落ちを防止するようになつているため、従
来から使用している出荷用チユーブをそのまま
(例えチユーブが多少変形していても上記凹部と
突条の嵌合および押さえ板の固定により矯正され
る)複数個収容でき、その状態で一体的に移送す
ることができる。そして、検査等の目的に応じ
て、任意のチユーブを、任意の個数だけ取り出す
ことができる。また、ICデバイスの形状に合わ
せて断面略台形等、正、長方形以外の各種の断面
形状を有するチユーブを、並列に収容することが
できる。したがつて、各種形状のICデバイスの
大量搬送ができ搬送作業の効率アツプを実現でき
るとともに、任意のチユーブの抜き取り検査に容
易に対応できる。さらに、この考案のチユーブホ
ルダ自身が簡単な構造であるため、全体が軽量で
しかも安価である。
つぎに、この考案を実施例にもとづいて詳しく
説明する。
〔実施例〕
第4図a,bはこの考案の一実施例を示してい
る。すなわち、図において、3a,3bは一定間
隔をおいて水平に配設されている左右一対の固定
板であり、上記固定板3a,3bの外側端部間の
間隔lが第2図のチユーブ2の長さlaよりやや長
くなるように設定されている。固定板3a,3b
の上面には、チユーブ2の凹部2aと嵌合できる
突条4が複数個、相互に一定間隔を保つように並
設されている。この場合、固定板3aの突条4と
それに対応する固定板3bの突条4とは、相互に
同軸的に位置決めされている。そして、固定板3
a,3bのそれぞれの上面外側端部には、高さ2
mm程度の抜け止め枠5が端縁に沿つて設けられて
いる。6a,6bは、それぞれ長さが上記固定板
3a,3bの外側端部間の間隔と等しく、高さが
チユーブ2と略等しい一対の支持枠であり、一方
の固定板3aの両側部から他方の固定板3bの両
側部まで延び両固定板3a,3bを連結固定して
いる。上記支持枠6a,6bは、それぞれ上記各
突条4と平行状態になつている。7は係合ピンで
あり、上記支持枠6a,6bのそれぞれの端部側
の上面に突設されている。8a,8bは押さえ板
であり、板体9a,9bの両側に一体の回転枠1
0a,10aおよび10b,10bを取り付けて
構成され、回転枠10a,10aおよび10b,
10bの端部をピン11a,11bによつて支持
枠6a,6bの端部に連結することにより、ヒン
ジ構造になつている。すなわち、上記押さえ板8
a,8bは第4図bの矢印のようにピン11a,
11bを中心に回動自在になつている。そして、
上記押さえ板8a,8bの板体9a,9bには、
前記支持枠6a,6bの係合ピン7と係合可能な
係合穴12a,12bがそれぞれ穿設されてい
る。
この構成において、使用時には、まず複数個の
チユーブ2に、それぞれ25個のICデバイス1を
列状に収容し、各チユーブ2の開口部2bにスト
ツパー(図示せず)を装着しておく。そして、チ
ユーブホルダの押さえ板8a,8bを、それぞれ
互いに外側に向かつて回転させて開成し、その状
態で、上記複数個のチユーブ2を、開口側を一端
側に揃えた状態で、それぞれ凹部2aを突条4に
嵌合させて固定板3a,3b上に並列させる。通
常は、このチユーブ2の装填は、充填機(図示せ
ず)によりなされる。ついで、押さえ板8a,8
bをそれぞれ互いに内側に回転させ、係合穴12
a,12bと支持枠6a,6bの係合ピン7と
を、それぞれ係合させ、チユーブ2の左右両側を
固定板3a,3bに押圧しチユーブ2を固定させ
る。この状態を第5図a,b,cに示す。このと
き、チユーブ2はその両端位置に抜け止め枠5が
あるため、チユーブホルダからの抜け止めがなさ
れているが、チユーブ2内のICデバイス1はチ
ユーブ2の開口部2bに挿着されたストツパー
(図示せず)によつて抜け止めがなされている。
そして、このストツパーを抜き取ると自由にチユ
ーブ2内に出し入れができるようになつている。
なお、上記ストツパーは、チユーブホルダにチユ
ーブ2を固定した状態で着脱自在であることが必
要で、チユーブ2の端面開口のうち、上記抜け止
め枠5に遮られない部分P(第5図<C>におい
て斜線で示す部分)に挿着できる形状になつてい
る。
このような状態でICデバイス1を収容したチ
ユーブホルダは台車等に複数個積載され、全数検
査および抜き取り検査の各工程に順次搬送され
ICハンドラー装置13等の挿入口14に嵌挿さ
れるようになつている。すなわち、検査時には、
チユーブホルダにチユーブ2が固定されたままの
状態でチユーブ2の開口部2bからストツパーを
抜き取り、このチユーブホルダのチユーブ開口部
2b側をテスター13a内蔵のハンドラー装置1
3の挿入口14に合わせて嵌挿する。これによ
り、チユーブ2内のICデバイス1がハンドラー
装置13内において自動的に順次検査され、その
のちハンドラー装置13の取り出し口15から装
置外へと出される。ICデバイス1は上記検査の
結果、合格品と不合格品とに分けられ、それぞれ
チユーブ2に収容され、チユーブホルダごと次工
程へと分かれて移送される。
このように、このチユーブホルダは、従来の、
各種形状の出荷用チユーブ2を複数個並列に収容
できるとともに、チユーブ2を収容したままの状
態でチユーブ2内のICデバイスだけを、必要な
個数分だけ自在に取り出すことが可能となつてい
る。したがつて、ICデバイス1の大量搬送がで
きるとともに、ICハンドラー装置13等の挿入
口14に嵌挿するだけで複数個のチユーブ2を
ICハンドラー装置13に装着した状態にできる。
その結果、チユーブ2の搬送作業および検査機器
に対する装着作業の効率アツプを実現できる。ま
た、ICデバイスをチユーブに充填した状態で収
容し、従来のICデバイスホルダのように、ICデ
バイスを裸の状態で収容しないため、抜き取り検
査等においては任意のチユーブのみを取り出せば
よく、従来のICデバイスホルダのようにチユー
ブに詰め直す必要はない。したがつて、抜き取り
検査に容易に対応できる。さらに、チユーブホル
ダ自身の構造が簡単なため安価である。
なお、押さえ板8a,8bは上記実施例のもの
に限定するものではなく支持枠6a,6b上面に
進退自在に取り付けられたものであればよい。例
えば、支持枠6a,6bにヒンジ連結されず単に
係合ピンと係合穴との係合により着脱自在になつ
ているものや支持枠6a,6b上面にスライド嵌
合可能なものでもよい。
〔考案の効果〕
この考案のチユーブホルダは、以上のように構
成されているため、各種形状のICデバイスを、
上記ICデバイスの形状に合わせて適宜の断面形
状に形成された任意のチユーブに詰めた状態で、
一度に大量搬送でき、かつ簡単に検査機器等によ
る検査に供することができる。そして、このと
き、固定されたチユーブの横ずれや浮き上がりに
よる脱落を完全に防止することができる。また、
このチユーブホルダに並列する複数個のチユーブ
から、任意の位置のチユーブを任意の個数分だけ
取り出すことができチユーブ単位の取り扱いに便
利である。さらに、検査機に、チユーブホルダご
と装着し、必要な位置のチユーブ端面のみを開口
させることにより、そのチユーブからICデバイ
スを取り出して抜き取り検査することができ、検
査しやすい。また、構造が簡単であるため、全体
が軽量でしかも極めて安価である。
【図面の簡単な説明】
第1図はICデバイスの斜視図、第2図はICデ
バイスが収容されるチユーブの斜視図、第3図は
ハンドラー装置の斜視図、第4図aはこの考案の
一実施例を示す平面図、第4図bはその正面図、
第5図aはその使用状態を示す部分平面図、第5
図bはその正面図、第5図cはその側面図であ
る。 1……ICデバイス、2……チユーブ、2a…
…凹部、3a,3b……固定板、4……突条、5
……抜け止め枠、6a,6b……支持枠、7……
係合ピン、8a,8b……押さえ板、12a,1
2b……係合穴。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 断面形状が略凹字状のICデバイス用チユー
    ブを複数個並列状態で保持するICデバイス用
    チユーブホルダであつて、上記ICデバイス用
    チユーブの長手方向に沿う凹条と嵌合しうる突
    条が一定間隔で複数個並設された固定板と、上
    記固定板の、突条に平行な両側にそれぞれ設け
    られた支持枠と、上記固定板の他の両側にそれ
    ぞれれ設けられ、その高さが、固定板に嵌合さ
    れるチユーブの端面開口底面よりも高く、かつ
    チユーブ内に収容されたICデバイスの下端部
    よりは低く設定された抜け止め枠と、上記支持
    枠に取り付けられ支持枠上面に対し進退自在に
    構成されたチユーブホルダ浮き上がり防止用の
    押さえ板とを備え、上記固定板の突条に複数個
    のチユーブを嵌合させた状態で、各チユーブの
    端面開口に、ICデバイス抜け止め用のストツ
    パーが着脱自在に挿着されるようになつている
    ことを特徴とするICデバイス用チユーブホル
    ダ。 (2) 上記固定板が、一定間隔を保つて水平に配置
    された左右一対の固定板からなり、上記左右一
    対の固定板が一方の固定板の両側部から他方の
    固定板の両側部に延びる支持枠により連結固定
    されている実用新案登録請求の範囲第1項記載
    のICデバイス用チユーブホルダ。 (3) 上記押さえ板の一端側が、ヒンジ機構により
    支持枠の端部に連結されているとともに、他端
    側に係合部が設けられ、この係合部を支持枠上
    面に設けられた被係合部に係合させることによ
    つて、押さえ板が上記支持枠上面に重なつた状
    態を保つようになつている実用新案登録請求の
    範囲第1項および第2項記載のICデバイス用
    チユーブホルダ。
JP1987019586U 1987-02-12 1987-02-12 Expired JPH0447130Y2 (ja)

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JP1987019586U JPH0447130Y2 (ja) 1987-02-12 1987-02-12

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JPS63126307U JPS63126307U (ja) 1988-08-18
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6048804A (ja) * 1983-08-29 1985-03-16 Toray Eng Co Ltd 電子部品供給装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58317Y2 (ja) * 1977-02-25 1983-01-06 富士通株式会社 Icストツカ
JPS60129138U (ja) * 1984-02-06 1985-08-30 株式会社東芝 集積回路試験装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6048804A (ja) * 1983-08-29 1985-03-16 Toray Eng Co Ltd 電子部品供給装置

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JPS63126307U (ja) 1988-08-18

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