JPH044548B2 - - Google Patents

Description

明細書 本発明は糸の欠陥検出評価方法に関する。

ここで、糸の欠陥（糸欠陥）とは、糸に散発的
に現れる判然とした不均斉部分例えばスラブや太
糸または細糸を言い、出現の頻度は稀である。こ
れに対し統計的に起る断面または直径の変動を糸
むらと称する。

このように糸の全長にわたつて統計的に起る糸
断面または直径の変動即ち糸むらとは別に、散発
的に現れる判然とした不均斉部分即ち糸欠陥を問
題とすることが、一般に受入れられるようになつ
た。この場合約１mmから数cm位の太い部分（ネツ
プ、スラブ）と、数cmの長いスラブから約50cmま
での太い部分（ダブルスレツド、長いスラブ）
と、また数cmから数ｍにも及ぶ細い所とを区別す
る。

このように稀に生ずる糸欠陥の知覚による主観
的印象が糸の客観的な状態（太さの偏りと長さ）
の対数値に略比例することはよく知られている。
稀に生ずる糸欠陥の主観的知覚とその客観的状態
との間に近似的に成立する対数関係は、糸欠陥を
クラス別に評価して表わす実務にも用いられてい
る。しかし今日まで糸の評価の分野の装置技術に
おいて、上述の対数関係と比較的稀に生ずる糸欠
陥とを、かかる装置の技術的単純化や効率向上の
ために積極的に用いる方法は知られていない。

本発明の課題は、糸欠陥の主観的知覚と糸の客
観的な状態との間に対数関係の存在する事実と、
糸欠陥が稀に発生する現象である事実とを意図的
に利用して、最小限の技術的手段で糸欠陥を検出
して評価する方法を提供することである。

この課題を解決するため本発明によれば、順次
に記憶される走査値の限界値を超過する太さをも
つ糸部分の長さを、異なる長さの所定の長さ方向
領域と比較し、欠陥をもつ糸部分の欠陥の評価に
用いられる前記の記憶された走査値の数を、欠陥
をもつ糸部分の長さと所定の長さ方向領域の長さ
との比較の結果に関係して選んで、糸部分の長さ
の増大につれて走査値の評価される数を減少す
る。

こうして本発明により欠陥を対数値で評価する
ことにより次の利点が生ずる。まず糸の太さにつ
いて考えると、通常のアナログ／デイジタル変換
で得られるデータを表わすのに必要なワード長
（バイナリ形式）を対数値で扱えば、ワード長を
約半分に減少できる。この場合ワード長が短かい
程、信号処理の経費は少なくて済む。また測定値
に対して測定条件例えば公称太さ（番手）、原料
繊維による誘電的特性に対する基準化は、通常は
乗除算で行なわれるが、対数化された信号では、
ワード長を増すことなく、加減算で簡単に演算処
理できる。さらに対数化されたデータの分解能は
±1/2ビツトなので、対数化された信号の領域で
は、糸の太いか細いかにかかわらず、知覚による
印象と分解限度が対応し、相対的分解能が一定と
なる。

次に糸の長さについて考えると、長さ方向でも
対数値が知覚印象の度合いに比例することを利用
すると、長さの評価に際して、長くなる程評価の
為の信号処理を少なくすることができる。例えば
短い長さ領域では走査クロツクごとに評価を行な
うが、中位の長さ領域ではデータを走査クロツク
の２つ目毎、３つ目毎あるいはその平均で評価
し、長い領域では更に４番目毎、５番目毎あるい
はその平均で評価することができる。

また本発明により太い限界値を超過する糸部分
の評価の数をこの糸部分の長さの増大につれて少
なくすることにより、糸欠陥が稀にしか出現しな
い現象であり、しかも長さのあるスラブ、太糸ま
たは細糸といつた形でこの糸欠陥が現われる事実
を積極的に利用することができる、即ちこの様な
欠陥を評価する場合、殆んどのデータは評価にか
けるまでもないもので、僅かの演算ステツプで迅
速に処理が行なわれる。しかし稀に出現する欠陥
の信号が現われると、これはいくつかの評価ステ
ツプで調べねばならないので、時間がかかる。し
かしこの様な欠陥の出現は統計的に稀であること
を考えれば、評価装置は、ピーク時の処理に必要
とされる能力よりはるかに小さい能力で、統計上
妥当な時間内に処理できる程度の能力をもつてい
ればよい。処理能力の違うプロセス間には、緩衝
メモリ（バツフアストア）を設けて、変動する負
荷を調整できる。

本発明とその利点を従来の技術に関連してさら
に詳細に説明する。

公知のごとく、例えば高周波発振器と復調回路
をもつ測定コンデンサとして設計できる測定変換
器に、ゼロレベルに関して１つの直流電圧が生ず
る。該直流電圧は本質的には測定コンデンサ中に
ある糸の断面と、原料に依存する定数（乗数）に
比例する。

糸のクリアリングや欠陥分類のための公知の装
置においては、断面太さの偏りを考慮せず、原料
定数で表わされる糸原料の誘電特性を考慮して、
慣行的測定ヘツドで与えられる公称断面の領域に
対し、最小／最大信号から１つのダイナミツクレ
シオ約１：100が得られるだけである。測定のた
めの検出すべき糸の公称断面に関する偏りに対
し、このダイナミツクレシオは更に、細い個所す
なわちシンプレースにおける最小信号（公称断面
の約25％）と、太い個所すなわちシツクプレース
の最大信号（公称断面の約1000％）との間で約
１：40となる。したがつて最大の信号ダイナミツ
クレシオは１：4000となる。

もし例えば最小信号に対し分解精度10％が要求
されると、上述の信号ダイナミツクレシオと共に
信号容量は１：40000となる。

かかる信号容量を直線的方法で量子化し、積分
したりバイナリ形式で表わそうとすれば、少なく
とも16ビツトの語長が必要となる。この場合、量
子化16ビツト表現で利用できる信号領域の下端で
は、0.1より僅か良い相対的分解精度が得られる
が、上端では相対分解精度は約1/40000、すなわ
ち2.5×10^-5となる。上記数値例では上端、下端
の間の差は１：4000であり、これは下端での最大
分解精度とは無関係に、一般的に信号ダイナミツ
クレシオの大よその領域に対応する。

デイジタル信号処理技術では、実際には、不連
続すなわちデイスクリートな時間間隔で走査され
た信号は、代数的アルゴリズムで算術的に処理さ
れる。このためコンピユータ、マイクロコンピユ
ータ、プロセサ、マイクロプロセスあるいはこれ
に類する素子が実際には使用される。個々の信号
値と、これより引出される量はワードとして処理
される。

デイジタル信号処理の経費、したがつてコスト
は基本的には信号を表わすのに必要な語長に依存
する。与えられた機械に対し、略一定の演算ステ
ツプ数をもつ短い語長ですむ信号コーデイングで
働くデイジタル信号処理方法は、したがつて、同
じ信号を表現するのに、より長い語長を必要とす
る方法に比べ経済的に有利である（安価にでき
る）。

デイジタルで機能する装置による公知の糸分析
装置、クリアリング装置では、アナログ出力を与
える測定変換器を用いて糸の断面太さまたは直径
を走査する。そして、高々、アナログ信号はアナ
ログ技術の素子（例えばローパスフイルタ、ゼロ
バランス回路など）の手段による信号の予備処理
により、測定信号はＡ／Ｄ変換され、続いて上述
のデイジタル技術で更に処理される。

本発明による方法は、かかる伝統的な技術とは
異なり、デイジタル信号処理の前、あるいは最初
のステツプ中において、信号の表現を直線スケー
ルから対数スケール、あるいはこれに近似した、
あるいは類似したスケールに変換する。この場合
には信号値を定数あるいはパラメータで乗除する
ことは、単に加減を行えば良いことになり安価に
出来る。対数表現の直接的な結果は、分解限度
が、量子化で条件づけられる±1/2ビツトであり、
これは対数化された信号の領域においては、いか
なる糸断面太さ（または直径）に対しても相対的
分解能が一定になることに対応する。言いかえれ
ば、デイジタル信号処理の分野における（避けが
たい）丸め誤差は、分析されている欠陥が許容し
得る最も細いシンプレースか、あるいは許容でき
る最も太いスラブかに関係なく、主観的知覚に対
するのと同じ効果を与える。したがつて技術的に
条件づけられた分解限度が、常に対応する主観的
な定性的知覚に比例するという点で適応したシス
テムであるということになる。このことは従来の
技術による評価とは対照的であり、従来技術にお
いては、信号分解能は、最も細い断面に対して要
求される精度に合わせねばならず、その結果最も
太い断面の分析は余りにも高すぎる、すなわち過
精度であり高価すぎる方法で実施されることにな
る。

前出の数値例においては、一定の公称直径をも
つ糸をもとにして、最小信号（シンプレースの
所）と、最大信号（シツクプレースの所）の比が
１：40と仮定した。相対分解能0.1で、直線スケ
ールから対数スケールへの変換は、したがつて常
に10％ステツプという事になる。必要なステツプ
数ｎは次式で計算される： ｎ＝log40／log1.139 もし通常測定ヘツドで与えられる糸の公称断面
太さを、その予想されるバラツキ、糸の誘電特性
の範囲を考慮した、前記引用数値例を考えると、
数ダイナミツクレシオ１：4000の全範囲を10％ス
テツプに分けることが望ましく、必要なステツプ
数は ｎ＝log4000／log1.187 となる。

最初の場合には、整数バイナリワードとしてデ
イジタルとするためには少なくとも６ビツトが必
要であり、またあとの場合であれば少なくとも７
ビツトの語長が必要である。この例では、したが
つて最小限必要とされる語長は、従来の公知技術
による信号処理方法で、前記の如く導出された16
ビツトという語長にくらべ半分以下に減少でき
る。

上記事実に従い、糸の電子的分類またはクリア
リングのためのデイジタル装置を、アナログある
いはデイジタル測定変換器と、アナログあるいは
デイジタル予備処理段、およびデイジタル主処理
段、あるいは概念的に表現し、対応する処理過程
から構成するとすれば、方法として、それら処理
過程の間もしくは内部で、ただし主処理段の前で
あつて、技術的に有利な所で直線スケールから対
数スケールに変換することができる。

糸の欠陥は比較的稀にしか現われず、しかも長
さのあるスラブとかシンプレースの形で現われる
という事実から、つぎのように結論できる。すな
わち、欠陥知覚の観点からは欠陥のない糸をセン
サを通して巻くとき情報の流れは実際上零に等し
く、欠陥が現われると情報の流れは増大するが、
しかしこれは極めて限られた程度しか発生しな
い。情報の流れは糸欠陥の状態でも限られる。と
いうのは本質的に長さのあるスラブやシンプレー
スは（センサを通じて巻返されるとき）感覚的に
は比較的急速に見えるようになるが、比較的長い
惰性をもつており、再びまた比較的急速に消える
からである。情報の流れはまた、初めに述べたよ
うに、糸欠陥の長さは具体的な広がりの大よそ対
数で主観的に知覚されるということで制限され
る。したがつて糸欠陥の長さの広がりが信号処理
プロセスを通るスタートの時から観測されるのが
長ければ長い程、このプロセスを通り長さ方向の
解析はより粗となり、過度の欠陥も主観的に関連
した結果には目立つようになることはない。

迅速な反応をするよう一定に設定された信号処
理方法は、１つの欠陥の出現の場合がそうである
ように、糸欠陥として知覚しうるような偏りが現
われないか、あるいはかかる偏りがある時間の間
持続するが本質的には条件を変えないような定常
的、あるいは擬定常的な場合には、信号処理条件
の観点からは全負荷となることはない。

アナログ技術に於ては、処理の結果で正当化さ
れる処理条件の全コースに亘つて、時間的に変動
する負荷に信号処理方法を適応させる余地は非常
に狭い。したがつてアナログ技術による糸分析と
クリアラング操作のための信号処理方法は、それ
自体はまれにしか現われない事象が、より頻繁に
出現したり、常に現われるものとして計画され
る。

デイジタル技術は今や（より安価な）アドレス
できるデータメモリとコンピユータ技術の方法に
より、かかる方法で実行されるプロセサを装置技
術的に組みこみ、連続する負荷に対するよりは小
さく、実際上短時間現わる尖頭負荷に必要である
程度の能力をもつようにした、変動する負荷に対
する処理方法を設計する可能性を提供する。上記
電子的ヤーンクリアリングと糸欠陥分類に於ては
総処理時間中に適用される尖頭負荷での時間的要
求は小さいので、この事実にもとづいて、信号処
理のためのプロセサを組み立てることができ、こ
れは従来の技術に比べ、性能対コスト比に関して
著しい利益が得られる。

時間それ自体は圧縮したり、伸縮したりするこ
とができないので、本発明の方法によれば、変動
する負荷を調整するのに一連のデータバツフアの
手段を用いることができる。

電子的に糸をクリアリングし、また糸欠陥を分
類するための公知の装置技術から簡単に引出され
る例で示すと、データリザーバ（バツフアスト
ア）は第１プロセスで、測定変換器で生ずる信号
データを常に加えられる。一方第２プロセスでは
仕事を遂行し終えて、データリザーバ（バツフア
ストア）を再び空にしつづける。

第１のプロセスは、リアルタイムで測定値処理
機能を満たし、測定点におけるデータ検出と、必
要な信号準備をし（例えば、一定の速度で走らな
いプロセスとの同期、ゼロ点修正とドリフト修
正、センサ特性の直線化、Ａ／Ｄ変換、例えば前
述の方法により信号の表現を直線目盛から対数目
盛に変換するような信号圧縮など）、最後に準備
された測定データをデータリザーバ（バツフアス
トア）中に配列し記憶（ストア）する。

上記第２プロセスは、予備処理した測定データ
を上記データリザーバ（バツフアストア）から取
出し、信号分析にかける。ここで仮定したよう
に、稀に出現する欠陥を分析する場合は、信号分
析は殆んどの場合負の状態となる。これは僅かの
演算ステツプで確定されねばならない。従つて分
析プロセスは迅速に行なわれる。しかしまれに、
欠陥分析が正の状態となるのに遭遇する。これは
正確に分析せねばならない。これを詳細に分析し
た結果、場合によつては更に別のプロセスを働か
せねばならない。この目的の為に、一般にいくつ
かの演算ステツプが必要で、この結果、解析プロ
セスは時間的に、よりゆつくりと実行される。

上述の緩衝効果で負荷バランスの改善を達成す
ることができる。ここで上記第２のプロセスを実
行するプロセサは、平均してある時間間隔の間
に、データリザーバ（バツフアストア）に供給さ
れた測定データ資料を、充分な信頼性で処理し終
えるような大きさにされる。まれにいくつかの欠
陥を分析せねばならぬような場合、データリザー
バ（バツフアストア）に大きな停滞（待ち行列）
が生ずるが、これは残りの時間内に再び減少す
る。

このタイプの欠陥分析プロセスにおける統計的
バランスは、第２のプロセスで、いくつかの測定
点を順次周期的に分析することで改善できる。何
故なら実際には、測定点の間では、欠陥の出現は
統計的には独立であるからである。あるいは逆
に、本発明による方法の結果、与えられた負荷頻
度のいくつかのプロセサを用い、多数の測定点で
生ずるデータを処理することができる。

簡単のため、上記の実施例にあたつて、２つだ
けのプロセサを、その間にデータリザーバ（バツ
フアストア）を入れて、デカツプルすることを論
じても、専門家なら、ある場合には、本発明の方
法から偏ることなく、前述の第１および／または
第２のプロセスに、データリザーバ（バツフアス
トア）でデカツプルされた２つまたはそれ以上の
部分プロセスを補充完成することが好ましいこと
が判るであろう。

次に本発明の詳細を添付の図を用いて説明す
る。第１図は糸の横断面方向に公差（許容）限界
（トレランスリミツト）を記入した糸の断面太さ
を示す図、第２図は同じく糸の横断面方向にいく
つかの評価ゾーンを記入した、糸断面太さを示す
図、第３図は糸の横断面方向と、糸の長さ方向と
に夫々評価ゾーンを記入した、糸の断面太さを示
す図、第４図は評価のためのプロセス処理とデー
タストーレージの原理を示す図、第５図は伝送チ
ヤンネルを示す図である。

第１図は、平均値10のまわりに変動する信号曲
線11として、それ自体は公知の糸の断面経過を表
わす。かかる図は、例えば、糸の断面太さを操作
する測定装置からの電気信号をその入力に供給さ
れる１つの記録装置で描かれる。第１図にはま
た、信号曲線11がある限界を越えたときこれを評
価すべき許容限界の上限12と下限13も示されてい
る。信号曲線11がこれら許容限界を越えると（点
ＡまたはＢ）、曲線は領域15または16の何れかに
達する。

信号曲線11が、与えられた許容限界を超過した
ということは、デイジタル技術のためには、信号
曲線11を、与えられたクロツク周波数で走査し、
すべての振幅値を、許容限界を表わす値と比較す
るというやり方で解釈されねばならない。

第２図では、許容限界12と13の外側の領域15と
16は、更に、許容限界17と19、または18と20で横
断面方向の領域21、22、23、24、25、26に分割さ
れる。これら横断面方向の領域の各々は、信号曲
線11がすぐ次の横断面方向領域に入ることによ
り、もしくは信号曲線が以前の領域を離れること
により、関連した相対的偏りに達することが予期
されるという１つの判断基準を形成する。

さて本発明によれば、順次に記憶される走査値
の限界値を超過する太さをもつ糸部分の長さを、
異なる長さの所定の長さ方向領域と比較し、欠陥
をもつ糸部分の欠陥の評価に用いられる前記の記
憶された走査値の数を、欠陥をもつ糸部分の長さ
と所定の長さ方向領域の長さとの比較の結果に関
係して選んで、糸部分の長さの増大につれて走査
値の評価される数を減少する。

このため異なる精粗の分析基準を得るため、第
３図に示すように、糸は異なる長さをもつ所定の
長さ方向領域27、28、29に区分される。長さ方向
領域27は例えば、欠陥のない糸部分のあと、信号
曲線11が上部許容限界12、あるいは下部許容限界
13を、はじめて越えたとき（点ＡあるいはＢ）か
ら始まるというように定義される。信号はまづ短
かい欠陥かどうかについて、この長さ方向領域27
で、上述の第２プロセスを用いて分析される。そ
こで、例えば各走査クロツクごとに、信号曲線の
振幅が、許容限界12、17、19または13、18、20の
何れか１つを越えるかどうかが分析される。信号
11の値が常に許容限界12または13の外側に、ある
数の走査クロツク以上の間にとどまつていると、
これはもはや短い長さの欠陥ではなく、中位の長
さの欠陥である。長さ方向領域27と28の間の限界
は、短い欠陥と中位の長さの欠陥との間の限界と
考えられる。信号曲線が長さ方向領域28に位置
し、同時に依然として上部許容限界12、または下
部許容限界13の外側にあると、本発明の方法によ
り、粗な分析基準が適用され、例えば２番目、３
番目の走査値、あるいはこれらの平均値につい
て、許容限界12、17、19または13、18、20の中の
１つを越えるか否かが検討される。ここで分析基
準は複雑さを減少させる意味で、中位の長さの欠
陥に対応する要求であるところの、低減された信
号処理要求に対応する。また同様にして、長さ方
向領域29は、例えば、より長い糸欠陥に対応し、
領域28に比べ、更に低減された信号処理要求に対
応する。本発明の方法によれば、更に粗な分析基
準に拡張して、４番目、５番目あるいはそれ以上
の走査値あるいはその平均値が、許容限界12、
17、19あるいは13、18、20の１つを越えるか否か
について検討する。ここでも分析基準は再び複雑
さを低減させるため、より長い欠陥に対する信号
処理要求に対応する。こうして欠陥のある糸部分
の長さの増大につれて評価数したがつて信号処理
要求を減少して、装置を技術的に単純化し、効率
を向上することができる。

第４図で、本発明の方法による可能な用例を、
電子的ヤーンクリアリングと、糸欠陥分類のため
の装置の原理図で示した。

第４図に基づく装置は、ｎケの巻取ユニツトよ
り成るワインダのセクシヨンに付属させた、ｎケ
のチヤンネルK1 110、K2 210……Kn910より成
る。これらチヤンネルは、それぞれ、その主入力
端HE1 102、HE2 202、……HEn902に、糸セン
サを有しいかなる瞬間にも走査されている糸の断
面（または直径）の測度とる値をもつ電圧UG1、
UG2……UGnを生ずる測定ヘツドMK1 101、
MK2 201…MKn901から電圧を与えられる。こ
れらチヤンネルのそれぞれはまた、主出力端
HA1 104、HA2 204……HAn904を有し、ここ
に１つの信号が生じ、これは公知の技術による糸
の切断装置を制御するのに用いることができる。
また各チヤンネルは（外部からの切断指令、運
転／停止信号などのための）副入力端NE1 105、
NE2 205……NEn905と、（糸切断の統計、糸欠
陥の統計、巻取ユニツトの停止時間などの）対応
する巻取ユニツトの生産に関する統計データのた
めの、あるいは制御または警報機能もそれより引
出しうる一群の副出力端NA1 106、NA2 206…
…NAn906を有する。またこれらチヤンネルは、
すべて中央記憶範囲（中央ストーレージエリア）
ZSPB90への通路を持ち、該ストーレージエリア
には、信号解析、分解能制御、警報機能などに必
要な多種のパラメータPAR1 91、PAR2 92……
PARn99がストアされている（断面太さと長さの
大きさに対する許容限界、欠陥評価基準、制御お
よび警報基準、そしておそらくは対数表、糸番
手、糸原料特性値など）。

第５図はかかるチヤンネルの１つを示す。ｋ番
目の測定ヘツドMKk301には第１プロセサ
PROC1k311が接続されて、検出された太さ信号
のデイジタル化、対数変換、番手や材質等による
基準化を行なう。この第１プロセツサには、バツ
フアストーレージとしての第１のストーレージ
SPB1k312が接続され、この第１ストーレージに
は第２のプロセサPROC2k313が接続されて、分
析の処理を行なう。すなわち第２のプロセサは、
第１ストーレージSPB1k312からデータを取出し
て、中央ストーレージ90にアトアされているトレ
ランスリミツトの１つを上回つたかまたは下回つ
たか、または先行するトレランス範囲と同じトレ
ランス範囲にあるかについて判断する。欠陥のあ
る糸部分の長さの増大につれて限界値超過の数の
評価を少なくすることも、第２のプロセサにより
行なわれる。したがつて第３図について既に述べ
たように、糸欠陥の長さが大きい程、粗な判断サ
イクルを適用でき、同一の長さ領域では同一判断
基準が適用される。糸欠陥の存在を確認すると、
切断決定プロセサPROC5k318へ切断指令信号を
与える。欠陥を分類するためには、切断の場合よ
り細かい基準で分析する必要があり、そのために
は信号がいつ新しい領域に入つたか、出て行つた
かを確認すればよい。この情報信号は第２ストー
レージSPB2k314に書込まれる。第２ストーレー
ジSPB2k314に接続される第３プロセサ
PROC3k315は、この第２ストーレージに書込ま
れた情報から、太さと欠陥長さとを座標軸とする
表体系に従つて糸欠陥を分類して、第３ストーレ
ージSPB3k316に書込む。第３ストーレージ
SP3k316には、報告用の第４プロセサ
PROC4k317が接続されている。この第４プロセ
サPROC4k317には副出力端NAk306が接続され
る。第２プロセサPROC2k313に接続される切断
決定プロセサPROC5k318の出力端は、主出力端
HAk304で、切断決定信号を与える。副入力端
NEk305は切断決定プロセサPROC5k318に接続
されると共に、第４プロセサPROC4k317にも接
続されている。またすべてのプロセサは中央スト
ーレージZSPB90へ通じている。副出力端
NAk306は第４プロセサPROC4k317から出てい
る。

第４図に示した装置の機能をｋ番目のチヤンネ
ル（第５図）で詳述する。

測定ヘツドMKk301はこれを通過する糸の断面
太さ（または直径）に比例した、時間と共に変動
する直流電圧UGkを生ずる。この直流電圧は第
１プロセサPROC1k311で時間的に不連続に走査
され、16ビツトのワードにデイジタル化される。
このようにデイジタル化された糸信号は、第１プ
ロセサPROC1k311中で、中央ストーレージ
ZSPB90にストアされた対数表によつて（テーブ
ル索引方法）、直線目盛から対数目盛に変換され、
同時に16ビツトから８ビツトへと語長が減少され
る。直線目盛から対数目盛へ変換し、同時にアナ
ログからデイジタルへ変換する別の方法もある。
例えば電話技術で知らおれているいわゆる
CODEC回路（パルスコードモジユレーシヨン）
を適宜使用すること、またこの目的のため特に得
られる集積回路素子の使用などがある。デイジタ
ル化された糸信号の時間依存性も第１プロセサ
PROC1k311で除去される。すなわち、アナロ
グ／デイジタル変換のクロツク周波数は測定ヘツ
ドを動く糸の速度に比例させる。これは第５図に
より、中央ストーレージZSPB90にストアされて
いる、関連巻返しユニツトに対し用いられる巻取
速度の設定値を用いることにより、あるいはまた
例えば巻取ユニツトに配置された溝付ドラムの回
転速度との直接同期という公知の方法を用いるこ
とによつて行なわれる。更に、第１プロセサ
PROC1k311に於て、糸信号は一定の公称断面太
さ（または直径）と一定の（誘電的な）糸特性に
対し基準化される。対応する値（糸の番手と糸材
質による特性値）は中央ストーレージZSPB90か
ら取出される。これらの値は、糸の断面太さ（ま
たは直径）に比例した信号に乗ぜられるべきもの
であるので、これを対数目盛で表わされた糸信号
に対し考慮するには単純に加減すればよいことに
なり、語長が減少されることに加えて、本発明に
よる対数目盛で糸信号を表現する方法により、著
しく単純化されることを意味する。これらの変換
をすべて終了したのち、第１プロセサ
PROC1k311からの一連の基準化された値は第１
ストーレージSPB1k312に与えられる。ここで１
つの値から次の値へ、走査された糸は巻取速度と
は無関係に一定距離だけ移動している。第１スト
ーレージSPB1k312に書きこまれた値は、したが
つて１つの断面太さ（または直径）“１”に基準
化され、爾後もつぱら、糸の相対的直径と巻かれ
た距離とに依存することとなる。

ストーレージSPB1k312、SPB2k314、
SPB3k316はすべて、第５図によるハードウエア
ではいわゆるFIFO（先入れ先出し）メモリを用い
る。このソフトウエアに方向を定めたストーレー
ジの方法も本発明の方法の枠内で考えうる。この
場合メモリポジシヨンの管理は、第４図、第５図
には示していないが、メモリポジシヨン管理プロ
セスで行なわれる。

第２プロセサPROC2k313に、第１ストーレー
ジSPB1k312から、ランニング値が移され、信号
分析プロセスにかけられる。

該信号分析プロセスは、本発明によれば、次よ
り成る。すなわち、個々の基準化された断面太さ
値は、中央ストーレージZSPB90中にストアされ
た、欠陥許容限界の１つを上に超過したか、下に
超過したか、あるいはまた、前と同じトレランス
ゾーン中に止まつているかについて検討される。
多くの場合、相対的な糸の偏りは、最少の欠陥許
容限界内にあり、これ以上値を検討する必要はも
はやない。上記許容限界の１つを上か下かに超過
したときのみ、立入つた解析が正当化される。信
号がどれだけ長く１つの欠陥ゾーン中にあるか、
その時信号の値はどの欠陥ゾーンにあるかによつ
て、クリアリングさるべき潜在的欠陥が存在しう
るということになる。この様な場合であると、第
２プロセサPROC2k 313は、切断決定プロセサ
PROC5k318にこれを通報する。そうすると該プ
ロセサは第２プロセサPROC2k313とは無関係に
副入力端NEk305に存在する信号にもとづいて、
糸を切断することが正当化されるか否かを調査す
る。それに該当する場合には、切断決定プロセサ
PROC5k318から１つの切断指令が主出力端
HAk304に与えられる。なお第２プロセサでは、
前述したように、糸欠陥の長さが大きい程、粗な
判断サイクルが適用される。

糸欠陥を分類する目的の為には（糸欠陥を切断
するしないに拘らず）、糸信号は糸欠陥のクリア
リングに必要なものよりはより細かい基準で分析
されねばならない。しかしながら、前述のごとく
（当該欠陥がはじめて現われるとき）糸の断面太
さの偏りが何時新しいトレランスゾーンに入つた
か、または１つのトレランスゾーンを離れたかと
いう事が確定されれば充分である。この新しいト
レラスゾーンへの進入／退出も第２プロセサ
PROC2k313で監視される。この型の比較的稀な
現象が発生するたびごとに、第２ストーレージ
SPB2k314に、適当なコード形式で、何が行つた
か、またどの糸長さでこれが始まつたかが報告さ
れ記録される。したがつて、第２ストーレージ
SPB2k314は、かかる状態の変化や、巻返された
糸上で欠陥が出現した位置を含む、１つまたは複
数のデータワードを常に供給されることとなる。

第３プロセサPROC3k315で、これらの値から
１つの糸欠陥の分類が、公知の方法、例えば１つ
の表体系（ウスタクラシマツト原理）にしたがつ
て行なわれる。この分類に必要なパラメータは、
もしまだ第２プロセサPROC2k313で使われてい
なければ、中央ストーレージZSPB90から取出さ
れる。分類された糸欠陥は、プロセサ
PROC3k315で適当な形式で、その欠陥が現われ
た糸上の位置を記述してコード化され、第３スト
ーレージSPB3k316中にストアされる。

第３ストーレージSPB3k316にストアされたこ
れらの分類された糸欠陥は、第４プロセサ
PROC4k317中で、巻取ユニツトとクリアラの挙
動に関する副入力端NEk305から与えられる状態
報告と共に、公知の方法で報告にまとめられさら
に処理される。

結局第４図および第５図による装置では、各チ
ヤンネルごとに、バツフアとして機能するストー
レージで互いにデカツプルされる５つの非同期プ
ロセスが行われることとなる。これは特に主観的
知覚で条件づけられるものを、最少の技術手費用
で実現できる点で有利である。

本発明の方法によれば、専門家なら、１つまた
は複数の一般的プロセサを用い関連づけることに
よつて、実際にあるプロセスを実行することがで
きる。第４図および第５図によるｎケのチヤンネ
ルから構成される装置を仮定すると、ある場合に
は例えば、同様なプロセサPROC11、PROC1kな
いしPROC1nを、この目的のため特に用意された
１つのプロセサ上に備え、また同様なプロセサ
PROC21、PROC2kないしPROC2nを、この目的
のため特に準備された他の１つのプロセサ上に、
また残りの同様なプロセサPROC31、PROC3kな
いしPROC3nおよびPROC41、PROC4kないし
PROC4nおよびPROC51、PROC5kないし
PROC5nを他の一般のプロセサ上に設けると有利
であろう。最初の２つのグループを、いわゆるビ
ツト−スライス技術によるコンポーネントをもつ
特別のプロセサで構成し、最後のグループのプロ
セサ用として、一般的マイクロプロセサまたはマ
イクロコンピユータを用いると有利であろう。

本発明の方法を逸脱することなく、少なくとも
１つのチヤンネルのすべてのプロセサを一般のプ
ロセサで実施し、あるいは一部を従来のデイジタ
ル構成法で実施するのも有利であろう。専門家に
とつては、ハードウエア上FIFOバツフアストア
として表わしている、種々のストーレージも１つ
えまたは複数の、アドレスできるメモリで置きか
えることも自明であり、その際、既に指摘したご
とく、第４図および第５図には示していないが、
特定の（共通）プロセスをストーレージ位置の統
轄に使うことができる。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 糸の太さをその長さの関数として表わす測定
   信号を発生し、 測定信号の順次に走査される不連続な値を対数
   のデイジタル化された走査値に変換し、 これらの走査値を、太さの公差を示す限界値と
   連続的に比較し、 これらの走査値を比較前に記憶し、記憶された
   走査値の評価を、これらの走査値の記憶とは時間
   的に切離して行なう方法において、 (a) 順次に記憶される走査値の限界値を超過する
   太さをもつ糸部分の長さを、異なる長さの所定
   の長さ方向領域と比較し、 (b) 欠陥をもつ糸部分の欠陥の評価に用いられる
   前記の記憶された走査値の数を、欠陥をもつ糸
   部分の長さと所定の長さ方向領域の長さとの比
   較の結果に関係して選んで、欠陥をもつ糸部分
   の長さの増大につれて走査値の評価される数を
   減少する ことを特徴とする、糸の欠陥の検出評価方法。 ２ 欠陥分析を特定数の部分プロセスに区分し、
   緩衝メモリにより、一層まれで時間的に少ない臨
   界分析を後にずらされた部分プロセスで行なうこ
   とによつて、これらの部分プロセスを時間的に切
   離すことを特徴とする、特許請求の範囲第１項に
   記載の方法。 ３ 対数測定信号の発生をデイジタル変換の前に
   行なうことを特徴とする、特許請求の範囲第１項
   に記載の方法。 ４ 対数測定信号の発生をアナログ技術により行
   なうことを特徴とする、特許請求の範囲第１項に
   記載の方法。 ５ 対数測定信号の発生を、対数出力端をもつア
   ナログ−デイジタル変換器により行なうことを特
   徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の方法。 ６ 対数測定信号の発生をデイジタル技術により
   行なうことを特徴とする、特許請求の範囲第１項
   に記載の方法。