JPH0444352A - ヒートパイプ式電子部品冷却器 - Google Patents

ヒートパイプ式電子部品冷却器

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JPH0444352A
JPH0444352A JP2151545A JP15154590A JPH0444352A JP H0444352 A JPH0444352 A JP H0444352A JP 2151545 A JP2151545 A JP 2151545A JP 15154590 A JP15154590 A JP 15154590A JP H0444352 A JPH0444352 A JP H0444352A
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heat pipe
sealed space
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Shinichi Sugihara
伸一 杉原
Naoharu Horino
堀野 直治
Masataka Mochizuki
正孝 望月
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Fujikura Ltd
Oki Electric Industry Co Ltd
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Fujikura Ltd
Oki Electric Industry Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は例えばLSIやパワートランジスタ等の電子部
品から発生する熱を冷却するためのヒートパイプ式電子
部品冷却器に関する。
〔従来の技術〕
従来、電子部品としてのLSIはセラミック製のパッケ
ージ内に収納され耐熱性、耐衝撃性等に対して対策が施
されている。すなわち、第5図に示すようにセラミック
パッケージ101の空間部102にLSI本体103を
収納している。
しかし、セラミックは熱伝導率が低く、LSI本体10
3とケース面である上蓋1018間の熱抵抗は3℃/W
である。ここで、熱抵抗Rはθ/Qで表され、θは温度
差(”C) 、Qは発熱量(W)である。したがって、
パッケージ101内のLSI本体103の加熱に対し上
蓋101B、つまりパッケージ101表面の温度が上昇
しない傾向にある。このため、パッケージ101からの
直接放熱量が少なく、LSI本体103の実装密度に限
界かあると共に、LSI本体103の過熱事故か多く、
信頼性が低いという問題点かある。
これらの問題点を解決する手段として、第6図に示すよ
うにセラミックパッケージ]01の上蓋101aを金属
材料(Cu−W合金等)とし、その−側をパッケージ外
側面とすると共にその他側の一部をLSI本体103に
接触するように下方に突出させることで、上記金属の熱
伝導率の大きいことを利用してセラミックパッケージ1
01の放熱効果を増加させることか実施されている。こ
の場合、LSI本体103とケース面としての上蓋10
1a間の熱抵抗は1.5℃/Wとなる。
また、第7図に示すように、作動液の封入されたケース
110の密封空間内にトランジスタチップ111を収納
し、ケース110の内壁及びトランジスタチップ111
表面にウィック112を形成すると共に、トランジスタ
チップ111を熱源とする蒸発部としている。(ELE
CTRONICPACKINGand PRODUCT
lON、127頁 1978年11月号参照)〔発明か
解決しようとする課題〕 ところで、第6図に示すようにセラミックパッケージの
一部を金属とした場合には、セラミックパッケージの熱
抵抗の低減に大きな効果が得られるものの、LSIの高
密度化、小型化か進む現在、−段と熱抵抗を低減させ且
つ放熱能力を高める電子部品冷却手段か要求されている
また、第7図に示す従来例において、ケース110は保
護用として厚く形成されているため、蒸発部からの蒸気
を受ける凝縮部の熱抵抗は同等考慮されていないことに
なる。
そこで、本発明は上記事情を考慮してなされたもので、
その目的とするところは、パッケージの熱抵抗を低減さ
せ且つ放熱効果の向上を図ると共に、電子部品の高密度
化を達成し得るヒートパイプ式電子部品冷却器を提供す
ることにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために、本発明にあっては、作動
液の封入されたパッケージの密封空間内に固定装着され
た電子部品を熱源とする蒸発部とし、この蒸発部からの
蒸気を受けるパッケージの内壁部分を凝縮部とすること
を特徴とする。
また、凝縮部は薄いセラミック材料とすることか望まし
く、そして凝縮部はその一部を金属材料とすることもて
きる。
さらに、バノケ〜ンを垂直配置し、電子部品の表面にウ
ィフクを形成してもよい。
〔作  用〕
上記の構成を有する本発明においては、電子部品を作動
させると発熱し、この電子部品の発熱は蒸発部から作動
液の蒸発により潜熱として奪われる。次いて、蒸発部か
らの蒸気は熱抵抗の小さい凝縮部で放熱し凝縮する。凝
縮した作動液はウィック効果により再度蒸発部に還流す
る。このような熱輸送効果によって、電子部品とパッケ
ージ間の熱抵抗を低下させることができる。ここで、凝
縮部は薄いセラミック材料としたり、その一部を金属材
料とすることで、放熱効果が一段と向上する。
〔実 施 例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図に本発明の第1実施例によるヒートパイプ式電子部品
冷却器を示す。同図に示すように、電子部品冷却器1は
セラミックパッケージ2に形成した密封空間部4を利用
し、ヒートパイプ構造としている。セラミックパッケー
ジ2は30〜50111m角で、厚さ5IIIIlの寸
法てあり、上部に段付きの凹陥部3か形成されている。
また、電子部品としてのLS1本体5はセラミンクパッ
ケージ2の段付きの凹陥部3底而に固定装着され、本実
施例においてLS1本体5は10m+s角のものか使用
されている。
そして、LS1本体5の表面及びその周囲の凹陥部3に
沿ってアルミナ等のセラミック材料をフェルト状或いは
メツシュ状の多孔質物質としたウィック6aか設けられ
、このウィック6aがヒートパイプ作動液を保持しつつ
、作動液の蒸発部6となっている。セラミックパッケー
ジ2の上面には同様にセラミックからなる上蓋2aが蒸
発部6と対向して固着され、この上蓋2aと凹陥部3と
により密封空間部4が形成される。上蓋2aはその全体
をパッケージ2と同様の材質であるセラミック材料の薄
板で造り、この上蓋2aが作動液を凝縮する凝縮部7と
なる。
さらに、セラミックパッケージ2の側部には密封空間部
4に通ずるノズル部8が取付けられ、このノズル部8を
通し非凝縮性ガスの吸引排気を行って密封空間部4を真
空にし、作動液を注入した後、ノズル部8を封止する。
ここで、作動液としては電気絶縁性能を有する例えば純
水やフロン等が選定される。密封空間部4は10−3〜
1O−5torrの真空状態となっているため、作動液
の大気圧沸点より低い温度、例えば純水の場合、50℃
でも十分に沸騰することが可能となる。
以上のように構成された電子部品冷却器1を製造するに
は、セラミックパッケージ2の凹陥部3底面に固定装着
されたLSI本体5に対し、その表面及びその周囲の凹
陥部3に沿って多孔質物質からなるウィック6aを装着
し、次いでノズル部8を通して非凝縮性ガスの吸引排気
を行って密封空間部4を真空にし、作動液を注入した後
、ノズル部8を封止することによって、セラミックパッ
ケージ2がヒートパイプ構造となる。
次に、本実施例の作用を説明する。
LSI本体5を基板に実装し、このLSI本体5を作動
させると発熱する。LSI本体5の発熱は蒸発部6から
作動液の蒸発により潜熱として奪われる。次いて、蒸発
した作動液は蒸発部6に対向して設けられた凝縮部7で
放熱し凝縮する。凝縮した作動液は多孔質物質からなる
ウィック6aによるウィック効果により再度蒸発部6に
還流する。このようにセラミックパッケージ2内におい
ては、作動液が蒸発及び凝縮を繰り返し行いつつ循環流
動することによりその潜熱として熱輸送を行うから、L
SI本体5とセラミックパッケージ2間の熱抵抗を0.
5℃/W程度と低下させることが可能となる。
このように本実施例によれば、凝縮部である上蓋2aが
薄いセラミック材料からなるので、高い放熱効果か得ら
れる。
次に、本発明の第2実施例によるヒートパイプ式電子部
品冷却器を第2図に示す。前記実施例と同一の部分には
同一の符号を付して説明する。この実施例では上蓋2a
がその中央部からセラミックパッケージ2の上部接触部
近傍までをCu−W合金等の金属部7aとして熱伝導率
を高めるようにしている。この金属部7aが作動液を凝
縮する凝縮部7となる。
このように本実施例によれば、上蓋2aをその中央部か
らセラミックパッケージ2の上部接触部近傍まて金−属
材料(Cu−W合金等)として熱伝導率を高めるように
したので、ヒートパイプ原理と同様の熱輸送効果と相俟
って、熱抵抗を著るしく低下させることができる。その
他の構成及び作用は前記実施例と同一であるのでその説
明を省略する。ここで、本実施例においては上蓋2a全
体を金属材料(Cu−W合金等)としてもよく、この場
合も同様の効果を有する。
尚、上記第1、第2実施例では、蒸発部6にウィック6
aを設けたか、構造上、液相の作動流体を重力によって
還流するサーモサイホンとして使用でき、その結果ウィ
ック6aを省くこともてきる。
また、上記第2実施例において、セラミックパッケージ
2の上蓋2aに部分的に設は乙金属材料としてCu−W
合金を選定したか、これに限らす、他の熱伝導率の高い
アルミニウム合金やFeNi合金等の金属材料を用いる
ことかできる。
第3図は本発明の第3実施例によるヒートパイプ式電子
部品冷却器を示し、同図において、電子部品冷却器10
はセラミックパッケージ12を垂直に配置し、セラミッ
クパッケージ12は内部に段付きの凹陥部13か形成さ
れ、この凹陥部13に電子部品としてのLSI本体15
を固定装着している。そして、LSI本体15の表面に
は焼結金属やセラミックフェルト等からなるウィック1
6aが形成され、このウィック16aがヒートパイプ作
動液を保持しつつ、作動液の蒸発部16となっている。
また、セラミックパッケージ12にはセラミックからな
る側蓋12aが固着され、側蓋12aと凹陥部13とに
より密封空間部14が形成される。
側蓋12aの内面には複数のなめらかな曲線状溝を形成
して表面積を大きくし、蒸発した作動液を凝縮し易くし
、かつ内面から分離し易くしている。
そして、側蓋1.2 aの外面にはCu、Ti製のメタ
ライズ層17を介してCu、A1等の金属からなるフィ
ン形状の放熱部18が設けられている。
このように本実施例によれば、側蓋12aの内面に複数
の溝を形成すると共に、その外面にメタライズ層17を
介して放熱部18を設けたから、凝縮部となる側蓋12
Hの放熱効果を大幅に高めることができる。その他の構
成及び作用は前記実施例と同一であるのでその説明を省
略する。
第4図は本発明の第4実施例によるヒートパイプ式電子
部品冷却器を示し、前記第3実施例と同一の部分には同
一の符号を付して説明する。この実施例では、セラミッ
クパッケージ12の凹陥部13全体にウィック16aか
形成され、このウィック16aにLS1本体15から側
蓋12aに通ずる複数の円孔を穿設することによって、
この円孔内を密封空間部14としている。したがって、
本実施例でも第3実施例と同様の放熱効果が得られる。
その他の構成及び作用は前記第3実施例と同一であるの
でその説明を省略する。
尚、上記各実施例では電子部品としてLSIを用いて説
明したが、本発明はパワートランジスタ等のように、作
動させることによって熱を発生し、発熱体が密封空間を
有するパッケージ内に収納される電子部品であれば、い
かなるものでも適用可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、パッケージ内部
に形成した密封空間部をヒートパイプ構造としたので、
電子部品とパッケージ間の熱抵抗を極めて小さくするこ
とができる。これにより、電子部品の高密度の実装が図
れ、コンパクトなパッケージに高性能な電子部品を収納
することができる。また、外部に接続するヒートシンク
の放熱能力を高めることかでき、コンパクトなヒートシ
ンクの設ま1か可能となる。
さらに、パッケージ内部は完全密封構造となっているこ
とから、パッケージ自体をヒートパイプ構造表するため
の特別な改造を必要としない。その結果、加工工数を極
端に増加させることなく製造することかできるという効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るヒートパイプ式電子部品冷却器の
第1実施例を示す縦断面図、 第2図は第2実施例のビートパイプ式電子部品冷却器を
示す縦断面図、 第3図は第3実施例のヒートパイプ式電子部品冷却器を
示す縦断面図、 第4図は第4実施例のヒートパイプ式電子部品冷却器を
示す縦断面図、 第5図は従来の電子部品冷却器を示す縦断面図、第6図
は従来の他の電子部品冷却器を示す縦断面図、 第7図は従来のさらに他の電子部品冷却器を示す縦断面
図である。 1・・電子部品冷却器、 2・セラミックパッケージ、3・ 凹陥部、4・密封空
間部、5−LSI本体(電子部品)6・蒸発部、  6
a・ウィック、 7・凝縮部、  7a・金属部、 8・ ノズル部。 出願人代理人  藤  本  博  光第 図 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、作動液の封入されたパッケージの密封空間内に固定
    装着された電子部品を熱源とする蒸発部とし、この蒸発
    部からの蒸気を受けるパッケージの内壁部分を凝縮部と
    することを特徴とするヒートパイプ式電子部品冷却器。 2、凝縮部は薄いセラミック材料よりなる請求項1記載
    のヒートパイプ式電子部品冷却器。 3、凝縮部はその一部を金属材料とした請求項1又は2
    記載のヒートパイプ式電子部品冷却器。 4、パッケージを垂直配置し、電子部品の表面にウィッ
    クを形成してなる請求項1記載のヒートパイプ式電子部
    品冷却器。
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