JPH0443331B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0443331B2 JPH0443331B2 JP60287357A JP28735785A JPH0443331B2 JP H0443331 B2 JPH0443331 B2 JP H0443331B2 JP 60287357 A JP60287357 A JP 60287357A JP 28735785 A JP28735785 A JP 28735785A JP H0443331 B2 JPH0443331 B2 JP H0443331B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- substrate
- spacer layer
- medium
- recording
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 35
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 11
- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 7
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 6
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 6
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 6
- 229930192627 Naphthoquinone Natural products 0.000 description 5
- -1 YbF 3 Chemical class 0.000 description 5
- 150000002791 naphthoquinones Chemical class 0.000 description 5
- FRASJONUBLZVQX-UHFFFAOYSA-N 1,4-naphthoquinone Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C=CC(=O)C2=C1 FRASJONUBLZVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 4
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 4
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 3
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LIZLYZVAYZQVPG-UHFFFAOYSA-N (3-bromo-2-fluorophenyl)methanol Chemical compound OCC1=CC=CC(Br)=C1F LIZLYZVAYZQVPG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 229910000428 cobalt oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- IVMYJDGYRUAWML-UHFFFAOYSA-N cobalt(ii) oxide Chemical compound [Co]=O IVMYJDGYRUAWML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- UYTPUPDQBNUYGX-UHFFFAOYSA-N guanine Chemical compound O=C1NC(N)=NC2=C1N=CN2 UYTPUPDQBNUYGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002596 lactones Chemical class 0.000 description 2
- NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N manganese dioxide Chemical compound O=[Mn]=O NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- JKQOBWVOAYFWKG-UHFFFAOYSA-N molybdenum trioxide Chemical compound O=[Mo](=O)=O JKQOBWVOAYFWKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- WGWNMSTZJJBAEQ-UHFFFAOYSA-N 5-anilino-1,4-dioxonaphthalene-2,3-dicarbonitrile Chemical class C1=CC=C2C(=O)C(C#N)=C(C#N)C(=O)C2=C1NC1=CC=CC=C1 WGWNMSTZJJBAEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910016569 AlF 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910016036 BaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910020156 CeF Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910016655 EuF 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005690 GdF 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005793 GeO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003860 HfF Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004379 HoF 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017768 LaF 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000001000 anthraquinone dye Substances 0.000 description 1
- VTPWYQFCBWUDDW-UHFFFAOYSA-N benzene-1,2-dithiol;nickel Chemical class [Ni].SC1=CC=CC=C1S VTPWYQFCBWUDDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Inorganic materials [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910003443 lutetium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 231100000989 no adverse effect Toxicity 0.000 description 1
- 239000012860 organic pigment Substances 0.000 description 1
- 239000001007 phthalocyanine dye Substances 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- YCUVUDODLRLVIC-VPHDGDOJSA-N sudan black b Chemical compound C1=CC(=C23)NC(C)(C)NC2=CC=CC3=C1\N=N\C(C1=CC=CC=C11)=CC=C1\N=N\C1=CC=CC=C1 YCUVUDODLRLVIC-VPHDGDOJSA-N 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M thionine Chemical compound [Cl-].C1=CC(N)=CC2=[S+]C3=CC(N)=CC=C3N=C21 ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はレーザ光によつて情報を記録再生する
ことのできる光記録媒体に関するものである。
ことのできる光記録媒体に関するものである。
(従来の技術)
レーザ光によつて情報を媒体に記録し、かつ再
生する追記型光デイスクメモリは、記録密度が高
いことから大容量記録装置として優れた特徴を有
している。このような追記型光デイスクメモリの
記録層としては、ビスマス、テルル等の半金属薄
膜及び有機薄膜が使用されている(特公昭46−
40479、特公昭57−45676、特公昭59−41875、特
公昭54−15483、特公昭59−35356、特公昭60−
23996)。
生する追記型光デイスクメモリは、記録密度が高
いことから大容量記録装置として優れた特徴を有
している。このような追記型光デイスクメモリの
記録層としては、ビスマス、テルル等の半金属薄
膜及び有機薄膜が使用されている(特公昭46−
40479、特公昭57−45676、特公昭59−41875、特
公昭54−15483、特公昭59−35356、特公昭60−
23996)。
(発明が解決しようとする問題点)
有機薄膜は、半金属薄膜より有れた熱特性、即
ち低い熱伝導率と小さな熱容量を持つているので
吸収エネルギー密度当りの膜の温度上昇は大き
く、高い記録感度が期待できる。しかし、有機薄
膜は、半導体レーザの波長域(〜8000〓)で半金
属薄膜ほどに大きな反射率を示さないので、半導
体レーザを再生用光源とする場合、再生信号及び
サーボ信号の品質に問題を生じる。一方、大きな
反射率を示す半金属は耐候性が悪いため、酸化物
との混合物が通常用いられている。このようにす
ると大きな反射率を示さなくなるので、有機薄膜
媒体と同様に再生信号及びサーボ信号の品質に問
題を生じる。このような問題を解決するために、
本発明者は次のような媒体構成を提案し、この問
題点を解決している(特願昭59−31722)。即ち、
基板上に基板の屈折率より大きい屈折率の第1の
スペーサ層と、第1のスペーサ層の屈折率より小
さい屈折率の第2のスペーサ層と記録層とを順次
積層する媒体構成である。この構成において、基
板としてポリメチルメタクリレート等の合成樹脂
基板を用い、第1のスペーサ層としてスズ酸化物
を用いた場合、良好な光記録再生特性が得られ
た。しかしながら、このデイスク媒体を高温高湿
度の条件下に保存した後に光記録再生特性を測定
してみたところ、特性が劣化していることがわか
つた。
ち低い熱伝導率と小さな熱容量を持つているので
吸収エネルギー密度当りの膜の温度上昇は大き
く、高い記録感度が期待できる。しかし、有機薄
膜は、半導体レーザの波長域(〜8000〓)で半金
属薄膜ほどに大きな反射率を示さないので、半導
体レーザを再生用光源とする場合、再生信号及び
サーボ信号の品質に問題を生じる。一方、大きな
反射率を示す半金属は耐候性が悪いため、酸化物
との混合物が通常用いられている。このようにす
ると大きな反射率を示さなくなるので、有機薄膜
媒体と同様に再生信号及びサーボ信号の品質に問
題を生じる。このような問題を解決するために、
本発明者は次のような媒体構成を提案し、この問
題点を解決している(特願昭59−31722)。即ち、
基板上に基板の屈折率より大きい屈折率の第1の
スペーサ層と、第1のスペーサ層の屈折率より小
さい屈折率の第2のスペーサ層と記録層とを順次
積層する媒体構成である。この構成において、基
板としてポリメチルメタクリレート等の合成樹脂
基板を用い、第1のスペーサ層としてスズ酸化物
を用いた場合、良好な光記録再生特性が得られ
た。しかしながら、このデイスク媒体を高温高湿
度の条件下に保存した後に光記録再生特性を測定
してみたところ、特性が劣化していることがわか
つた。
本発明の目的は、耐候性がよくかつ信号品質の
良好な光記録媒体を提供することにある。
良好な光記録媒体を提供することにある。
(問題を解決するための手段)
本発明の光記録媒体は基板の片側にスズ酸化物
を主成分とする層を設け、レーザ光の照射によつ
て情報を記録しかつ読みとる光記録媒体であつ
て、前記基板と前記スズ酸化物を主成分とする層
との間にシリコン酸化物層を形成したことを特徴
とする。
を主成分とする層を設け、レーザ光の照射によつ
て情報を記録しかつ読みとる光記録媒体であつ
て、前記基板と前記スズ酸化物を主成分とする層
との間にシリコン酸化物層を形成したことを特徴
とする。
(作用)
透明な基板の上に記録層が形成されている媒体
の基板入射の反射率は、記録層と基板の光学定数
(複素屈折率)および記録層の厚さに依存する。
透明を基板としては、通常、合成樹脂が使用され
る。これらの屈折率は可視光から近赤外光域でほ
ぼ1.5であり、この範囲の波長にはほとんど依存
しない。したがつて媒体の反射率は、記録層の光
学定数と厚さで決定される。記録層として有機色
素膜あるいは半金属と酸化物との混合膜を用いる
場合には、媒体反射率は充分大きな値にはならな
いので、再生信号及びサーボ信号が小さい。
の基板入射の反射率は、記録層と基板の光学定数
(複素屈折率)および記録層の厚さに依存する。
透明を基板としては、通常、合成樹脂が使用され
る。これらの屈折率は可視光から近赤外光域でほ
ぼ1.5であり、この範囲の波長にはほとんど依存
しない。したがつて媒体の反射率は、記録層の光
学定数と厚さで決定される。記録層として有機色
素膜あるいは半金属と酸化物との混合膜を用いる
場合には、媒体反射率は充分大きな値にはならな
いので、再生信号及びサーボ信号が小さい。
反射率が小さい問題は、第2図のような媒体構
成により解決される。即ち、基板10と記録層2
0の間に第1のスペーサ層30と第2のスペーサ
層40を設けることにより、媒体の反射率を高め
ることができる。ただし、第1のスペーサ層30
と第2のスペーサ層40の材料及びその厚さは下
記する条件を満すように選択されなければならな
い。まず、基板10の上に第1のスペーサ層30
のみが形成されている第3図に示すような構成を
考える。基板10を通して入射した光100は、
基板10と第1のスペーサ層30との界面及び第
1のスペーサ層30と空気との界面でその一部は
反射されて反射光200となる。反射光200の
大きさ(反射率)は、第1のスペーサ層30の屈
折率と厚さに依存する。第1のスペーサ層30の
材料は耐候性、屈曲率の大きさの観点からスズ酸
化物が選ばれ、その厚さ反射光200を大きくす
るように選ばれる。次に、基板10上に第1のス
ペーサ層30を上記のように設けその上に第2の
スペーサ層40が形成されている第4図に示すよ
うな構成を考える。基板10を通して入射した光
100は、基板10と第1のスペーサ層30との
界面、第1のスペーサ層30と第2のスペーサ層
40との界面、及び第2のスペーサ層40と空気
との界面でその一部は反射されて反射光300と
なる。反射光300の大きさ(反射率)は、第2
のスペーサ層40の屈折率と厚さに依存する。
成により解決される。即ち、基板10と記録層2
0の間に第1のスペーサ層30と第2のスペーサ
層40を設けることにより、媒体の反射率を高め
ることができる。ただし、第1のスペーサ層30
と第2のスペーサ層40の材料及びその厚さは下
記する条件を満すように選択されなければならな
い。まず、基板10の上に第1のスペーサ層30
のみが形成されている第3図に示すような構成を
考える。基板10を通して入射した光100は、
基板10と第1のスペーサ層30との界面及び第
1のスペーサ層30と空気との界面でその一部は
反射されて反射光200となる。反射光200の
大きさ(反射率)は、第1のスペーサ層30の屈
折率と厚さに依存する。第1のスペーサ層30の
材料は耐候性、屈曲率の大きさの観点からスズ酸
化物が選ばれ、その厚さ反射光200を大きくす
るように選ばれる。次に、基板10上に第1のス
ペーサ層30を上記のように設けその上に第2の
スペーサ層40が形成されている第4図に示すよ
うな構成を考える。基板10を通して入射した光
100は、基板10と第1のスペーサ層30との
界面、第1のスペーサ層30と第2のスペーサ層
40との界面、及び第2のスペーサ層40と空気
との界面でその一部は反射されて反射光300と
なる。反射光300の大きさ(反射率)は、第2
のスペーサ層40の屈折率と厚さに依存する。
本発明で使用される第2のスペーサ層40の材
料及び厚さは、この反射光300を小さくするよ
うに選ばれる。即ち、第2のスペーサ層40の屈
折率は第1のスペーサ層30であるスズ酸化物の
屈折率よりも小さいことが必要である。
料及び厚さは、この反射光300を小さくするよ
うに選ばれる。即ち、第2のスペーサ層40の屈
折率は第1のスペーサ層30であるスズ酸化物の
屈折率よりも小さいことが必要である。
以上のべたような条件で第1のスペーサ層と第
2のスペーサ層を設け、その上に記録層を設ける
ことにより反射率が大きく、再生出力の大きい媒
体が得られる。しかしながら、このような媒体を
高温高湿度の条件下に保存した後、光記録再生特
性を測定したところ、特性が劣化していることが
わかつた。本発明者はこの原因を検討したとこ
ろ、スズ酸化物が吸湿して、この膜に隣接してい
る合成樹脂基板の面が反対側の面よりも膨張して
基板がそつたためであることを見出した。
2のスペーサ層を設け、その上に記録層を設ける
ことにより反射率が大きく、再生出力の大きい媒
体が得られる。しかしながら、このような媒体を
高温高湿度の条件下に保存した後、光記録再生特
性を測定したところ、特性が劣化していることが
わかつた。本発明者はこの原因を検討したとこ
ろ、スズ酸化物が吸湿して、この膜に隣接してい
る合成樹脂基板の面が反対側の面よりも膨張して
基板がそつたためであることを見出した。
第1図は本発明の光記録媒体の一例を示す断面
図である。合成樹脂基板10と第1のスペーサ層
であるスズ酸化物層1の間にシリコン酸化物層2
を挿入し、スズ酸化物層1の上に第2のスペーサ
層40、記録層20が順次積層されている構成に
なつている。
図である。合成樹脂基板10と第1のスペーサ層
であるスズ酸化物層1の間にシリコン酸化物層2
を挿入し、スズ酸化物層1の上に第2のスペーサ
層40、記録層20が順次積層されている構成に
なつている。
即ち、シリコン酸化物層を挿入することによ
り、合成樹脂基板を両面の近傍での吸湿量の差を
ほとんどなくすことができたためそりの発生を防
止している。又、シリコン酸化物の屈折率はおよ
そ1.5と合成樹脂基板とほぼ等しいため、屈折率
の大きい第1のスペーサ層、屈折率の小さい第2
のスペーサ層、記録層を順次積層して反射率を増
大させるという媒体構成の光学的特性になんら悪
影響を与えない。
り、合成樹脂基板を両面の近傍での吸湿量の差を
ほとんどなくすことができたためそりの発生を防
止している。又、シリコン酸化物の屈折率はおよ
そ1.5と合成樹脂基板とほぼ等しいため、屈折率
の大きい第1のスペーサ層、屈折率の小さい第2
のスペーサ層、記録層を順次積層して反射率を増
大させるという媒体構成の光学的特性になんら悪
影響を与えない。
本発明で使用される第2のスペーサ層として
は、AlF3、BaF2、CaF2、CeF3、DyF3、ErF3、
EuF3、GdF3、HfF4、HoF3、LaF3、LiF、
MgF2、NaF、NdF3、SmF3、SrF2、YF3、
YbF3等の各種沸化物、Al2O3、CeO2、Dy2O3、
Er2O3、Eu2O3、Gd2O3、GeO2、HfO2、Ho2O3、
In2O3、Lu2O3、MgO、MnO2、MoO3、
SiO2Sm2O3、Y2O3、ZrO2等の各種酸化物、ZrN
等の各種窒化物、ZrO等の各種炭化物、GeS等の
各種硫化物、スーダンブラツクB等の各種有機色
素、クリスタルブアイオレツトラクトン、グアニ
ン等の各種有機物を使用することができる。
は、AlF3、BaF2、CaF2、CeF3、DyF3、ErF3、
EuF3、GdF3、HfF4、HoF3、LaF3、LiF、
MgF2、NaF、NdF3、SmF3、SrF2、YF3、
YbF3等の各種沸化物、Al2O3、CeO2、Dy2O3、
Er2O3、Eu2O3、Gd2O3、GeO2、HfO2、Ho2O3、
In2O3、Lu2O3、MgO、MnO2、MoO3、
SiO2Sm2O3、Y2O3、ZrO2等の各種酸化物、ZrN
等の各種窒化物、ZrO等の各種炭化物、GeS等の
各種硫化物、スーダンブラツクB等の各種有機色
素、クリスタルブアイオレツトラクトン、グアニ
ン等の各種有機物を使用することができる。
記録層としては、各種スクアリリウム色素、各
種ナフトキノン色素、各種アントラキノン色素、
各種シアニン色素、各種フタロシアニン色素、ベ
ンゼンジチオールニツケル錯体等の各種金属錯
体、Te等の低融点金属を含有したプラズマ重合
有機膜、Te等の低融点金属がアルキル基で囲ま
れている有機膜、Te等の低融点金属がフルオロ
カーボンで囲まれている有機膜、Te等の金属の
低級酸化物、低融点金属と絶縁物との混合物等を
用いることができる。この中ではとくに、5−ア
ミノ−8−置換アニリノ−2,3−ジシアノ−
1,4−ナフトキノン色素、5,8−置換アニリ
ノ−2,3−ジシアノ−1,4−ナフトキノン色
素、かあるいはそれらの混合物かあるいはそれら
の金属錯体が望ましく置換基としては、炭素数4
以下のアルコキシル基、アルキル基が最も望まし
い。又、テルルとコバルト酸化物との混合物ある
いはテルルとニツケル酸化物との混合物あるいは
スズとコバルト酸化物との混合物あるいはスズと
ニツケル酸化物との混合物も望ましい。
種ナフトキノン色素、各種アントラキノン色素、
各種シアニン色素、各種フタロシアニン色素、ベ
ンゼンジチオールニツケル錯体等の各種金属錯
体、Te等の低融点金属を含有したプラズマ重合
有機膜、Te等の低融点金属がアルキル基で囲ま
れている有機膜、Te等の低融点金属がフルオロ
カーボンで囲まれている有機膜、Te等の金属の
低級酸化物、低融点金属と絶縁物との混合物等を
用いることができる。この中ではとくに、5−ア
ミノ−8−置換アニリノ−2,3−ジシアノ−
1,4−ナフトキノン色素、5,8−置換アニリ
ノ−2,3−ジシアノ−1,4−ナフトキノン色
素、かあるいはそれらの混合物かあるいはそれら
の金属錯体が望ましく置換基としては、炭素数4
以下のアルコキシル基、アルキル基が最も望まし
い。又、テルルとコバルト酸化物との混合物ある
いはテルルとニツケル酸化物との混合物あるいは
スズとコバルト酸化物との混合物あるいはスズと
ニツケル酸化物との混合物も望ましい。
基板としては種々のものを使用できるが、ポリ
メチルメタクリレート等のアクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂がとくに望ましい。
メチルメタクリレート等のアクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂がとくに望ましい。
実施例 1
以下、本発明の実施例について説明する。内径
15mm、外径120mm、厚さ1.2mmの案内溝付きアクリ
ル樹脂デイスク基板を真空蒸着装置内に入れ、2
×10-5Torr以下に排気した。蒸発源としては抵
抗加熱用ボート(タンタル製)5−アミノ−8−
(p−エトキシアニリノ)−2,3−ジシアノ−
1,4−ナフトキノン色素が95重量%以上含まれ
ているナフトキノン系色素を入れ、電子ビーム加
熱用るつぼにSiO2を入れ、もう一つの電子ビー
ム加熱用るつぼにSnO2を入れた。まず、SiO2を
600〓厚蒸着し、次に、SnO2を1000〓厚蒸着し、
次に、SiO2を575〓厚蒸着し、最後にナフトキノ
ン色素を725〓厚蒸着して光記録媒体を作成した。
この媒体のフラツト部の光学特性を波長8300〓の
平行光で測定したところ、基板入射反射率は約19
%、吸収率は約44%であつた。波長8300〓の
AlGaAs半導体レーザを光学系を用いて収光し、
基板を通して記録層に照射しピツトを形成した。
媒体線速度5m/sec、記録周波数1.2MHz(デユ
ーテイ50%)のときに必要な記録レーザパワーは
8mWであつた。記録されたピツトをレーザパワ
ー0.4mWで再生したところ、バンド幅30KHzの
信号対雑音比(C/N)は60dB、第2高調波対
信号比(2ndH/C)は−29dBと良好な品質の信
号を得た。次に、この光記録媒体を50℃80%の高
温高湿度の環境に120時間保存した後に上記特性
を調べたところ変化はほとんどなかつた。一方、
比較のために作成した基板の上に直接SnO2層が
設けられている媒体ではそりのため記録再生特性
が劣化した。このことから本発明の光記録媒体が
高い耐候性を有していることがわかつた。
15mm、外径120mm、厚さ1.2mmの案内溝付きアクリ
ル樹脂デイスク基板を真空蒸着装置内に入れ、2
×10-5Torr以下に排気した。蒸発源としては抵
抗加熱用ボート(タンタル製)5−アミノ−8−
(p−エトキシアニリノ)−2,3−ジシアノ−
1,4−ナフトキノン色素が95重量%以上含まれ
ているナフトキノン系色素を入れ、電子ビーム加
熱用るつぼにSiO2を入れ、もう一つの電子ビー
ム加熱用るつぼにSnO2を入れた。まず、SiO2を
600〓厚蒸着し、次に、SnO2を1000〓厚蒸着し、
次に、SiO2を575〓厚蒸着し、最後にナフトキノ
ン色素を725〓厚蒸着して光記録媒体を作成した。
この媒体のフラツト部の光学特性を波長8300〓の
平行光で測定したところ、基板入射反射率は約19
%、吸収率は約44%であつた。波長8300〓の
AlGaAs半導体レーザを光学系を用いて収光し、
基板を通して記録層に照射しピツトを形成した。
媒体線速度5m/sec、記録周波数1.2MHz(デユ
ーテイ50%)のときに必要な記録レーザパワーは
8mWであつた。記録されたピツトをレーザパワ
ー0.4mWで再生したところ、バンド幅30KHzの
信号対雑音比(C/N)は60dB、第2高調波対
信号比(2ndH/C)は−29dBと良好な品質の信
号を得た。次に、この光記録媒体を50℃80%の高
温高湿度の環境に120時間保存した後に上記特性
を調べたところ変化はほとんどなかつた。一方、
比較のために作成した基板の上に直接SnO2層が
設けられている媒体ではそりのため記録再生特性
が劣化した。このことから本発明の光記録媒体が
高い耐候性を有していることがわかつた。
実施例 2
実施例1と同様にしてアクリル樹脂デイスク基
板の上に600Å圧のSiO2、1000Å厚のSnO2、1200
Å厚のクリスタルブアイオレツトラクトンを設
け、しかる後に記録層として15Å厚のAuと300Å
厚の実施例1のナフトキノン色素を順次積層して
光記録媒体を作製した。これを実施例1と同様に
して評価したところ、記録レーザパワー7mWで
54dBのC/N、−33dBの2ndH/Cが得られ、高
温高湿度下の保存性も良好であつた。
板の上に600Å圧のSiO2、1000Å厚のSnO2、1200
Å厚のクリスタルブアイオレツトラクトンを設
け、しかる後に記録層として15Å厚のAuと300Å
厚の実施例1のナフトキノン色素を順次積層して
光記録媒体を作製した。これを実施例1と同様に
して評価したところ、記録レーザパワー7mWで
54dBのC/N、−33dBの2ndH/Cが得られ、高
温高湿度下の保存性も良好であつた。
実施例 3
実施例1と同様にしてアクリル樹脂デイスク基
板の上に600Å厚のSiO2、1000Å厚のSnO2、1200
Å厚のクリスタルヴアイオレツトラクトンを設
け、しかる後に記録層として30Å厚のAuと600Å
厚の実施例1のナフトキノン色素を順次積層して
光記録媒体を作製した。これを実施例1と同様に
して評価したところ、記録レーザパワー5mWで
48dBのC/N、−36dBの2ndH/Cが得られ、高
温高湿度下の保存性も良好であつた。
板の上に600Å厚のSiO2、1000Å厚のSnO2、1200
Å厚のクリスタルヴアイオレツトラクトンを設
け、しかる後に記録層として30Å厚のAuと600Å
厚の実施例1のナフトキノン色素を順次積層して
光記録媒体を作製した。これを実施例1と同様に
して評価したところ、記録レーザパワー5mWで
48dBのC/N、−36dBの2ndH/Cが得られ、高
温高湿度下の保存性も良好であつた。
以上の実施例ではSiO2(575Å層)やクリスタ
ルヴアイオレツトラクトンの第2のスペーサ層を
用いたが、これは必ずしも必要ではなく、より優
れた記録再生特性を得るために用いた。第2のス
ペーサ層はなくしても耐候性に優れた光記録媒体
が得られる。
ルヴアイオレツトラクトンの第2のスペーサ層を
用いたが、これは必ずしも必要ではなく、より優
れた記録再生特性を得るために用いた。第2のス
ペーサ層はなくしても耐候性に優れた光記録媒体
が得られる。
(発明の効果)
上記実施例から明らかなように、本発明により
耐候性がよくかつ高感度で信号品質の良好な光記
録媒体が得られる。
耐候性がよくかつ高感度で信号品質の良好な光記
録媒体が得られる。
第1図は本発明の光記録媒体の1実施例の断面
図であり、第2図、第3図、第4図は原理を説明
するための概略図である。 図において、1はスズ酸化物層、2はシリコン
酸化物層、10は基板、20は記録層、30は第
1のスペーサ層、40は第2のスペーサ層、10
0は入射光、200,300は反射光を示す。
図であり、第2図、第3図、第4図は原理を説明
するための概略図である。 図において、1はスズ酸化物層、2はシリコン
酸化物層、10は基板、20は記録層、30は第
1のスペーサ層、40は第2のスペーサ層、10
0は入射光、200,300は反射光を示す。
Claims (1)
- 1 基板の片側にスズ酸化物を主成分とする層を
設け、レーザ光の照射によつて情報を記録しかつ
読みとる光記録媒体において、前記基板と前記ス
ズ酸化物を主成分とする層との間にシリコン酸化
物層を形成したことを特徴とする光記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60287357A JPS62145551A (ja) | 1985-12-19 | 1985-12-19 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60287357A JPS62145551A (ja) | 1985-12-19 | 1985-12-19 | 光記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62145551A JPS62145551A (ja) | 1987-06-29 |
JPH0443331B2 true JPH0443331B2 (ja) | 1992-07-16 |
Family
ID=17716319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60287357A Granted JPS62145551A (ja) | 1985-12-19 | 1985-12-19 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62145551A (ja) |
-
1985
- 1985-12-19 JP JP60287357A patent/JPS62145551A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62145551A (ja) | 1987-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20010021658A (ko) | 재기록가능한 광 정보매체 | |
JPH0415115B2 (ja) | ||
KR100731472B1 (ko) | 광기록재생방법과 광기록매체 | |
CN100365720C (zh) | 光学信息记录介质及其制造方法 | |
KR20030094048A (ko) | 광기록재생방법과 광기록매체 | |
US4763139A (en) | Optical information storage medium | |
US4740447A (en) | Optical recording medium | |
JPH034974B2 (ja) | ||
EP1199184A1 (en) | Write-once optical record medium | |
KR20030094051A (ko) | 광기록재생방법과 광기록매체 | |
JPH0443331B2 (ja) | ||
US6855479B2 (en) | Phase-change optical recording media | |
KR100678300B1 (ko) | 광기록재생방법과 광기록매체 | |
JPH0447909B2 (ja) | ||
JPH0544737B2 (ja) | ||
JP2969638B2 (ja) | 光記録媒体 | |
JP2551930B2 (ja) | 光記録媒体 | |
JP3602589B2 (ja) | 光記録媒体および光記録方法 | |
JPS62125552A (ja) | 光記録媒体 | |
KR100258938B1 (ko) | 상변화형 광디스크 | |
JP2940176B2 (ja) | 光学記録媒体およびその記録再生方法 | |
JPH0750533B2 (ja) | 光記録媒体 | |
JPH0480454B2 (ja) | ||
JPH0654549B2 (ja) | 光記録媒体 | |
KR100263884B1 (ko) | 상변화형광디스크 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |