JPH0442713B2 - - Google Patents

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JPH0442713B2
JPH0442713B2 JP62076718A JP7671887A JPH0442713B2 JP H0442713 B2 JPH0442713 B2 JP H0442713B2 JP 62076718 A JP62076718 A JP 62076718A JP 7671887 A JP7671887 A JP 7671887A JP H0442713 B2 JPH0442713 B2 JP H0442713B2
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current mirror
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transistor
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【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は二つのデイジタル信号の比較を行な
うデイジタルコンパレータ回路に関する。
(従来の技術) 第6図は2ビツトのデイジタル信号A,Bの比
較を行なう従来の2ビツトデイジタルコンパレー
タ回路の回路図であり、一方のデイジタル信号A
の上位ビツトA1及び下位ビツトA0と、他方のデ
イジタル信号Bの上位ビツトB1及び下位ビツト
B0の大小関係に基づき、A>B、A=B、A<
Bの各出力端子から“1”の信号を出力する。
この回路において、例えば上位ビツトA1が
“1”、B1が“0”のときには下位ビツトにかか
わりなくA>Bである。このとき、インバータ5
1の出力が“1”となり、このインバータ51の
出力とA1が入力されているナンドゲート52の
出力は“0”となる。このため、このナンドゲー
ト52の出力が入力されているナンドゲート53
の出力は“1”となり、A>Bの出力端子に
“1”の信号が出力される。
また、上記とは逆に上位ビツトB1が“1”、
A1が“0”のときには下位ビツトにかかわりな
くA<Bである。このとき、インバータ54の出
力が“1”となり、このインバータ54の出力と
B1が入力されているナンドゲート55の出力は
“0”となる。このため、このナンドゲート55
の出力が入力されているナンドゲート56の出力
は“1”となり、A<Bの出力端子には“1”の
信号が出力される。
このように上記コンパレータ回路はデイジタル
信号AとBの大小を比較し、その比較結果に基づ
いて3ビツトの判定信号を出力する。
ところで、このコンパレータ回路はナンドゲー
トやオアゲートなどの論理ゲートで構成されてお
り、6個のナンドゲート、2個のオアゲート、1
個のノアゲート及び4個のインバータが必要であ
る。このため、この回路を集積化する場合に素子
数が多くなるという欠点がある。
このことは比較すべきデイジタル信号のビツト
数が増加するのに伴つて顕著になる。例えば、4
ビツトコンパレータ回路の場合には第7図に示す
ように、それぞれ第6図と同様の構成の2個の2
ビツトコンパレータ回路61,62が必要にな
る。しかも、4ビツトどうしを比較する場合には
図示のような比較判定回路63がさらに必要とな
る。また、8ビツトコンパレータ回路の場合には
第8図に示すように、それぞれ第6図と同様の構
成の4個の2ビツトコンパレータ回路71〜74
が必要であり、また4ビツトの場合よりもゲート
数が多い比較判定回路75も必要である。
(発明が解決しようとする問題点) このように従来のデイジタルコンパレータ回路
では、デイジタル的な比較処理によつて判定信号
を出力するようにしているので素子数が多くなる
という欠点がある。
この発明は上記のような事情を考慮してなされ
たものであり、その目的は、回路構成が簡単であ
り、素子数を削減することができるデイジタルコ
ンパレータ回路を提供することにある。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明のデイジタルコンパレータ回路は、電
流入力端及び電流出力端を有する電流ミラー回路
と、上記電流ミラー回路の電流出力端に接続さ
れ、第1のデイジタル信号の各ビツトの論理状態
に対応した値の電流を電流ミラー回路に供給する
第1の電流発生手段と、上記電流ミラー回路の出
力端に接続され上記第1のデイジタル信号とビツ
ト数が等しい第2のデイジタル信号の各ビツトの
論理状態に対応した値の電流を上記電流ミラー回
路から取出す第2の電流発生手段とから構成さ
れ、電流ミラー回路の電流出力端から第1、第2
のデイジタル信号の大小関係に対応したアナログ
電圧を得るようにしている。
(作用) この発明のデイジタルコンパレータ回路では、
第1、第2の電流発生手段の電流差に基づいて電
流ミラー回路の電流出力端のアナログ電圧を変化
させるようにしている。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明を実施例に基づ
いて説明する。
第1図はこの発明のデイジタルコンパレータ回
路を2ビツト2コンパレータ回路に実施した場合
の構成を示す回路図である。図において、Pチヤ
ネルMOSトランジスタ11のソースは高電位の
電源Vccに接続されており、ゲートとドレインが
接続されている。もう1個のPチヤネルMOSト
ランジスタ12のソースも電源Vccに接続されて
おり、ゲートは上記トランジスタ11のゲートに
接続されている。すなわち、上記両トランジスタ
11,12はトランジスタ11のドレインを電流
入力端、トランジスタ12のドレインを電流出力
端とする電流ミラー回路13を構成しており、そ
の電流比は1に設定されている。
上記電流ミラー回路13の電流入力端であるト
ランジスタ11のドレインには3個のNチヤネル
MOSトランジスタ14,150,151それぞれ
のドレインが共通に接続されている。これら3個
のトランジスタのソースは共にアースVssに接続
されている。このうち、トランジスタ14(第1
のトランジスタ)のゲートには“1”に相当する
電源Vccが供給され、このトランジスタ14は常
時、導通状態にされている。また、トランジスタ
150,151(第2のトランジスタ)の各ゲート
には一方のデイジタル信号Aの下位ビツトA0、
上位ビツトA1が供給される。これら3個のトラ
ンジスタは、上記電流ミラー回路13に一方のデ
イジタル信号Aに応じた電流を供給する電流発生
回路16を構成しており、これらトランジスタ1
4,150,151は、ゲートに“1”が印加され
て導通状態にされたときにそれぞれI0,I1,I2(た
だし、I0<I1<I2とする)の電流を流すようにチ
ヤネル幅Wなどの素子定数が設定されている。
上記電流ミラー回路13の電流出力端であるト
ランジスタ12のドレインにも3個のNチヤネル
MOSトランジスタ17,180,181それぞれ
のドレインが共通に接続され、これら3個のトラ
ンジスタのソースは共にアースVssに接続されて
いる。このうち、トランジスタ17(第3のトラ
ンジスタ)のゲートには電源Vccが供給されてい
る。また、トランジスタ180,181(第4のト
ランジスタ)の各ゲートには他方のデイジタル信
号Bの下位ビツトB0、上位ビツトB1が供給され
る。これら3個のトランジスタは、上記電流ミラ
ー回路13から他方のデイジタル信号Bに応じた
電流を取出す電流発生回路19を構成しており、
これらトランジスタ17,180,181はそれぞ
れ上記トランジスタ14,150,151のうち対
応するものと等価にされている。
また、電流ミラー回路13を構成するトランジ
スタ12のドレインにはアナログ電圧の出力端子
20が設けられている。
このような構成において、まず、A>Bの場
合、例えばA1=“1”、A0=“1”でB1=“0”、
B0=“0”のときを考える。このとき、電流発生
回路16ではトランジスタ150,151が共に導
通するので、電流ミラー回路13の電流入力端に
はI0+I1+I2の電流が供給される。従つて、電流
ミラー回路13の電流出力端からはこれと同値の
電流が流れ出ようとする。このとき、電流発生回
路19ではトランジスタ180,181が共に非導
通にされており、I0の電流を流すトランジスタ1
7のみが導通しているので、電流ミラー回路13
の電流出力端からの電流はトランジスタ17のみ
では放電しきれず、この結果、差し引きI1+I2
電流により出力端子20がVccまで充電され、ア
ナログ電圧はVccとなる。
A>Bとなる他の場合、例えばA1=“1”、A0
=“0”でB1=“0”、B0=“1”のときには、電
流発生回路16ではトランジスタ14と151
よる電流I0+I2が流れる。電流発生回路19では
トランジスタ17と180による電流I0+I1が流れ
る。この場合には差し引きI2−I1の電流により出
力端子20がVccまで充電され、アナログ電圧は
Vccとなる。すなわち、A>Bのときに出力端子
20のアナログ電圧はVccとなる。
次にA<Bの場合、例えばA1=“0”、A0=
“0”でB1=“1”、B0=“1”のときを考える。
このとき、電流発生回路16ではトランジスタ1
4のみの電流I0が流れ、電流発生回路19ではト
ランジスタ17,180,181による電流I0+I1
+I2が流れようとする。この結果、電流ミラー回
路13の電流出力端からの電流I0は電流発生回路
19のトランジスタ17,180,181で放電さ
れ、出力端子20のアナログ電圧はVssとなる。
A<Bとなる他の場合、例えばA1=“0”、A0
=“1”でB1=“1”、B0=“0”のときには、電
流発生回路16ではトランジスタ14と150
よる電流I0+I1が流れる。電流発生回路19では
トランジスタ17と181による電流I0+I2が流れ
ようとする。この場合、I2>I1なので、電流ミラ
ー回路13の電流出力端からの電流I1は電流発生
回路19のトランジスタ181で放電され、出力
端子20のアナログ電圧はVssとなる。すなわ
ち、A<Bのときに出力端子20のアナログ電圧
はVssとなる。
次にA=Bの場合、例えばA1=“1”、A0=
“1”でB1=“1”、B0=“1”のときを考える。
このとき、電流発生回路16ではトランジスタ1
4,150,151による電流I0+I1+I2が流れる。
電流発生回路19でもトランジスタ17,180
181による電流I0+I1+I2が流れようとする。こ
の結果、電流ミラー回路13の入出力電流が等し
くなり、出力端子20のアナログ電圧はVccと
Vssの中間の値となる。
A=Bとなる他の場合、例えばA1=“0”、A0
=“0”でB1=“0”、B0=“0”のときには、電
流発生回路16ではトランジスタ14による電流
I0のみが流れ、電流発生回路19ではトランジス
タ17による電流I0のみが流れる。この結果、電
流ミラー回路13の入出力電流が等しくなり、出
力端子20のアナログ電圧はVccとVssの中間の
値となる。ここで、電流発生回路16内のトラン
ジスタ14と電流発生回路19内のトランジスタ
17とは、このA1=“0”、A0=“0”でB1=
“0”、B0=“0”のときに、出力端子20がフロ
ーテイング状態となり、出力電圧が定まらないこ
とを防止するために設けられている。このよう
に、A=Bのときには出力端子20のアナログ電
圧は中間の電圧となる。
このように上記実施例回路ではデイジタル信号
A,Bの大小関係に応じて出力端子20には3値
のアナログ電圧が出力される。すなわち、この回
路はコンパレータとして作用することになる。
ここで、上記実施例回路はわずか8個のトラン
ジスタのみで構成されており、回路構成が極めて
簡単であり、従来回路に比べて素子数が大幅に削
減できることは明らかである。すなわち、第6図
の従来回路において、2入力ナンドゲートとして
CMOS型のものを使用する場合にはこれ1個の
みで4個のトランジスタが必要になる。
ところで、上記実施例回路ではデイジタル信号
A,Bの大小比較結果が3値のアナログ電圧とし
て出力される。従つて、この比較結果をデイジタ
ル信号として得るには、上記第1図の回路で得ら
れたアナログ電圧に基づいて3ビツトの判定信号
を出力する電圧比較回路を設ければよい。
第2図はこの電圧比較回路の具体的な構成を示
す回路図である。
前記第1図の出力端子20の電圧は、Pチヤネ
ルMOSトランジスタ31,32,33とNチヤ
ネルMOSトランジスタ34,35,36とから
なるレベルコンパレータ37内のトランジスタ3
4のゲートに供給される。
一方、VccとVssとの間には3個の抵抗38,
39,40が直列接続されており、抵抗38と3
9の直列接続点の電圧がトランジスタ36のゲー
トに、抵抗39と40の直列接続点の電圧がトラ
ンジスタ35のゲートに供給される。
ここで、抵抗38,39,40の抵抗値の調整
により、トランジスタ36のゲートに供給されて
いる電圧はVccと、前記出力端子20で得られる
VccとVssの中間電圧との間の範囲に設定されて
おり、トランジスタ35のゲートに供給されてい
る電圧は前記出力端子20で得られるVccとVss
の中間電圧と、Vssとの間の範囲に設定されてい
る。すなわち、トランジスタ36のゲート電圧を
V1、トランジスタ35のゲート電圧をV2、出
力端子20で得られるVccとVssの中間電圧をV
3とすると、Vcc>V1>V3であり、またV3
>V2>Vssである。
従つて、出力端子20で得られるアナログ電圧
がVccのときには、レベルコンパレータ37内の
トランジスタ35のドレイン信号Cが“1”、ト
ランジスタ36のドレイン信号がD“1”となり、
第2図中のA>Bを示すアンドゲート41の信号
が“1”となる。
出力端子20で得られるアナログ電圧がVssの
ときは、レベルコンパレータ37内のトランジス
タ35のドレイン信号Cが“0”、トランジスタ
36のドレイン信号がD“0”となり、第2図中
のA<Bを示すノアゲート42の信号が“1”と
なる。
さらに、出力端子20で得られるアナログ電圧
が中間電圧V3のときには、レベルコンパレータ
37内のトランジスタ35のドレイン信号Cが
“1”、トランジスタ36のドレイン信号がD“0”
となり、第2図中のA=Bを示すノアゲート43
の信号が“1”となる。
ところで、この発明のデイジタルコンパレータ
回路は、比較すべきデイジタル信号のビツト数が
増加する程、素子数の削減効果が顕著となる。以
下にこのことを他の実施例を用いて説明する。
第3図はこの発明のデイジタルコンパレータ回
路を4ビツトコンパレータ回路に実施した場合の
構成を示す回路図である。この実施例回路では、
電流発生回路16及び19に前記フローテイング
防止用の前記トランジスタ14,17の他に、そ
れぞれデイジタル信号A,Bのビット数分のトラ
ンジスタを設ければよい。ただし、この場合、
A0,A1,A2,A3の各ビット信号が印加される
トランジスタ150,151,152,153(第2
のトランジスタ)は、ゲートに“1”が印加され
て導通状態にされたときそれぞれI1,I2,I3,I4
(ただし、I1<I2<I3<I4とする)の電流を流すよ
うにチヤネル幅Wなどの素子定数が設定されてお
り、B0,B1,B2,B3の各ビツト信号が印加さ
れるトランジスタ180,181,182,183
(第4のトランジスタ)はそれぞれ上記トランジ
スタ15のうち対応するものと等価にされてい
る。
このように4ビツトのデイジタル信号を比較す
るコンパレータ回路は、前記第1図に示す2ビツ
トのものに比べ、トランジスタの増加分はわずか
4個だけである。
なお、この実施例の回路の場合にも、出力端子
20で得られた3値のアナログ電圧からデイジタ
ル信号を得るには、上記第2図の電圧比較回路を
使用すればよい。
この発明をさらに発展させれば、第4図の実施
例に示すような8ビツトコンパレータ回路も表現
できる。この実施例回路では、電流発生回路16
及び19に前記フローテイング防止用の前記トラ
ンジスタ14,17の他に、それぞれデイジタル
信号A,Bのビツト数分のトランジスタを設ける
ようにしたものである。ただし、この場合、A0
〜A7の各ビツト信号が印加されるトランジスタ
150〜157(第2のトランジスタ)は、ゲート
に“1”が印加されて導通状態にされたときにそ
れぞれI1〜I8(ただし、I1<I2<I3<I4<I5<I6<I7
<I8する)の電流を流すようにチヤネル幅Wなど
の素子定数が設定されており、B0〜B7の各ビツ
ト信号が印加されるトランジスタ180〜187
(第4のトランジスタ)はそれぞれ上記トランジ
スタ15のうち対応するものと等価にされてい
る。
このように8ビツトのデイジタル信号を比較す
るコンパレータ回路は、前記第1図に示す2ビツ
トのものに比べ、トランジスタの増加分はわずか
12個だけである。
ところで、上記各実施例回路ではデイジタル信
号A,Bに応じた電流を発生し、その差の電流に
応じて出力端子20の電圧を設定するように構成
されているが、これはデイジタル信号A,Bに応
じた電圧を発生し、この電圧差を出力として取出
すように構成してもよい。
第5図はこのような考え方を実現したこの発明
の他の実施例の構成を示す回路図である。すなわ
ち、この実施例回路では、トランジスタ14,1
0,151からなる電流発生回路16で発生され
る電流をPチヤネルMOSトランジスタ21を負
荷として用いることにより電圧に変換し、同様に
トランジスタ17,180,181からなる電流発
生回路19で発生される電流をPチヤネルMOS
トランジスタ22を負荷として用いることにより
電圧に変換し、両電圧を、PチヤネルMOSトラ
ンジスタ23,24からなる電流ミラー型負荷回
路とNチヤネルの駆動MOSトランジスタ25,
26とで構成された差動増幅回路27に供給する
ことにより、出力端子28から前記と同様の3値
のアナログ電圧を得るようにしたものである。
この実施例の場合にも、出力端子28で得られ
た3値のアナログ電圧からデイジタル信号を得る
には、前記第2図の電圧比較回路が使用される。
この実施例回路は2ビツト比較型のものであ
り、前記第1図に示すものに比べて素子数は増加
するが、前記第6図の従来回路に比べれば素子数
の大幅な削減が可能である。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、回路構
成が簡単であり、素子数を削減することができる
デイジタルコンパレータ回路を提供することにあ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の構成を示す回路
図、第2図は上記実施例回路で使用される電圧比
較回路の回路図、第3図はこの発明の他の実施例
の構成を示す回路図、第4図はこの発明のさらに
他の実施例施例の構成を示す回路図、第5図はこ
の発明の別の実施例施例の構成を示す回路図、第
6図ないし第8図はそれぞれ従来回路の回路図で
ある。 11,12……PチヤネルMOSトランジスタ、
13……電流ミラー回路、14,15,17,1
8……NチヤネルMOSトランジスタ、16,1
9……電流発生回路、20……出力端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 電流入力端及び電流出力端を有する電流ミラ
    ー回路と、 上記電流ミラー回路の電流出力端に接続された
    アナログ電圧出力端子と、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流入力端に接続されゲートに所定バイアス
    電圧が供給され、上記電流ミラー回路の電流入力
    端に一定電流I0を常時入力する第1のトランジス
    タと、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流入力端にそれぞれ接続され、各ゲートに
    第1のデイジタル信号の各ビツト信号が入力さ
    れ、それぞれ値が異なる電流I1,l2…を上記電流
    ミラー回路の電流入力端に入力する複数の第2の
    トランジスタと、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流出力端に接続されゲートに所定バイアス
    電圧が供給され、上記電流ミラー回路の電流出力
    端から上記第1のトランジスタと等価な値の一定
    電流I0を常時出力させる第3のトランジスタと、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流出力端にそれぞれ接続され、各ゲートに
    第2のデイジタル信号の各ビツト信号が入力さ
    れ、それぞれ値が異なる電流I1,l2…を上記電流
    ミラー回路の電流出力端から出力させる複数の第
    4のトランジスタとを具備し、 上記アナログ電圧出力端子から上記第1、第2
    のデイジタル信号の大小関係に応じて大中小の3
    値のアナログ電圧を得るように構成したことを特
    徴とするデイジタルコンパレータ回路。 2 電流入力端及び電流出力端を有する電流ミラ
    ー回路と、 上記電流ミラー回路の電流出力端に接続された
    アナログ電圧出力端子と、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流入力端に接続されゲートに所定バイアス
    電圧が供給され、上記電流ミラー回路の電流入力
    端に一定電流I0を常時入力する第1のトランジス
    タと、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流入力端にそれぞれ接続され、各ゲートに
    第1のデイジタル信号の各ビツト信号が入力さ
    れ、それぞれ値が異なる電流I1,l2…を上記電流
    ミラー回路の電流入力端に入力する複数の第2の
    トランジスタと、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流出力端に接続されゲートに所定バイアス
    電圧が供給され、上記電流ミラー回路の電流出力
    端から上記第1のトランジスタと等価な値の一定
    電流I0を常時出力させる第3のトランジスタと、 ソース・ドレイン間の一端が上記電流ミラー回
    路の電流出力端にそれぞれ接続され、各ゲートに
    第2のデイジタル信号の各ビツト信号が入力さ
    れ、それぞれ値が異なる電流I1,l2…を上記電流
    ミラー回路の電流出力端から出力させる複数の第
    4のトランジスタと、 上記アナログ電圧出力端子に得られるアナログ
    電圧を2値の基準アナログ電圧と比較して上記第
    1、第2のデイジタル信号の大小関係に応じた3
    種類のデイジタル信号を発生する電圧比較手段と
    を具備したことを特徴とするデイジタルコンパレ
    ータ回路。
JP62076718A 1987-03-30 1987-03-30 ディジタルコンパレ−タ回路 Granted JPS63241675A (ja)

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