JPH0437921B2 - - Google Patents
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- JPH0437921B2 JPH0437921B2 JP59259489A JP25948984A JPH0437921B2 JP H0437921 B2 JPH0437921 B2 JP H0437921B2 JP 59259489 A JP59259489 A JP 59259489A JP 25948984 A JP25948984 A JP 25948984A JP H0437921 B2 JPH0437921 B2 JP H0437921B2
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- JP
- Japan
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- spherical surface
- light
- pattern
- line
- hologram pattern
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 101100107064 Drosophila melanogaster Zasp52 gene Proteins 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005210 holographic interferometry Methods 0.000 description 1
- 238000001093 holography Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/04—Processes or apparatus for producing holograms
- G03H1/08—Synthesising holograms, i.e. holograms synthesized from objects or objects from holograms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
- Image Generation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は計測等の分野で利用されるホログラム
パターンの作成方法に関するものである。
パターンの作成方法に関するものである。
従来の技術
光を用いた計測法は、非接触で対象物の計測が
でき、得られる測定結果も二次元的なパターンで
あることが多い。しかもこれらが実時間で行える
ところに大きな特徴がある。この光計測技術にお
ける最大の成果の一つにホログラムを利用した一
連の技術がある。物体からくる波面と参照波面と
呼ばれる別の波面との干渉によつて被写体の情報
をすべて記録するこの新しい写真法は、もとの被
写体からの波面そのものを再生することができる
ので、三次元的に物体の像を結像できる。現在で
はこの三次元的記録と再生にとどまらずさまざま
な計測法(ホログラフイ干渉法)、光情報処理、
光メモリー、スキヤナなど広い分野に応用の目が
向けられている。
でき、得られる測定結果も二次元的なパターンで
あることが多い。しかもこれらが実時間で行える
ところに大きな特徴がある。この光計測技術にお
ける最大の成果の一つにホログラムを利用した一
連の技術がある。物体からくる波面と参照波面と
呼ばれる別の波面との干渉によつて被写体の情報
をすべて記録するこの新しい写真法は、もとの被
写体からの波面そのものを再生することができる
ので、三次元的に物体の像を結像できる。現在で
はこの三次元的記録と再生にとどまらずさまざま
な計測法(ホログラフイ干渉法)、光情報処理、
光メモリー、スキヤナなど広い分野に応用の目が
向けられている。
計測の分野、特に、非球面のミラー、レンズ等
の非球面形状を測定する場合においては、コンピ
ユータホログラム(CGH)を使用することが非
常に有効である。そしてこのようなコンピユータ
ホログラムでは表に示された例が代表的である。
このうち、干渉型ホログラムを使用した例におい
ては、「計算機ホログラムを用いた非球面の干渉
測定」、谷田貝他、光学第3巻第3号(1974年6
月)第133頁乃至第134頁に示されるように、描画
パターンが被測対象である非球面形状と参照球面
形状の差分の2倍の形状の反射波面を有する反射
波と傾斜した平面波との干渉縞として得られる。
ここで、差分の2倍の形状とは、球面の中心点か
らある方向に同点を端点とする半直線を引き、そ
れと球面及び非球面との交点の間の距離に等しい
距離の2倍の前記中心点から前記半直線上にとる
ことにより差分点を設定し、前記方向を変えてで
きる差分点を結んでできるパターンをいう。この
様子は第3図に示され、符号10が差分の反射波
面、符号11が傾斜した平面波を表わす。なお、
本図は、反射波面の進行方向をZ軸、波面の広が
りをX、Y軸に表現した場合のX−Z断面におけ
る干渉の状態を示したものである。図中の黒丸に
示すX座標を有する位置に干渉縞の明部が位置す
ることとなる。
の非球面形状を測定する場合においては、コンピ
ユータホログラム(CGH)を使用することが非
常に有効である。そしてこのようなコンピユータ
ホログラムでは表に示された例が代表的である。
このうち、干渉型ホログラムを使用した例におい
ては、「計算機ホログラムを用いた非球面の干渉
測定」、谷田貝他、光学第3巻第3号(1974年6
月)第133頁乃至第134頁に示されるように、描画
パターンが被測対象である非球面形状と参照球面
形状の差分の2倍の形状の反射波面を有する反射
波と傾斜した平面波との干渉縞として得られる。
ここで、差分の2倍の形状とは、球面の中心点か
らある方向に同点を端点とする半直線を引き、そ
れと球面及び非球面との交点の間の距離に等しい
距離の2倍の前記中心点から前記半直線上にとる
ことにより差分点を設定し、前記方向を変えてで
きる差分点を結んでできるパターンをいう。この
様子は第3図に示され、符号10が差分の反射波
面、符号11が傾斜した平面波を表わす。なお、
本図は、反射波面の進行方向をZ軸、波面の広が
りをX、Y軸に表現した場合のX−Z断面におけ
る干渉の状態を示したものである。図中の黒丸に
示すX座標を有する位置に干渉縞の明部が位置す
ることとなる。
発明が解決しようとする問題点
以上のようなホログラムパターン(例えば、
『ホログラフイー入門』村田和美著(株)朝倉書店発
行)は、ニユートン法の収束計算や、座標上で、
必要な2変数x,yの値を少しずつ変化させ作成
していた。
『ホログラフイー入門』村田和美著(株)朝倉書店発
行)は、ニユートン法の収束計算や、座標上で、
必要な2変数x,yの値を少しずつ変化させ作成
していた。
しかし、ニュートン法により作成する場合は多
大の収束誤差を含み、また座標上で、必要な2変
数x,yの値を少しずつ変化させる場合は変数
x,yの値の変化分より小さな値が特定できない
という計算誤差を生じる。例えば、描画すべき干
渉縞パターンは、第3図において示す黒丸の点
を、縞次数mおよびyの値を適当に変化させなが
ら対応するxの値を計算で求め、同一次数の各座
標(x,y)のうち隣接するもの同士を連続線
(直線または曲線)で結び、ホログラムパターン
としている。第4図は、その描画状態を詳細に示
している。第4図においては、縞次数1のときに
yを適当に変化させながら、計算により、対応す
るxを求めることにより各座標(x,y)を求
め、それらのうち隣接するもの同士を結んで縞次
数1のときの連続線を得、同様に、縞次数2,
3,…についても、この一連の操作をくり返すこ
とにより各連続線を得ることができる。
大の収束誤差を含み、また座標上で、必要な2変
数x,yの値を少しずつ変化させる場合は変数
x,yの値の変化分より小さな値が特定できない
という計算誤差を生じる。例えば、描画すべき干
渉縞パターンは、第3図において示す黒丸の点
を、縞次数mおよびyの値を適当に変化させなが
ら対応するxの値を計算で求め、同一次数の各座
標(x,y)のうち隣接するもの同士を連続線
(直線または曲線)で結び、ホログラムパターン
としている。第4図は、その描画状態を詳細に示
している。第4図においては、縞次数1のときに
yを適当に変化させながら、計算により、対応す
るxを求めることにより各座標(x,y)を求
め、それらのうち隣接するもの同士を結んで縞次
数1のときの連続線を得、同様に、縞次数2,
3,…についても、この一連の操作をくり返すこ
とにより各連続線を得ることができる。
すなわち、上記のような方法で得られるものは
近似値にすぎず、さらにはこれらの方法でホログ
ラムパターンを作成するには非常に時間を要す
る。
近似値にすぎず、さらにはこれらの方法でホログ
ラムパターンを作成するには非常に時間を要す
る。
本発明は上記欠点に鑑み、高速で、かつ正確
に、さらには容易にホログラムパターンを作成す
ることのできる方法を提供するものである。
に、さらには容易にホログラムパターンを作成す
ることのできる方法を提供するものである。
問題点を解決するための手段
本発明は透光性を持つ部分と透光性を持たない
部分とを有する平面上に存在し、前記平面に垂直
に入射する平面波である入射光が,照射されるこ
とにより透過光の波面形状が式Zsp(φ)であらわ
される球面と式Zasp(φ)であらわされる非球面
とを用い、前記球面の中心点からある方向に同点
を端点とする半直線を引き、それと前記球面及び
前記非球面との交点の間の距離に等しい距離の2
倍を前記中心点から前記半直線上にとることによ
り差分点を設定し、前記方向を変えてできる差分
点を結んでできるパターンで定義される差分の2
倍の形状となるホログラムパターンを作成する方
法であつて、任意の縞次数mに対して任意の複数
のφの値を与え、前記複数のφの値について、 x=(Zasp(φ)−Zsp(φ)−mλ)/A y=±√2−2 であらわされるx,yから、前記平面上の直交座
標系における複数の座標点(x,y)を求め、前
記複数の座標点同士を結ぶ直線または曲線を形成
し、同様に前記任意の縞次数とは異なる複数の縞
次数についての複数の直線または曲線を形成し、
前記形成された直線または曲線が前記透光性を持
つ部分と透光性を持たない部分となるように所定
のパターンを形成することにより非球面形状測定
用のホログラムパターンを作成する方法である。
部分とを有する平面上に存在し、前記平面に垂直
に入射する平面波である入射光が,照射されるこ
とにより透過光の波面形状が式Zsp(φ)であらわ
される球面と式Zasp(φ)であらわされる非球面
とを用い、前記球面の中心点からある方向に同点
を端点とする半直線を引き、それと前記球面及び
前記非球面との交点の間の距離に等しい距離の2
倍を前記中心点から前記半直線上にとることによ
り差分点を設定し、前記方向を変えてできる差分
点を結んでできるパターンで定義される差分の2
倍の形状となるホログラムパターンを作成する方
法であつて、任意の縞次数mに対して任意の複数
のφの値を与え、前記複数のφの値について、 x=(Zasp(φ)−Zsp(φ)−mλ)/A y=±√2−2 であらわされるx,yから、前記平面上の直交座
標系における複数の座標点(x,y)を求め、前
記複数の座標点同士を結ぶ直線または曲線を形成
し、同様に前記任意の縞次数とは異なる複数の縞
次数についての複数の直線または曲線を形成し、
前記形成された直線または曲線が前記透光性を持
つ部分と透光性を持たない部分となるように所定
のパターンを形成することにより非球面形状測定
用のホログラムパターンを作成する方法である。
ここで、球面の式は、
Zsp(φ)=Dsp−√sp 2−2
非球面の式は、
Zasp(φ)=o
〓i=1
Aiφ2×i
もしくは、
またmは整数、nは0以上の整数、λは入射光
の波長、Aは入射光に関する定数、Dspは球中心
と原点との距離、Rspは球半径、Rは非球面曲率
半径、Ai、Kは非球面の定数(Ap=0)である。
の波長、Aは入射光に関する定数、Dspは球中心
と原点との距離、Rspは球半径、Rは非球面曲率
半径、Ai、Kは非球面の定数(Ap=0)である。
作 用
本発明は上記方法によりホログラムパターンを
作成するために、ニュートン法等による収束誤差
や、変数変化による計算誤差を生じない。また正
確で、高速に、かつ容易にホログラムパターンを
作成することができる。
作成するために、ニュートン法等による収束誤差
や、変数変化による計算誤差を生じない。また正
確で、高速に、かつ容易にホログラムパターンを
作成することができる。
実施例
以下、本発明の一実施例について説明する。
なお、以下に説明するホログラムパターンは透
光性を持つ部分と透光性の無い部分とが平面上に
存在し、その平面に光を照射することにより透過
光の波面形状が非球面と球面の差分の形状となる
ものについての作成方法である。
光性を持つ部分と透光性の無い部分とが平面上に
存在し、その平面に光を照射することにより透過
光の波面形状が非球面と球面の差分の形状となる
ものについての作成方法である。
(イ) まず非球面形状が、
Zasp(φ)=o
〓i=1
Ai2i …(1)
あるいは、
〔但し、R…非球面曲率半径,K及びAi
…非球面の定数,n…0以上の
整数,Ao=0〕
となり、一方球面形状が
Zsp(φ)=Dsp−√sp 2−2 …(3)
〔但し、Rsp…球半径,Dsp…球中心と
原点との距離〕
となるものに対して、任意の縞次数mに対して適
当にφの値を変化させ、第4式,第5式からx,
yの値を求める。
当にφの値を変化させ、第4式,第5式からx,
yの値を求める。
x=(Zasp(φ)−Zsp(φ)−mλ)/A …(4)
y=±√2−2 …(5)
(ロ) 次に上記第4,第5式から得られた(x,
y)から成る同一縞次数の点列を設け、同一縞
次数に対し直線もしくは曲線で結ぶ。
y)から成る同一縞次数の点列を設け、同一縞
次数に対し直線もしくは曲線で結ぶ。
上記(イ),(ロ)の操作により直線群もしくは曲線群
が形成され、透光性のない部分に透光性を持つ部
分が、あるいは透光性を持つ部分に透光性のない
部分が形成される。すなわち、従来とは異なりφ
=√2+2であらわされる同心円を利用してxを
求めることより、xは1次の1元方程式の解とな
り、不確定解が生ぜず、高速計算が可能となる。
が形成され、透光性のない部分に透光性を持つ部
分が、あるいは透光性を持つ部分に透光性のない
部分が形成される。すなわち、従来とは異なりφ
=√2+2であらわされる同心円を利用してxを
求めることより、xは1次の1元方程式の解とな
り、不確定解が生ぜず、高速計算が可能となる。
第1図は本発明のホログラム作成方法を示す図
であり、φは同心円の半径を示す。上記方法を第
1図を用いて簡単に説明すれが、たとえば縞次数
−1に対して適当にφの値を変化させると、Z1,
Z2が算出される。さらにφの値を変化させると、
Z3,Z4が算出される。順次、この操作を繰り返し
点列を曲線で結ぶ。その縞次数を変化させ、同一
の操作を行うことにより、第1図に示すようなホ
ログラムパターンが得られる。なお第1図におい
て、1は透光性のある部分、2は透光性のない部
分、3は縞次数−14における透光性のある部分、
4は縞次数+17における透光性のある部分であ
る。
であり、φは同心円の半径を示す。上記方法を第
1図を用いて簡単に説明すれが、たとえば縞次数
−1に対して適当にφの値を変化させると、Z1,
Z2が算出される。さらにφの値を変化させると、
Z3,Z4が算出される。順次、この操作を繰り返し
点列を曲線で結ぶ。その縞次数を変化させ、同一
の操作を行うことにより、第1図に示すようなホ
ログラムパターンが得られる。なお第1図におい
て、1は透光性のある部分、2は透光性のない部
分、3は縞次数−14における透光性のある部分、
4は縞次数+17における透光性のある部分であ
る。
以下、具体的なホログラムパターンの作成例に
ついて説明する。
ついて説明する。
第2,第3式において、
R=47.755(mm)
K=0.995
Ai=0 (但し、i=0,2,3…)
0≦φ≦22(mm)
λ=0.0006328(mm)
−44≦m≦53
の際に、各mに対しφの値を初期値φ=22(mm)
から0.22(mm)ずつ減小させ、第5式で算出され
るyの値が実数である間繰り返し行うと、第2図
に示されるようなホログラムパターンが得られ
る。
から0.22(mm)ずつ減小させ、第5式で算出され
るyの値が実数である間繰り返し行うと、第2図
に示されるようなホログラムパターンが得られ
る。
以上のように本実施例によれば、簡単な手順
で、正確に、かつ短時間でホログラムパターンを
作成することができる。
で、正確に、かつ短時間でホログラムパターンを
作成することができる。
なお、本実施例ではy座標の正・負のものにつ
いて算出しホログラムパターンを作成したが、y
座標の値が正のもの、もしくは負のものについて
のみ算出し、これらを一時記憶してその後に符号
が逆となつているものを求めればよい。
いて算出しホログラムパターンを作成したが、y
座標の値が正のもの、もしくは負のものについて
のみ算出し、これらを一時記憶してその後に符号
が逆となつているものを求めればよい。
さらに形成されるホログラムパターンに応じ
て、曲率の小さな部分は細かく、曲率の大きな部
分は大きくφの値を変化させて(x,y)を求め
るようにすれば、短時間で、正確なホログラムパ
ターンを形成することができる。
て、曲率の小さな部分は細かく、曲率の大きな部
分は大きくφの値を変化させて(x,y)を求め
るようにすれば、短時間で、正確なホログラムパ
ターンを形成することができる。
また、本実施例で示した方法を計算機を用いて
実行すると、非常に効率よくホログラムパターン
を得ることができる。
実行すると、非常に効率よくホログラムパターン
を得ることができる。
発明の効果
以上のように本発明は任意の縞次数mに対して
適当なφの値を与えて、順次座標点(x,y)を
求めてホログラムパターンを作成することによ
り、高速で、正確に、かつ容易にホログラムパタ
ーンを作成することができる。
適当なφの値を与えて、順次座標点(x,y)を
求めてホログラムパターンを作成することによ
り、高速で、正確に、かつ容易にホログラムパタ
ーンを作成することができる。
第1図は本発明の一実施例におけるホログラム
パターンの作成方法を説明する概念図、第2図は
同方法により作成したホログラムパターンの図、
第3図は従来の干渉縞型ホログラムパターンの作
成時の干渉状態を示す図、第4図は従来の干渉縞
型ホログラムパターンの作成方法を説明する概念
図である。 1……透光性のある部分、2……透光性のない
部分。
パターンの作成方法を説明する概念図、第2図は
同方法により作成したホログラムパターンの図、
第3図は従来の干渉縞型ホログラムパターンの作
成時の干渉状態を示す図、第4図は従来の干渉縞
型ホログラムパターンの作成方法を説明する概念
図である。 1……透光性のある部分、2……透光性のない
部分。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 透光性を持つ部分と透光性を持たない部分と
を有する平面上に存在し、前記平面に垂直に入射
する平面波である入射光が照射されることにより
透過光の波面形状が、式Zsp(φ)であらわされ
る球面と式Zasp(φ)であらわされる非球面とを
用い、前記球面の中心点からある方向に同点を端
点とする半直線を引き、それと前記球面及び前記
非球面との交点の間の距離に等しい距離の2倍を
前記中心点から前記半直線上にとることにより差
分点を設定し、前記方向を変えてできる差分点を
結んでできるパターンで定義される差分の2倍の
形状となるホログラムパターンを作成する方法で
あつて、任意の縞次数mに対して任意の複数のφ
の値を与え、前記複数のφの値について、 x=(Zasp(φ)−Zsp(φ)−mλ)/A y=±√2−2 であらわされるx,yから、前記平面上の直交座
標系における複数の座標点(x,y)を求め、前
記複数の座標点同士を結ぶ直線または曲線を形成
し、同様に前記任意の縞次数とは異なる複数の縞
次数についての複数の直線または曲線を形成し、
前記形成された直線または曲線が前記透光性を持
つ部分と透光性を持たない部分となるように所定
のパターンを形成することにより非球面形状測定
用のホログラムパターンを作成する方法。 ここで、球面の式は、 Zsp(φ)=Dsp−√sp 2−2 非球面の式は、 Zasp(φ)=o 〓i=1 Aiφ2×i もしくは、 またmは整数、nは0以上の整数、λは入射光
の波長、Aは入射光に関する定数、Dspは球中心
と原点との距離、Rspは球半径、Rは非球面曲率
半径、Ai、Kは非球面の定数(Ap=0)である。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25948984A JPS61137181A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | ホログラムパタ−ンの作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25948984A JPS61137181A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | ホログラムパタ−ンの作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61137181A JPS61137181A (ja) | 1986-06-24 |
JPH0437921B2 true JPH0437921B2 (ja) | 1992-06-22 |
Family
ID=17334795
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25948984A Granted JPS61137181A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | ホログラムパタ−ンの作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61137181A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110530287B (zh) * | 2019-08-26 | 2021-01-19 | 西安交通大学 | 基于条纹级数不准度的解包裹相位误差检测与校正方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS566551A (en) * | 1979-06-28 | 1981-01-23 | Nec Corp | Data transfer system in decentralized control system |
-
1984
- 1984-12-07 JP JP25948984A patent/JPS61137181A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS566551A (en) * | 1979-06-28 | 1981-01-23 | Nec Corp | Data transfer system in decentralized control system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61137181A (ja) | 1986-06-24 |
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