JPH04361151A - 高温、高放射線の水性環境に用いる電極プローブ - Google Patents

高温、高放射線の水性環境に用いる電極プローブ

Info

Publication number
JPH04361151A
JPH04361151A JP3354291A JP35429191A JPH04361151A JP H04361151 A JPH04361151 A JP H04361151A JP 3354291 A JP3354291 A JP 3354291A JP 35429191 A JP35429191 A JP 35429191A JP H04361151 A JPH04361151 A JP H04361151A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
jacket
annular
retainer
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3354291A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07117518B2 (ja
Inventor
Maurice E Indig
モーリス・エズラ・インディグ
Jerry F Hanlon
ジェリー・フランク・ハンロン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JPH04361151A publication Critical patent/JPH04361151A/ja
Publication of JPH07117518B2 publication Critical patent/JPH07117518B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28Electrolytic cell components
    • G01N27/30Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
    • G01N17/02Electrochemical measuring systems for weathering, corrosion or corrosion-protection measurement

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
  • Ecology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Environmental Sciences (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は電気化学電位をモニタ
ーするのに用いる電極プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】原子力工業では、長年にわたって、原子
炉に基づく動力システムを構成する材料や部品の耐久性
や信頼性の改良をめざして膨大な研究が行われてきた。 このような研究の一つとして、これまで主として原子力
施設の放射線強度の高い炉心領域の外側の水循環配管系
統に現れた、粒間応力腐食割れ(IGSCC=inte
rgrannular  stress  corro
sion  cracking)に関するものがある。 これらの外部系統の配管構造物はステンレス鋼材料で形
成するのが代表的である。一般に、これらの研究により
、IGSCC促進状態が生じるには、3つの因子が同時
に起こる必要があることがわかっている。これらの因子
とは、(a)たとえば、材料の通常の加工過程での熱処
理によるか、溶接その他の工程による粒界でのクロム欠
乏が原因で、金属(ステンレス鋼)が敏感になること、
(b)材料中に引張応力が存在すること、(c)沸とう
水炉(BWR)によく存在する酸素酸化された標準水化
学(NWC=normalwater  chemis
try)環境である。最後の環境は、炉冷却水中の不純
物に基づく種々の酸化種のいずれかにより引き起こされ
る。 これら3つの因子のうちいずれか一つを取り除くことに
より、IGSCC現象をほぼ未然に防ぐ。このようない
ずれかの因子の排除は、特に、最後の酸素酸化環境因子
に関して、電気化学電位モニター方法を、水性冷却材環
境への水素の添加または注入を制御する、関連する水素
水化学(HWC=hydrogen  water  
chemistry)技術と組み合わせて用いることに
より、行われている。
【0003】電気化学電位モニタリングは、対の電気化
学的半セル(単極)プローブまたは電極を、再循環配管
内または再循環配管内の炉水を水源にもつ外部容器に装
着することにより、行う。電極をパッキン型装着具など
を介して外部環境につなげる。この出願のように、対象
としている電極システムが金属腐食電極からの電位を含
む場合、金属塩カップルが化学的に安定であれば、また
適当な熱力学的データが得られるならば、基準電極を金
属不溶性塩電極とするのが好都合である。したがって、
このように装着したプローブの一つ(基準電極として形
成した)は、たとえば、銀/塩化銀半セル反応に基づく
ものとすることができる。ひとたび基準電極半セルを規
定してしまえば、白金またはステンレス鋼などの金属に
基づく感知セル部分でセルを完成する。基準電極および
/または電極対の校正は、熱力学的評価と適当なネルン
スト(Nernst)に基づく電気化学的計算を既知の
環境での実験室試験と組み合わせて行う。
【0004】炉再循環配管に用いるように開発された半
セル電極は、従来、金属ハウジング、高温セラミックお
よびポリテトラフルオロエチレン(商品名テフロン)な
どのポリマーシールで構成されている。これらの構造は
再循環配管の比較的温和な、本質的に放射線のない環境
では、適正に機能している。
【0005】最近、IGSCCだけでなく、照射により
促進される応力腐食割れ(IASSC=irradia
tion  assisted  stress  c
orrosion  cracking)を緩和する際
に、水素−水化学調節の効果を調査、すなわち定量する
目的で、電気化学電位(ECP=electroche
mical  potential)モニター方法を炉
心自体の近隣の流体の過酷な環境にまで広げることが追
求されている。炉心内に、モニター電極を、たとえば、
単独で、あるいは局部出力領域モニター(LPRM=l
ocal  power  range  monit
or)などの移動式計装プローブ(TIP=trave
ling instrumentation  pro
be)と縦列に、装着することができる。モニターを過
酷な高温、高放射線(たとえば、109 R(ラド)/
時のガンマ線、1013R/時の中性子)の環境に配置
する。従来の設計のプローブ構造は、この炉心環境には
、材料の観点からも、炉容器の外側の環境への放射性物
質の漏れを防止する必須の要請に関しても、まったく不
適当である。しかし、原子力施設の炉心の過酷な環境に
用いるのに適当な頑丈な構造をもつプローブが、本出願
人に譲渡された米国特許出願第07/345,740号
(1989年5月1日出願)に開示されている。このよ
うなプローブ設計の重要な特徴は、アルミナ(サファイ
ア)ポストとポストキャップとをるつぼの内部に配置す
ることである。空間上の制約があるので、るつぼの内部
で行われる製造プロセス、たとえば金属化やろう付けは
、製造者が望む通りにうまく制御することができない。 この界面での不適当な金属化やろう付けは、電極が最終
試験中または現場で早期に破損するまで、検出されない
ことが多い。
【0006】電気化学電位を監視し、制御するもっとも
重要な観点の1つは、炉に水素を導入する際にある。し
たがって、極度な放射線および過酷な高温、高圧水性環
境に耐えることができ、水素の導入により直接決められ
る電気化学電位を与えることができる基準電極が開発で
きれば、炉心領域のIASCCを無くすプロセスおよび
運転制御ができ、そして配管に装備した場合には、炉再
循環系統でのIGSCCの制御ができる。
【0007】
【発明の目的】この発明は、原子力施設の炉心の過酷な
環境で用いるのに特に適当な頑丈な構造を有する、電気
化学電位を測定する電極を提供することを目的とする。
【0008】この発明の電極は5つの主要部品、金属キ
ャップ電極、長い環状金属ジャケット、アルミナ(すな
わち絶縁体)リテイナ、環状移行スリーブおよび位置決
め兼信号伝送アセンブリからなる。金属キャップ電極は
、先端とそこから延在し、内面を有する側壁から形成さ
れた環状部とを有する。長い環状金属ジャケットは一端
に環状リテイナ固着マウスを、他端に出口を有する。 アルミナリテイナはキャップ電極の側壁内面の一部に着
座式に固着されるキャップ固着用減径部分と、その反対
側に位置し、環状ジャケットのリテイナ固着マウスの内
部に着座式に固着されるジャケット固着用減径部分とを
有する。リテイナの有する、アクセルチャンネルがその
キャップからジャケット固着部分まで貫通する。キャッ
プ電極と電気接続された第1絶縁電気導体が、リテイナ
のアクセスチャンネル、そして環状金属ジャケットを通
ってジャケット出口まで延在する。位置決め兼信号伝送
アセンブリはジャケットの出口と関連して、ジャケット
を支持するとともに、導体からの電気信号を伝送する。 長い環状金属移行スリーブは、上記ジャケットと上記位
置決め兼信号伝送アセンブリとの間に介在する。
【0009】この発明の利点として、プローブ構造は原
子力施設の炉心の過酷な環境で作動するように構成され
ている。別の利点として、電極のセラミック/金属構成
が提供するシール構造は、炉の周囲環境への放射性物質
の漏れを防止する多重シールを有する。これらのそして
他の効果が、以下の説明から当業者に明らかになるであ
ろう。
【0010】以下に、図面を参照しながらこの発明を具
体的に説明する。
【0011】
【具体的な構成】この発明の電極構造は、種々広範な工
業的モニター機能に利用できるが、原子力施設の炉心の
過酷な環境下で用いるのに特に有効である。その構造は
、エラストマーシールやポリマー部品を含まず、高度な
一体性のシール構造を採用している。すなわち、セラミ
ックおよび金属部品のみからなるろう付けおよび溶接ア
センブリで装置の構造を形成している。電極は、作用電
極区域を形成するのに用いる材料に応じて、標準または
基準電極として、あるいは感知電極として使用できる。 これらに関する詳しい説明は、キャステラン著「物理化
学」(Physical  Chemistry,by
  G.W.Castellan,Chapter  
17,  ”Equilibria  in  Ele
ctrochemical  Cells”,pp34
4−382,  Addision−Wesley  
Publishing  Co.,  Reading
,  Mass.,USA(1964))を参照された
い。
【0012】図1はこの発明の電極プローブの縦断面図
である。電極プローブの構造が5つの主要部品、すなわ
ち金属キャップ電極10、アルミナリテイナ12、環状
金属ジャケット14、環状移行スリーブ36および位置
決め兼信号伝送アセンブリ16からなることがわかる。 電気信号を、電気導体18に沿って、金属キャップ電極
10から位置決め兼信号伝送アセンブリ16を経て外部
に伝送する。
【0013】種々の構成要素について詳しく説明する。 金属キャップ電極10は、先端部分20およびそこから
延在する環状部22から形成されている。環状部22は
内面24を有する空所を画定する。金属キャップ電極1
0を構成する材料により、この発明の電極装置の機能が
決まる。もっともよく出会う沸とう水炉(BWR)用途
の場合、金属キャップ電極10を構成するのにステンレ
ス鋼を用いれば、電極プローブによりあらゆる環境にお
けるステンレス鋼の電気化学電位(ECP)を測定する
ことができる。他の材料から構成した金属キャップ電極
を用いて、異なる金属のECP測定用の同様の感知電極
を形成することができる。この発明の電極装置について
の第2の実施例では、金属キャップ電極10を構成する
のに白金を用いる。HWC環境におけるこのような電極
装置は、電極装置を基準電極として使用することを可能
にし(水素濃度が既知だとして)、あるいはこの電極装
置を他の基準電極(たとえば、Ag/AgCl基準電極
)を校正するのに用いることができる。したがって、こ
の発明の電極プローブの構造は設計に融通性を与え、全
体的な構成上の利点を同じに保ちながら、電極プローブ
を感知電極としても基準電極としても機能するように構
成することができる。
【0014】金属キャップ電極10を電極プローブを形
成する他の金属構成要素から電気的に絶縁するために、
アルミナリテイナ12を用いて金属キャップ電極10を
支持する。アルミナリテイナ12を、アルミナの単結晶
形態であるサファイアから形成するのが望ましい。サフ
ァイア材料は、必要な電気絶縁を行うだけでなく、単結
晶構造であるので、電極プローブを浸漬する水による攻
撃に十分耐え、そして重要なこととして、粒界を持たな
い。もちろん、当業者には明らかなように、高純度アル
ミナ、ルビーその他の材料も使用できる。アルミナリテ
イナ12は、ジャケット固着用段(減径)部分26とそ
の反対側に位置するキャップ固着用段(減径)部分28
とを有する形状に形成されている。キャップ固着部分2
8は金属キャップ電極10内に着座式に、かつその空所
内面24と密封係合関係で配置されている。環状部22
の内面24をリテイナのキャップ固着部分28に、たと
えば、銀ろうを用いて、ろう付けするのが有利である。 なお、この場合、金属化すべきすべてのセラミック表面
を、たとえばタングステンでろう付けし、ニッケルまた
は白金でメッキし、ろう付け溶加材金属または合金で接
合すべき表面の適正な濡れを確保する。実際、金属被覆
の多層を用いることは、特にアルミナリテイナ12のキ
ャップ固着用減径部分28の内面24に金属被覆の多層
を用いることは、必要であるか、望ましいか、好都合で
あれば、通常の方法で実施することができる。金属キャ
ップ電極10とアルミナリテイナ12との間のろう付け
シールは、電極プローブ構造の一体性を保証するととも
に、外部環境への放射線の漏れを防止する気密(ハーメ
チック)シールを達成する必要がある。この目的で、リ
テイナ12の取付け領域を酸化タングステン塗料で被覆
し、焼成し、ついでニッケルまたは白金でメッキするの
が望ましい。
【0015】アルミナリテイナ12のジャケット固着用
減径領域26は環状金属ジャケット14内に着座式に配
置される。この場合も、表面金属化および銀ろうなどで
のろう付けを行って、取付け領域26をジャケット14
に接合する。リテイナ12には、キャップ固着部分28
からジャケット固着部分26まで貫通するアクセスチャ
ンネル30も設けられている。この場合も、気密シール
を形成する必要があることが明らかである。ジャケット
固着部分26を金属化、焼成、メッキするのが好ましい
【0016】環状金属ジャケット14はリテイナのジャ
ケット取付け部分26と接合するためのアルミナリテイ
ナ固着領域32を有する。図1に示した構造では、リテ
イナ12にはランド34が形成され、ここにジャケット
14が当接する。リテイナ12にはランド35も形成さ
れ、ここにはキャップ10が当接する。接合すべきすべ
ての構成要素の寸法公差を、ぴったりはまる相互係合が
得られるものとすることに注意すべきであり、こうして
この発明の電極装置を形成する種々の構成要素を接合す
るのに使用するろう付け金属で充填する必要のある隙間
を最小にする。
【0017】ジャケット14はニッケルまたは類似の金
属で形成することができる。あるいは、リテイナ12と
ジャケット14との熱膨張係数がなるべく合致するよう
に、コバール材料または同様の耐食性合金から形成する
こともできる。コバール材料は、リテイナ12のアルミ
ナ材料の熱膨張に合致する熱膨張特性をもつ1群の合金
である。代表的なコバール材料はFe53.8%、Ni
29%、Co17%およびNi0.2%からなる(Ha
ckh  Chemical  Dictionary
,  Fourth  Edition,  page
  374,McGraw−Hill,  Inc.,
  1969)。 従来、この1群の合金は、ガラスの結合が必要な真空管
やサーモスタット製作に用いられていた。コバール合金
はかなり以前から知られている。広義には、コバール材
料は17−18%のコバルト、28−29%のニッケル
を含有し、残部がほとんど鉄である。コバール合金は、
Kohn,  Electron  Tubes,  
pp448以降に詳しく説明されているように、延性で
あり、加熱およびアニールを含む通常の使用条件で脆化
しないので、ガラスのシールなどに有用である。コバー
ルと同様な膨張係数をもつが、コバルトが添加されてい
ない他の材料(42合金)を用いるのも効果的である。
【0018】図1に示す設計では、環状金属ジャケット
14の下端を、環状移行スリーブ36に接合38で、タ
ングステン不活性ガス(TIG)溶接技術を用いて、取
り付ける。やはり、ジャケット14をスリーブ36に接
合する際にも気密シールができる必要がある。環状移行
スリーブ36は、出口40で終端し、ここで同軸ケーブ
ルアセンブリ42に、TIG溶接などにより取り付けら
れている。同軸ケーブルアセンブリ42の導通ワイヤ4
6はケーブル絶縁体48を貫通し、溶接ホイル52を介
して電気導体18に接続されている。電気導体ワイヤ1
8と導通ワイヤ46とをつなぐホイル52は、電気的連
続性の喪失につながる可能性のある、配線の製造時や作
動時の応力を最小にするのに十分なたるみを与える。電
気導体18はセラミック絶縁体54Aで、環状移行スリ
ーブ36および環状金属ジャケット14から絶縁されて
いる。
【0019】図1に示した設計例と図2に示した設計例
との主な違いは、位置決め兼信号伝送アセンブリ16の
構成と、ベル形環状金属ジャケット14の使用である。 図1では、位置決め兼信号伝送アセンブリ16は、導通
ワイヤ46、ケーブル絶縁体48、同軸ケーブルアセン
ブリ42および出口40を含む環状移行スリーブ36の
下方部分からなる。図2の位置決め兼信号伝送アセンブ
リ16は、図1に示したのと同じ部品のほかに、2つの
追加の部品、シールアセンブリとケーブルアダプタを含
む。シールアセンブリ68(米国オハイオ州所在のGE
/Reuter−Stokes社製)は、同軸ケーブル
へのセラミック−金属間シール、セラミック絶縁体、お
よびセラミック絶縁体に封止されたニッケル管からなる
。ケーブルアダプタ44は、ベル形環状金属ジャケット
14を大きな外径の環状移行スリーブ36とともに使用
したときに、同軸ケーブルの有効外径を大きくするのに
必要である。
【0020】図2に示す別の設計例では、移行スリーブ
36の下端が出口40で終端し、ここでステンレス鋼ケ
ーブルアダプタ44に、TIG溶接などにより取り付け
られている。ケーブルアダプタ44は出口50で終端し
、ここで同軸ケーブルアセンブリ48およびシールアセ
ンブリ68に取り付けられ、ここでシールアセンブリ6
8のニッケル管の先端の内側に溶接により終端している
。シールアセンブリ68のニッケル管の外側は、電気導
体ワイヤ18に溶接ホイル52を介して取り付けられて
いる。電気導体ワイヤ18は、T形セラミック絶縁体5
4Bにより環状移行スリーブ36から絶縁されている。
【0021】図1および図2に示した設計例に代わるも
のとして、第3の例が可能である。図2のケーブルアダ
プタ44を除くが、シールアセンブリ68を残すことに
より、図1の外径寸法のように外径寸法にとぎれのない
アセンブリ全体を構成することができる。この第3設計
例では、「ベル形」環状金属ジャケット14を外径の一
定な環状金属ジャケットに代える。導体18をニッケル
、コバール、白金その他の導電性材料からつくることが
できる。電気導体を直接絶縁することができるが、図1
および図2に示した好適な構造では、環状電気絶縁体5
4を環状ジャケット14および環状スリーブ36内に配
置している。電気導体18の電気絶縁を確実にするため
に、電気絶縁体54をアルミナなどのセラミック材料か
らつくるのが好ましい。電気導体18の基端はホイル5
2を介してアセンブリ16に電気接続され、一方電気導
体18の先端はジャケット14およびスリーブ36に形
成した環状部を貫通し、ついでリテイナ12に設けたア
クセスチャンネル30を通ってキャップ電極ホルダ10
Aに達する。導体18はネイルリードとして終端し、キ
ャップ電極10の先端部分20の内部側に直接溶接また
はろう付けされる。
【0022】キャップ構成の別の例を図3に示す。キャ
ップ電極10の先端部分に細長いねじ切り部分56が設
けられ、ここに電極キャップ58がねじ係合されている
。電極キャップ58は、先端部分60と、空所64を画
定する環状部62とを有するものとして形成されている
。環状部62の内面66にはねじが切られ、突出部分5
6のねじとはまり合う。導体18はキャップ電極ホルダ
10Aに貫入してそこに電気接続している。電極キャッ
プ58を白金その他の適当な基準電極金属から形成し、
キャップ電極ホルダ10Aを白金メッキしたコバール合
金から形成する。この代替キャップ構造では、コバール
製キャップ電極ホルダ10Aに基づく利点が得られる。 すなわち、コバール製キャップ電極ホルダ10Aは、直
接白金を用いる場合より、サファイアまたはアルミナ製
リテイナ12と熱膨張係数がよく一致する。内面66に
ねじ切りされた白金電極キャップ58は、白金メッキし
たコバール製キャップ電極ホルダ10Aの遊びをなくす
のに十分な表面積を有する。
【0023】この発明の電極プローブの性能仕様に関し
ては、プローブは600°Fまでの温度および約2,0
00psiまでの圧力で作動するように設計されている
。金属キャップ電極10を、基準電極装置を作製するた
め、白金製とした場合、この新規な電極装置は、白金基
準電極についての理論値の±0.020ボルト以内の電
圧を示す。基準電極白金メッキキャップとして使用する
場合、この発明の電極プローブは、定常水化学において
ECPを±0.010ボルト以内まで測定することがで
きる。コバールから作製し白金をメッキしたキャップ1
0を取り付ける場合、これをW/NiまたはW/Pt被
覆した絶縁体固着部分に銀ろうでろう付けする必要があ
る。
【0024】図4は実験結果を示すグラフである。金属
キャップ電極10にステンレス鋼を用いて、この発明の
教示にしたがって5つの感知電極プローブを作製し、こ
れらのプローブを、標準的なCu/Cu2 O/ZrO
2 基準電極を用いて実験室試験に供した。試験用の水
性媒体をオートクレーブ内に設定し、温度および水化学
を制御した。水温274°Cで、ある種の溶存ガスを導
入する一連の水性条件に従って試験を行った。第1溶存
ガスは水素で、図4に70で示す経過時間部分に沿って
HWCと表示され、水素水化学(hydrogen  
waterchemistry)を表わす。その後、図
4に72で示す経過時間部分に沿ってNWCと表示した
ように、酸素を水性媒体に注入し、こうしてプローブを
平常沸とう水化学(normal  boiling 
 wataer  chemistry)にさらす。最
後に、74で示すように、追加の水素を注入する。基準
電極の電位を計算することができるので、種々の水条件
でのその電位を得られた電圧から引くことができ、こう
してステンレス鋼電極プローブのECPの測定が可能に
なる。5つのプローブの評価結果を図4のグラフに示し
たが、極めて近接した値になることがわかる。ECPの
シフトは関与する水化学の結果として起こることがわか
る。試験中の水性媒体の水化学を測定するための感知電
極プローブの使用中にモニターされるのは、このシフト
である。ECPの予想シフトが図4を見ればわかる。
【0025】この発明の要旨から逸脱しない範囲内で上
述した装置に種々の変更が可能であるので、上述した説
明および図面はこの発明を具体的に説明する例示にすぎ
ず、この発明を限定するものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の電極プローブの1実施例を示す縦断
面図である。
【図2】この発明の電極プローブの他の実施例を示す縦
断面図である。
【図3】この発明の電極プローブに用いる金属キャップ
電極の別の設計例を示す縦断面図である。
【図4】この発明の電極プローブを用いて測定した水性
媒体の電気化学電位を経過時間に対してプロットしたグ
ラフである。
【符号の説明】
10  金属キャップ電極 12  アルミナリテイナ 14  環状金属ジャケット 16  位置決め兼信号伝送アセンブリ18  電気導
体 26  ジャケット固着用減径部分 28  キャップ固着用減径部分 30  アクセスチャンネル 36  環状移行スリーブ 44  ケーブルアダプタ 52  ホイル 58  電極キャップ 68  シールアセンブリ

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)先端および先端から延在し、内面を
    有する空所を画定する環状部を有する金属キャップ電極
    と、(b)一端に環状リテイナ固着用マウスを、他端に
    出口を有する長い環状金属ジャケットと、(c)上記キ
    ャップ電極の空所に着座式に配置され、そこに密封関係
    で固着されたキャップ固着用減径部分と、その反対側に
    位置し、上記環状ジャケットのリテイナ固着用マウスの
    内部に着座式に固着されるジャケット固着用減径部分と
    、上記キャップからジャケット固着用部分まで貫通する
    アクセスチャンネルとを有するアルミナリテイナと、(
    d)上記キャップ電極と電気接続され、上記リテイナの
    アクセスチャンネルを通り、上記環状金属ジャケットを
    通って上記ジャケット出口まで延在する絶縁された第1
    電気導体と、(e)上記環状金属ジャケットと位置決め
    兼信号伝送アセンブリとの間に介在し、上記第1電気導
    体が通過する上記環状金属ジャケットとは異なる材料か
    ら形成した環状金属移行スリーブと、(f)上記ジャケ
    ット出口と関連し、上記ジャケットの支持をなすととも
    に、上記導体から電気信号を伝送する位置決め兼信号伝
    送アセンブリとを備える電気化学電位をモニターするの
    に用いる電極プローブ。
  2. 【請求項2】上記第1電気導体が上記金属ジャケット内
    に収容された環状電気絶縁体で絶縁された請求項1に記
    載の電極プローブ。
  3. 【請求項3】上記環状電気絶縁体がアルミナ製である請
    求項2に記載の電極プローブ。
  4. 【請求項4】上記位置決め兼信号伝送アセンブリが、上
    記環状金属移行スリーブの出口に溶接された環状ステン
    レス鋼カラーを含み、このカラーに絶縁された第2電気
    導体が貫通し、第2電気導体が第1電気導体に電気接続
    された請求項1に記載の電極プローブ。
  5. 【請求項5】上記第1電気導体が位置決め兼信号伝送ア
    センブリに金属ホイルで取り付けられた請求項1に記載
    の電極プローブ。
  6. 【請求項6】上記金属移行スリーブがステンレス鋼製で
    ある請求項1に記載の電極プローブ。
  7. 【請求項7】上記第1電気導体が白金、コバールまたは
    ニッケル製のワイヤである請求項1に記載の電極プロー
    ブ。
  8. 【請求項8】上記金属キャップ電極がステンレス鋼また
    は白金製である請求項1に記載の電極プローブ。
  9. 【請求項9】上記アルミナリテイナが単結晶サファイア
    製である請求項1に記載の電極プローブ。
  10. 【請求項10】上記金属キャップ電極の先端がねじ切り
    延長部を有し、ここに先端部分およびそこから延在する
    内ねじ環状部を有する金属キャップ電極延長部がねじ係
    合された請求項1に記載の電極プローブ。
  11. 【請求項11】(a)先端および先端から延在し、内面
    を有する空所を画定する環状部を有する円筒形金属キャ
    ップ電極と、(b)一端に環状リテイナ固着用マウスを
    、他端に出口を有する円筒形の長い環状金属ジャケット
    と、(c)上記キャップ電極の空所に着座式に配置され
    、そこに密封関係で固着されたキャップ固着用部分と、
    その反対側に位置し、上記環状ジャケットのリテイナ固
    着用マウスの内部に着座式に固着されるジャケット固着
    用減径部分と、上記キャップからジャケット固着用部分
    まで貫通するアクセスチャンネルとを有する円筒形アル
    ミナリテイナと、(d)上記ジャケット内にほぼその全
    域にわたって収容された環状セラミック電気絶縁シリン
    ダと、(e)上記キャップ電極と電気接続され、上記リ
    テイナのアクセスチャンネルを通り、環状金属ジャケッ
    トを通って上記ジャケット出口まで延在する第1電気導
    体と、(f)上記環状ジャケットの出口に溶接され、出
    口を有するステンレス鋼製の環状移行スリーブと、(g
    )上記移行スリーブの出口と関連し、上記ジャケットの
    支持を行うとともに、上記導体から電気信号を伝送する
    位置決め兼信号伝送アセンブリとを備える電気化学電位
    をモニターするのに用いる電極プローブ。
  12. 【請求項12】上記アルミナリテイナが単結晶サファイ
    ア製である請求項11に記載の電極プローブ。
  13. 【請求項13】上記第1電気導体が白金、コバールまた
    はニッケル製のワイヤである請求項12に記載の電極プ
    ローブ。
  14. 【請求項14】上記金属キャップ電極がステンレス鋼ま
    たは白金製である請求項13に記載の電極プローブ。
  15. 【請求項15】アルミナ表面を接合前に金属化する請求
    項13に記載の電極プローブ。
  16. 【請求項16】上記第1導体ワイヤが上記環状セラミッ
    クシリンダ内の位置にばね部分を形成してある請求項1
    1に記載の電極プローブ。
  17. 【請求項17】上記金属キャップ電極の先端がねじ切り
    延長部を有し、ここに先端部分およびそこから延在する
    内ねじ環状部を有する金属キャップ電極延長部がねじ係
    合された請求項11に記載の電極プローブ。
  18. 【請求項18】上記アセンブリが上記環状ジャケットの
    出口に溶接された金属カラーを含む請求項14に記載の
    電極プローブ。
JP3354291A 1990-12-20 1991-12-20 高温、高放射線の水性環境に用いる電極プローブ Expired - Lifetime JPH07117518B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US633,748 1990-12-20
US07/633,748 US5192414A (en) 1990-12-20 1990-12-20 Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04361151A true JPH04361151A (ja) 1992-12-14
JPH07117518B2 JPH07117518B2 (ja) 1995-12-18

Family

ID=24540966

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3354291A Expired - Lifetime JPH07117518B2 (ja) 1990-12-20 1991-12-20 高温、高放射線の水性環境に用いる電極プローブ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5192414A (ja)
EP (1) EP0492867A3 (ja)
JP (1) JPH07117518B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002116281A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Toshiba Corp 白金照合電極
JP2004170421A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 General Electric Co <Ge> ジルカロイ・チップ付きecpセンサ電極
WO2008114740A1 (ja) * 2007-03-16 2008-09-25 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology 極低酸素濃度ガス生成装置、処理システム、薄膜堆積方法及び不活性ガス
JP2008231466A (ja) * 2007-03-16 2008-10-02 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 極低酸素濃度ガス生成装置
JP2008272609A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 処理システム及び被処理物体の処理方法
JP2008272608A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 極低水分ガス生成装置、不活性ガス、処理装置、及びガス中の水分量測定方法
JP2010175416A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 腐食電位センサ

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5448603A (en) * 1993-11-01 1995-09-05 Imaging & Sensing Technology Corporation Pressure-sensitive variable-resistance hygroscopic fluid detector, and method
US5425871A (en) * 1994-06-27 1995-06-20 Electric Power Research Institute Solid state reference electrode for high temperature electrochemical measurements
US5571394A (en) * 1995-05-08 1996-11-05 General Electric Company Monolithic sensor switch for detecting presence of stoichiometric H2 /O2 ratio in boiling water reactor circuit
US5896432A (en) * 1997-09-12 1999-04-20 General Electric Company Brazeless electrochemical corrosion potential sensor
US5848113A (en) * 1997-09-12 1998-12-08 General Electric Company Coated electrochemical corrosion potential sensor
US6370213B1 (en) * 1999-09-17 2002-04-09 General Electric Company Banded ECP sensor
US6391173B1 (en) * 1999-10-25 2002-05-21 General Electric Company Electrochemical corrosion potential sensor
KR20030020769A (ko) * 2001-09-04 2003-03-10 황일순 고온 에너지 설비에서 사용되는 귀금속 도금 전극 및 그제조 방법
US6869511B2 (en) * 2002-08-15 2005-03-22 General Electric Company Ceramic electrochemical corrosion potential sensor probe with increased lifetime
US6821147B1 (en) * 2003-08-14 2004-11-23 Intelliserv, Inc. Internal coaxial cable seal system
US20120033779A1 (en) * 2010-08-04 2012-02-09 Global Nuclear Fuel - Americas, Llc Methods of determining in-reactor susceptibility of a zirconium-based alloy to shadow corrosion
US9001957B2 (en) * 2010-12-15 2015-04-07 Ge-Hitachi Nuclear Energy Americas Llc Chemistry probe assemblies and methods of using the same in nuclear reactors
DE102017124938A1 (de) * 2017-10-25 2019-04-25 Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg Sensor zur Messung einer Konzentration eines Ions

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0317545A (ja) * 1989-05-01 1991-01-25 General Electric Co <Ge> 高温かつ高放射線の水性環境中において使用するための電極プローブ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3413209A (en) * 1964-11-02 1968-11-26 Beckman Instruments Inc Currentimetric sensor
US3486996A (en) * 1966-06-16 1969-12-30 Petrolite Corp Corrosion test probe
US3772178A (en) * 1968-10-03 1973-11-13 Petrolite Corp Electrode for corrosion test
US4627905A (en) * 1984-10-05 1986-12-09 Pulp And Paper Research Institute Of Canada Monitor assembly for monitoring anodic corrosion protection of carbon steel vessels
US4882029A (en) * 1987-02-10 1989-11-21 Pine Instrument Company Electrode system
FR2627586B1 (fr) * 1988-02-19 1990-06-08 Commissariat Energie Atomique Dispositif de mesure en continu par electrochimie de la vitesse de corrosion dans un fluide
US4948492A (en) * 1989-05-01 1990-08-14 General Electric Company Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0317545A (ja) * 1989-05-01 1991-01-25 General Electric Co <Ge> 高温かつ高放射線の水性環境中において使用するための電極プローブ

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002116281A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Toshiba Corp 白金照合電極
JP2004170421A (ja) * 2002-11-20 2004-06-17 General Electric Co <Ge> ジルカロイ・チップ付きecpセンサ電極
WO2008114740A1 (ja) * 2007-03-16 2008-09-25 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology 極低酸素濃度ガス生成装置、処理システム、薄膜堆積方法及び不活性ガス
JP2008231466A (ja) * 2007-03-16 2008-10-02 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 極低酸素濃度ガス生成装置
US8597732B2 (en) 2007-03-16 2013-12-03 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Thin film depositing method
JP2008272609A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 処理システム及び被処理物体の処理方法
JP2008272608A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 極低水分ガス生成装置、不活性ガス、処理装置、及びガス中の水分量測定方法
JP2010175416A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 腐食電位センサ

Also Published As

Publication number Publication date
US5192414A (en) 1993-03-09
EP0492867A2 (en) 1992-07-01
JPH07117518B2 (ja) 1995-12-18
EP0492867A3 (en) 1993-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04361151A (ja) 高温、高放射線の水性環境に用いる電極プローブ
US5043053A (en) Reference electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation
US5217596A (en) Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation
US4978921A (en) Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation
US4948492A (en) Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation
US5571394A (en) Monolithic sensor switch for detecting presence of stoichiometric H2 /O2 ratio in boiling water reactor circuit
US6278756B1 (en) Electrochemical corrosion potential sensor with increased lifetime
US4990855A (en) Conductivity probe for use in the presence of high intensity nuclear radiation
US5516413A (en) Rugged electrode for electrochemical measurements at high temperatures and pressures
US6869511B2 (en) Ceramic electrochemical corrosion potential sensor probe with increased lifetime
US20020015463A1 (en) Banded ECP sensor
US5118913A (en) Container and reference electrode for use in radiated aqueous environments
US5133855A (en) Integral cap for electrode and electrode employing same
JP3886686B2 (ja) 腐食電位測定装置
JP4213335B2 (ja) 白金照合電極
EP0750742A1 (en) Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation
JP5358554B2 (ja) 腐食電位センサ及び腐食電位センサの設置構造
KR20030033903A (ko) 고온 에너지 설비의 부식 환경 감시를 위한 Ag/AgCl내부 기준 전극
JPH06138079A (ja) 隙間水質測定用電極
MXPA96004106A (en) Electrode probe for use in high temperature and high radiac aqueous environments
JPH02120654A (ja) 照合電極

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19960618

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081218

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091218

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091218

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101218

Year of fee payment: 15

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111218

Year of fee payment: 16

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121218

Year of fee payment: 17

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121218

Year of fee payment: 17