JPH04356734A - 光学ヘッドの制御方法 - Google Patents
光学ヘッドの制御方法Info
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- JPH04356734A JPH04356734A JP18518691A JP18518691A JPH04356734A JP H04356734 A JPH04356734 A JP H04356734A JP 18518691 A JP18518691 A JP 18518691A JP 18518691 A JP18518691 A JP 18518691A JP H04356734 A JPH04356734 A JP H04356734A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 12
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 7
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005374 Kerr effect Effects 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、直線偏光を記録媒体に
照射して情報の読出しを行なう光磁気記録等に用いられ
る光学ヘッドの位置検出方法、ならびに光学ヘッド出射
光の強度制御方法に関する。
照射して情報の読出しを行なう光磁気記録等に用いられ
る光学ヘッドの位置検出方法、ならびに光学ヘッド出射
光の強度制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光磁気記録においては、光学ヘッドによ
りレーザ等のコヒーレント光源からの直線偏光を記録媒
体に照射し、記録媒体の磁化の方向に基づくこの反射光
の偏光面の回転方向（カー効果）を検知し、情報の読出
しを行なっている。そして、記録媒体に対する光学ヘッ
ドの位置制御は、光学ヘッドからの光スポットが横切っ
た記録トラック数をカウントしたり、光学ヘッドの位置
を直接検出することにより行なっていた。光学ヘッドの
位置を直接検出する場合は、外部スケールと別光源によ
り検出する方法と、別光源によりフォトダイオードアレ
ーなどの位置センサを用いて検出する方法が一般的であ
る。しかしこれらの場合は、別光源であるため部品数の
増加を招き、また、別光源からの光を平行光とすること
が難しいことから設置場所の制限がある。さらに外部ス
ケールと別光源の場合は、高価で装置全体のコストアッ
プを招くという問題があった。
りレーザ等のコヒーレント光源からの直線偏光を記録媒
体に照射し、記録媒体の磁化の方向に基づくこの反射光
の偏光面の回転方向（カー効果）を検知し、情報の読出
しを行なっている。そして、記録媒体に対する光学ヘッ
ドの位置制御は、光学ヘッドからの光スポットが横切っ
た記録トラック数をカウントしたり、光学ヘッドの位置
を直接検出することにより行なっていた。光学ヘッドの
位置を直接検出する場合は、外部スケールと別光源によ
り検出する方法と、別光源によりフォトダイオードアレ
ーなどの位置センサを用いて検出する方法が一般的であ
る。しかしこれらの場合は、別光源であるため部品数の
増加を招き、また、別光源からの光を平行光とすること
が難しいことから設置場所の制限がある。さらに外部ス
ケールと別光源の場合は、高価で装置全体のコストアッ
プを招くという問題があった。
【０００３】また、光源であるレーザの強度変化を制御
する方法としては、レーザダイオード内蔵のフォトダイ
オードにより、レーザダイオードの出力を制御する方法
が知られている。しかしながらこの方法では、記録媒体
からの反射光が戻り光となってレーザダイオード内にあ
る程度戻ってくるため、レーザの発振が不安定となり正
確な制御が行えない。
する方法としては、レーザダイオード内蔵のフォトダイ
オードにより、レーザダイオードの出力を制御する方法
が知られている。しかしながらこの方法では、記録媒体
からの反射光が戻り光となってレーザダイオード内にあ
る程度戻ってくるため、レーザの発振が不安定となり正
確な制御が行えない。
【０００４】また、現在の光学ヘッド、特に光磁気記録
再生用光学ヘッドにおいては、レーザからの光束の一部
がビームスプリッタにより反射されて記録再生系の系外
に洩れるため、この余剰光を利用してレーザ光の強度を
検出して出力を制御することも知られている。しかし、
この余剰光を光学ヘッドの位置検出に利用することは知
られていない。
再生用光学ヘッドにおいては、レーザからの光束の一部
がビームスプリッタにより反射されて記録再生系の系外
に洩れるため、この余剰光を利用してレーザ光の強度を
検出して出力を制御することも知られている。しかし、
この余剰光を光学ヘッドの位置検出に利用することは知
られていない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、情報の記録
再生に用いられる光の一部を利用し、部品点数の大幅な
増加や設計上の制約を招くことなく、光学ヘッドの位置
あるいはさらに光源強度を制御する方法を提供するもの
である。
再生に用いられる光の一部を利用し、部品点数の大幅な
増加や設計上の制約を招くことなく、光学ヘッドの位置
あるいはさらに光源強度を制御する方法を提供するもの
である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の光学ヘッドの制
御方法は、レーザ光等のコヒーレント光束を、偏光特性
をもつビームスプリッタに入射して反射あるいは透過せ
しめ、情報の記録および／または再生を行なう光学ヘッ
ドの制御方法において、該ビームスプリッタにより分離
出射される光束のうち、情報の記録／再生に関わらない
余剰光束を利用して光学ヘッドの位置およびビームスプ
リッタに入射する光束の強度（すなわちレーザの発振強
度）を制御するものである。光学ヘッドの位置制御は、
この余剰光束を外部に取り出して検出する。一方、ビー
ムスプリッタに入射する光束強度は、余剰光束の一部を
利用して光学ヘッド内部で検出、制御してもよく、また
、余剰光束を外部に取り出して検出、制御してもよい。
御方法は、レーザ光等のコヒーレント光束を、偏光特性
をもつビームスプリッタに入射して反射あるいは透過せ
しめ、情報の記録および／または再生を行なう光学ヘッ
ドの制御方法において、該ビームスプリッタにより分離
出射される光束のうち、情報の記録／再生に関わらない
余剰光束を利用して光学ヘッドの位置およびビームスプ
リッタに入射する光束の強度（すなわちレーザの発振強
度）を制御するものである。光学ヘッドの位置制御は、
この余剰光束を外部に取り出して検出する。一方、ビー
ムスプリッタに入射する光束強度は、余剰光束の一部を
利用して光学ヘッド内部で検出、制御してもよく、また
、余剰光束を外部に取り出して検出、制御してもよい。
【０００７】
【実施例】図１は本発明の実施例の光学系（光学ヘッド
）を示す説明上面図であり、図２はその側面図、また、
図３はシステム全体の説明図である。なお、図１では対
物レンズ２３および光磁気ディスク５３の図示を省略し
、図２では半導体レーザ１１およびコリメータレンズ１
３の図示を省略してある。
）を示す説明上面図であり、図２はその側面図、また、
図３はシステム全体の説明図である。なお、図１では対
物レンズ２３および光磁気ディスク５３の図示を省略し
、図２では半導体レーザ１１およびコリメータレンズ１
３の図示を省略してある。
【０００８】光学ヘッド３９は、筺体３７中に半導体レ
ーザ１１、コリメータレンズ１３、整形プリズム１５、
偏光ビームスプリッタ（ＳＢＳ）１７、立上げミラー２
１、対物レンズ２３、１／２波長板２５、集光レンズ２
７、シリンドリカルレンズ２９、偏光ビームスプリッタ
（ＰＢＳ）３１、情報検出用フォトダイオード３３，３
５、アイリス４１、ビームスプリッタ４３およびパワー
検出用フォトダイオード４５を内蔵しており、図１およ
び図３の矢印Ａ方向（図２の紙面を貫く方向）に駆動さ
れ、これは光磁気ディスク５３のトラッキング方向（直
径方向）に相当する。
ーザ１１、コリメータレンズ１３、整形プリズム１５、
偏光ビームスプリッタ（ＳＢＳ）１７、立上げミラー２
１、対物レンズ２３、１／２波長板２５、集光レンズ２
７、シリンドリカルレンズ２９、偏光ビームスプリッタ
（ＰＢＳ）３１、情報検出用フォトダイオード３３，３
５、アイリス４１、ビームスプリッタ４３およびパワー
検出用フォトダイオード４５を内蔵しており、図１およ
び図３の矢印Ａ方向（図２の紙面を貫く方向）に駆動さ
れ、これは光磁気ディスク５３のトラッキング方向（直
径方向）に相当する。
【０００９】半導体レーザ１１から発振されるレーザ光
は直線偏光しており、偏光ビームスプリッタ（ＳＢＳ）
１７のプリズム入射面に対してＰ波となるように配置し
てある。レーザ光はコリメータレンズ１３により平行光
束となり、ＳＢＳ１７に入射する。ＳＢＳ１７は、光磁
気ディスク５３に入射する光束と、光磁気ディスク５３
面で反射され情報信号成分を含んだ出射光束とを有効に
分離できるように、Ｓ波成分（カー効果成分）は実質上
１００％反射するが、Ｐ波成分は一部透過し一部反射（
例えば５０％づつ）となるように設計してある。
は直線偏光しており、偏光ビームスプリッタ（ＳＢＳ）
１７のプリズム入射面に対してＰ波となるように配置し
てある。レーザ光はコリメータレンズ１３により平行光
束となり、ＳＢＳ１７に入射する。ＳＢＳ１７は、光磁
気ディスク５３に入射する光束と、光磁気ディスク５３
面で反射され情報信号成分を含んだ出射光束とを有効に
分離できるように、Ｓ波成分（カー効果成分）は実質上
１００％反射するが、Ｐ波成分は一部透過し一部反射（
例えば５０％づつ）となるように設計してある。
【００１０】ＳＢＳ１７に入射したＰ波はその５０％が
透過し、立上げミラー２１により立上げられ、対物レン
ズ２３により収束されて光磁気ディスク５３にスポット
照射される。この照射されたＰ波成分の直線偏光は、デ
ィスク５３の記録情報（磁化の方向）に応じて回転され
、Ｓ波成分（信号）を含む光となって反射される。この
反射光は再びＳＢＳ１７に入射し、Ｓ波成分の１００％
とＰ波成分の５０％が反射し、Ｓ波成分は１／２波長板
２５に導かれて偏光の回転を行ない、集光レンズ２７、
シリンドリカルレンズ２９を経て通常の偏光ビームスプ
リッタ３１により直交する２つの偏光成分に分けられ、
情報検出用フォトダイオード３３，３５に導かれ、この
出力の差信号として情報が読み出される。
透過し、立上げミラー２１により立上げられ、対物レン
ズ２３により収束されて光磁気ディスク５３にスポット
照射される。この照射されたＰ波成分の直線偏光は、デ
ィスク５３の記録情報（磁化の方向）に応じて回転され
、Ｓ波成分（信号）を含む光となって反射される。この
反射光は再びＳＢＳ１７に入射し、Ｓ波成分の１００％
とＰ波成分の５０％が反射し、Ｓ波成分は１／２波長板
２５に導かれて偏光の回転を行ない、集光レンズ２７、
シリンドリカルレンズ２９を経て通常の偏光ビームスプ
リッタ３１により直交する２つの偏光成分に分けられ、
情報検出用フォトダイオード３３，３５に導かれ、この
出力の差信号として情報が読み出される。
【００１１】上記のようにＳＢＳ１７はＰ波の一部を反
射するため、コリメータレンズ１３により平行光束とさ
れＳＢＳ１７に入射したレーザ光（Ｐ波）の一部は、Ｓ
ＢＳ１７で情報信号検出系の系外に反射され余剰光とな
る。この余剰光はパワーとして例えば０．５ｍＷ程度あ
り、センサによる位置検出用として、かつ、半導体レー
ザ１１のパワー検出モニタ用として十分の強度を有して
いる。そこで本発明では、この余剰光が平行光束であり
、かつ、パワーに余裕があることを利用して光学ヘッド
３９（対物レンズ２３）の位置を検出し、あるいはさら
に半導体レーザ１１の発振強度を検出してパワー制御を
行なう。
射するため、コリメータレンズ１３により平行光束とさ
れＳＢＳ１７に入射したレーザ光（Ｐ波）の一部は、Ｓ
ＢＳ１７で情報信号検出系の系外に反射され余剰光とな
る。この余剰光はパワーとして例えば０．５ｍＷ程度あ
り、センサによる位置検出用として、かつ、半導体レー
ザ１１のパワー検出モニタ用として十分の強度を有して
いる。そこで本発明では、この余剰光が平行光束であり
、かつ、パワーに余裕があることを利用して光学ヘッド
３９（対物レンズ２３）の位置を検出し、あるいはさら
に半導体レーザ１１の発振強度を検出してパワー制御を
行なう。
【００１２】コリメータレンズ１３を経て平行光束とな
りＳＢＳ１７で反射された反射光は、アイリス４１で絞
られてビームスプリッタ４３に入射する。ビームスプリ
ッタ４３でこの一部が反射し筺体３７の開口部から光学
ヘッド３９外に導かれ、位置センサ５１に入射して光学
ヘッド３９の位置が検出される。位置センサとしては、
フォトダイオードアレーなどが使用でき、また、分解能
やスピードが許容範囲であればＣＣＤ（電荷結合素子）
なども利用できる。
りＳＢＳ１７で反射された反射光は、アイリス４１で絞
られてビームスプリッタ４３に入射する。ビームスプリ
ッタ４３でこの一部が反射し筺体３７の開口部から光学
ヘッド３９外に導かれ、位置センサ５１に入射して光学
ヘッド３９の位置が検出される。位置センサとしては、
フォトダイオードアレーなどが使用でき、また、分解能
やスピードが許容範囲であればＣＣＤ（電荷結合素子）
なども利用できる。
【００１３】また、ビームスプリッタ４３に入射した平
行光束の一部はこれを透過し、光学ヘッド３９に搭載さ
れた検出用フォトダイオード４５に入射する。これによ
り、半導体レーザ１１の発振強度を検知し、これを制御
することができる。
行光束の一部はこれを透過し、光学ヘッド３９に搭載さ
れた検出用フォトダイオード４５に入射する。これによ
り、半導体レーザ１１の発振強度を検知し、これを制御
することができる。
【００１４】図４〜６は本発明の他の実施例を示し、図
１〜３に対応する説明図である。この実施例は、コリメ
ータレンズ１３で平行光束とされＳＢＳ１７で反射され
たＰ波を位置センサ５１に導き、光学ヘッド外部の位置
センサ５１で、光学ヘッド３９の位置と半導体レーザ１
１の発振強度の双方を検知する以外は前述の実施例と同
じである。４７は、反射ミラーを示す。フォトダイオー
ドアレー、ＣＣＤ等の位置センサは入射する光量に対し
て発生する電流（電荷）が直線性を示すため、位置セン
サ５１に入射した光量の総量を検知して半導体レーザ１
１の発振強度を検出することができる。
１〜３に対応する説明図である。この実施例は、コリメ
ータレンズ１３で平行光束とされＳＢＳ１７で反射され
たＰ波を位置センサ５１に導き、光学ヘッド外部の位置
センサ５１で、光学ヘッド３９の位置と半導体レーザ１
１の発振強度の双方を検知する以外は前述の実施例と同
じである。４７は、反射ミラーを示す。フォトダイオー
ドアレー、ＣＣＤ等の位置センサは入射する光量に対し
て発生する電流（電荷）が直線性を示すため、位置セン
サ５１に入射した光量の総量を検知して半導体レーザ１
１の発振強度を検出することができる。
【００１５】また、上記の各実施例において、同様の偏
光反射／透過特性を示すハーフミラーを用いても、同じ
作用効果が得られる。
光反射／透過特性を示すハーフミラーを用いても、同じ
作用効果が得られる。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、光情報信号に使用する
レーザ光の余剰光を利用して光学ヘッドの位置、あるい
はさらにレーザ光の強度を検出することができ、特に、
コリメート後の平行光を利用できるのでコンパクトでか
つ精度の高い検出が可能である。
レーザ光の余剰光を利用して光学ヘッドの位置、あるい
はさらにレーザ光の強度を検出することができ、特に、
コリメート後の平行光を利用できるのでコンパクトでか
つ精度の高い検出が可能である。
【図１】図１は、本発明の実施例の光学系（光学ヘッド
）を示す説明上面図である。
）を示す説明上面図である。
【図２】図２は、図１の側面図である。
【図３】図３は、図１および２に示した光学系を用いる
制御システム全体の説明図である。
制御システム全体の説明図である。
【図４】図４は、本発明の他の実施例の光学系（光学ヘ
ッド）を示す説明上面図である。
ッド）を示す説明上面図である。
【図５】図５は、図４の側面図である。
【図６】図６は、図４および図５に示した光学系を用い
る制御システム全体の説明図である。
る制御システム全体の説明図である。
１１ 半導体レーザ
１３ コリメータレンズ
１５ 整形プリズム
１７ 偏光ビームスプリッタ（ＳＢＳ）２１ 立上
げミラー ２３ 対物レンズ ２５ １／２波長板 ２７ 集光レンズ ２９ シリンドリカルレンズ ３１ 偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）３３ 情報
信号検出用フォトダイオード３５ 情報信号検出用フ
ォトダイオード４１ アイリス ４３ ビームスプリッタ ４５ パワー検出用フォトダイオード４７ 反射ミ
ラー ５１ 位置センサ ５３ 光磁気ディスク
げミラー ２３ 対物レンズ ２５ １／２波長板 ２７ 集光レンズ ２９ シリンドリカルレンズ ３１ 偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）３３ 情報
信号検出用フォトダイオード３５ 情報信号検出用フ
ォトダイオード４１ アイリス ４３ ビームスプリッタ ４５ パワー検出用フォトダイオード４７ 反射ミ
ラー ５１ 位置センサ ５３ 光磁気ディスク
Claims (2)
- 【請求項１】 レーザ光等のコヒーレント光束を、偏
光特性をもつビームスプリッタに入射して反射あるいは
透過せしめ、情報の記録および／または再生を行なう光
学ヘッドにおいて、該ビームスプリッタにより分離出射
される光束のうち、情報の記録／再生に関わらない余剰
光束の一部を光学ヘッドの外部に取り出して光学ヘッド
の位置検出を行なうとともに、前記余剰光束の残りの一
部により、該ビームスプリッタに入射する光束の強度制
御を行なうことを特徴とする光学ヘッドの制御方法。 - 【請求項２】 レーザ光等のコヒーレント光束を、偏
光特性をもつビームスプリッタに入射して反射あるいは
透過せしめ、情報の記録および／または再生を行なう光
学ヘッドにおいて、該ビームスプリッタにより分離出射
される光束のうち、情報の記録／再生に関わらない余剰
光束を光学ヘッドの外部に取り出して光学ヘッドの位置
検出を行なうとともに、該余剰光束により、該ビームス
プリッタに入射する光束の強度制御を行なうことを特徴
とする光学ヘッドの制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18518691A JPH04356734A (ja) | 1991-03-22 | 1991-06-28 | 光学ヘッドの制御方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8343891 | 1991-03-22 | ||
| JP3-83438 | 1991-03-22 | ||
| JP18518691A JPH04356734A (ja) | 1991-03-22 | 1991-06-28 | 光学ヘッドの制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04356734A true JPH04356734A (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=26424463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18518691A Pending JPH04356734A (ja) | 1991-03-22 | 1991-06-28 | 光学ヘッドの制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04356734A (ja) |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP18518691A patent/JPH04356734A/ja active Pending
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