JPH04348269A - 塗膜劣化測定用プローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

［発明の目的］

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、金属表面に塗布された
塗膜の劣化を電気化学的に検出し評価するのに適する塗
膜劣化測定用プローブに関する。

【０００２】

【従来の技術】金属表面の塗膜劣化の検出や評価を行う
場合、図３に示す如く構成を用いた電気化学的評価方法
が実施されている。即ち、素地金属１上に塗布された被
測定塗膜２上に導電性ゲル３を介してアルミ箔等の測定
用電極４を接触させる。次に、交流電源５により素地金
属１と測定用電極４間に交流電圧を印加し、このときの
電流値及び電圧値をそれぞれ電流計６及び電圧計７から
読取り、これら両測定値から被測定塗膜２のインピーダ
ンスを求める。

【０００３】このようにして被測定塗膜２のインピーダ
ンスを測定した後、周波数に対するインピーダンスの絶
対値をプロットしたボード線図、あるいはインピーダン
スを実数部と虚数部とで表したナイキスト線図等を作成
して被測定塗膜２の劣化の程度を推定する。

【０００４】上記測定用電極４の代わりに塗膜測定用プ
ローブを用いた測定方法が提案されている。図４に示す
ように、この評価方式は、プローブ容器本体８内に導電
性ゲル９を含浸させたスポンジ状電極１０を収納し、こ
のスポンジ状電極１０の凸面部１１を被測定塗膜（図示
せず）に密着させることにより、測定時の誤差等を少な
くしてインピーダンスを測定しようとするものである。 ここで、プローブ容器本体８の開口端部８ａの外周には
、磁石１２を保持したガイドリング１３が付加されてい
る。また、プローブ容器本体８の内面に、スポンジ状電
極１０との接触面積を大きくするための錫箔１４が設け
られており、この錫箔１４には接続端子１５を介して測
定用電線（図示せず）が接続されている。

【０００５】測定時には、磁石１２により塗膜劣化測定
用プローブを被測定塗膜上に固定し、凸面部１１を被測
定塗膜に押し付けて導電性ゲル９を被測定塗膜に密着さ
せる。この状態で、被測定塗膜と塗膜劣化測定用プロー
ブとの間に電圧を印加してインピーダンスを測定する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来構
成において、導電性ゲル９の温度が異なると、導電性ゲ
ル９が被測定塗膜へ密着するのに要する時間が異なると
いうことが懸念されていた。このことは図５のグラフか
ら理解できる。同図中の横軸は、スポンジ状電極１０を
被測定塗膜に密着させておく時間（放置時間）を示し、
縦軸は周波数０．１Ｈｚにおける被測定塗膜のインピー
ダンス（対数）を示す。同図にて明らかなように、導電
性ゲル９の温度が異なると、インピーダンスも異なる値
を示す。しかも、温度が高いとインピーダンスは急激に
低下して速く安定するが、逆に、温度が低いとインピー
ダンスが安定するまでに要する時間が長くなる。

【０００７】ところが、実際に被測定塗膜のインピーダ
ンスを測定するにあたって、導電性ゲル９の温度は必ず
しも一定ではない。従って、精度良くインピーダンスを
測定するためには、測定現場に温度計を持ち込み、イン
ピーダンスを測定するのとは別に温度を測定し、その測
定温度に基づき、インピーダンスを標準温度、例えば２
５°Ｃのときの値に補正換算しなければならない。この
ため、作業が面倒であり、且つ時間がかかるという問題
があった。

【０００８】同様に、被測定塗膜のインピーダンスを測
定するにあたって、実際の塗膜の厚さは測定箇所によっ
て異なっており、例えば、膜厚が厚くなればインピーダ
ンスは大きくなる。従って、単にインピーダンスを測定
しただけでは、それが劣化によるものなのか、あるいは
膜厚の差によるものなのかを判断できず、測定精度が悪
くなってしまうことがあった。このため、測定されたイ
ンピーダンスを膜厚で除して基準化することにより、測
定精度を向上させるようにしているが、この場合、測定
現場に膜厚センサーを持ち込み、インピーダンスを測定
するのとは別に、膜厚を測定しなければならないため、
その作業が面倒であり、且つ時間がかかるという問題が
あった。

【０００９】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、温度及び膜厚を測定する時間を短縮
でき、しかも、精度の良い測定が可能な塗膜劣化測定用
プローブを提供することにある。 ［発明の構成］

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の塗膜劣化測定用
プローブは、プローブ容器本体内に、被測定塗膜に接触
する柔軟なゲル含浸用部材を収納し、このゲル含浸用部
材に導電性ゲルを含浸したものにおいて、前記ゲル含浸
用部材内に被測定塗膜の温度を測定する温度測定センサ
ー及び被測定塗膜の膜厚を測定する膜厚センサーを埋設
したところに特徴を有する。

【００１１】

【作用】上記手段によれば、インピーダンスを測定する
のと同時に、温度測定センサーによる温度測定及び膜厚
測定センサーによる塗膜の膜厚測定を行うことが可能と
なり、温度及び膜厚を測定する時間を短縮でき、しかも
、精度の良い測定が可能となる。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の一実施例につき図１を参照し
ながら説明する。即ち、プローブ容器本体２１内には、
例えば、スポンジからなる柔軟なゲル含浸用部材２２が
収納されている。このゲル含浸用部材２２には、導電性
ゲル２３が含浸されており、ゲル含浸用部材２２に形成
された凸面部２４を被測定塗膜（図示せず）に押し付け
ることによって、被測定塗膜に導電性ゲル２３をまんべ
んなく密着させるようになっている。一方、プローブ容
器本体２１の側面部には接続端子２５が設けられており
、この接続端子２５には分極性の小さい材料、例えば錫
箔２６が接続されている。この錫箔２６は前記ゲル含浸
用部材２２と接触し、しかも、プローブ容器本体２１の
内面部を覆うように設けられている。また、プローブ容
器本体２１の開口端部２１ａの外周には、ねじ部２７が
設けられており、磁石２８を有するガイドリング２９が
このねじ部２７に螺合されている。

【００１３】上記ゲル含浸用部材２２内には、熱電対や
サーミスタ等からなる温度測定センサー３０が埋設され
ている。温度測定センサー３０は、前記導電性ゲル２３
の温度を測定するためのものであり、温度測定センサー
３０による測定値は、リード線３１を介して温度測定セ
ンサー３０に接続された温度計３２へ伝送される。そし
て、この温度計３２により測定値が表示されると共に、
デジタル信号に変換されるようになっている。

【００１４】一方、プローブ容器本体２１の上面部には
孔部３３が形成されており、この孔部３３には、前記ゲ
ル含浸用部材２２に埋設するように膜厚センサー３４が
挿着されている。この膜厚センサー３４は、鉄心入りコ
イルを備え、インダクタンスの変化により膜厚を検出す
るようになっている。また、膜厚センサー３４の測定部
３４ａはプローブ容器本体２１の下端面と同一高さに設
定されており、前記ゲル含浸用部材２２の凸面部２４を
被測定塗膜に押し付けると、測定部３４ａが被測定塗膜
に接触するようになっている。このような膜厚センサー
３４は、被測定塗膜の膜厚を測定するためのものであり
、膜厚測定センサー３４による測定値は、リード線３５
を介して膜厚センサー３４に接続された膜厚計３６へ伝
送される。そして、この膜厚計３６により測定値が表示
されると共に、デジタル信号に変換されるようになって
いる。

【００１５】一方、上記接続端子２５はリード線３７を
介してプリアンプ３８に接続されており、更に、このプ
リアンプ３８はリード線３９を介してＣＰＵ４０に接続
されている。この場合、被測定塗膜に電圧が印加される
と、この印加電圧に基づき、回路には被測定塗膜の劣化
度合に応じた電流が流れる。プリアンプ３８は、この電
流を検出するための電流検出手段として機能する。また
、プリアンプ３８によって検出された電流はＣＰＵ４０
へと伝送され、ＣＰＵ４０において、この伝送信号に基
づきインピーダンスが計算されるようになっている。 更に、前記温度計３０及び膜厚計３４は夫々リード線４
１，４２を介してＣＰＵ４０に接続されている。これに
より、ＣＰＵ４０には、測定温度及び膜厚がデジタル信
号に変換されて伝送され、これら伝送信号に基づき前記
インピーダンスの補正換算を行うようになっている。

【００１６】測定時には、被測定塗膜に凸面部２４を押
し付け、磁石２８により被測定塗膜に装置を固定する。 この状態で、図示しない電源装置により、被測定塗膜に
電圧を印加すると、この印加電圧に基づき回路には被測
定塗膜の劣化度合に応じた電流が流れる。すると、この
電流はプリアンプ３８によって検出され、ＣＰＵ４０へ
伝送される。ＣＰＵ４０では、これら伝送信号に基づき
、前記プリアンプ３８からの検出信号に対して補正換算
を行い、被測定塗膜のインピーダンスを算出する。

【００１７】上記実施例によれば次の効果を奏する。即
ち、ゲル含浸用部材２２内に被測定塗膜の温度を測定す
る温度測定センサー３０及び被測定塗膜の膜厚を測定す
る膜厚センサー３４を埋設したので、被測定塗膜に導電
性ゲル２３を密着させてインピーダンスを測定する際、
導電性ゲル２３の温度測定及び被測定塗膜の膜厚測定も
同時に行い得、従って、温度及び膜厚測定に要する時間
を短縮することができると共に、温度及び膜厚をも考慮
した精度の高い測定が可能となる。それに加え、本実施
例では、温度測定センサー３０及び膜厚測定センサー３
４により測定したデータをＣＰＵ４０へ伝送し、自動的
にインピーダンスの補正換算を行うようにしたので、よ
り一層、測定時間を短縮することが可能となる。

【００１８】尚、上記実施例では、温度測定センサー３
０及び膜厚センサー３４による検出データをＣＰＵ４０
へ伝送し、自動的に補正換算を行う構成としたが、本発
明の他の実施例として図２に示すように、温度計３２及
び膜厚計３６を、測定値を表示するための表示手段とし
、これら表示手段から読み取ったデータを基に作業者が
直接インピーダンスの補正換算を行うようにしても良い
。

【００１９】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の塗膜劣化測定用プローブは、プローブ容器本体内に収
納されたゲル含浸用部材に被測定塗膜の温度を検出する
温度測定センサー及び被測定塗膜の膜厚を測定する膜厚
センサーを埋設したので、温度及び膜厚を測定する時間
を短縮でき、しかも、精度の良い測定が可能になるとい
う優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を概略的に示す断面図

【図２
】本発明の他の実施例を示す図１相当図

【図３】従来例
を概略的に示す断面図

【図４】他の従来例を示す断面図

【図５】放置時間及び温度の違いによるインピーダンス
の変化を表した特性図

【符号の説明】

２１はプローブ容器本体、２２はゲル含浸用部材、２３
は導電性ゲル、３０は温度測定センサー、３２は温度計
、３４は膜厚測定センサー、３６は膜厚計を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　プローブ容器本体内に、被測定塗膜に
   接触する柔軟なゲル含浸用部材を収納し、このゲル含浸
   用部材に導電性ゲルを含浸した塗膜劣化測定用プローブ
   において、前記ゲル含浸用部材内に被測定塗膜の温度を
   測定する温度測定センサー及び被測定塗膜の膜厚を測定
   する膜厚センサーを埋設したことを特徴とする塗膜劣化
   測定用プローブ。