JPH04328967A - Sampling phase adjustment device in picture processing system - Google Patents

Sampling phase adjustment device in picture processing system

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JPH04328967A
JPH04328967A JP3125419A JP12541991A JPH04328967A JP H04328967 A JPH04328967 A JP H04328967A JP 3125419 A JP3125419 A JP 3125419A JP 12541991 A JP12541991 A JP 12541991A JP H04328967 A JPH04328967 A JP H04328967A
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JP
Japan
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circuit
signal
phase
image processing
timing
Prior art date
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Pending
Application number
JP3125419A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Takizawa
滝沢 寿夫
Takashi Morikawa
森川 太加志
Sadafumi Kaneda
金田 禎史
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
Application filed by Victor Company of Japan Ltd filed Critical Victor Company of Japan Ltd
Priority to JP3125419A priority Critical patent/JPH04328967A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain higher picture quality by realizing the phase adjustment device making a sampling timing of a video camera section coincident with a phase of an A/D conversion timing of a picture processing section automatically. CONSTITUTION:A test signal of a test signal generating circuit 33 is A/D- converted by an A/D converter circuit 28 after the test mode is set and the result is analyzed by a system control circuit 39 to obtain a phase error of timing clocks between a video camera section 21 and a picture processing section 22 and a phase adjustment circuit 27a of a synchronizing coupling circuit 27 adjusts the phase of the clock of a timing clock generating circuit 25 based on the error information. The phases of both the timing clocks are made coincident through the repetition of the sequence thereby eliminating deterioration in picture due to a phase difference of the sampling time in the normal mode and the timing of the A/D conversion.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は画像処理システムにおけ
るサンプリング位相調整装置に係り、ビデオカメラ部側
のサンプリングタイミングの位相と画像処理部側のA/
D変換タイミングの位相とを自動的に整合させ、より高
品位な画質を得るための装置を提供することを目的とす
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sampling phase adjusting device in an image processing system, and relates to a sampling phase adjusting device for an image processing system, which adjusts the phase of sampling timing on the video camera side and the A/
It is an object of the present invention to provide a device that automatically matches the phase of D conversion timing and obtains higher image quality.

【0002】0002

【従来の技術】ビデオカメラ部をディジタル画像処理部
(画像処理ボード等)へ接続する場合において、そのシ
ステムは図5から図7に示すような回路構成となる。
2. Description of the Related Art When a video camera section is connected to a digital image processing section (image processing board, etc.), the system has a circuit configuration as shown in FIGS. 5 to 7.

【0003】先ず、図5は汎用のビデオカメラ部51を
画像処理部52へ接続する場合の回路構成であり、ビデ
オカメラ部51では固体撮像素子53から得られた電気
信号をサンプルホールド(S/H)回路54で標本化し
、更に色分離等を行った信号を信号処理回路55でリア
ルタイムなビデオプロセス処理を施した後、アナログ映
像信号(RGB出力)として画像処理部52側へ送出す
る。一方、画像処理部52では受信した映像信号をA/
D変換回路56でディジタル信号に変換してメモリ57
へ書き込み、信号処理回路58で各フレーム毎にディジ
タル信号処理を施した後、D/A変換回路59でアナロ
グ信号へ変換して録画系等(図示せず)へ出力する。そ
して、この種のシステムではビデオカメラ部51と画像
処理部52が独自にタイミングクロック発生回路60,
61を有していると共に、後述の図6又は図7で示すよ
うな同期結合手段をビデオカメラ部51又は画像処理部
52に備えている。尚、62は固体撮像素子53のドラ
イブ回路を、63は画像処理部52のシステム制御部を
示す。このシステムでは、前記のようにビデオカメラ部
51と画像処理部52に信号処理回路55,58を有し
ているために回路規模が大きくなる。また、信号処理回
路55ではS/H回路54で得られた離散的に変化する
信号を補完すると共に、帯域制限を施した連続信号とし
て出力するが、その結果、ビデオカメラ部51側から出
力される映像信号の情報量が少なくなって画質の劣化を
招く。更に、これを画像処理部52側で補正するための
信号処理が極めて複雑になるという欠点を有している。
First, FIG. 5 shows a circuit configuration when a general-purpose video camera unit 51 is connected to an image processing unit 52. H) The signal sampled in the circuit 54 and subjected to color separation, etc. is subjected to real-time video processing in the signal processing circuit 55, and then sent to the image processing section 52 as an analog video signal (RGB output). On the other hand, the image processing section 52 converts the received video signal into A/
It is converted into a digital signal by the D conversion circuit 56 and stored in the memory 57.
After digital signal processing is performed for each frame in the signal processing circuit 58, the signal is converted into an analog signal in the D/A conversion circuit 59 and output to a recording system or the like (not shown). In this type of system, the video camera section 51 and the image processing section 52 independently operate a timing clock generation circuit 60,
61, and the video camera section 51 or the image processing section 52 is provided with a synchronous coupling means as shown in FIG. 6 or 7, which will be described later. Note that 62 represents a drive circuit for the solid-state image sensor 53, and 63 represents a system control section for the image processing section 52. In this system, since the video camera section 51 and the image processing section 52 include the signal processing circuits 55 and 58 as described above, the circuit scale becomes large. Further, the signal processing circuit 55 complements the discretely changing signal obtained by the S/H circuit 54 and outputs it as a band-limited continuous signal. The amount of information in the video signal decreases, leading to deterioration in image quality. Furthermore, there is a drawback that signal processing for correcting this on the image processing section 52 side becomes extremely complicated.

【0004】前記のシステムに対して、図6はビデオカ
メラ部64と画像処理部65が一体的にアッセンブリ化
される場合の回路構成を示し、このシステムにおいては
ビデオカメラ部64側にビデオプロセス処理のための信
号処理回路を設けておらず、図5のシステムにおける信
号処理回路55が実行する処理を画像処理部65側の信
号処理部58aがディジタル処理によって併せて実行す
るようになっている。そして、このシステムでは、画像
処理部65側のタイミングクロック発生回路61の垂直
・水平同期信号をビデオカメラ部64側に設けられてい
る同期結合回路66へ出力させ、ビデオカメラ部64側
の基準クロックを制御して同期をとるようにしている。
In contrast to the above-mentioned system, FIG. 6 shows a circuit configuration in which a video camera section 64 and an image processing section 65 are integrated into an assembly. No signal processing circuit is provided for this purpose, and the signal processing section 58a on the image processing section 65 side also executes the processing executed by the signal processing circuit 55 in the system of FIG. 5 through digital processing. In this system, the vertical and horizontal synchronization signals of the timing clock generation circuit 61 on the image processing section 65 side are outputted to the synchronization coupling circuit 66 provided on the video camera section 64 side, and the reference clock signal on the video camera section 64 side is control and synchronization.

【0005】また、図7は前記の図6のシステムと同様
に基準クロックの同期を確立させるシステムであるが、
図6の場合とは逆に、ビデオカメラ部67側のタイミン
グクロック発生回路60から出力される複合同期信号を
画像処理部68側に設けた同期結合回路66へ出力させ
て同期をとるようにしている。
Furthermore, FIG. 7 shows a system for establishing synchronization of reference clocks, similar to the system shown in FIG.
Contrary to the case in FIG. 6, synchronization is achieved by outputting the composite synchronization signal output from the timing clock generation circuit 60 on the video camera section 67 side to the synchronization coupling circuit 66 provided on the image processing section 68 side. There is.

【0006】ところで、図6及び図7のシステムのよう
に同期結合回路66で同期をとるようにしても、実際に
は同期信号のタイミングの相違などにより水平位相を調
整する必要が生じる。このため、同期結合回路66に位
相調整回路66aを内蔵させ、水平同期信号の位相を変
化させることにより水平位相の調整を図っている。この
位相調整回路66aを内蔵させた同期結合回路66の一
例は図8に示され、遅延回路70・位相比較器71・ロ
ーパスフィルタ72・電圧制御発振器73からなる位相
同期ループに対して、一方の水平同期信号を位相調整回
路66aを介して位相比較器71へ入力させ、位相調整
回路66aの位相調整電圧を制御することにより水平位
相を調整できるようになっている。
By the way, even if synchronization is achieved using the synchronization coupling circuit 66 as in the systems shown in FIGS. 6 and 7, it is actually necessary to adjust the horizontal phase due to differences in the timing of the synchronization signals. For this reason, a phase adjustment circuit 66a is built into the synchronization coupling circuit 66, and the horizontal phase is adjusted by changing the phase of the horizontal synchronization signal. An example of the synchronous coupling circuit 66 incorporating this phase adjustment circuit 66a is shown in FIG. The horizontal phase can be adjusted by inputting the horizontal synchronization signal to the phase comparator 71 via the phase adjustment circuit 66a and controlling the phase adjustment voltage of the phase adjustment circuit 66a.

【0007】ここで、位相調整回路66aの詳細な動作
を図9を参照して説明すると、次のようになる。先ず、
一方の水平同期信号の立下りエッジをエッジ検出回路7
4で検出し、RS−FF回路75をセットする。この結
果、RS−FF回路75の出力によりnpnトランジス
タ76がカットオフされてキャパシタ77の放電が停止
し、電流源78からの充電が開始される。そして、この
充電電圧が位相調整電圧より大きくなると、電圧比較器
79の出力によってRS−FF回路75がリセットされ
、ワンショット回路80をトリガさせて、その出力を位
相比較器71へ入力させる。以上の動作により、一方の
水平同期信号を位相調整電圧に比例した時間だけ遅延さ
せて位相比較器71へ入力させることができ、位相調整
電圧を変化させて水平位相を調整させることが可能にな
る。
The detailed operation of the phase adjustment circuit 66a will now be described with reference to FIG. 9. First of all,
The edge detection circuit 7 detects the falling edge of one horizontal synchronization signal.
4 and sets the RS-FF circuit 75. As a result, the npn transistor 76 is cut off by the output of the RS-FF circuit 75, discharging of the capacitor 77 is stopped, and charging from the current source 78 is started. When this charging voltage becomes larger than the phase adjustment voltage, the RS-FF circuit 75 is reset by the output of the voltage comparator 79, triggering the one-shot circuit 80, and inputting its output to the phase comparator 71. With the above operation, one horizontal synchronization signal can be input to the phase comparator 71 after being delayed by a time proportional to the phase adjustment voltage, and the horizontal phase can be adjusted by changing the phase adjustment voltage. .

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図6及び図
7のシステムのようにビデオカメラ部64,67と画像
処理部65,68の間で水平位相の調整を図るのはよい
が、ビデオカメラ部64,67から出力されるアナログ
映像信号は図10の(a)のように変化帯を有しながら
離散的に変化する。従って、ビデオカメラ部64,67
側のサンプリングのタイミングと画像処理部65,68
側のA/D変換のタイミングに位相差が生じていると、
映像信号の変化帯でA/D変換がなされて画像が劣化す
る場合がある。例えば、図10の(b)における中央の
A/D変換のタイミングは映像信号の変化帯に相当し、
その結果、変換後のレベルが正規の変換レベルより低い
ものとなっている。そして、図6及び図7のシステムに
おける画像処理部65,68側の信号処理回路58aで
はその場合の補正を行うことができない。原理的にみれ
ば、この問題はサンプリング位相を調整することによっ
て解消でき、結果的には前記の水平位相調整方式により
その目的を達成できるが、実際にはA/D変換後の画像
(又は信号やデータ)を観測しながら調整を繰り返さね
ばならず、時間と労力がかかりすぎ、また調整精度もあ
まり期待できない。
By the way, it is good to adjust the horizontal phase between the video camera units 64, 67 and the image processing units 65, 68 as in the systems shown in FIGS. The analog video signals outputted from the sections 64 and 67 change discretely with a change band as shown in FIG. 10(a). Therefore, the video camera sections 64, 67
Side sampling timing and image processing units 65, 68
If there is a phase difference in the timing of A/D conversion on the side,
In some cases, A/D conversion is performed in a changing band of the video signal, resulting in image deterioration. For example, the central A/D conversion timing in FIG. 10(b) corresponds to the change band of the video signal,
As a result, the level after conversion is lower than the normal conversion level. The signal processing circuit 58a on the image processing units 65 and 68 side in the systems shown in FIGS. 6 and 7 cannot perform correction in that case. In principle, this problem can be solved by adjusting the sampling phase, and as a result, the above-mentioned horizontal phase adjustment method can achieve this purpose, but in reality, the image (or signal) after A/D conversion Adjustments must be made repeatedly while observing (data), which takes too much time and effort, and the accuracy of the adjustments cannot be expected to be very high.

【0009】一方、図7のシステムにおいて、図11に
示すようにビデオカメラ部67のサンプリングクロック
を画像処理部68の同期結合回路66へ出力させ、画像
処理部68側のタイミングクロック発生回路61でサン
プリングクロックに同期したA/D変換のクロックを作
成することが可能な装置も提案されている(特開平2−
274194号)。この方式によれば、図10の(c)
のように、サンプリングタイミングに対するA/D変換
のタイミングを映像信号の変化時間以上の位相差ψに設
定しておくことにより、常に正規の変換レベルを得るよ
うにできる。しかし、通常の画像処理部は外部からサン
プリングクロックを受信する機能を有しておらず、その
ようなシステムを構成するには専用の画像処理部を設計
する必要が生じ、汎用性や拡張性に欠けることになる。
On the other hand, in the system shown in FIG. 7, the sampling clock of the video camera section 67 is outputted to the synchronous coupling circuit 66 of the image processing section 68, as shown in FIG. A device capable of creating an A/D conversion clock synchronized with a sampling clock has also been proposed (Japanese Patent Application Laid-open No. 2003-11002-1).
No. 274194). According to this method, (c) in FIG.
By setting the A/D conversion timing with respect to the sampling timing to a phase difference ψ greater than the change time of the video signal, a regular conversion level can always be obtained. However, normal image processing units do not have the ability to receive sampling clocks from outside, and configuring such a system requires designing a dedicated image processing unit, which reduces versatility and expandability. It will be missing.

【0010】そこで、本発明は、画像処理部とその同期
信号に同期して動作するビデオカメラ部とからなるシス
テムにおいて、画像処理部のA/D変換のタイミングと
ビデオカメラ部のサンプリングタイミングの位相誤差を
自動的に微調整し、画像劣化のない画像処理システムを
提供することを目的として創作された。
Accordingly, the present invention provides a system comprising an image processing section and a video camera section that operates in synchronization with its synchronization signal, in which the phase of the A/D conversion timing of the image processing section and the sampling timing of the video camera section is adjusted. It was created with the aim of providing an image processing system that automatically fine-tune errors and eliminate image deterioration.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の基本的構成は図
1に示され、固体撮像素子1の出力信号を画像処理部2
の同期信号(同期信号発生回路3)に同期(同期結合回
路4)させてサンプリング(S/H回路5)したアナロ
グ映像信号を出力するビデオカメラ部6と、前記ビデオ
カメラ部6から入力されたアナログ映像信号を内部同期
信号に同期させてA/D変換(A/D変換回路7)を行
うことにより画像情報を取り込む画像処理部2とからな
る画像処理システムにおいて、ビデオカメラ部6側に、
通常モードとテストモードを切換え設定するモード設定
手段8と、テストモード設定時にサンプリングタイミン
グに同期した所定のテスト信号を発生させる信号発生手
段9と、前記テストモード設定時にアナログ映像信号に
代えて信号発生手段9のテスト信号を出力させる切換え
手段10と、画像処理部2からの位相誤差情報を用いて
サンプリング位相の調整を実行する位相調整手段11を
設け、画像処理部2側に、テスト信号のA/D変換後の
レベル情報を用いてA/D変換タイミングの位相とビデ
オカメラ部6のサンプリングタイミングの位相との誤差
情報を検出する位相誤差検出手段12と、前記に検出さ
れた位相誤差情報をビデオカメラ部6へ出力する位相誤
差出力手段13を設けたことを特徴とする画像処理シス
テムにおけるサンプリング位相調整装置に係る。
[Means for Solving the Problems] The basic configuration of the present invention is shown in FIG.
A video camera section 6 outputs an analog video signal sampled (S/H circuit 5) in synchronization (synchronous coupling circuit 4) with a synchronization signal (synchronization signal generation circuit 3) of In an image processing system comprising an image processing section 2 that captures image information by synchronizing an analog video signal with an internal synchronization signal and performing A/D conversion (A/D conversion circuit 7), on the video camera section 6 side,
mode setting means 8 for switching between normal mode and test mode; signal generating means 9 for generating a predetermined test signal synchronized with sampling timing when setting the test mode; and generating a signal in place of the analog video signal when setting the test mode. A switching means 10 for outputting the test signal of the means 9 and a phase adjustment means 11 for adjusting the sampling phase using phase error information from the image processing section 2 are provided. a phase error detection means 12 that detects error information between the phase of the A/D conversion timing and the phase of the sampling timing of the video camera section 6 using the level information after the A/D conversion; The present invention relates to a sampling phase adjustment device in an image processing system characterized in that a phase error output means 13 for outputting to a video camera section 6 is provided.

【0012】0012

【作用】この画像処理システムで、モード設定手段8が
通常モードを設定しているときには、切換え手段10が
S/H回路5と画像処理部2を接続させる回路を構成し
、固体撮像素子1で得られたアナログ映像信号はS/H
回路5で標本化された後、画像処理部2のA/D変換回
路7へ出力され、A/D変換後のディジタル信号は信号
処理回路14で処理が施されて録画系等へ出力される。 一方、モード設定手段8がテストモードを設定すると、
切換え手段10が信号発生手段9と画像処理部2を接続
させる回路を構成し、信号発生手段9が出力するテスト
信号をA/D変換回路7へ出力させる。ここに、テスト
信号は同期結合回路4で制御されるサンプリングクロッ
クに同期しており、且つ一定の信号波形を有している。
[Operation] In this image processing system, when the mode setting means 8 sets the normal mode, the switching means 10 constitutes a circuit that connects the S/H circuit 5 and the image processing section 2, and the solid-state image sensor 1 The obtained analog video signal is S/H
After being sampled by the circuit 5, it is output to the A/D conversion circuit 7 of the image processing section 2, and the digital signal after A/D conversion is processed by the signal processing circuit 14 and output to a recording system, etc. . On the other hand, when the mode setting means 8 sets the test mode,
The switching means 10 constitutes a circuit that connects the signal generating means 9 and the image processing section 2, and causes the test signal outputted by the signal generating means 9 to be outputted to the A/D conversion circuit 7. Here, the test signal is synchronized with the sampling clock controlled by the synchronous coupling circuit 4 and has a constant signal waveform.

【0013】そして、このテスト信号も映像信号と同様
に画像処理部2のA/D変換回路7でA/D変換される
が、そのA/D変換は同期信号発生回路3が発生させる
クロックに同期して実行される。ところで、テスト信号
は一定の信号波形を有していることから、A/D変換後
の変換レベルを解析すると、S/H回路5のサンプリン
グタイミングとA/D変換回路7によるA/D変換のタ
イミングの位相誤差を定量的に検出することができる。 そこで、位相誤差検出手段12でA/D変換後のテスト
信号を用いて前記の位相誤差を検出し、更にその位相誤
差情報を位相誤差出力手段13によってビデオカメラ部
6側へ出力させる。
Similar to the video signal, this test signal is also A/D converted by the A/D conversion circuit 7 of the image processing section 2, but the A/D conversion is performed using a clock generated by the synchronization signal generation circuit 3. executed synchronously. By the way, since the test signal has a constant signal waveform, analysis of the conversion level after A/D conversion reveals that the sampling timing of the S/H circuit 5 and the A/D conversion by the A/D conversion circuit 7 are Timing phase errors can be quantitatively detected. Therefore, the phase error detection means 12 detects the phase error using the test signal after A/D conversion, and furthermore, the phase error information is outputted to the video camera section 6 side by the phase error output means 13.

【0014】一方、ビデオカメラ部6では前記の位相誤
差情報を位相調整手段11で受信し、同手段11がその
誤差情報に基づいて同期結合回路4を制御することによ
り信号発生手段9へ出力している同期クロックの位相を
調整させる。この結果、サンプリングクロックの位相を
A/D変換のタイミングへ一致させることができ、位相
のずれに起因した画像劣化を無くすことが可能になる。
On the other hand, in the video camera section 6, the phase error information is received by the phase adjustment means 11, and the means 11 outputs it to the signal generation means 9 by controlling the synchronous coupling circuit 4 based on the error information. Adjust the phase of the synchronized clock. As a result, it is possible to match the phase of the sampling clock to the timing of A/D conversion, and it is possible to eliminate image deterioration caused by phase shift.

【0015】[0015]

【実施例】以下、図2から図4を用いて本発明の一実施
例を説明する。先ず、図2は実施例に係る画像処理シス
テムの回路図であり、21はビデオカメラ部、22は画
像処理部を示す。同図において、ビデオカメラ部21側
に固体撮像素子23、S/H回路・色分離回路24、タ
イミングクロック発生回路25、ドライブ回路26、及
び同期結合回路27(位相調整回路27aを内蔵)が組
み込まれていること、また画像処理部22側にA/D変
換回路28、メモリ29、D/A変換回路31、信号処
理回路30、及びタイミングクロック発生回路32が組
み込まれていることについては図6のシステムと同様で
あり、ここではそれら各部に関連した動作説明は省略す
る。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 2 to 4. First, FIG. 2 is a circuit diagram of an image processing system according to an embodiment, in which 21 indicates a video camera section and 22 indicates an image processing section. In the figure, a solid-state image sensor 23, an S/H circuit/color separation circuit 24, a timing clock generation circuit 25, a drive circuit 26, and a synchronous coupling circuit 27 (with a built-in phase adjustment circuit 27a) are incorporated in the video camera section 21 side. FIG. 6 shows that the A/D conversion circuit 28, memory 29, D/A conversion circuit 31, signal processing circuit 30, and timing clock generation circuit 32 are incorporated in the image processing section 22 side. The system is similar to that of the above system, and the explanation of the operation related to each part will be omitted here.

【0016】この実施例システムの特徴は、ビデオカメ
ラ部21側にテスト信号発生回路33と、S/H回路・
色分離回路24からのアナログ映像信号とテスト信号発
生回路33からのテスト信号を切換えて画像処理部22
へ出力させるスイッチ回路34と、画像処理部22との
間で制御信号の入出力を行うI/O35と、D/A変換
回路36と、それらを制御するマイクロコンピュータ回
路37を組み込んでいること、及び画像処理部22側に
ビデオカメラ部21側との間で制御信号の入出力を行う
I/O38を組み込み、且つシステム制御部39に位相
誤差検出に関する信号解析プログラムを設けた点にある
The system of this embodiment is characterized by a test signal generation circuit 33 and an S/H circuit on the video camera section 21 side.
The image processing unit 22 switches between the analog video signal from the color separation circuit 24 and the test signal from the test signal generation circuit 33.
It incorporates a switch circuit 34 for outputting to the image processing section 22, an I/O 35 for inputting and outputting control signals between the image processing section 22, a D/A conversion circuit 36, and a microcomputer circuit 37 for controlling them; Furthermore, an I/O 38 for inputting and outputting control signals to and from the video camera section 21 is incorporated in the image processing section 22, and a signal analysis program related to phase error detection is provided in the system control section 39.

【0017】このシステムでは、従来のシステムと異な
り、テストモードと通常モードを設定し、テストモード
で本発明に係るサンプリング位相の調整を実行し、通常
モードで実際の映像信号の取り込みと処理を実行する。 以下、テストモードにおけるシステムの動作を図3のフ
ローチャートを参照しながら詳細に説明する。
In this system, unlike conventional systems, a test mode and a normal mode are set, the sampling phase adjustment according to the present invention is executed in the test mode, and the actual video signal acquisition and processing is executed in the normal mode. do. The operation of the system in the test mode will be described in detail below with reference to the flowchart of FIG.

【0018】先ず、マイクロコンピュータ回路37がテ
ストモードを設定し、テスト信号発生回路33を起動さ
せると共に、テスト信号発生回路33と画像処理部22
を接続させるようにスイッチ回路34をセットする。ま
た、マイクロコンピュータ回路37はI/O35を通じ
てテストモードの設定通知信号を画像処理部22側へ送
出し、これをI/O38を介して受信したシステム制御
部39は信号解析プログラムをレディセットする。尚、
このテストモードの設定は、システムの立ち上げ検知に
より、又は外部からの指示信号によって行わせることが
できる。この状態において、テスト信号発生回路33は
タイミングクロック発生手段25のクロック(通常モー
ドでのサンプリングクロック)に同期したテスト信号を
出力し、その信号はスイッチ回路34を介して画像処理
部22のA/D変換回路28へ入力される(F1,F2
)。但し、このテスト信号は、図4の(a)に示すよう
に、前記クロックの3周期分でリニアに増加し、次の3
周期分で一定となり、6周期が終了した時点で立ち下が
る波形を有している。
First, the microcomputer circuit 37 sets the test mode, starts the test signal generation circuit 33, and also activates the test signal generation circuit 33 and the image processing section 22.
The switch circuit 34 is set to connect. Further, the microcomputer circuit 37 sends a test mode setting notification signal to the image processing section 22 side through the I/O 35, and the system control section 39, which receives this through the I/O 38, ready-sets the signal analysis program. still,
Setting of this test mode can be performed by detecting the start-up of the system or by an instruction signal from the outside. In this state, the test signal generation circuit 33 outputs a test signal synchronized with the clock of the timing clock generation means 25 (sampling clock in normal mode), and the signal is sent to the A/ Input to the D conversion circuit 28 (F1, F2
). However, as shown in FIG. 4(a), this test signal increases linearly for three periods of the clock, and then
It has a waveform that is constant over a period and falls at the end of six periods.

【0019】一方、テスト信号を受信したA/D変換器
28はタイミングクロック発生手段32のクロックに同
期したA/D変換を実行し、変換後のテスト信号がメモ
リ29へ書き込まれる。ここで、メモリ29のデータは
信号処理回路30によって所定の処理が施されるが、そ
の段階でシステム制御回路39の信号解析プログラムが
起動されて、1水平走査分のテスト信号を抽出すると共
にその1テスト信号の開始点を検出する(F3,F4)
On the other hand, the A/D converter 28 which has received the test signal performs A/D conversion in synchronization with the clock of the timing clock generating means 32, and the converted test signal is written into the memory 29. Here, the data in the memory 29 is subjected to predetermined processing by the signal processing circuit 30, but at that stage, the signal analysis program in the system control circuit 39 is activated to extract the test signal for one horizontal scan and to extract the test signal for one horizontal scan. 1 Detect the start point of the test signal (F3, F4)
.

【0020】次に、システム制御回路39は各タイミン
グにおけるA/D変換後の信号レベルを測定する(F5
)。即ち、1テスト信号の開始点に最も近いA/D変換
のレベルをD1とし、その直前のA/D変換のレベルD
0とその直後の連続した2回分のA/D変換のレベルD
2,D3を測定する。例えば、図4の(b)はタイミン
グ発生回路25のクロックの位相が進んでいる場合を示
しており、その場合におけるD0〜D3はそれぞれ同図
に示すような関係で測定される。 また、システム制御回路39はそれらの測定値を用いて
タイミングが前後するレベル値の差(S0=D1−D0
,S1=D2−D1,S2=D3−D2)を演算し(F
6)、更に、前記に求めたレベル値の差が相互に等しい
か否かを判断する(F7)。即ち、図4の(b)から理
解されるように、もしタイミングクロック発生手段25
のクロックの位相とA/D変換のタイミングの位相が一
致していればA/D変換のレベルD0はテスト信号の開
始点で得られることになるが、その一致/不一致は、テ
スト信号の増加領域がリニアであることから、S0=S
1とS1=S2の関係が同時に成立するか否かをみれば
確認できることになり、このステップ(F7)ではそれ
を判断することになる。
Next, the system control circuit 39 measures the signal level after A/D conversion at each timing (F5
). That is, the A/D conversion level closest to the starting point of one test signal is D1, and the immediately preceding A/D conversion level D is
0 and the level D of two consecutive A/D conversions immediately after that
2. Measure D3. For example, FIG. 4(b) shows a case where the clock of the timing generation circuit 25 is advanced in phase, and in this case, D0 to D3 are measured according to the relationships shown in the figure. In addition, the system control circuit 39 uses these measured values to determine the difference between the level values at different timings (S0=D1-D0).
, S1=D2-D1, S2=D3-D2) and calculate (F
6) Furthermore, it is determined whether the differences in the level values obtained above are equal to each other (F7). That is, as can be understood from FIG. 4(b), if the timing clock generating means 25
If the phase of the clock and the timing of the A/D conversion match, the A/D conversion level D0 will be obtained at the start point of the test signal. Since the area is linear, S0=S
1 and S1=S2 hold at the same time, it can be confirmed by looking at whether or not the relationship 1 and S1=S2 is established at the same time, and this is determined in this step (F7).

【0021】従って、前記の判断においてS0=S1且
つS1=S2の成立が確認されると、システム制御部3
9はI/O38を介してテスト完了通知信号を出力させ
、これをI/O35で受信したビデオカメラ部21側で
はマイクロコンピュータ回路37がテストモードを解除
し、信号発生回路33をOFFにすると共にスイッチ回
路34を通常モードでの接続状態へ戻す(F8)。
Therefore, when it is confirmed in the above judgment that S0=S1 and S1=S2, the system control unit 3
9 outputs a test completion notification signal via the I/O 38, and on the video camera unit 21 side that receives this signal via the I/O 35, the microcomputer circuit 37 cancels the test mode, turns off the signal generation circuit 33, and The switch circuit 34 is returned to the normal mode connection state (F8).

【0022】一方、S0=S1且つS1=S2の条件が
成立していない場合には、前記の位相がずれていること
になる。 そこで、システム制御部39は設定したスレッショルド
P(初期値は0:←F2)とS0とを比較し、もしP<
S0であればテスト信号の位相を+θ度シフト(図4で
は左側へシフト)させるための情報を、P=S0であれ
ばテスト信号の位相を−θ度シフト(図4では右側へシ
フト)させるための情報を作成して、I/O38を介し
てビデオカメラ部21側へ出力させる(F9,F10,
F11)。尚、この場合のθの値は1回の調整シーケン
スで変化させる微小位相量に相当するものであり、その
位相量のずれの範囲では画像劣化の発生しないような値
として選択されている。また、システム制御部39はそ
の段階で前記のスレッショルドPの値をS0へ変更設定
する(F12)。
On the other hand, if the conditions of S0=S1 and S1=S2 are not satisfied, the above-mentioned phase is shifted. Therefore, the system control unit 39 compares the set threshold P (initial value is 0:←F2) and S0, and if P<
If S0, information for shifting the phase of the test signal by +θ degrees (shifting to the left in Figure 4); if P = S0, shifting the phase of the test signal by -θ degrees (shifting to the right in Figure 4). Create information for this and output it to the video camera section 21 side via the I/O 38 (F9, F10,
F11). Note that the value of θ in this case corresponds to a minute phase amount that is changed in one adjustment sequence, and is selected as a value that does not cause image deterioration within the range of phase amount deviation. Further, the system control unit 39 changes the value of the threshold P to S0 at that stage (F12).

【0023】前記の手順により、ビデオカメラ部21の
マイクロコンピュータ回路37はI/O35を介してシ
フト情報を受信することになるが、同回路37は直ちに
その情報を位相調整回路27aに対する電圧設定情報へ
変換してD/A変換回路36へ出力させる。そして、D
/A変換回路36はその電圧設定信号に対応した位相調
整電圧を同期結合回路27の位相調整回路27aへ出力
させる。この結果、同期結合回路27は図8及び図9で
説明した動作によってタイミングクロック発生回路25
のクロックの位相を前記の+θ度分又は−θ度分だけ変
化させ、同クロックに同期したテスト信号発生回路33
のテスト信号の位相を変化させる(F13)。
Through the above procedure, the microcomputer circuit 37 of the video camera section 21 receives the shift information via the I/O 35, but the circuit 37 immediately transfers the information to the voltage setting information for the phase adjustment circuit 27a. The data is converted into a D/A conversion circuit 36 and outputted to the D/A conversion circuit 36. And D
The /A conversion circuit 36 outputs a phase adjustment voltage corresponding to the voltage setting signal to the phase adjustment circuit 27a of the synchronous coupling circuit 27. As a result, the synchronous coupling circuit 27 operates as described in FIGS. 8 and 9 to cause the timing clock generation circuit 25 to
The test signal generating circuit 33 synchronizes with the clock by changing the phase of the clock by +θ degrees or −θ degrees.
The phase of the test signal is changed (F13).

【0024】以降、テストモードにおける以上のシーケ
ンス(F3〜F12)は、スレッショルドPの値をその
都度新たに演算されるS0に変更設定しながら、S0=
S1且つS1=S2の条件が成立するまで繰り返して実
行される(F3〜F12→F3)。即ち、テスト信号の
開始点を測定値D0が得られているA/D変換のタイミ
ングへ収束させるように、タイミング発生手段25のク
ロックの位相を調整する。そして、同条件が成立した時
点でマイクロコンピュータ回路37はテストモードを解
除し、テスト信号回路33をOFFにすると共にスイッ
チ回路34を元の状態へ切換えて通常モードへ移行させ
る(F7,F8)。その結果、移行後の通常モードでは
S/H回路24によるサンプリングタイミングの位相と
A/D変換回路28のA/D変換タイミングの位相とが
一致しており、画像劣化の無いディジタル画像情報が得
られることになる。
[0024] From then on, in the above sequence (F3 to F12) in the test mode, S0=
The process is repeated until the conditions S1 and S1=S2 are satisfied (F3 to F12→F3). That is, the phase of the clock of the timing generating means 25 is adjusted so that the starting point of the test signal converges to the timing of A/D conversion from which the measured value D0 is obtained. When the same condition is met, the microcomputer circuit 37 cancels the test mode, turns off the test signal circuit 33, and switches the switch circuit 34 back to its original state to shift to the normal mode (F7, F8). As a result, in the normal mode after transition, the phase of the sampling timing by the S/H circuit 24 and the phase of the A/D conversion timing of the A/D conversion circuit 28 match, and digital image information without image deterioration can be obtained. It will be done.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明は、以上の構成により、テストモ
ードにおいて、予めビデオカメラ部側のサンプリングタ
イミングと画像処理部側のA/D変換のタイミングの位
相を一致させた後、通常モードでの画像処理へ移行させ
るようにできるため、画像処理システムにおけるサンプ
リングタイミングとA/D変換のタイミングの位相のず
れに起因した画像劣化の問題を解消する。また、その位
相調整シーケンスは従来のシステムにソフトウェアを追
加するだけで自動的に実行させることが可能であり、回
路規模を大きくすることなく、正確な位相調整を簡単に
行わせることができる。更に、ソフトウェアの追加だけ
で実現できることから殆どの画像処理システムに適用で
き、汎用性及び拡張性に優れているという利点も有して
いる。
Effects of the Invention With the above configuration, the present invention allows the sampling timing on the video camera section side to match the phase of the A/D conversion timing on the image processing section side in advance in the test mode, and then in the normal mode. Since the image processing can be shifted to image processing, the problem of image deterioration caused by a phase shift between the sampling timing and the A/D conversion timing in the image processing system can be solved. Furthermore, the phase adjustment sequence can be automatically executed by simply adding software to a conventional system, making it possible to easily perform accurate phase adjustment without increasing the circuit scale. Furthermore, since it can be realized by simply adding software, it can be applied to most image processing systems, and has the advantage of being excellent in versatility and expandability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の画像処理システムにおけるサンプリン
グ位相調整装置の基本的構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of a sampling phase adjustment device in an image processing system of the present invention.

【図2】実施例に係る画像処理システムの回路図である
FIG. 2 is a circuit diagram of an image processing system according to an embodiment.

【図3】実施例に係る画像処理システムのテストモード
での動作を示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the image processing system in a test mode according to the embodiment.

【図4】テスト信号の波形とタイミングクロック発生回
路25のクロック(サンプリングタイミング)及びA/
D変換のタイミングの一例を示すタイミングチャートで
ある。
[Fig. 4] Waveform of test signal, clock (sampling timing) of timing clock generation circuit 25, and A/
5 is a timing chart showing an example of timing of D conversion.

【図5】従来の画像処理システムの回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of a conventional image processing system.

【図6】従来の画像処理システムの回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram of a conventional image processing system.

【図7】従来の画像処理システムの回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of a conventional image processing system.

【図8】位相調整回路を内蔵した同期結合回路の回路図
である。
FIG. 8 is a circuit diagram of a synchronous coupling circuit incorporating a phase adjustment circuit.

【図9】位相調整回路の動作を示すタイミングチャート
である。
FIG. 9 is a timing chart showing the operation of the phase adjustment circuit.

【図10】アナログ映像信号のサンプリングタイミング
とそのA/D変換のタイミングによるA/D変換レベル
を示すタイミングチャートである。
FIG. 10 is a timing chart showing the A/D conversion level depending on the sampling timing of an analog video signal and the timing of its A/D conversion.

【図11】従来の画像処理システムの回路図である。FIG. 11 is a circuit diagram of a conventional image processing system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…固体撮像素子、2…画像処理部、3…同期信号発生
回路、4…同期結合回路、5…S/H回路、6…ビデオ
カメラ部、7…A/D変換回路、8…モード設定手段、
9…信号発生手段、10…切換え手段、11…位相調整
手段、12…位相誤差検出手段、13…位相誤差出力手
段。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Solid-state image sensor, 2... Image processing section, 3... Synchronous signal generation circuit, 4... Synchronous coupling circuit, 5... S/H circuit, 6... Video camera section, 7... A/D conversion circuit, 8... Mode setting means,
9... Signal generation means, 10... Switching means, 11... Phase adjustment means, 12... Phase error detection means, 13... Phase error output means.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  固体撮像素子の出力信号を画像処理部
の同期信号に同期させてサンプリングしたアナログ映像
信号を出力するビデオカメラ部と、前記ビデオカメラ部
から入力されたアナログ映像信号を内部同期信号に同期
させてA/D変換を行うことにより画像情報を取り込む
画像処理部とからなる画像処理システムにおいて、ビデ
オカメラ部側に、通常モードとテストモードを切換え設
定するモード設定手段と、テストモード設定時にサンプ
リングタイミングに同期した所定のテスト信号を発生さ
せる信号発生手段と、前記テストモード設定時にアナロ
グ映像信号に代えて信号発生手段のテスト信号を出力さ
せる切換え手段と、画像処理部からの位相誤差情報を用
いてサンプリング位相の調整を実行する位相調整手段を
設け、画像処理部側に、テスト信号のA/D変換後のレ
ベル情報を用いてA/D変換タイミングの位相とビデオ
カメラ部のサンプリングタイミングの位相との誤差情報
を検出する位相誤差検出手段と、前記に検出された位相
誤差情報をビデオカメラ部へ出力する位相誤差出力手段
を設けたことを特徴とする画像処理システムにおけるサ
ンプリング位相調整装置。
1. A video camera unit that outputs an analog video signal sampled by synchronizing an output signal of a solid-state image sensor with a synchronization signal of an image processing unit, and an internal synchronization signal that outputs an analog video signal input from the video camera unit. In an image processing system consisting of an image processing unit that captures image information by performing A/D conversion in synchronization with signal generating means for generating a predetermined test signal synchronized with the sampling timing when the test mode is set; switching means for outputting the test signal of the signal generating means in place of the analog video signal when setting the test mode; and phase error information from the image processing section. A phase adjustment means is provided for adjusting the sampling phase using the A/D conversion timing of the A/D conversion timing and the sampling timing of the video camera section using the level information after A/D conversion of the test signal on the image processing section side. A sampling phase adjustment device in an image processing system, comprising: a phase error detection means for detecting error information with respect to the phase of the image processing system; and a phase error output means for outputting the detected phase error information to a video camera section. .
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008236648A (en) * 2007-03-23 2008-10-02 Canon Inc Imaging apparatus and its driving method

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