JPH04320811A - Mold for transfer mold - Google Patents

Mold for transfer mold

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JPH04320811A
JPH04320811A JP11541891A JP11541891A JPH04320811A JP H04320811 A JPH04320811 A JP H04320811A JP 11541891 A JP11541891 A JP 11541891A JP 11541891 A JP11541891 A JP 11541891A JP H04320811 A JPH04320811 A JP H04320811A
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JP
Japan
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mold
resin
film
transfer
leads
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11541891A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahisa Ishii
石井 高久
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH04320811A publication Critical patent/JPH04320811A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a mold for transfer mold capable of preventing the occurrence of flashes between leads at the time of conducting resin seal. CONSTITUTION:Among the end periphery of a cavity 14b in a lower mold 4, the parts being opposite to etching cross-sections of films 34 are formed to be inclined for coming into contact with the etching cross-sections of the films 34 during resin seal.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子等を樹脂封
止するためのトランスファモールド金型に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer mold mold for resin-sealing semiconductor elements and the like.

【0002】0002

【従来の技術】TAB(Tape Automated
 Bonding)技術はICチップの実装技術の一つ
であり、他の実装技術に比べて多ピン狭ピッチのリード
形成が可能である。また、フェースアップで高速自動ボ
ンディングを行うことができる。このため、TAB技術
は近年、特に注目されている。図6は従来の上金型の概
略平面図、図7は従来の下金型の概略平面図、図8は従
来の上金型と下金型とを用いてTABテープを挟んだと
きの様子を示す概略断面図である。図8に示すTABテ
ープは、ICチップ132と、フィルム134上にリー
ド136が形成されたフィルムキャリアとを有するもの
である。ICチップ132は図示しないバンプを介して
リード136と接合されている。フィルムキャリアとし
ては二層テープ、すなわち接着剤を用いずに銅箔をフィ
ルム134に直接貼りつけた構成のものを使用している
[Prior art] TAB (Tape Automated
Bonding technology is one of the IC chip mounting technologies, and it is possible to form leads with a large number of pins and a narrow pitch compared to other mounting technologies. In addition, high-speed automatic bonding can be performed face-up. For this reason, TAB technology has attracted particular attention in recent years. Fig. 6 is a schematic plan view of a conventional upper mold, Fig. 7 is a schematic plan view of a conventional lower mold, and Fig. 8 is a state when TAB tape is sandwiched between the conventional upper mold and lower mold. FIG. The TAB tape shown in FIG. 8 has an IC chip 132 and a film carrier on which leads 136 are formed on a film 134. The IC chip 132 is connected to leads 136 via bumps (not shown). As the film carrier, a two-layer tape is used, that is, a tape having a structure in which copper foil is directly attached to the film 134 without using an adhesive.

【0003】トランスファモールド金型は上金型2と下
金型104とを備えて構成される。図6及び図7に示す
上金型2と下金型104には、樹脂注入室であるキャビ
ティ14a,114bと、樹脂をキャビティ14a,1
14bに注入するための注入口であるゲート16a,1
16bとが形成されている。また、上金型2には樹脂の
供給口であるポット12が形成されている。
[0003] The transfer molding die includes an upper die 2 and a lower die 104. The upper mold 2 and the lower mold 104 shown in FIG. 6 and FIG.
Gate 16a, 1 is an injection port for injecting into 14b.
16b are formed. Further, a pot 12 which is a resin supply port is formed in the upper mold 2.

【0004】ICチップ132の保護のためにICチッ
プ132を樹脂封止するには、主にトランスファモール
ド法が用いられている。トランスファモールド法は、図
8に示すように上金型2と下金型104でICチップ1
32を搭載したTABテープを挟持して、加熱溶融した
樹脂を圧力をかけて上金型2と下金型104のキャビテ
ィ14a,114bに注入し固化する方法である。この
方法は、溶融樹脂を樹脂成形金型に注入する速度を低速
で行えば、ICチップ等の特性を損なうことなく、一定
の品質のものを大量生産することができるという利点が
ある。
Transfer molding is mainly used to seal the IC chip 132 with resin to protect it. In the transfer molding method, as shown in FIG.
In this method, the TAB tape carrying the mold 32 is sandwiched, and heated and melted resin is injected into the cavities 14a and 114b of the upper mold 2 and the lower mold 104 under pressure and solidified. This method has the advantage that if the molten resin is injected into the resin molding die at a low speed, it is possible to mass-produce products of a constant quality without impairing the characteristics of the IC chips or the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、フィルムキ
ャリアとして二層テープを使用する場合、フィルム13
4をエッチングで加工し打抜部142等を形成すると、
フィルム134のエッチング断面は傾斜を持つ。したが
って、TABテープに搭載したICチップ132をトラ
ンスファモールド金型で樹脂封止するとき、フィルムの
エッチング断面と下金型とを密着させることができず、
隙間150が生じる。通常、樹脂は50ミクロンの隙間
でも楽に入ることができる。したがって、図8に示す従
来の金型のキャビティ14a,114bに樹脂を注入す
ると、この隙間150からリード間にも樹脂が流れ込み
樹脂バリが生じる。このため、樹脂封止したTABテー
プを打ち抜くときにこのバリによってリードが変形した
り、切れたりするという問題がある。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, when using a two-layer tape as a film carrier, the film 13
4 is processed by etching to form punched parts 142, etc.,
The etched cross section of the film 134 has a slope. Therefore, when the IC chip 132 mounted on the TAB tape is encapsulated with resin using a transfer mold mold, the etched cross section of the film and the lower mold cannot be brought into close contact.
A gap 150 is created. Typically, resin can easily fit into gaps of 50 microns. Therefore, when resin is injected into the cavities 14a and 114b of the conventional mold shown in FIG. 8, the resin also flows between the leads through this gap 150, causing resin burrs. Therefore, when punching out the resin-sealed TAB tape, there is a problem that the leads may be deformed or broken due to the burrs.

【0006】本発明は上記事情に基づいてなされたもの
であり、樹脂封止を行うときにリード間にバリが発生す
るのを防ぐことができるトランスファモールド金型を提
供することを目的とするものである。
The present invention has been made based on the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a transfer molding die that can prevent burrs from forming between leads during resin sealing. It is.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明は、フィルムの表面に接合された半導体素子
を樹脂封止する際に使用されるトランスファモールド金
型において、前記金型の樹脂注入室の端縁が前記半導体
素子を樹脂封止する際に前記フィルムに当接するように
形成されていることを特徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] To achieve the above object, the present invention provides a transfer mold die used when resin-sealing a semiconductor element bonded to the surface of a film. The present invention is characterized in that an edge of the resin injection chamber is formed so as to come into contact with the film when sealing the semiconductor element with resin.

【0008】[0008]

【作用】本発明は前記の構成によって、金型の樹脂注入
室の端縁のうち、フィルムに対向する部分が半導体素子
を樹脂封止する際に当接するように形状されているので
、たとえばTABテープに搭載された半導体素子を樹脂
封止する場合に、フィルムと金型の端縁とを密着させる
ことができ、したがって封止樹脂がリード間から漏れ出
るのを防止することができる。
[Operation] According to the present invention, the edge of the resin injection chamber of the mold is shaped so that it comes into contact with the film when sealing the semiconductor element with the resin. When a semiconductor element mounted on a tape is sealed with a resin, the film and the edge of the mold can be brought into close contact with each other, and therefore the sealing resin can be prevented from leaking out between the leads.

【0009】[0009]

【実施例】以下に本発明の第1実施例を図1乃至図3を
参照して説明する。図1は本発明の第1実施例であるト
ランスファモールド金型の下金型の概略平面図、図2は
TABテープの概略平面図、図3は図1に示すトランス
ファモールド金型の下金型を用いてTABテープを挟ん
だときの様子を示すA−A矢視概略断面図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 3. 1 is a schematic plan view of a lower mold of a transfer mold mold according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic plan view of a TAB tape, and FIG. 3 is a lower mold of the transfer mold mold shown in FIG. 1. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view taken along the line A-A, showing the situation when the TAB tape is sandwiched between the tapes.

【0010】図2に示すTABテープは、ICチップ3
2と、フィルム(テープ)34上にリード36が形成さ
れたフィルムキャリアとを備えるものである。ICチッ
プ32やリード36はTABテープの片面(この面をT
ABテープ又はフィルムの表面と称する。)にだけ設け
てある。フィルム34には、デバイスホール(図2にお
いてICチップ32の下側に形成されている。)と、2
種類の打抜部42,44とが形成されている。フィルム
34の材料には、耐熱性及び耐伸縮性が良好なポリイミ
ドを用いる。また、リード36は、ICチップ毎に4つ
のリード群36a,36b,36c,36dに分けられ
、4方向(図2の上下左右方向)に引き出されている。 打抜部42は一点鎖線Lで囲まれた樹脂封止領域内に形
成され、打抜部44は樹脂封止領域外に形成されたもの
である。
The TAB tape shown in FIG.
2, and a film carrier on which leads 36 are formed on a film (tape) 34. The IC chip 32 and leads 36 are placed on one side of the TAB tape (this side is
It is called the surface of AB tape or film. ). The film 34 has a device hole (formed below the IC chip 32 in FIG. 2) and two
Different types of punched portions 42, 44 are formed. The film 34 is made of polyimide, which has good heat resistance and stretch resistance. Further, the leads 36 are divided into four lead groups 36a, 36b, 36c, and 36d for each IC chip, and are drawn out in four directions (vertical, horizontal, and vertical directions in FIG. 2). The punched portion 42 is formed within the resin-sealed region surrounded by the dashed line L, and the punched portion 44 is formed outside the resin-sealed region.

【0011】フィルムキャリアには二層テープを用いて
いる。すなわち、接着剤を用いずに銅箔をフィルム34
に直接貼りつけた構成としている。二層テープを製造す
るには、まず、銅箔とフィルム34を貼り合わせ、フォ
トレジストパターンを用いてリード36を電解メッキで
形成する。その後、ポリイミドをウェットエッチングし
てデバイスホールや打抜部42,44を形成する。
[0011] A two-layer tape is used as the film carrier. That is, the copper foil is attached to the film 34 without using adhesive.
The structure is such that it is pasted directly on the . To manufacture the two-layer tape, first, copper foil and film 34 are bonded together, and leads 36 are formed by electrolytic plating using a photoresist pattern. Thereafter, the polyimide is wet-etched to form device holes and punched portions 42 and 44.

【0012】第1実施例のトランスファモールド金型は
、TABテープの表面を上から押さえる上金型(従来と
して説明した図6の上金型)2と、TABテープの裏面
を下から押さえる下金型4とを備えて構成される。上金
型2は、図6に示すように、樹脂の供給口であるポット
12と、樹脂注入室であるキャビティ14aと、樹脂を
キャビティ14aに注入するための注入口であるゲート
16aとが形成され、また樹脂成形品を金型から取り出
すためのエジェクタピン18aが設けられている。
The transfer mold mold of the first embodiment includes an upper mold 2 that presses the front surface of the TAB tape from above (the upper mold in FIG. 6 described as conventional) and a lower mold that presses the back surface of the TAB tape from below. 4. As shown in FIG. 6, the upper mold 2 is formed with a pot 12 which is a resin supply port, a cavity 14a which is a resin injection chamber, and a gate 16a which is an injection port for injecting resin into the cavity 14a. Further, an ejector pin 18a for ejecting the resin molded product from the mold is provided.

【0013】同様に、図1に示す下金型4にも、キャビ
ティ14bと、ゲート16bとが形成され、またエジェ
クタピン18bが設けられている。また、下金型4には
樹脂を注入する際にキャビティ14a,14b内の空気
及びガスを外部に排出するためのエアベント22がキャ
ビティ14bの3つのコーナーに形成されている。ポッ
トを一つしか設けていないのは、上下に供給口を設ける
と、二つの方向から入った樹脂が合流したときに樹脂の
合わせ目ができ、その跡が樹脂成形後に残ってしまうか
らである。更に、本実施例においては下金型4のキャビ
ティ14bの端縁のうち、フィルム34のエッチング断
面に対向する部分が、樹脂封止の際にフィルム34のエ
ッチング断面に当接するように傾斜して形成されている
。尚、下金型の全ての端縁を傾斜して形成してもよいが
、リード群36a,36b,36c,36dが引き出さ
れていないコーナーの部分(打抜部42が形成されてい
ない部分)に対応する端縁については、リード間の樹脂
漏れを考慮する必要がないので、傾斜させなくてもよい
Similarly, the lower mold 4 shown in FIG. 1 is also formed with a cavity 14b and a gate 16b, and is also provided with an ejector pin 18b. In addition, air vents 22 are formed in the lower mold 4 at three corners of the cavity 14b for exhausting air and gas inside the cavities 14a and 14b to the outside when resin is injected. The reason why only one pot is provided is that if the supply ports were provided at the top and bottom, when the resin entering from two directions merged, a seam would be created and a mark would be left behind after resin molding. . Furthermore, in this embodiment, the portion of the edge of the cavity 14b of the lower mold 4 that faces the etched cross section of the film 34 is inclined so as to come into contact with the etched cross section of the film 34 during resin sealing. It is formed. Incidentally, all edges of the lower mold may be formed to be inclined, but corner portions where the lead groups 36a, 36b, 36c, and 36d are not drawn out (portions where the punched portions 42 are not formed) As for the edge corresponding to , there is no need to consider resin leakage between the leads, so there is no need to make it slope.

【0014】次に、ICチップ32を樹脂封止する手順
について説明する。樹脂封止されるTABテープの領域
は、図2に示す一点鎖線Lで囲まれた部分である。この
一点鎖線Lは打抜部44の端縁に沿って引かれたもので
ある。トランスファモールド法では、まず、上金型2と
下金型4との間にTABテープを配置し、両金型でTA
Bテープを挟持する。このとき、下金型4のキャビティ
14bの端縁は、図3に示すようにフィルム34のエッ
チング断面に当接するように傾斜して形成されているの
で、両金型を押圧するとフィルム34の打抜部44の端
縁と下金型4のキャビティ14bの端縁とは密着する。 次に、溶融した熱硬化性樹脂をポット12から流し込み
、ゲート16a,16bを通してキャビティ14a,1
4b内に圧入する。そして、硬化を進行させるために数
分間加圧したまま保持した後、エジェクタピン18a,
18bを押し出すことにより樹脂成形したTABテープ
を金型から取り出して、樹脂封止作業が完了する。 尚、樹脂封止を行ったICチップ32を打ち抜く場合に
は、打抜部44の略中間部においてリード36が切断さ
れる。
Next, a procedure for sealing the IC chip 32 with resin will be explained. The area of the TAB tape to be resin-sealed is the area surrounded by the dashed line L shown in FIG. This one-dot chain line L is drawn along the edge of the punched portion 44. In the transfer molding method, first, a TAB tape is placed between the upper mold 2 and the lower mold 4, and the TA is applied to both molds.
Clamp the B tape. At this time, the edge of the cavity 14b of the lower mold 4 is formed to be inclined so as to come into contact with the etched cross section of the film 34 as shown in FIG. The edge of the cutout 44 and the edge of the cavity 14b of the lower mold 4 are in close contact. Next, the molten thermosetting resin is poured from the pot 12 into the cavities 14a and 1 through the gates 16a and 16b.
Press fit into 4b. Then, after holding the pressurized state for several minutes to advance curing, the ejector pin 18a,
By extruding 18b, the resin-molded TAB tape is removed from the mold, and the resin sealing work is completed. Note that when punching out the resin-sealed IC chip 32, the leads 36 are cut approximately at the middle of the punching portion 44.

【0015】第1実施例のトランスファモールド金型で
は、下金型のキャビティの端縁がフィルムのエッチング
断面に当接するように傾斜して形成されているので、樹
脂封止する際にこのエッチング断面と下金型のキャビテ
ィの端縁とを密着させることができる。このため、従来
のトランスファモールド金型ではフィルムのエッチング
断面と下金型の端縁との間に隙間が生じていたが、本実
施例によれば、このような隙間は生じない。したがって
、かかる隙間を通ってリード間に樹脂が流れ込むのを防
止することができる。
In the transfer mold mold of the first embodiment, the edge of the cavity of the lower mold is formed to be inclined so as to come into contact with the etched cross section of the film, so when sealing with resin, this etched cross section and the edge of the cavity of the lower mold can be brought into close contact. Therefore, in the conventional transfer molding die, a gap was created between the etched cross section of the film and the edge of the lower die, but according to this embodiment, such a gap does not occur. Therefore, it is possible to prevent resin from flowing between the leads through such a gap.

【0016】このように第1実施例のトランスファモー
ルド金型を用いてICチップの樹脂封止を行うことによ
り、上述のようにリード間にバリが発生するのを防ぐこ
とができるので、本実施例のトランスファモールド金型
を用いて樹脂封止したTABテープは、ICチップを打
ち抜く際にバリによってリードが変形したり、切れたり
することはない。
As described above, by resin-sealing the IC chip using the transfer mold mold of the first embodiment, it is possible to prevent burrs from occurring between the leads as described above. With the TAB tape resin-sealed using the transfer molding die of the example, the leads will not be deformed or cut by burrs when punching out IC chips.

【0017】次に、本発明の第2実施例を図4を参照し
て説明する。図4は本発明の第2実施例であるトランス
ファモールド金型を用いてTABテープを挟んだときの
様子を示す概略断面図である。ここで以下の第2実施例
及び第3実施例において上記第1実施例と同一の機能を
有するものには同一の符号を付すことにより、その詳細
な説明を省略する。第2実施例のトランスファモールド
金型が第1実施例のものと異なる点は、下金型4aのキ
ャビティ14bの傾斜させた端縁の内側に、フィルム3
4の厚さより若干小さい高さの段差部24を形成したこ
とである。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing the situation when a TAB tape is sandwiched using a transfer mold die according to a second embodiment of the present invention. Here, in the following second and third embodiments, components having the same functions as those in the first embodiment are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted. The difference between the transfer mold mold of the second embodiment and the first embodiment is that a film 3 is placed inside the inclined edge of the cavity 14b of the lower mold 4a.
The difference is that the step portion 24 is formed with a height slightly smaller than the thickness of No. 4.

【0018】第2実施例では、樹脂成形する際に、下金
型のキャビティに沿った端縁の段差部にフィルムを噛み
合わせる。このため、金型を押圧すると、一般的にフィ
ルムはリードに比べて柔らかいので、リード間にフィル
ムが食い込んで、リード間の隙間が小さくなる。しかも
、下金型のキャビティの端縁は第1実施例と同様にフィ
ルムのエッチング断面の形状に合わせて傾斜して形成さ
れているので、フィルムのエッチング断面と下金型のキ
ャビティの端縁とを密着させることができる。したがっ
て、樹脂封止の際には、第1実施例のトランスファモー
ルド金型を用いた場合に比べて樹脂がリード間により入
り込みにくくなるので、リード間に樹脂バリが生ずるの
をより確実に防止することができる。
In the second embodiment, during resin molding, a film is engaged with a stepped portion of the edge along the cavity of the lower mold. Therefore, when the mold is pressed, since the film is generally softer than the leads, the film bites between the leads, reducing the gap between the leads. Moreover, as in the first embodiment, the edge of the cavity of the lower mold is formed to be inclined to match the shape of the etched cross section of the film, so that the etched cross section of the film and the edge of the cavity of the lower mold are formed at an angle. can be brought into close contact. Therefore, during resin sealing, it is more difficult for the resin to enter between the leads than when using the transfer mold mold of the first embodiment, which more reliably prevents resin burrs from forming between the leads. be able to.

【0019】次に、本発明の第3実施例を図5を参照し
て説明する。図5は本発明の第3実施例であるトランス
ファモールド金型を用いてTABテープを挟んだときの
様子を示す概略部分断面図である。第3実施例のトラン
スファモールド金型が第1実施例のものと異なる点は、
下金型4bのキャビティ14bの端縁のうち、フィルム
34のエッチング断面に対向する部分に、フィルム34
の厚さより若干小さい高さの段差部240を形成し、該
段差部240の角240aに金線ワイヤ50を装着した
ことである。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a schematic partial cross-sectional view showing the situation when a TAB tape is sandwiched using a transfer mold die according to a third embodiment of the present invention. The difference between the transfer mold mold of the third embodiment and that of the first embodiment is as follows.
The film 34 is placed on the edge of the cavity 14b of the lower mold 4b at a portion facing the etched cross section of the film 34.
A step portion 240 having a height slightly smaller than the thickness of the step portion 240 is formed, and a gold wire 50 is attached to a corner 240a of the step portion 240.

【0020】本実施例によれば、TABテープを樹脂封
止する際に、下金型4bの金線ワイヤ50がフィルム3
4のエッチング断面に当接して押圧するので、第1実施
例と同様に樹脂がリード間に漏れ出るのを防止すること
ができる。その他の作用・効果は第1実施例と同様であ
る。尚、詰め部材としては金線ワイヤの代わりに、樹脂
等を用いてもよい。
According to this embodiment, when sealing the TAB tape with resin, the gold wire 50 of the lower mold 4b is attached to the film 3.
Since it comes into contact with and presses the etched cross section of No. 4, it is possible to prevent the resin from leaking between the leads as in the first embodiment. Other functions and effects are the same as in the first embodiment. Note that resin or the like may be used as the filling member instead of the gold wire.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、金
型の樹脂注入室の端縁が、半導体素子を樹脂封止する際
にフィルムに当接するように形成されたことにより、た
とえばTABテープに搭載した半導体素子を樹脂封止す
る際に、テープのエッチング断面と金型とを密着させる
ことができるので、リード間に樹脂バリが生じるのを防
ぐことができ、したがってTABテープをICチップ毎
に打ち抜く際にバリによってリードが変形したり、切れ
たりするのを防止することができるトランスファモール
ド金型を提供することができる。
As explained above, according to the present invention, the edge of the resin injection chamber of the mold is formed so as to come into contact with the film when resin-sealing the semiconductor element. When sealing semiconductor elements mounted on the tape with resin, the etched cross section of the tape can be brought into close contact with the mold, which prevents resin burrs from forming between the leads. It is possible to provide a transfer mold die that can prevent the lead from being deformed or cut due to burrs during each punching process.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の第1実施例であるトランスファモール
ド金型の下金型の概略平面図である。
FIG. 1 is a schematic plan view of a lower mold of a transfer mold according to a first embodiment of the present invention.

【図2】TABテープの概略平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view of a TAB tape.

【図3】図1に示すトランスファモールド金型の下金型
を用いてTABテープを挟んだときの様子を示すA−A
矢視概略断面図である。
[Fig. 3] A-A showing the situation when the TAB tape is sandwiched using the lower mold of the transfer mold mold shown in Fig. 1.
It is a schematic sectional view taken in the direction of arrows.

【図4】本発明の第2実施例であるトランスファモール
ド金型の下金型を用いてTABテープを挟んだときの様
子を示す概略断面図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a TAB tape sandwiched between lower molds of a transfer molding mold according to a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3実施例であるトランスファモール
ド金型の下金型を用いてTABテープを挟んだときの様
子を示す概略部分断面図である。
FIG. 5 is a schematic partial cross-sectional view showing a TAB tape sandwiched between the lower molds of a transfer molding mold according to a third embodiment of the present invention.

【図6】従来の上金型の概略平面図である。FIG. 6 is a schematic plan view of a conventional upper mold.

【図7】従来の下金型の概略平面図である。FIG. 7 is a schematic plan view of a conventional lower mold.

【図8】従来の上金型と下金型とを用いてTABテープ
を挟んだときの様子を示す概略断面図である。
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a TAB tape sandwiched between a conventional upper mold and a lower mold.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2    上金型 4    下金型 12    ポット 14    キャビティ 16    ゲート 18    エジェクトピン 22    エアベント 24    段差部 32    ICチップ 34    フィルム 36    リード 42,44    打抜部 2 Upper mold 4 Lower mold 12 Pot 14 Cavity 16 Gate 18 Eject pin 22 Air vent 24 Step part 32 IC chip 34 Film 36 Lead 42, 44 Punching part

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  フィルムの表面に接合された半導体素
子を樹脂封止する際に使用されるトランスファモールド
金型において、前記金型の樹脂注入室の端縁が前記半導
体素子を樹脂封止する際に前記フィルムに当接するよう
に形成されていることを特徴とするトランスファモール
ド金型。
1. In a transfer molding mold used for resin-sealing a semiconductor element bonded to the surface of a film, an edge of a resin injection chamber of the mold is used for resin-sealing the semiconductor element. A transfer molding mold, characterized in that the mold is formed so as to come into contact with the film.
【請求項2】  前記端縁のうち前記フィルムに対向す
る部分を前記フィルムの形状に合わせたことを特徴とす
る請求項1記載のトランスファモールド金型。
2. The transfer mold die according to claim 1, wherein a portion of the edge facing the film is shaped to match the shape of the film.
【請求項3】  前記端縁のうち前記フィルムに対向す
る部分に段差部を形成し、該段差部の角に詰め部材を装
着したことを特徴とする請求項1又は2記載のトランス
ファモールド金型。
3. The transfer mold mold according to claim 1, wherein a stepped portion is formed in a portion of the edge facing the film, and a filling member is attached to a corner of the stepped portion. .
JP11541891A 1991-04-19 1991-04-19 Mold for transfer mold Withdrawn JPH04320811A (en)

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