JPH04313053A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置

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JPH04313053A
JPH04313053A JP3078748A JP7874891A JPH04313053A JP H04313053 A JPH04313053 A JP H04313053A JP 3078748 A JP3078748 A JP 3078748A JP 7874891 A JP7874891 A JP 7874891A JP H04313053 A JPH04313053 A JP H04313053A
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JP
Japan
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ray
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small
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Application number
JP3078748A
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English (en)
Inventor
Takeo Tsuchiya
土屋 武雄
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
【0001】
【産業上の利用分野】被検査体にX線ビームをスポット
照射し、走査することで、被検査体の透視検査を行う工
業用または手荷物用のX線検査装置に関するものである
【0002】
【従来の技術】透視検査用のX線検査装置として、X線
を細いビーム状に絞ってこれを走査する、いわゆるフラ
イング・スポットX線を用いるものがある。以下、従来
のフライング・スポットX線を用いるX線検査装置の概
要を図4、図5を参照して説明する。
【0003】X線管1より照射された円錐状のX線ビー
ム2は、X線ビームの走査機構としての回転円盤3上に
あけられた回転スリット4を通り、その回転中心を円盤
の回転中心5と同じくして回転移動する帯状のX線ビー
ム6を形成する。
【0004】この帯状のX線ビーム6は、更に固定スリ
ット板7の固定スリット8を通過する際にX線ビーム6
と固定スリットの交点9の部分だけが通過し、点状に絞
られて、固定スリット8に沿って直線移動する細いX線
ビーム10となる。
【0005】このX線ビーム10を用いて被検査体11
を走査し、被検査体11を透過した透過X線の投影面で
あるX線センサ12上には、回転スリット4の移動に伴
ってX線スポット13が直線移動する。X線スポット1
3の像は被検査体11のある縦方向の一直線上の投影像
でしかないが、ベルトコンベア14の上に被検査体11
を搭載して被検査体11を横方向に移動する事により、
X線ビーム10を被検査体11の全体にラスタ走査する
【0006】X線センサ12は、被検査体11を透過し
、センサ面にスポット照射された透過X線を可視光にさ
らに電気信号に変換する。こうして、透過X線量を電気
信号に変換して、被検査体11全体の透過X線量を得て
いる。
【0007】ベルトコンベア14には移動量を検出する
ためのエンコーダ15を設けて被検査体11の搬送方向
の位置を検出する。回転円盤3にエンコーダ16を設け
、X線ビーム10の走査位置の検出を行う。これらのエ
ンコーダ15、16からの位置信号をX線センサ12上
のX線スポットX、Y座標の信号とする。このときの透
過X線量はX線センサ12からの透過X線量信号を平面
上に整列しなおす変換器17により、平面に変換したの
ち、記憶回路18に位置信号にもとづき、逐次記憶され
る。
【0008】さらには、記憶回路18内の透過X線量信
号は位置信号とともに再度読み出されて、表示回路19
を通り、表示装置であるCRT20上に透過X線画像が
表示される。これらの一連の動作は制御回路21により
、制御されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このような回転スリッ
ト4と固定スリット8の組み合せによるフライング・ス
ポットX線発生機構では固定スリット8の長さが一定の
ため、X線ビーム10の走査範囲が固定されている。例
えば図6に示すように縦方向に大きな被検査体11の場
合はX線ビーム10のほとんどを使用しており効率が良
いが、縦方向に小さい被検査体22の場合は、照射され
たX線ビームの大半は被検査体22に走査されず透視に
寄与しない。
【0010】又、表示装置であるCRT20の縦方向の
画素はX線ビームの走査範囲全体に対し割りつけられる
ので、被検査体の大小にかかわず、縦方向の画素寸法は
同じであり、これは小さい被検査体22の場合、より少
ない画素数しか被検査体22の透視画像の表示に用いら
れておらず、効率が悪い。
【0011】そのため、小さな被検査体の透視検査をす
る際には、小さい透過X線画像により判断しなければな
らない。したがって透視検査を正確に行うことができな
いという問題点がある。ここで、X線ビームの走査範囲
の一部に対してCRT20の縦方向の全画素を割りつけ
ることが考えられる。このような場合には、1回の走査
で被検査体にX線ビームを走査していない時間が多く、
走査効率が悪いという問題点がある。また、走査範囲の
一部に対して画素の割りつけを変更できるようにすると
、回路構成が複雑になるという問題がある。
【0012】装置を使用する側からすれば、図7の(c
)のように表示画面いっぱいに小さな被検査体22のX
線画像を表示したいのであるが、小さい被検査体22の
透過X線画像の細部を拡大しようとしても、もともとの
画素寸法が決まっているため、画素サイズを下回る寸法
のものを表示出来るわけではない。
【0013】従来方式はこのようにX線ビームの走査範
囲が固定であるがゆえに、その走査範囲に比べ小さな寸
法の被検査体22を検査する場合ムダが多く、画像の拡
大による細部の表示も出来なかった。
【0014】図6で、被検査体22をX線管1に近づけ
れば幾何学的に拡大はされるが、装置の構造上、固定ス
リット7の位置よりX線管1側へは近寄れず、拡大率に
は限界がある。また、X線管1に被検査体22を近づけ
ると透過画像がボケるという問題がある。
【0015】そこで本発明の目的は、X線ビームのラス
タ走査範囲に比べて、小さな被検査体をX線透視検査す
る場合には、その透過X線画像を拡大表示することので
きるX線検査装置を提供するものである。 [発明の構成]
【0016】
【課題を解決するための手段および作用】本発明は、以
上の目的を達成するためにX線を発生するX線発生器と
、被検査体に対して、このX線発生器が発生するX線を
ラスタ走査するビームX線にするX線走査器と、被検査
体を透過したX線量を検出し、透過X線量信号を出力す
る透過X線量検出器と、この透過X線量検出器から出力
される透過X線量信号より、被検査体のX線透視画像信
号に変換処理する変換器と、この変換器から出力される
X線透視画像信号より被検査体のX線透視画像を表示す
る画像表示器と、を有するX線検査装置において、ラス
タ走査する走査範囲を2つ以上有するX線走査器と、こ
のX線走査器の走査範囲を切換える走査範囲切換器を備
えたことを特徴とするものである。
【0017】
【実施例】本発明による実施例を図面によって説明する
【0018】図1において、X線管1より照射された円
錐状のX線ビーム2は、X線ビームの走査機構としての
回転円盤23上に大視野用回転スリット24及び小視野
用回転スリット25を通り、その回転中心を円盤の回転
中心5と同じくして回転移動する帯状の複数のX線ビー
ム26及び27を形成する。固定スリット板29の大視
野用固定スリット30、または小視野用固定スリット3
1のいずれかを視野選択機構28により選択する。選択
された固定スリットにより、いずれかの帯状のX線ビー
ム26、27が線状のX線ビームとなる。今、小視野用
固定スリット31が選択された場合には、小視野用固定
スリット31とX線ビーム26との交点32の部分だけ
が通過し、点状に絞られて、小視野用固定スリット31
に沿って直線移動する細いX線ビーム33となる。この
X線ビーム33を用いて被検査体22を走査し、その表
面が透過X線画像投影面であるX線センサ34上に小視
野用回転スリット25の移動に伴ってX線スポット35
は直線移動する。
【0019】従って、X線スポット35像は被検査体2
2のある縦方向の一直線上の投影像でしかないが、ベル
トコンベア14の上に被検査体22を搭載し、これを搬
送方向に移動する事により、X線ビーム10を被検査体
22の全体にラスタ走査する。X線センサは被検査体2
2を透過し、そのセンサ面にスポット照射された透過X
線を可視光にさらに電気信号に変換する。こうして、透
過X線量を電気信号を変換して、全体の透過X線画像を
得ている。
【0020】ベルトコンベア14にはその移動量を検出
するためのエンコーダ15を設けて、被検査体22の横
方向の位置を検出する。回転円盤23にエンコーダ16
を設け、X線ビーム33の照射位置の検出を行う。これ
らのエンコーダ15、16からの位置信号をX線センサ
34上のX線スポット35像のX、Y座標の位置信号と
する。このときの透過X線量はX線センサ34からの透
過X線量信号を平面上に整列しなおす変換器17により
、平面画像に変換したのち、記憶回路18に位置信号に
もとづき、逐次記憶される。
【0021】さらには、記憶回路18内の透過X線量信
号はその位置信号とともに再度読みだされて、表示回路
19を通り、CRT20上に表示される。これらの一連
の動作は制御回路21により、制御されている。このよ
うに構成された実施例の動作を説明する。小視野用固定
スリット31が選択された場合について説明する。
【0022】小視野用固定スリット31を選択した場合
、小視野用固定スリット31の長さは大視野用固定スリ
ット30に比べて短いため、小視野用固定スリット31
を通ったX線ビームの走査範囲は図2に示す様に小さく
なる。
【0023】又、この小視野用回転スリット31は大視
野用回転スリット30よりも回転円盤23上で内側にあ
り、もし大、小視野用回転スリットの数が同数であれば
、小視野用スリット31、大視野用スリット30のいず
れを選択しても回転円板23の回転速度は一定であるの
で、1回の走査に要する時間は大、小視野共に同じであ
る。従ってX線ビームの走査方向の縦方向に関しては大
視野の場合と同じ数の画素が小視野の表示に用いられる
ので縦方向に拡大された画像を表示される。ただし、こ
の場合、ベルトコンベアの移動速度は同じであるのでX
線ビームの走査軌跡の間隔は従来と同じである。そのた
め図3の(b)に示すようにCRT20に表示される画
像は横方向には、大視野の場合と同じ倍率の画像が表示
される。
【0024】よって表示される画像は縦方向(X線ビー
ムの走査方向)に対して引伸ばされたような歪みが発生
する。これを避けるため、X線ビームが被検査体を走査
する回数を上げてやる必要がある。このため、縦方向の
倍率LL /LS   (LL :大視野固定スリットを選択した時のX線
ビームの走査範囲、 LS :小視野固定スリットを選択した時のX線ビーム
の走査範囲) に応じて、X線ビームの走査回数を増やすべく、小視野
用回転スリットの数nsを大視野用回転スリットの数n
L にたいし、次の様に増やしてやる。 nS /nL =LL /LS
【0025】こうすると、いずれのスリットを選択して
も、X線ビームの走査速度は一定である。この結果、C
RT20に表示される透過X線画像の縦・横比は元の大
視野時の透過X線画像と同じく、歪みのないものとなる
【0026】このようにして、大視野用固定スリット3
0を選択するとX線ビーム33の走査範囲に比べて被検
査体の走査方向の大きさが十分小さい時、または被検査
体の透過X線画像を拡大したい時、小視野用固定スリッ
ト31を選択する。これにより、大視野用固定スリット
30選択時よりLL/LS 倍の被検査体の拡大透過X
線画像をCRT20に表示させることができる。
【0027】本実施例によれば、大・小視野用固定スリ
ット30、31のいずれを選択しても、X線ビーム33
の走査速度(移動速度)は同じであるので、簡単な回路
の変更で縦横比(アスペクト比)の等しい透過X線画像
を得ることができる。
【0028】本実施例においては、X線センサ12で被
検査体の透過X線量を検出しているが、散乱X線を検出
するX線センサを設ければ散乱X線量を検出し、その散
乱X線画像を本実施例と同様な方法で拡大表示すること
に応用することもできる。
【0029】
【発明の効果】本発明によれば、被検査体の大きさが小
さくなった場合でも、X線走査器の走査範囲を走査範囲
切換手段により狭い走査範囲に切換えることで、被検査
体の透視X線画像を拡大して画像表示器に表示させるこ
とができる。そのため、小さな被検査体でも、拡大され
た透視X線画像により精度よくX線透視検査が可能なX
線検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による実施例を示すX線検査装置の構成
図である。
【図2】本発明による実施例のX線検査装置のXビーム
走査範囲を示す図である。
【図3】被検査体の透過X線画像の表示画像を示す図で
ある。
【図4】従来のX線検査装置の構成図である。
【図5】従来のX線検査装置のフライング・スポットX
線発生機構を示す図である。
【図6】従来のX線検査装置のX線ビーム走査範囲を示
す図である。
【図7】被検査体の透過X線画像の表示画像を示す図で
ある。
【符号の説明】
1…X線管、2…円錐状のX線ビーム、3…回転円盤、
4…回転スリット、5…円盤の回転中心、6…帯状のX
線ビーム、7…固定スリット板、8…固定スリット、9
…交点、10…X線ビーム、11…被検査体、12…X
線センサ、13…X線スポット、14…ベルトコンベア
、15,16…エンコーダ、17…変換器、18…記憶
回路、19…表示回路、20…CRT、21…制御回路
、22…被検査体、23…回転円盤、24…大視野用回
転スリット、25…小視野用回転スリット、26,27
…帯状のX線ビーム、28…視野選択機構、29…固定
スリット板、30…大視野用固定スリット、31…小視
野用固定スリット、32…交点、33…X線ビーム、3
4…X線センサ、35…X線スポット、L0 …X線ビ
ームの走査範囲、L1 …大きな被検査体の透過X線画
像表示範囲、L2 …小さな被検査体の透過X線画像表
示範囲、LL …大視野固定スリットを選択した時のX
線ビームの走査範囲、LS …小視野固定スリットを選
択した時のX線ビームの走査範囲、nL …大視野用回
転スリットの数、nS …小視野用回転スリットの数。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  X線を発生するX線発生器と、被検査
    体に対して、このX線発生器が発生するX線を、ビーム
    X線にラスタ走査するX線走査器と、被検査体を透過し
    たX線量を検出し、透過X線量信号を出力する透過X線
    量検出器と、この透過X線量検出器から出力される透過
    X線量信号より、被検査体のX線透視画像信号に変換処
    理する変換器と、この変換器から出力されるX線透視画
    像信号より被検査体のX線透視画像を表示する画像表示
    器と、を有するX線検査装置において、ラスタ走査する
    走査範囲を2つ以上有するX線走査器と、このX線走査
    器の走査範囲を切換える走査範囲切換器を有することを
    特徴とするX線検査装置。
JP3078748A 1991-04-11 1991-04-11 X線検査装置 Pending JPH04313053A (ja)

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JP3078748A JPH04313053A (ja) 1991-04-11 1991-04-11 X線検査装置

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JP3078748A JPH04313053A (ja) 1991-04-11 1991-04-11 X線検査装置

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JPH04313053A true JPH04313053A (ja) 1992-11-05

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