JPH04291147A - 電解質測定装置 - Google Patents
電解質測定装置Info
- Publication number
- JPH04291147A JPH04291147A JP3057116A JP5711691A JPH04291147A JP H04291147 A JPH04291147 A JP H04291147A JP 3057116 A JP3057116 A JP 3057116A JP 5711691 A JP5711691 A JP 5711691A JP H04291147 A JPH04291147 A JP H04291147A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrolyte
- standard solution
- injection nozzle
- flow path
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 title claims abstract description 15
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract 3
- 238000007865 diluting Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000012898 sample dilution Substances 0.000 claims abstract 2
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 claims description 30
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 16
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 16
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 4
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 claims description 3
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 claims 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 9
- 239000012895 dilution Substances 0.000 abstract description 7
- 238000010790 dilution Methods 0.000 abstract description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 2
- 239000006193 liquid solution Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 3
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 description 3
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 2
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 210000002700 urine Anatomy 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電解質測定装置に係り
、特にイオン選択電極を応用した電解質測定に好適な電
解質測定装置に関する。
、特にイオン選択電極を応用した電解質測定に好適な電
解質測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の装置は、特開平１−６５４４１号
公報に記載のように、人体の血液，尿等の電解質溶液中
におけるイオン濃度を測定する装置として、イオン選択
電極を応用した電解質測定装置が知られている。測定の
方法としては、電解質溶液（以下サンプル）としての血
液を直接、もしくは希釈液によって希釈した溶液をイオ
ン選択電極に供給してこの電位レベルを測定し、次に（
又は前記測定前に先だって）イオン選択電極に対して標
準液を供給してこの電位レベルを測定する。以下サンプ
ル溶液と標準液の電位レベルの測定を行ない、サンプル
溶液の濃度を算出する。この測定の際に標準液の電位レ
ベルを測定毎に記憶し、サンプル溶液の電位レベル測定
後にこの前後の標準液の電位レベルを比較して異常の有
無を出力し、サンプル濃度測定に与える影響を防止して
いる。
公報に記載のように、人体の血液，尿等の電解質溶液中
におけるイオン濃度を測定する装置として、イオン選択
電極を応用した電解質測定装置が知られている。測定の
方法としては、電解質溶液（以下サンプル）としての血
液を直接、もしくは希釈液によって希釈した溶液をイオ
ン選択電極に供給してこの電位レベルを測定し、次に（
又は前記測定前に先だって）イオン選択電極に対して標
準液を供給してこの電位レベルを測定する。以下サンプ
ル溶液と標準液の電位レベルの測定を行ない、サンプル
溶液の濃度を算出する。この測定の際に標準液の電位レ
ベルを測定毎に記憶し、サンプル溶液の電位レベル測定
後にこの前後の標準液の電位レベルを比較して異常の有
無を出力し、サンプル濃度測定に与える影響を防止して
いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、希釈
液が貯蔵タンクより希釈槽に至るまでの希釈液の劣化、
及びこれにともなうサンプル濃度異常についての配慮が
なされておらず、標準液のみによるサンプル濃度異常検
出では正確性の確保に問題があった。
液が貯蔵タンクより希釈槽に至るまでの希釈液の劣化、
及びこれにともなうサンプル濃度異常についての配慮が
なされておらず、標準液のみによるサンプル濃度異常検
出では正確性の確保に問題があった。
【０００４】本発明の目的は希釈液の劣化にともなうサ
ンプル濃度の異常を検出し、補正を加えることにより、
イオン選択電極を利用した電解質測定装置に適した信頼
性の高い測定手法を確立することにある。
ンプル濃度の異常を検出し、補正を加えることにより、
イオン選択電極を利用した電解質測定装置に適した信頼
性の高い測定手法を確立することにある。
【０００５】本発明の他の目的は、流路内の汚れにとも
なうサンプル濃度異常を補正することにより正常値に近
づけられるため、流路の長寿命化がはかれることにある
。
なうサンプル濃度異常を補正することにより正常値に近
づけられるため、流路の長寿命化がはかれることにある
。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的は、異なる流路
系を有する標準液注入ノズル及び希釈液注入ノズルより
、同一の試薬として例えば標準液をイオン選択電極に供
給後、各々の電圧レベルを測定，電圧レベルを比較解析
，異常の有無を検出し、補正を行うことにより達成され
る。
系を有する標準液注入ノズル及び希釈液注入ノズルより
、同一の試薬として例えば標準液をイオン選択電極に供
給後、各々の電圧レベルを測定，電圧レベルを比較解析
，異常の有無を検出し、補正を行うことにより達成され
る。
【０００７】
【作用】標準液流路系及び希釈液流路系より標準液をイ
オン選択電極に供給し、出力信号から電圧レベルの偏差
及びその変動を検出することができる。この結果、標準
液流路系及び希釈液流路系の異常を検出することができ
る。この結果に対して補正係数を求めれば、この係数を
利用してサンプル濃度測定を正確に行うことができる。
オン選択電極に供給し、出力信号から電圧レベルの偏差
及びその変動を検出することができる。この結果、標準
液流路系及び希釈液流路系の異常を検出することができ
る。この結果に対して補正係数を求めれば、この係数を
利用してサンプル濃度測定を正確に行うことができる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図１により説明する
。
。
【０００９】図１は、本発明を電解質測定装置に適用し
た場合の流路図である。まず装置がスタンバイになった
後、操作パネル（１）上のスタートキー（２）を押すと
、ダブル逆止弁（１６）と電磁弁（１７，３６）とシリ
ンジ（１８）が作動し、標準液（１９）を希釈液注入ノ
ズル（３７）から希釈槽（４）内に吐出する。標準液は
電磁弁（１２）とシリンジ（１３）が作動し、吸引ノズ
ル（１０）からフローセル内の電極部（ナトリウム，カ
リウム，クロール）（１１）まで吸引される。そこで数
秒保持された後、電磁弁（１４）とシリンジ（１３）が
作動し、排液ボトル（１５）内に排出される。希釈槽（
４）内の残液は、電磁弁（２１，２２）と真空タンク（
２４）と真空ポンプ（２５）とが作動して、排液ノズル
（２０）からいったん排液容器（２３）に吸引された後
、電磁弁（２６）が開き、排液タンクに排出される。 次に、逆止弁（１６）と電磁弁（１７）とシリンジ（１
８）とが作動し、標準液（１９）を標準液注入ノズル（
３８）から希釈槽（４）内に吐出し、吸引ノズル（１０
）から電極部（１１）に吸引し、排出する。希釈槽（４
）からの吸引，排出動作は希釈液注入ノズルから吐出さ
れた場合と同様におこなう。希釈液注入ノズルおよび標
準液注入ノズルからの標準液の吐出は交互におこなわれ
る。この一連の動作をそれぞれ２回以上繰返し測定され
た標準液の起電力は、アンプ基板（２７）およびＡ／Ｄ
変換機（２８）を通った後、マイクロコンピュータ（２
９）にて各電極の標準液の濃度を算出し、注入されたノ
ズルおよび電極ごとに濃度の平均値，ＣＶ値が算出され
る。この結果はＣＲＴ画面（３０）およびプリンタ（３
１）に出力される。ノズルごとに各電極の濃度の平均値
およびＣＶ値の比較をおこない、しきい値を越えた場合
にはノズル間の濃度差がなくなるようにそれぞれの電極
における補正係数を求め補正後の結果をＣＲＴ画面およ
びプリンタに出力する。
た場合の流路図である。まず装置がスタンバイになった
後、操作パネル（１）上のスタートキー（２）を押すと
、ダブル逆止弁（１６）と電磁弁（１７，３６）とシリ
ンジ（１８）が作動し、標準液（１９）を希釈液注入ノ
ズル（３７）から希釈槽（４）内に吐出する。標準液は
電磁弁（１２）とシリンジ（１３）が作動し、吸引ノズ
ル（１０）からフローセル内の電極部（ナトリウム，カ
リウム，クロール）（１１）まで吸引される。そこで数
秒保持された後、電磁弁（１４）とシリンジ（１３）が
作動し、排液ボトル（１５）内に排出される。希釈槽（
４）内の残液は、電磁弁（２１，２２）と真空タンク（
２４）と真空ポンプ（２５）とが作動して、排液ノズル
（２０）からいったん排液容器（２３）に吸引された後
、電磁弁（２６）が開き、排液タンクに排出される。 次に、逆止弁（１６）と電磁弁（１７）とシリンジ（１
８）とが作動し、標準液（１９）を標準液注入ノズル（
３８）から希釈槽（４）内に吐出し、吸引ノズル（１０
）から電極部（１１）に吸引し、排出する。希釈槽（４
）からの吸引，排出動作は希釈液注入ノズルから吐出さ
れた場合と同様におこなう。希釈液注入ノズルおよび標
準液注入ノズルからの標準液の吐出は交互におこなわれ
る。この一連の動作をそれぞれ２回以上繰返し測定され
た標準液の起電力は、アンプ基板（２７）およびＡ／Ｄ
変換機（２８）を通った後、マイクロコンピュータ（２
９）にて各電極の標準液の濃度を算出し、注入されたノ
ズルおよび電極ごとに濃度の平均値，ＣＶ値が算出され
る。この結果はＣＲＴ画面（３０）およびプリンタ（３
１）に出力される。ノズルごとに各電極の濃度の平均値
およびＣＶ値の比較をおこない、しきい値を越えた場合
にはノズル間の濃度差がなくなるようにそれぞれの電極
における補正係数を求め補正後の結果をＣＲＴ画面およ
びプリンタに出力する。
【００１０】この実施例によれば、吐出側逆止弁（７，
１６）の間にバイパス流路設けて、電磁弁（３６）の流
路を切り換えるだけで、標準液を希釈液注入ノズルおよ
び標準液注入ノズルから吐出でき、両者の結果を比較す
るだけで液体の劣化を調べることができる。前記実施例
において希釈液注入ノズルからの標準液の吐出をシリン
ジ（１８）を使用しておこなっているが、図２に示すよ
うにシリンジ（５）を使用しておこなっても良い。この
場合にはシリンジ（５）内に標準液がいったん蓄えられ
るため、シリンジが標準液の劣化に及ぼす影響について
も調べることができる。
１６）の間にバイパス流路設けて、電磁弁（３６）の流
路を切り換えるだけで、標準液を希釈液注入ノズルおよ
び標準液注入ノズルから吐出でき、両者の結果を比較す
るだけで液体の劣化を調べることができる。前記実施例
において希釈液注入ノズルからの標準液の吐出をシリン
ジ（１８）を使用しておこなっているが、図２に示すよ
うにシリンジ（５）を使用しておこなっても良い。この
場合にはシリンジ（５）内に標準液がいったん蓄えられ
るため、シリンジが標準液の劣化に及ぼす影響について
も調べることができる。
【００１１】図３のようにシリンジ（５）に対する標準
液吸入口を逆止弁（７）の吸入側以前に設ければ、通常
の希釈液吸入の場合と同様の流路をとることができる。
液吸入口を逆止弁（７）の吸入側以前に設ければ、通常
の希釈液吸入の場合と同様の流路をとることができる。
【００１２】図４のように標準液ボトルを２個設ければ
、従来の流路系をほとんど変えることなく実施できる。
、従来の流路系をほとんど変えることなく実施できる。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、簡単な流路切り換えで
異なる流路を通過した同一の標準液の正確な評価ができ
るという効果がある。またサンプル濃度の正確な測定が
できるという効果もある。
異なる流路を通過した同一の標準液の正確な評価ができ
るという効果がある。またサンプル濃度の正確な測定が
できるという効果もある。
【図１】本発明に係わる電解質測定異常チェックプログ
ラムの構成装置の一実施例をを示す全体構成図である。
ラムの構成装置の一実施例をを示す全体構成図である。
【図２】内標流路の他の実施例を示す図である。
【図３】内標流路の他の実施例を示す図である。
【図４】内標流路の他の実施例を示す図である。
１…操作パネル、２…スタートキー、３…サンプリング
ノズル、４…希釈層、５，１３，１８…シリンジ、６，
８，１２，１４，１７，２１，２２，２６，３３，３６
，３９，４０，４１…電磁弁、７，１６，…逆止弁、９
…希釈液ボトル、１０…吸引ノズル、１１…電極部、１
５…排液ボトル、１９…標準液ボトル、２０…排液容器
、２３…排液ノズル、２４…真空タンク、２５…真空ポ
ンプ、２７…アンプ基板、２８…Ａ／Ｄ変換器、２９…
マイクロコンピュータ、３０…ＣＲＴ画面、３１…プリ
ンタ、３２…比較電極液ボトル、３４…比較電極、３５
…数字入力キー、３７…希釈液注入ノズル、３８…標準
液注入ノズル。
ノズル、４…希釈層、５，１３，１８…シリンジ、６，
８，１２，１４，１７，２１，２２，２６，３３，３６
，３９，４０，４１…電磁弁、７，１６，…逆止弁、９
…希釈液ボトル、１０…吸引ノズル、１１…電極部、１
５…排液ボトル、１９…標準液ボトル、２０…排液容器
、２３…排液ノズル、２４…真空タンク、２５…真空ポ
ンプ、２７…アンプ基板、２８…Ａ／Ｄ変換器、２９…
マイクロコンピュータ、３０…ＣＲＴ画面、３１…プリ
ンタ、３２…比較電極液ボトル、３４…比較電極、３５
…数字入力キー、３７…希釈液注入ノズル、３８…標準
液注入ノズル。
Claims (1)
- 【請求項１】内部標準液注入ノズル及び希釈液注入ノズ
ルが設けられている試料希釈槽，電解質溶液を採取して
希釈した後イオン選択電極まで吸引し電解質を定量分析
する分析部、更に得られたデータを判断する機能を有す
るコンピュータ制御部から構成される電解質測定装置に
おいて、内部標準液注入ノズル及び希釈液注入ノズルか
ら吐出される同一内部標準液に対して出力されるイオン
選択電極からの出力信号を解析し結果から判断される異
常の有無を検知し、補正係数を求め、サンプル濃度に補
正を加えることを特徴とする電解質測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3057116A JPH04291147A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 電解質測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3057116A JPH04291147A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 電解質測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04291147A true JPH04291147A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13046571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3057116A Pending JPH04291147A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 電解質測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04291147A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021161704A1 (ja) * | 2020-02-14 | 2021-08-19 | 株式会社日立ハイテク | 電解質分析装置 |
| WO2023013222A1 (ja) * | 2021-08-03 | 2023-02-09 | 株式会社日立ハイテク | 電解質分析装置および分析方法 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP3057116A patent/JPH04291147A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021161704A1 (ja) * | 2020-02-14 | 2021-08-19 | 株式会社日立ハイテク | 電解質分析装置 |
| CN115053126A (zh) * | 2020-02-14 | 2022-09-13 | 株式会社日立高新技术 | 电解质分析装置 |
| WO2023013222A1 (ja) * | 2021-08-03 | 2023-02-09 | 株式会社日立ハイテク | 電解質分析装置および分析方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2149792B1 (en) | Sample analyzing method | |
| US8871080B2 (en) | Management system for an electrolyte analyzer | |
| US20080077330A1 (en) | Method for detecting erroneous measurement results obtained with ion-selective electrodes | |
| JPWO2002057768A1 (ja) | センサを用いる定量分析方法および定量分析装置 | |
| US5022980A (en) | System for determining concentration of an electrolyte | |
| US20160341692A1 (en) | Electrolyte Measuring Apparatus and Electrolyte Measuring Method | |
| US11782021B2 (en) | Electrolyte concentration measurement device | |
| JP2018146586A (ja) | 分析物濃度を決定する方法 | |
| JPH067115B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| US4170523A (en) | Method for checking isolation between titration and electrochemical measuring systems of a chemical analyzer | |
| WO2021161704A1 (ja) | 電解質分析装置 | |
| JPH04291147A (ja) | 電解質測定装置 | |
| JP3801814B2 (ja) | 電解質分析装置 | |
| JPS62294959A (ja) | イオン活量測定方法 | |
| JP2000266757A (ja) | 自動分析装置 | |
| JPH06186150A (ja) | サンプル希釈誤差の検出方法およびそれを用いるサンプル希釈誤差の検出装置 | |
| EP1906180B1 (en) | Method for detecting erroneous measurement results obtained with ion selective electrodes | |
| JPH05322843A (ja) | イオン電極を用いた電解質分析装置 | |
| CN114364989A (zh) | 自动分析装置 | |
| EP1906179A1 (en) | Method for detecting erroneous measurement results obtained with ion selective electrodes | |
| JPH0643133A (ja) | 生化学分析装置 | |
| WO2022158057A1 (ja) | 電解質分析装置とその異常判定方法 | |
| JPH02159548A (ja) | イオン濃度分析装置 | |
| JPS6394149A (ja) | 電解質濃度測定システム | |
| JPH01107146A (ja) | 電解質濃度測定方法 |