JPH04290297A - Multilayer circuit board - Google Patents

Multilayer circuit board

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JPH04290297A
JPH04290297A JP5296291A JP5296291A JPH04290297A JP H04290297 A JPH04290297 A JP H04290297A JP 5296291 A JP5296291 A JP 5296291A JP 5296291 A JP5296291 A JP 5296291A JP H04290297 A JPH04290297 A JP H04290297A
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JP
Japan
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vias
predetermined
pitch
input
pad
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5296291A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiyasu Sakata
寿康 坂田
Mitsuru Yasuda
満 安田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH04290297A publication Critical patent/JPH04290297A/en
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Abstract

PURPOSE:To reduce a crosstalk noise in a via of a multilayer circuit board formed by laminating a plurality of boards, and connecting inner layer patterns of the boards through vias passing through the boards. CONSTITUTION:Pads arranged on an upper surface of a board of an uppermost layer formed by laminating a plurality of boards, first vias connected at each one end to a pad and so arranged at the other at a predetermined pitch as to pass the board, second vias arranged in parallel with the first vias, and a via connecting pattern so provided on a predetermined layer as to connect the second vias to the predetermined vias of the first vias, are provided. An interval larger than the pitch is formed between the first vias nearest the arranging positions of the second vias and the arranging positions of the second vias. 1-1,1-2,1-3,1-N: board, 2: upper surface, 3: pad, 4: first via, 4-1: predetermined via, 5: second via, 6: via connecting pattern.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、複数の基板を積層し、
各基板に於ける内層パターンが各基板を貫通するビアに
よって接続されるように形成された多層配線基板に関す
る。
[Industrial Application Field] The present invention is a method of laminating a plurality of substrates,
The present invention relates to a multilayer wiring board formed such that inner layer patterns on each board are connected by vias penetrating each board.

【0002】電子機器に用いられるセラミック材より成
る多層配線基板は、実装面にバッドを配設し、バッドに
はビアを接合することで内層パターンが接続されるよう
に形成されている。
A multilayer wiring board made of a ceramic material used in electronic equipment is formed so that a pad is provided on the mounting surface and an inner layer pattern is connected to the pad by bonding a via.

【0003】そこで、多層配線基板にLSI パッケー
ジなどを実装する場合は、LSI パッケージの入出力
ピンをバッドにボンディングし、バッドに入出力ピンを
固着させることで行われる。
Therefore, when an LSI package or the like is mounted on a multilayer wiring board, the input/output pins of the LSI package are bonded to the pads, and the input/output pins are fixed to the pads.

【0004】0004

【従来の技術】従来は図4の従来の側面断面図に示すよ
うに構成されていた。図4に示すように、内層パターン
10が設けられた複数の基板1−1 〜1−N を積層
することで厚みTに形成され、積層された最上層の基板
1−1 の上面2 には所定のピッチP によってパッ
ド3 が設けられるように形成されている。
2. Description of the Related Art A conventional device has been constructed as shown in a side sectional view of FIG. 4. As shown in FIG. 4, a plurality of substrates 1-1 to 1-N each having an inner layer pattern 10 are stacked to have a thickness T, and the upper surface 2 of the uppermost layered substrate 1-1 is The pads 3 are arranged at a predetermined pitch P.

【0005】また、パッド3 には積層された基板1−
1 〜1−Nを貫通することで第1のビア4が接合され
ている。そこで、LSI パッケージ7 を実装する場
合は、LSI パッケージ7 の入出力ピン8 をパッ
ド3 にボンディングすることで接続し、入出力ピン8
 が第1のビア4 を介して内層パターン10に接続さ
れ、入出力ピン8 に対する信号の入出力が行われる。
[0005] Also, the pad 3 has a laminated substrate 1-
The first vias 4 are connected by penetrating through 1 to 1-N. Therefore, when mounting the LSI package 7, connect the input/output pin 8 of the LSI package 7 to the pad 3 by bonding the input/output pin 8.
is connected to the inner layer pattern 10 via the first via 4, and signals are input and output to the input/output pin 8.

【0006】したがって、パッド3 のピッチP は入
出力ピン8 に合致されるように形成され、パッド3 
の真下に第1のビア4 が配設されている。一方、この
ようなLSI パッケージ7 は、近年、高速化, 高
密度実装化が推進されるようになり、入出力ピン8 の
ピッチP が極力微細な値になる傾向にある。
Therefore, the pitch P of the pad 3 is formed to match the input/output pin 8, and the pitch P of the pad 3 is formed to match the input/output pin 8.
A first via 4 is arranged directly below. On the other hand, in recent years, such LSI packages 7 have become faster and more densely packaged, and the pitch P of the input/output pins 8 tends to be as fine as possible.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】このようなパッド3 
の真下に第1のビア4 が配設される構成では、入出力
ピン8 のピッチP が微細な値となることで互いが平
行に配設される第1のビア4 の間隔が近接されること
になる。
[Problem to be solved by the invention] Such a pad 3
In the configuration in which the first via 4 is arranged directly below the input/output pin 8 , the pitch P of the input/output pin 8 becomes a minute value, so that the first vias 4 , which are arranged parallel to each other, are closely spaced. It turns out.

【0008】したがって、第1のビア4 のそれぞれに
伝播される入出力信号によってクロストークノイズが生
じ、LSI パッケージ7 に対して誤信号の入出力が
行われる問題を有していた。
[0008] Therefore, there is a problem in that crosstalk noise is generated by the input/output signals propagated to each of the first vias 4, and erroneous signals are input/output to/from the LSI package 7.

【0009】そこで、本発明では、ビアに於けるクロス
トークノイズを軽減させることを目的とする。
Therefore, the present invention aims to reduce crosstalk noise in vias.

【0010】0010

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図で、図1に示すように、複数の基板1−1 〜1−N
 を積層することで形成された最上層の基板1−1 の
上面2 に配列されるパッド3 と、一端が該パッド3
 に接合され、他端が該基板1−1 〜1−N を貫通
するよう所定のピッチP によって配設される第1のビ
ア4 と、該第1のビア4 と平行に配設される第2の
ビア5 と、該第1のビア4 の所定のビア4−1 に
該第2のビア5 を接続するよう所定の層に設けられる
ビア接続パターン6 とを備え、該第2のビア5 の配
設箇所に最も近接する該第1のビア4 と、該第2のビ
ア5 の配設箇所との間隔を該ピッチP より大きな間
隔L とし、また、前記最上層の基板1−1 に前記ビ
ア接続パターン6 を配設し、前記所定のビア4−1と
、前記第2のビア5 との接合を該最上層の基板1−1
 に於いて行うように構成する。
[Means for Solving the Problems] FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention. As shown in FIG. 1, a plurality of substrates 1-1 to 1-N
pads 3 arranged on the upper surface 2 of the uppermost layer substrate 1-1 formed by laminating the pads 3, and one end of the pads 3
A first via 4 is disposed at a predetermined pitch P such that the other end penetrates through the substrates 1-1 to 1-N, and a first via 4 is disposed parallel to the first via 4. a via connection pattern 6 provided in a predetermined layer to connect the second via 5 to a predetermined via 4-1 of the first via 4; The distance between the first via 4, which is closest to the location where the second via 5 is provided, and the location where the second via 5 is provided is set to be a distance L that is larger than the pitch P, and the uppermost layer substrate 1-1 is The via connection pattern 6 is arranged to connect the predetermined via 4-1 and the second via 5 to the uppermost layer substrate 1-1.
It is configured to be carried out in the following.

【0011】このように構成することによって前述の課
題は解決される。
[0011] With this configuration, the above-mentioned problem is solved.

【0012】0012

【作用】即ち、最上層の基板1−1 の上面2 に配列
されるパッド3 と、パッド3 に接合され、基板1−
1 〜1−N を貫通するよう所定のピッチP によっ
て配設される第1のビア4 と、第1のビア4 と平行
に配設される第2のビア5 と、第1のビア4 の所定
のビア4−1 に第2のビア5 を接続するよう所定の
層に設けられるビア接続パターン6 とを備え、所定の
ビア4−1 がビア接続パターン6 を介して第2のビ
ア5 に接続されるようにすることで、第1のビア4 
の配設箇所と第2のビア5 の配設箇所との間にはピッ
チP より大きな間隔L が形成されるようにしたもの
である。
[Function] That is, the pads 3 arranged on the upper surface 2 of the uppermost substrate 1-1 are bonded to the pads 3,
A first via 4 is disposed at a predetermined pitch P so as to penetrate through 1 to 1-N, a second via 5 is disposed parallel to the first via 4, and a second via 5 is disposed in parallel with the first via 4. A via connection pattern 6 is provided in a predetermined layer to connect a second via 5 to a predetermined via 4-1, and the predetermined via 4-1 is connected to the second via 5 via the via connection pattern 6. By connecting the first via 4
A distance L, which is larger than the pitch P, is formed between the location where the second via 5 is provided and the location where the second via 5 is provided.

【0013】このように構成すると、第1のビア4 に
於ける配設ピッチP が小さくなり、第1のビア4 に
伝播される入出力信号によってクロストークノイズが生
じる場合は、その入出力信号は所定のビア4−1 を介
して第2のビア5 に伝播させるようにすることが行え
る。
[0013] With this configuration, the arrangement pitch P in the first via 4 becomes small, and if crosstalk noise is caused by the input/output signal propagated to the first via 4, the input/output signal is can be propagated to the second via 5 through a predetermined via 4-1.

【0014】したがって、第1のビア4 の配設が近接
することで互いの第1のビア4 間に於いて生じるクロ
ストークノイズによる誤信号の入出力を防ぐことができ
、信頼性の向上が図れる。
[0014] Therefore, by arranging the first vias 4 close to each other, it is possible to prevent input/output of erroneous signals due to crosstalk noise occurring between the first vias 4, thereby improving reliability. I can figure it out.

【0015】[0015]

【実施例】以下本発明を図2および図3を参考に詳細に
説明する。図2は本発明による一実施例の側面断面図,
 図3は本発明の他の実施例の側面断面図である。全図
を通じて、同一符号は同一対象物を示す。
EXAMPLES The present invention will be explained in detail below with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 2 is a side sectional view of an embodiment according to the present invention.
FIG. 3 is a side sectional view of another embodiment of the invention. The same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.

【0016】図2に示すように、複数の基板1−1 〜
1−N を積層することで厚みT を有するように形成
された、最上層の基板1−1の上面2 には所定のピッ
チP によるパッド3が配列され、それぞれのパッド3
 には基板1−1 〜1−N を貫通することで第1の
ビア4 が接続されると共に、第1のビア4 に平行に
配設される第2のビア5 を設けるように構成されてい
る。
As shown in FIG. 2, a plurality of substrates 1-1 to
Pads 3 are arranged at a predetermined pitch P on the upper surface 2 of the uppermost substrate 1-1, which is formed to have a thickness T by laminating 1-N.
The first vias 4 are connected to each other by penetrating the substrates 1-1 to 1-N, and the second vias 5 are arranged parallel to the first vias 4. There is.

【0017】また、第1のビア4 に於ける長さH に
形成された所定のビア4−1 と、第2のビア5 との
間には、ビア接続パターン6が設けられ、所定のビア4
−1 がビア接続パターン6 を介して第2のビア5 
に接続されるように形成され、第1および第2のビア4
,5 のそれぞれには、内層パターン10が接続される
ように形成されている。
Furthermore, a via connection pattern 6 is provided between a predetermined via 4-1 formed to a length H in the first via 4 and a second via 5. 4
-1 connects to the second via 5 via the via connection pattern 6
The first and second vias 4 are formed to be connected to the first and second vias 4.
, 5 are formed so as to be connected to the inner layer patterns 10, respectively.

【0018】そこで、パッド3 に入出力ピン8 をボ
ンディングすることでLSI パッケージ7に対する入
出力信号が第1および第2のビア4,5 と、それぞれ
に接続された内層パターン10によって行われる。
Therefore, by bonding the input/output pin 8 to the pad 3, input/output signals to the LSI package 7 are transmitted through the first and second vias 4, 5 and the inner layer pattern 10 connected to each.

【0019】このように構成すると、第2のビア5 は
、第1のビア4 のピッチP より大きな間隔L とな
る箇所に配設を行うようにすることができる。実際には
、このような第1のビア4 のピッチP が約1.0m
m 程度に接近されることがあり、約1.0mm 程度
に近接されても、所定のビア4−1 によって所定の入
出力信号を第2のビア5によって行うようにすることで
、第1のビア4 の互いのピッチを広くすることができ
、クロストークノイズによる影響を極力受けることのな
いようにすることが行える。
With this configuration, the second vias 5 can be arranged at locations with a distance L larger than the pitch P of the first vias 4. In reality, the pitch P of such first vias 4 is approximately 1.0 m.
m, and even if the distance is about 1.0 mm, by making the predetermined input/output signal by the predetermined via 4-1 to be transmitted by the second via 5, the first The mutual pitch of the vias 4 can be widened, and the influence of crosstalk noise can be minimized.

【0020】更に、LSI パッケージ7 に於いては
、LSI パッケージ7 に入力される信号系よりも、
LSI パッケージ7 から出力される信号系の方が一
般的にハイレベルとなるため、出力される信号系による
クロストークノイズの影響が大きいので、例えば、出力
される信号系の伝播路として第2のビア5 を使用する
ようにすることでもクロストークノイズによる影響を減
少させることができる。
Furthermore, in the LSI package 7, the signal system input to the LSI package 7 is
Since the signal system output from the LSI package 7 is generally at a higher level, the influence of crosstalk noise due to the output signal system is large. The influence of crosstalk noise can also be reduced by using via 5.

【0021】また、このようなクロストークノイズによ
る影響を減少させるには、所定のビア4−1 の長さH
 は極力小さくし、第1のビア4 と平行に配設される
距離を短くすることが必要である。
[0021] Furthermore, in order to reduce the influence of such crosstalk noise, the predetermined length H of the via 4-1
It is necessary to make it as small as possible, and to shorten the distance provided in parallel to the first via 4.

【0022】そこで、図3に示す場合は、ビア接続パタ
ーン6 を最上層の基板1−1 に設けるように構成し
たものである。このように、ビア接続パターン6 を最
上層の基板1−1 に設けると、第2のビア5 に接続
する所定のビア4−1 の長さを前述の長さH よりも
短いH1にすることができ、第1のビア4 と平行に配
設される距離が、更に減少することで、より効果を得る
ことができる。
Therefore, in the case shown in FIG. 3, the via connection pattern 6 is provided on the uppermost substrate 1-1. In this way, when the via connection pattern 6 is provided on the top layer substrate 1-1, the length of the predetermined via 4-1 connected to the second via 5 can be set to H1, which is shorter than the aforementioned length H. By further reducing the distance parallel to the first via 4, more effects can be obtained.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
パッドに接続されることで各基板を貫通するように配設
された第1のビアと、第1のビアから離れた箇所に配設
された第2のビアとを設け、第1のビアに於ける所定の
ビアをビア接続パターンによって第2のビアに接続する
ことで、第1のビアに於ける入出力信号に対するクロス
トークノイズによる影響を軽減させることができる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention,
A first via is provided so as to penetrate through each board by being connected to a pad, and a second via is provided at a location away from the first via. By connecting a predetermined via in the second via to the second via using a via connection pattern, the influence of crosstalk noise on the input/output signal in the first via can be reduced.

【0024】したがって、従来のようなクロストークノ
イズによる誤信号の入出力が避けられ、信頼性の向上が
図れ、実用的効果は大である。
Therefore, the input/output of erroneous signals due to crosstalk noise as in the conventional method can be avoided, reliability can be improved, and the practical effects are great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】  本発明の原理説明図[Figure 1] Diagram explaining the principle of the present invention

【図2】  本発明による一実施例の側面断面図[Figure 2] Side sectional view of one embodiment according to the present invention

【図3
】  本発明の他の実施例の側面断面図
[Figure 3
] Side sectional view of another embodiment of the present invention

【図4】  従
来の側面断面図
[Figure 4] Conventional side sectional view

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1−1 〜1−N 基板              
  2  上面3  パッド            
        4  第1のビア5  第2のビア 
               6  ビア接続パター
ン4−1 所定のパッド
1-1 ~1-N board
2 Top surface 3 Pad
4 First via 5 Second via
6 Via connection pattern 4-1 Predetermined pad

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  複数の基板(1−1〜1−N)を積層
することで形成された最上層の基板(1−1) の上面
(2) に配列されるパッド(3) と、一端が該パッ
ド(3) に接合され、他端が該基板(1−1〜1−N
)を貫通するよう所定のピッチ(P) によって配設さ
れる第1のビア(4) と、該第1のビア(4) と平
行に配設される第2のビア(5) と、該第1のビア(
4) の所定のビア(4−1) に該第2のビア(5)
 を接続するよう所定の層に設けられるビア接続パター
ン(6) とを備え、該第2のビア(5) の配設箇所
に最も近接する該第1のビア(4) と、該第2のビア
(5) の配設箇所との間隔を該ピッチ(P) より大
きな間隔(L) にすることを特徴とする多層配線基板
1. Pads (3) arranged on the upper surface (2) of a top layer substrate (1-1) formed by stacking a plurality of substrates (1-1 to 1-N), and one end thereof. is connected to the pad (3), and the other end is connected to the substrate (1-1 to 1-N
); a second via (5) disposed parallel to the first via (4); The first via (
4) the second via (5) in the predetermined via (4-1);
a via connection pattern (6) provided in a predetermined layer so as to connect the first via (4) closest to the location of the second via (5); A multilayer wiring board characterized in that the distance between the vias (5) and the arrangement location is set to a distance (L) larger than the pitch (P).
【請求項2】  請求項1記載の前記最上層の基板(1
−1) に前記ビア接続パターン(6)を配設し、前記
所定のビア(4−1) と、前記第2のビア(5) と
の接合を該最上層の基板(1−1) に於いて行うこと
を特徴とする多層配線基板。
2. The top layer substrate (1) according to claim 1;
-1) the via connection pattern (6) is arranged on the uppermost layer substrate (1-1), and the predetermined via (4-1) and the second via (5) are connected to the uppermost layer substrate (1-1). A multilayer wiring board characterized in that
JP5296291A 1991-03-19 1991-03-19 Multilayer circuit board Withdrawn JPH04290297A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6898844B2 (en) * 2001-09-28 2005-05-31 Intel Corporation Method for reducing multiline effects on a printed circuit board
JP2008224659A (en) * 2007-02-16 2008-09-25 Ngk Spark Plug Co Ltd Electronic component-inspection wiring board and its manufacturing method
US7875810B2 (en) 2006-12-08 2011-01-25 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Electronic component-inspection wiring board and method of manufacturing the same

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