JPH04283956A - 回路素子パターン位置合わせ組立装置及び方法 - Google Patents

回路素子パターン位置合わせ組立装置及び方法

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JPH04283956A
JPH04283956A JP4786691A JP4786691A JPH04283956A JP H04283956 A JPH04283956 A JP H04283956A JP 4786691 A JP4786691 A JP 4786691A JP 4786691 A JP4786691 A JP 4786691A JP H04283956 A JPH04283956 A JP H04283956A
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JP
Japan
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circuit element
alignment
mark
marks
chip
Prior art date
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JP4786691A
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English (en)
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Takeshi Tajima
但馬 武
Takeshi Kato
猛 加藤
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,回路素子と回路素子を
対向して重ねて結合し,集積した一つの大きい回路素子
を作成するための,回路素子パターンの位置合わせ組立
て装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術】Si等の基板上に作られた回路同志を,
立体的に積み重ねて回路の大形化,高機能化を図ること
は,今後の実装技術の方向としても重要なことである。
【0003】例えば,次世代計算機の素子として期待さ
れているQFP(磁束量子素子)の場合,QFPを集積
した回路基板同志を対向させ,近接させ非接触結合を図
ることにより信号伝達が可能となり,しかもコネクタを
必要としない大容量の実装が可能となる。QFP回路を
チップに設け,配線基板上には,QFP回路とそれを励
磁するための励振線,およびQFP回路をつなぐ信号線
を設けて,チップと配線基板間はトランス結合により非
接触結合を行なう。この時、2×5mm厚さ約500μ
mのチップを、配線基板上に±3μm程度の精度で位置
合わせして接着することがこのシステムを成功させる基
本条件の一つである。
【0004】似たような目的の方法としては、いわゆる
CCB(Controlled  Collapse 
 Bonding)方式があり,「日経マイクロデバイ
ス」1989年7月号  P61や、アイイーイーイー
(IEEE)0569−5503/88/0000−0
335「アン  オートメーテッド  フリップチップ
  アセンブリ  テクノロジ  フォー  アドゥバ
ンスド  ブイエルエスアイ  パッケージング」(A
N  AUTOMATED  FLIP−CHIP  
ASSEMBLY  TECHNOLOGY  FOR
  ADVANCED  VLSI  PACKAGI
NG)P335などに詳細が述べられている。また、こ
れに関連する特許としては、特開昭60−39851号
公報などがある。これは、回路チップをフリップチップ
実装し、ハンダバンプにより接続する方式であり、「図
2」に示すように、チップ(上にくる回路素子)31観
察用のTVカメラ32と、基板(下にくる回路素子)3
3観察用のTVカメラ34の両者を設け、前もって両T
Vカメラの相対位置関係(間隔など)を規定しておく。 一方のカメラにチップのマーク(パターン)を写しモニ
タTV画面35に出す。次に、もう一方のカメラを作動
させ、そのマーク(パターン)を同じTV画面に重ねて
写し出す。両方のマークが重なるように、片方のマーク
を微調機構36により微調(直進、回転)する。その後
、ステージ37により決められた距離だけ移動させ、最
初に規定した位置にもってくることにより、合ったとみ
なし、上下ステージ38により、下におろして重ね合わ
せるものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この方式はステージの
送り精度、上下移動方向の直角度、最初のTVカメラの
相対位置関係(間隔など)測定精度、TV画面上でのパ
ターンの合わせ精度などが影響し、合わせ精度は約20
μmが限度である。この方式はその名が示すように、素
子と素子のハンダ付け用であり、溶融したハンダバンプ
自身の表面張力によるセルフアライメント効果により、
最終的に位置決めされるので、装置の精度はこの程度で
十分なものである。しかし、上記の例のような、チップ
の上面と基板の上面といった段差をもつもの同志の位置
合わせに関して、今後要求される高精度化には対応でき
ない。本発明の目的は、段差をもつもの同志の位置合わ
せを、5μm以下の高精度に、且つ簡易にできる装置、
方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、上にくる回路素子はパターンの反対側(上側)に
、下にくる回路素子はパターンと同じ側(上側)に合わ
せマ−クを設け、TVカメラつき2視野光学顕微鏡を用
い、モニタTV画面上のカーソル線を仲介して、両方の
マークを合わせるようにしたものである。
【0007】
【作用】2個の回路素子を合わせるためには、位置と角
度を見るために、合わせマークが2個必要である。それ
らは合わせ精度の面からできるだけ離して配置したいた
め、倍率が高いままそれらを上から同時に見ることは普
通の光学顕微鏡ではできない。このため、2視野顕微鏡
を用いて、2カ所のマークを別々の視野にとり、モニタ
TV画面に半分ずつ表示するようにした。また、光学顕
微鏡は使用する対物レンズにより、小さい分解能を得よ
うとすると、焦点深度も浅くなってくる。そのため、基
板の上のごくわずか離れた位置にチップをもってきて、
チップの2個のマークを、先ずモニタTV画面に写し出
す。そのマークにモニタTV画面のカーソル線を合わせ
、次に、顕微鏡を基板、チップのすきま分だけ下に移動
し、基板のマークをそのカーソル線に合わせることによ
り位置合わせを行うようにした。
【0008】
【実施例】「 図1」に実施例を示す。基板1、チップ
2を各々基板チャック3、チップチャック4の所定位置
に置き真空力で保持する。そして、θsステージ5、θ
tステージ6によりマークのXYをXステージ7、Yス
テージ8の移動方向に合わせる。マークとしては、今回
の場合、チップの大きさの関係から2個のマークの間隔
をほぼ4mmとしたが、対物レンズを2個使用する普通
のタイプでは、視野近接限界が20mm程度と広いため
使用できず、対物レンズ1個のタイプを使用した。倍率
は20倍なので視野は約150μmと狭いこともあり、
顕微鏡の下にきた時、そのまま画面に出るようにするた
め、前もって粗合わせを行っておく必要があり、顕微鏡
側に各種の移動微調機構9が付いている。またψtステ
ージ10は2個のマークの両方に焦点を合わせるための
機構であり、Zsステージ11は基板の上面をチップの
上面に合わせる機構である。
【0009】マークの合わせ順序を「図1」「図3」を
用いて以下に説明する。(1)ステージを移動し、チッ
プを顕微鏡12の下に移動し、モニタTV画面13上に
そのマーク22  2個を写し出す。(2)アーム上下
機構14によりアーム15を下ろし、真空をひきアーム
チャック16を動作させ持ち上げる。当然チップは焦点
からはずれ画面から消える。そして、持ち上げられたチ
ップの下に、基板をステージにより移動する。(3)チ
ップの合わせマークをモニタTV画面に出すために、Z
ステージ17を焦点位置まで下げ、その画面の中で、チ
ップの合わせマークにカーソル線を合わせる。(4)Z
ステージを上げ、基板の合わせマーク23をモニタTV
画面上に出し、カーソル線に対し合わせる。これで、装
置に対しチップと基板が各々合ったことになる。(5)
接着剤を注入し基板上にチップを下ろし接着が完了する
。 複数個付ける時は、基板をYtステージ18により所定
量ずらして、同じことを繰り返すことになる。この方法
による主な合わせ誤差は、次の2項目に集約される。
【0010】(1)チップ、配線基板の合わせマークと
カーソル線の合わせ誤差 (2)マーク合わせ原理による装置起因の誤差(1)は
本実施例の場合、1μmがモニタTV画面上1.35m
mに相当することから各々1μm程度の誤差で合わせる
ことが可能である。(2)は、上に述べた方法で位置合
わせマークを合わせた時の誤差△について検討すれば良
い。これは図3により次式で表される。
【0011】       △=|(α−β)11−α12|=|α(
11−12)−β11|              
                         
       =|αt−β11|         
       但し、α  :Za(チップ上下機構)
の移動方向と顕微鏡光軸とのずれ角 β  :Z  (チップ+配線基板上下機構)の移動方
向と顕微鏡光軸とのずれ角 l1:チップの持ち上げ量 12:チップと配線基板のすきま(チップの持ち上げ量
−チップの厚さ) t :チップの厚さ である。符号は左上方にずれる方向を(+)とする。こ
の式で最大値はZa、Zの移動方向が互いに反対側にず
れた時であり、その値はαt+β11となる。この値の
一例として、実現性のある数値として、α、β=0.0
5°(=3′)、11=500μm、t=470μmの
時の△を計算すると0.8μmとなる。ところで(1)
の誤差は、人間が毎回肉眼で合わせるために、各々独立
した正規分布誤差と考えられる2乗和で表される。また
、(2)の誤差は、その装置固有の毎回必ず独立に出る
誤差と考えられるので、合計の誤差は、次の「数式1」
で表される。
【0012】
【数1】
【0013】つまり、この程度の合わせ精度は可能とい
うことになる。本実施例においては、ガラス製の透明チ
ップを用い、基板にマーク合わせを行い、合わせ精度を
評価した。このチップを用いた理由は、チップと配線基
板の合わせ精度を以下の3点につき評価できるからであ
る。
【0014】(1)本組立装置の位置合わせ精度(チッ
プ上面←→配線基板上面) (2)チップについて、回路パターンと反対面にマーク
を形成するときに使用した両面アライナの精度(チップ
上面←→チップ下面) (3)それらを総合した本方法におけるチップと基板の
総合合わせ精度(チップ下面←→配線基板上面)もちろ
ん(3)が最終的に必要とされる合わせ精度である。結
果として、本装置単独の位置合わせ精度(1)は、40
ケ所の平均値で、X;1.0μm、Y;1.3μmであ
り、偏差σは各々1.1μm、1.2μmであった。な
お、この精度測定値は、上記の測定原理に基ずいており
、Z軸移動方向と光軸のずれ角が効いてくるため、位置
合わせの絶対値でなく、位置再現精度と考えることがで
きる。絶対精度は、上記のずれ角の正確な測定が困難で
あり値として求めることは不可能である。一方、総合精
度(3)は、絶対精度でありX;0.8μm(σ=1.
0μm)、Y;2.5μm(σ=1.6μm)であった
。これらの測定値は、(1)+(2)=(3)となる性
格のものであり、X方向は、両面アライナの誤差が本装
置の誤差をうまい具合いにキャンセルしてくれた結果と
なっており、逆に、Y方向は増える結果となっている。 顕微鏡を移動して、同様のことができるが、光軸を動か
さないという面で上記の構造が有利である。
【0015】上にくる回路素子は、必ずしも下の回路素
子よりも小さい必要はなく、マークを覗く窓があいてさ
えいれば同じことが可能である。
【0016】また、本実施例では2層の回路素子の組立
およびその方法について述べたが、本発明は3次元的に
回路素子を形成する技術思想を与えることを可能とする
ものである。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば次の効果がある。(1)
ステージの移動精度などに関係なく、より実態状態に近
いまま高精度に合わせることができる。(2)2視野顕
微鏡を用いているため、合わせマーク付近だけを各々画
面に出すため、視野が狭くてよいため倍率をあげること
ができ、高精度化が可能である。(3)チップの厚さが
厚くなっても、それなりに光軸に対する移動軸のずれ角
を小さくすることにより、高精度に合わせることができ
る。(4)チップのマークを形成する時に使用した両面
アライナの精度を測定し、本装置に取り込むことにより
、より高精度の合わせが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図である。
【図2】従来の方法を示す図である。
【図3】本発明による位置合わせプロセスを示す図であ
る。
【符号の説明】
1…基板                     
   2…チップ3…基板チャック         
       4…チップチャック5…θsステージ 
               6…θtステージ7…
Xステージ                  8…
Yステージ9…移動微調機構            
  10…ψtステージ11…Zsステージ     
         12…顕微鏡13…モニタTV画面
            14…アーム上下機構 15…アーム                   
 16…アームチャック 17…Zステージ                1
8…Ytステージ19…除振テーブル        
      20…架台21…真空ポンプ      
          22…チップの合わせマーク 23…基板の合わせマーク 31…チップ                   
 32…チップ観察用TVカメラ 33…基板                    
  34…基板観察用TVカメラ 35…モニタTV                3
6…微調機構37…ステージ            
      38…上下ステージ41…焦点面    
                42…Δ43…アー
ム上下機構移動方向    44…l145…カーソル
線位置            46…Zステージ移動
方向 47…l2

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回路素子を有する部材を他の回路素子を有
    する部材上に,両方の回路素子のパターンを一定な位置
    関係になるように,少なくとも該回路素子を有する部材
    を一個並べて結合し、集積された一つの回路を作る組立
    装置において,片方の回路素子を有する部材の裏面に位
    置合わせマークを設け,一方の回路素子を有する部材の
    表面に設けた位置合わせマークに対して合わせる位置合
    わせ手段を有することを特徴とする回路素子パターン位
    置合わせ組立装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の回路素子パターン位置合わ
    せ組立装置において,位置合わせを行う基準となる該マ
    ークを,該回路素子を有する部材に各々2カ所に設けた
    ことを特徴とする、回路素子パターン位置合わせ組立装
    置。
  3. 【請求項3】請求項1記載の回路素子パターン位置合わ
    せ組立装置において,該位置合わせ手段として、該マー
    クを2視野光学顕微鏡を用い,一つのモニタTV画面に
    2分割して表示した画面を用いることにより位置合わせ
    することを特徴とする、回路素子パターン位置合わせ組
    立装置。
  4. 【請求項4】請求項1記載の回路素子パターン位置合わ
    せ組立装置において,位置合わせ動作を行うために、第
    1の回路素子を有する部材を垂直に上下させる手段と、
    第1の部材を支持したまま、第2の部材とともに光学顕
    微鏡の焦点面に対して垂直に移動させる手段を備えたこ
    とを特徴とする、回路素子パターン位置合わせ組立装置
  5. 【請求項5】第1の回路素子を有する部材を顕微位置に
    移動し、第2の回路素子を有する部材を該第1の回路素
    子を有する部材の下方に配置し、第1の回路素子を有す
    る部材と、第2の回路素子を有するを部材で支持し、該
    第1部材の表面にあるマークに対して顕微した後、該第
    2部材の表面にある位置合わせマークを顕微し、第1、
    第2回路素子をの回路素子を有する部材を位置合わせす
    ることを特徴とする、回路素子パターン位置合わせ組立
    方法。
  6. 【請求項6】請求項5記載の回路素子パターン位置合わ
    せ組立方法において、顕微手段として2視野光学顕微鏡
    で位置合わせを用い、上記片方の回路素子のマーク2カ
    所を前記顕微鏡のモニタTVに写し出し,画面の中でそ
    のマークに対しカーソル線を合わせ,次に,一方の回路
    素子のマーク2カ所を,そのカーソル線に対し合わせる
    ことを特徴とする、回路素子パターン位置合わせ組立方
    法。
  7. 【請求項7】請求項5記載の回路素子パターン位置合わ
    せ組立方法において、上記片方の回路素子のマーク2カ
    所に光学顕微鏡の焦点を合わせ,そのマークをモニタT
    Vに写し出し,各々のマークにカーソル線を合わせる。 それを上に逃がし、その下にもう一方の回路素子を移動
    し,光学顕微鏡の焦点をその回路素子のマーク上にずら
    し,そのマークをモニタTVに写し,回路素子の位置を
    微調し,前記カーソル線にそのマークを合わせるように
    した回路素子パターン位置合わせ組立方法。
JP4786691A 1991-03-13 1991-03-13 回路素子パターン位置合わせ組立装置及び方法 Pending JPH04283956A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0890989A4 (en) * 1997-01-24 2006-11-02 Rohm Co Ltd SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING THE DEVICE

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