JPH04283657A - ガスクロマトグラフ/質量分析装置 - Google Patents
ガスクロマトグラフ/質量分析装置Info
- Publication number
- JPH04283657A JPH04283657A JP3048072A JP4807291A JPH04283657A JP H04283657 A JPH04283657 A JP H04283657A JP 3048072 A JP3048072 A JP 3048072A JP 4807291 A JP4807291 A JP 4807291A JP H04283657 A JPH04283657 A JP H04283657A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum housing
- mass
- gas chromatograph
- gas
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 21
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 10
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフ/
質量分析装置に係り、特には、質量分析計の真空ハウジ
ングのベーキングと電源部の発熱素子の放熱の技術に関
する。
質量分析装置に係り、特には、質量分析計の真空ハウジ
ングのベーキングと電源部の発熱素子の放熱の技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来のガスクロマトグラフ/質量分析装
置は、図2に示す構成のものがある。同図において、符
号1は試料ガスを成分分離するガスクロマトグラフ、2
はガスクロマトグラフ1で分離された各成分ガスのイオ
ンを質量分離する質量分析計、4はガスクロマトグラフ
1と質量分析計とを結ぶインターフェイス、6はPFT
BA等の標準試料を導入するための標準試料導入部であ
る。
置は、図2に示す構成のものがある。同図において、符
号1は試料ガスを成分分離するガスクロマトグラフ、2
はガスクロマトグラフ1で分離された各成分ガスのイオ
ンを質量分離する質量分析計、4はガスクロマトグラフ
1と質量分析計とを結ぶインターフェイス、6はPFT
BA等の標準試料を導入するための標準試料導入部であ
る。
【0003】上記の質量分析計2は、真空ハウジング8
を有し、この真空ハウジング8内に、成分ガスをイオン
化するイオン源10、このイオン源10からの各成分の
イオンを質量分離する質量分離部12、およびこの質量
分離部12で質量分離されたイオンを検出する二次電子
増倍管等の検出器がともに配置される一方、真空ハウジ
ング8の外部には、上記のイオン源10、質量分離部1
2、検出器14にそれぞれ電力を供給する電源部16,
18,20が設けられており、さらに、真空ハウジング
8の外壁には、この真空ハウジング8をベーキングする
ためのヒータ22が密着して取り付けられ、このヒータ
22に専用の電源24が接続されている。
を有し、この真空ハウジング8内に、成分ガスをイオン
化するイオン源10、このイオン源10からの各成分の
イオンを質量分離する質量分離部12、およびこの質量
分離部12で質量分離されたイオンを検出する二次電子
増倍管等の検出器がともに配置される一方、真空ハウジ
ング8の外部には、上記のイオン源10、質量分離部1
2、検出器14にそれぞれ電力を供給する電源部16,
18,20が設けられており、さらに、真空ハウジング
8の外壁には、この真空ハウジング8をベーキングする
ためのヒータ22が密着して取り付けられ、このヒータ
22に専用の電源24が接続されている。
【0004】真空ハウジング8に対してヒータ22を設
けてベーキングをしているのは、次の理由による。
けてベーキングをしているのは、次の理由による。
【0005】真空ハウジング8の内壁には、分析前に測
定系の調整をするために導入される標準試料や、ガスク
ロマトグラフから流入される溶媒、あるいは、試料ガス
の残りが吸着し易く、これらが存在すると、分析の際の
バックグラウンドとなって、検出感度を劣化させる。そ
のため、真空ハウジング8をヒータ22で常時ベーキン
グしてガス成分の吸着を防止する。この場合のベーキン
グ温度は、真空シールのOリングの耐熱性を考慮して1
00℃以下に設定されている。
定系の調整をするために導入される標準試料や、ガスク
ロマトグラフから流入される溶媒、あるいは、試料ガス
の残りが吸着し易く、これらが存在すると、分析の際の
バックグラウンドとなって、検出感度を劣化させる。そ
のため、真空ハウジング8をヒータ22で常時ベーキン
グしてガス成分の吸着を防止する。この場合のベーキン
グ温度は、真空シールのOリングの耐熱性を考慮して1
00℃以下に設定されている。
【0006】一方、各電源部16,18,20は、パワ
ートランジスタ等の回路素子16a,18a,20aを
有しており、これらの回路素子16a,18a,20a
からは熱が発生するので、各回路素子16a,18a,
20aに近接してラジエタ16b,18b,20bを設
けて熱を放散させている。
ートランジスタ等の回路素子16a,18a,20aを
有しており、これらの回路素子16a,18a,20a
からは熱が発生するので、各回路素子16a,18a,
20aに近接してラジエタ16b,18b,20bを設
けて熱を放散させている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来装置
では、真空ハウジング8のベーキングのためのヒータ2
2およびその電源24と、質量分析計2の電源部16,
18,20の回路素子16a,18a,20aの放熱の
ためのラジエタ16b,18b,20bとがそれぞれ別
個独立して設けられており、そのため、装置全体の部品
点数が多くなってコストアップとなるばかりか、消費電
力が多く、さらに、装置の小型化が図れない等の不具合
があった。
では、真空ハウジング8のベーキングのためのヒータ2
2およびその電源24と、質量分析計2の電源部16,
18,20の回路素子16a,18a,20aの放熱の
ためのラジエタ16b,18b,20bとがそれぞれ別
個独立して設けられており、そのため、装置全体の部品
点数が多くなってコストアップとなるばかりか、消費電
力が多く、さらに、装置の小型化が図れない等の不具合
があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するためになされたものであって、従来のように専
用のヒータやその電源を特に設けなくても、真空ハウジ
ングのベーキングを行えるようにして、装置の部品点数
を減らし、無駄な消費電力を削減し、装置の小型化が図
れるようにするものである。
解決するためになされたものであって、従来のように専
用のヒータやその電源を特に設けなくても、真空ハウジ
ングのベーキングを行えるようにして、装置の部品点数
を減らし、無駄な消費電力を削減し、装置の小型化が図
れるようにするものである。
【0009】そのため、本発明では、試料ガスを成分分
離するガスクロマトグラフと、このガスクロマトグラフ
で分離された各成分ガスのイオンを質量分離する質量分
析計とを備え、この質量分析計は、真空ハウジングを有
し、この真空ハウジング内に、成分ガスをイオン化する
イオン源、イオン源からの各成分ガスのイオンを質量分
離する質量分離部、および質量分離部で質量分離された
イオンを検出する検出器がともに配置される一方、前記
真空ハウジングの外部には、前記イオン源、質量分離部
、検出器にそれぞれ電力を供給する電源部が設けられて
いるガスクロマトグラフ/質量分析装置において、次の
構成を採る。
離するガスクロマトグラフと、このガスクロマトグラフ
で分離された各成分ガスのイオンを質量分離する質量分
析計とを備え、この質量分析計は、真空ハウジングを有
し、この真空ハウジング内に、成分ガスをイオン化する
イオン源、イオン源からの各成分ガスのイオンを質量分
離する質量分離部、および質量分離部で質量分離された
イオンを検出する検出器がともに配置される一方、前記
真空ハウジングの外部には、前記イオン源、質量分離部
、検出器にそれぞれ電力を供給する電源部が設けられて
いるガスクロマトグラフ/質量分析装置において、次の
構成を採る。
【0010】すなわち、本発明では、真空ハウジングを
アルミ合金、銅合金などの熱伝導性に優れた材料で形成
する一方、この真空ハウジングの外壁に、電源部を構成
しかつ発熱源となる回路素子を密着して取り付けている
。
アルミ合金、銅合金などの熱伝導性に優れた材料で形成
する一方、この真空ハウジングの外壁に、電源部を構成
しかつ発熱源となる回路素子を密着して取り付けている
。
【0011】
【作用】上記構成において、真空ハウジングに対しては
、電源部を構成する回路素子がベーキングのための発熱
源として作用する。
、電源部を構成する回路素子がベーキングのための発熱
源として作用する。
【0012】一方、上記の回路素子にとっては、真空ハ
ウジングが放熱のためのラジエタとして作用する。
ウジングが放熱のためのラジエタとして作用する。
【0013】したがって、従来のヒータやその電源が不
要となる。
要となる。
【0014】
【実施例】図1は、本発明の実施例に係るガスクロマト
グラフ/質量分析装置の全体構成を示すブロック図であ
り、図2に示した従来例に対応する部分には同一の符号
を付す。
グラフ/質量分析装置の全体構成を示すブロック図であ
り、図2に示した従来例に対応する部分には同一の符号
を付す。
【0015】図1において、1はガスクロマトグラフ、
2は質量分析計、4はインターフェイス、6は標準試料
導入部、8は真空ハウジング、10はイオン源、12は
質量分離部、14は検出器、16,18,20は各電源
であり、これらの基本的な構成は従来例の場合と同じで
ある。
2は質量分析計、4はインターフェイス、6は標準試料
導入部、8は真空ハウジング、10はイオン源、12は
質量分離部、14は検出器、16,18,20は各電源
であり、これらの基本的な構成は従来例の場合と同じで
ある。
【0016】この実施例の特徴は、真空ハウジング8が
アルミ合金、銅合金などの熱伝導性に優れた材料で形成
されており、この真空ハウジング8の外壁に、電源部1
6,18,20を構成しかつ発熱源となるパワートラン
ジスタなどの回路素子16a,18a,20aが密着し
て取り付けられており、この各回路素子16a,18a
,20aと電源部16,18,20の残りの回路素子(
図示省略)とがケーブル22で互いに接続されているこ
とである。
アルミ合金、銅合金などの熱伝導性に優れた材料で形成
されており、この真空ハウジング8の外壁に、電源部1
6,18,20を構成しかつ発熱源となるパワートラン
ジスタなどの回路素子16a,18a,20aが密着し
て取り付けられており、この各回路素子16a,18a
,20aと電源部16,18,20の残りの回路素子(
図示省略)とがケーブル22で互いに接続されているこ
とである。
【0017】上記構成において、真空ハウジング8に対
しては、電源部16,18,20を構成する各回路素子
16a,18a,20aがベーキングのための発熱源と
して作用する。
しては、電源部16,18,20を構成する各回路素子
16a,18a,20aがベーキングのための発熱源と
して作用する。
【0018】一方、上記の回路素子16a,18a,2
0aにとっては、真空ハウジング8が放熱のためのラジ
エタとして作用する。
0aにとっては、真空ハウジング8が放熱のためのラジ
エタとして作用する。
【0019】したがって、従来のヒータやその電源は不
要となる。
要となる。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、従来のように専用のヒ
ータやその電源を特に設けなくても、真空ハウジングの
ベーキングを行うことができるので、装置の部品点数が
減り、また、無駄な電力消費が削減されるとともに、装
置からの発熱量も減らすことができる。しかも、装置の
小型化が図れる等の実用上の優れた効果を奏する。
ータやその電源を特に設けなくても、真空ハウジングの
ベーキングを行うことができるので、装置の部品点数が
減り、また、無駄な電力消費が削減されるとともに、装
置からの発熱量も減らすことができる。しかも、装置の
小型化が図れる等の実用上の優れた効果を奏する。
【図1】本発明の実施例に係るガスクロマトグラフ/質
量分析装置の全体構成を示すブロック図である。
量分析装置の全体構成を示すブロック図である。
【図2】従来のガスクロマトグラフ/質量分析装置の全
体構成を示すブロック図である。
体構成を示すブロック図である。
1…ガスクロマトグラフ、2…質量分析計、8…真空ハ
ウジング、10…イオン源、12…質量分離部、14…
検出器、16,18,20…電源部、16a,18a,
20a…回路素子。
ウジング、10…イオン源、12…質量分離部、14…
検出器、16,18,20…電源部、16a,18a,
20a…回路素子。
Claims (1)
- 【請求項1】 試料ガスを成分分離するガスクロマト
グラフ(1)と、このガスクロマトグラフ(1)で分離
された各成分ガスのイオンを質量分離する質量分析計(
2)とを備え、この質量分析計(2)は、真空ハウジン
グ(8)を有し、この真空ハウジング(8)内に、成分
ガスをイオン化するイオン源(10)、このイオン源(
10)からの各成分ガスのイオンを質量分離する質量分
離部(12)、および質量分離部(12)で質量分離さ
れたイオンを検出する検出器(14)がともに配置され
る一方、前記真空ハウジング(8)の外部には、前記イ
オン源(10)、質量分離部(12)、および検出器(
14)にそれぞれ電力を供給する電源部(16),(1
8),(20)が設けられているガスクロマトグラフ/
質量分析装置において、前記真空ハウジング(8)は、
アルミ合金、銅合金などの熱伝導性に優れた材料で形成
する一方、この真空ハウジング(8)の外壁に、前記電
源部(16),(18),(20)を構成しかつ発熱源
となる回路素子(16a),(18a),(20a)を
密着して取り付けたことを特徴とするガスクロマトグラ
フ/質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3048072A JP3055190B2 (ja) | 1991-03-13 | 1991-03-13 | ガスクロマトグラフ/質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3048072A JP3055190B2 (ja) | 1991-03-13 | 1991-03-13 | ガスクロマトグラフ/質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04283657A true JPH04283657A (ja) | 1992-10-08 |
JP3055190B2 JP3055190B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=12793146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3048072A Expired - Fee Related JP3055190B2 (ja) | 1991-03-13 | 1991-03-13 | ガスクロマトグラフ/質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3055190B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999067763A1 (fr) * | 1998-06-23 | 1999-12-29 | Yukio Ito | Systeme de transmission d'odeurs dans un environnement multimedia |
-
1991
- 1991-03-13 JP JP3048072A patent/JP3055190B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999067763A1 (fr) * | 1998-06-23 | 1999-12-29 | Yukio Ito | Systeme de transmission d'odeurs dans un environnement multimedia |
US6628204B1 (en) | 1998-06-23 | 2003-09-30 | Ito Engineering Inc. | Odor communication system in multimedia |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3055190B2 (ja) | 2000-06-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6006584A (en) | Gas chromatograph mass spectrometer | |
US4712008A (en) | Ion mobility spectrometer | |
US9899202B2 (en) | Time of flight tubes and methods of using them | |
EP0855596B1 (en) | Gas chromatograph system | |
JP3473280B2 (ja) | ガスクロマトグラフ質量分析装置 | |
US9244044B2 (en) | Method for a gas chromatograph to mass spectrometer interface | |
JP3128053B2 (ja) | ガスクロマトグラフ質量分析装置 | |
JP5491311B2 (ja) | 昇温脱離ガス分析装置およびその方法 | |
EP0898784A1 (en) | Ion detector, detector array and instrument using same | |
US6818885B2 (en) | Photodetector | |
US3998592A (en) | Thermoelectric heat pump for chemiluminescence detectors | |
JPH1125903A (ja) | 金属−セラミック複合サンプラー及びスキマー | |
JPH04283657A (ja) | ガスクロマトグラフ/質量分析装置 | |
CN111033684B (zh) | 冷却装置和包括该冷却装置的仪器 | |
JP5114930B2 (ja) | 質量分析計イオン源 | |
JPH11329338A (ja) | 電子管装置 | |
JP5669324B2 (ja) | 四重極型質量分析計 | |
EP0719410B1 (en) | Photoionization detector and process | |
JPS5998448A (ja) | 四重極質量分析計 | |
CA1267733A (en) | High stability mass spectrometer | |
JP3582213B2 (ja) | 大気圧イオン化質量分析計 | |
JP3535117B2 (ja) | イオントラップ型質量分析計 | |
US11346823B2 (en) | Analyzer | |
CN1180167A (zh) | 气相色谱/质谱仪 | |
SU828073A1 (ru) | Пиролизер дл хроматографа |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080414 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090414 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100414 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |