JPH04276066A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

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Publication number
JPH04276066A
JPH04276066A JP3588091A JP3588091A JPH04276066A JP H04276066 A JPH04276066 A JP H04276066A JP 3588091 A JP3588091 A JP 3588091A JP 3588091 A JP3588091 A JP 3588091A JP H04276066 A JPH04276066 A JP H04276066A
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JP
Japan
Prior art keywords
target
backing plate
coating material
sputtering
sputtering device
Prior art date
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Pending
Application number
JP3588091A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeaki Furukawa
古川 恵昭
Hidemi Isomura
秀己 磯村
Takeo Ota
太田 威夫
Kazumi Yoshioka
吉岡 一己
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP3588091A priority Critical patent/JPH04276066A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は薄膜形成の手段として用
いるスパッタリング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のスパッタリング装置を示し
た図である。本図に示すように、従来のバッキングプレ
ート11は、薄膜化する材料からなるターゲット12を
接合している。また、バッキングプレート11は一般に
、ターゲット12の放熱効果をよくするために熱伝導率
の高い銅板が用いられている。本図に示すように、スパ
ッタリング装置におけるターゲット12の設置は、ター
ゲット12がほぼ水平の状態になるように支持台13に
固定される。そして、スパッタされたターゲット12は
基板14に薄膜15となって堆積される。スパッタ時に
は、冷却面16を流水17で冷却するようにされている
。なお、図2において18はシールド、19はスパッタ
領域である。
【0003】
【発明が解決しょうとする課題】ところが、従来の銅板
からなるバッキングプレート11を用いたターゲット1
2を使用し、スパッタした場合、バッキングプレート1
1の表面20がスパッタの時間経過とともに変色してゆ
く現象が見られる。特に、ターゲット12にZnS等の
硫化物を用いた場合には、表面20が黒色に変色し、強
いては黒色の薄い堆積物が発生する場合があった。この
現象は、スパッタ時の温度上昇と、低圧によるターゲッ
ト12および表面20からの粒子の拡散により、表面2
0あるいは、表面20とシールド18の空間21で反応
することによって発生すると考えられる。ここで、薄膜
15はターゲット12のみの成分が成膜されることが好
ましいが、上記のような現象が発生した場合には、空間
21で発生した成分がスパッタ領域19へ流出すること
が考えられる。そして、空間21の成分はターゲット1
2と共に基板14に堆積されるので、薄膜15にはター
ゲット12以外の不純物が混入される。よって、薄膜1
5の膜材質に影響を及ぼす場合が考えられる。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため、バッキングプレート表面をコーティング材で
被覆したスパッタリング装置の構成としている。
【0005】
【作用】本発明は上記した構成により、バッキングプレ
ート表面をコーティングして、表面とターゲット材料と
の反応を防止しているので、ターゲット材料のみが成膜
されるようになる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の一実施例のスパッタリング装
置を図面に基づいて説明する。図1は本発明の一実施例
を示す断面図である。熱伝導率の高い銅製のバッキング
プレート1上にターゲット2が接合されている。このバ
ッキングプレート1の表面上には、コーティング材3が
設けられている。コーティング材3の材料はターゲット
2と同様のものを用いている。バッキングプレート1は
支持台4に固定されている。また、スパッタ領域を限定
するためのシールド5がターゲット2の上部に隙間を設
けて取り付けられている。そして、スパッタするときに
は流水6によってバッキングプレート1を冷却する構成
となっている。ここで、バッキングプレート1の表面は
コーティング材3で覆われている。このため、スパッタ
中にバッキングプレートとシールド5の空間7でバッキ
ングプレート1の表面とターゲット2の材料を同一化す
ることにより、または不活性物化物を選ぶことにより反
応することを防止される。従って、空間7での不純物の
発生が防止されるので、スパッタ領域への不純物の流出
も抑制できる。その結果、ターゲット2の材料のみで成
膜できるので良質の薄膜が形成できる。
【0007】なお、本実施例では、コーティング材3と
してターゲット1と同じ材料としたが、発明はこれに限
定されるものではなく、バッキングプレート1の表面が
反応しないものでありこのコーティング材3自身安定で
ターゲット1と反応しない酸化物、窒化物、炭化物であ
ればよい。また、コーティング材3はバッキングプレー
ト1の表面に塗布,成膜等してもよいし、コーティング
材3をバッキングプレート1の表面上に置いてもよい。
【0008】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、バッキン
グプレート表面をコーティング材で被覆したスパッタリ
ング装置の構成としているので、バッキングプレート表
面とターゲット材料との反応が防止される。従って、不
純物の発生が防止されるので、スパッタ領域への不純物
の流出も抑制できる。その結果、ターゲットの材料のみ
が成膜できるので良質の薄膜が形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例におけるスパッタリング装置の
断面図である。
【図2】従来のスパッタリング装置の断面図である。
【符号の説明】
1  バッキングプレート 2  ターゲット 3  コーティング材 4  支持台 5  シールド 6  流水 7  空間

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  バッキングプレート表面をコーティン
    グ材で被覆したスパッタリング装置。
  2. 【請求項2】  コーティング材が、薄膜化しようとす
    る材料から選ばれた少なくとも一種からなる請求項1記
    載のスパッタリング装置。
  3. 【請求項3】  コーティング材が酸化物、窒化物、炭
    化物から選択された少なくとも一種である請求項1記載
    のスパッタリング装置。
  4. 【請求項4】 酸化物がSiO2,GeO2,SnO2
    ,In2O3,TeO2,WO3,MgO,TiO2,
    Ta2O5,Al2O3,から選択された少なくとも一
    種である請求項3記載のスッパタリング装置。
  5. 【請求項5】 窒化物がAlN,Si3N4,BN,T
    iN,ZrNから選択された少なくとも一種である請求
    項3記載のスッパタリング装置。
  6. 【請求項6】 炭化物がSiC,TiC,WC,ZrC
    から選択された少なくとも一種である請求項3記載のス
    ッパタリング装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997008359A1 (fr) * 1995-08-23 1997-03-06 Asahi Glass Company Ltd. Cible, son procede de production et procede de formation d'une couche tres refringente
USRE43817E1 (en) 2004-07-12 2012-11-20 Cardinal Cg Company Low-maintenance coatings
WO2016021101A1 (ja) * 2014-08-08 2016-02-11 株式会社アルバック ターゲットアッセンブリ
US9738967B2 (en) 2006-07-12 2017-08-22 Cardinal Cg Company Sputtering apparatus including target mounting and control
US10604442B2 (en) 2016-11-17 2020-03-31 Cardinal Cg Company Static-dissipative coating technology

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997008359A1 (fr) * 1995-08-23 1997-03-06 Asahi Glass Company Ltd. Cible, son procede de production et procede de formation d'une couche tres refringente
US6440278B1 (en) 1995-08-23 2002-08-27 Asahi Glass Company Ltd. Target and process for its production, and method for forming a film having a high refractive index
US6743343B2 (en) 1995-08-23 2004-06-01 Asahi Glass Ceramics Co., Ltd. Target and process for its production, and method of forming a film having a high refractive index
USRE43817E1 (en) 2004-07-12 2012-11-20 Cardinal Cg Company Low-maintenance coatings
USRE44155E1 (en) 2004-07-12 2013-04-16 Cardinal Cg Company Low-maintenance coatings
US9738967B2 (en) 2006-07-12 2017-08-22 Cardinal Cg Company Sputtering apparatus including target mounting and control
WO2016021101A1 (ja) * 2014-08-08 2016-02-11 株式会社アルバック ターゲットアッセンブリ
KR20170041840A (ko) * 2014-08-08 2017-04-17 가부시키가이샤 알박 타겟 어셈블리
JPWO2016021101A1 (ja) * 2014-08-08 2017-05-25 株式会社アルバック ターゲットアッセンブリ
US9972479B2 (en) 2014-08-08 2018-05-15 Ulvac, Inc. Target assembly
US10604442B2 (en) 2016-11-17 2020-03-31 Cardinal Cg Company Static-dissipative coating technology
US11325859B2 (en) 2016-11-17 2022-05-10 Cardinal Cg Company Static-dissipative coating technology

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