JPH0426935A - Optical disk - Google Patents

Optical disk

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Publication number
JPH0426935A
JPH0426935A JP2129998A JP12999890A JPH0426935A JP H0426935 A JPH0426935 A JP H0426935A JP 2129998 A JP2129998 A JP 2129998A JP 12999890 A JP12999890 A JP 12999890A JP H0426935 A JPH0426935 A JP H0426935A
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JP
Japan
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layer
substrate
film
optical recording
optical
Prior art date
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Pending
Application number
JP2129998A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukari Tode
結花利 都出
Motohisa Taguchi
元久 田口
Kazuhiko Tsutsumi
和彦 堤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0426935A publication Critical patent/JPH0426935A/en
Priority to US08/010,502 priority patent/US5450380A/en
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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain the optical disk which does not warp in spite of the generation of a change in temp. and humidity of an abrupt grade and is highly resistant to dust pickup and flawing by forming an SiO2 layer to a specific film thickness. CONSTITUTION:Large warpage arises in the event of a change in the temp. and humidity with veneers which are not stuck to each other in the case of use of a plastic substrate 1 consisting of polycarbonate, etc. The veneers in this state is not suitable for practicable use. The SiO2 layer 2 which has a moistureproof effect and is formed by a liquid phase thin film forming method is, thereupon, formed in at least the exposed part of the substrate 1. The effect of preventing the warpage is not sufficiently obtd. if the thickness of the SiO2 layer 2 is smaller than 500Angstrom . The film thickness of the SiO2 layer 2 is, thereupon, increased to >=500Angstrom . The optical disk which does not warp in spite of the generation of the abrupt change in the temp. and humidity and is highly resistant to the flawing and dust pickup is obtd. in this way.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、情報を光により、記録再生する光ディスクに
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an optical disc for recording and reproducing information using light.

[従来の技術] 光デイスク用基板材料には、透明プラスチック基板か、
複製が容易であり、特にポリカーホネート基板ては低コ
ストである。
[Prior art] Substrate materials for optical disks include transparent plastic substrates,
It is easy to reproduce and is low cost, especially on polycarbonate substrates.

ところが、ポリカーホネート基板のように透湿係数の比
較的大きなプラスチック基板を用いた場合、記録面を形
成していない方の面のみの吸水により基板に反りが生し
る。特に温湿度の変化か著しい環境下で使用する場合、
大きな反りが生しその結果、アクチュエーターのフォー
力ストラッキンクサーホが安定に追従てきなくなり、誤
動作やエラーを生して実用上大きな問題となる。
However, when a plastic substrate with a relatively high moisture permeability coefficient, such as a polycarbonate substrate, is used, the substrate warps due to water absorption only on the surface that does not form the recording surface. Especially when used in environments with significant changes in temperature and humidity,
A large warpage occurs, and as a result, the actuator's force tracking surfer cannot follow it stably, resulting in malfunctions and errors, which poses a serious problem in practice.

反りを防止する方法として、基板の記録膜の形成しであ
る面と反対側の面に、防湿膜を形成することか知られて
いる。第12図は例えば特開平]−292639号公報
に示された従来の方法を示す光ディスクの断面図であり
、図において、1はプラスチック基板、4は記録膜、8
は紫外線硬化型樹脂層、9は防湿膜である。
A known method for preventing warping is to form a moisture-proof film on the surface of the substrate opposite to the surface on which the recording film is formed. FIG. 12 is a sectional view of an optical disc showing a conventional method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 292639. In the figure, 1 is a plastic substrate, 4 is a recording film, and 8
9 is an ultraviolet curable resin layer, and 9 is a moisture-proof film.

防湿膜は、有機系無機系どちらでもよく、有機系の膜で
あれば塗布など、無機系の膜であれば−、スパッタリン
グ法、真空蒸着法、CVD法などが採用される。
The moisture-proof film may be either organic or inorganic, and if it is an organic film, coating, etc. may be used, and if it is an inorganic film, a sputtering method, vacuum evaporation method, CVD method, etc. may be used.

しかし、防湿膜をティスフの一部分に形成した場合では
、緩やかな勾配の温度湿度変化時の反りは防止できても
、急激な勾配の温度湿度変化時に発生する反りは防止て
きない。
However, when a moisture-proof film is formed on a portion of the tissue, warping that occurs when temperature and humidity change with a gentle gradient can be prevented, but warping that occurs when temperature and humidity change with a steep gradient cannot be prevented.

これは、防湿膜か形成されていない基板部分から急速に
吸湿か生し、基板内部の水分分布が一時的に不均一にな
り、局部的に膨張することによる反りか発生するためで
ある。
This is because moisture is rapidly absorbed from the parts of the substrate on which the moisture-proof film is not formed, and the moisture distribution inside the substrate becomes temporarily uneven, causing warping due to local expansion.

[発明か解決しようとする課題] 従って、基板の材質か大気に露出しないように、ディス
ク全面にわたって透光性の防湿膜を形成する必要かある
。しかしなから、先に挙げた特開平1−292639号
公報にも示されているように、全面にねたりて膜を均一
に形成することは非常に難しいことか知うわている。す
なわち、従来のスピンコード、スパッタ法や蒸着法なと
ては、製造過程においてマスクを使用するなとて、膜の
境界ができたり、膜中に微小な穴(ホイト、ピンホール
)が生成するため、これら境界や穴により防湿効果が上
がらなかったり、保護膜の剥離や劣化が生じたりすると
いう問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] Therefore, it is necessary to form a light-transmitting moisture-proof film over the entire surface of the disk so that the material of the substrate is not exposed to the atmosphere. However, as shown in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-292639, it is known that it is extremely difficult to form a uniform film over the entire surface. In other words, conventional spin code, sputtering, and evaporation methods do not use masks during the manufacturing process, which can result in film boundaries or small holes (holes, pinholes) in the film. Therefore, there have been problems in that the moisture-proofing effect cannot be improved or the protective film may peel off or deteriorate due to these boundaries and holes.

さらに光ディスクの場合、基板側よりレーサー光を入射
するので、基板上に形成された防湿膜をも光が透過する
。そのため、例えば光磁気ディスクのエンハンス効果や
、入射光強度やノイズの低減なとの向−トといった光テ
ィスフの必要性を損ねることなく、防湿膜を形成するこ
とか必要で、従って防湿膜の光学定数、厚み、表面粗さ
などをコントロールしなければならす、従来の膜形成方
法にてこれらを行うには、高度な技術を要し、製造コス
トも高くなる。
Furthermore, in the case of an optical disc, since the laser light is incident from the substrate side, the light also passes through the moisture-proof film formed on the substrate. Therefore, it is necessary to form a moisture-proof film without compromising the needs of optical technology, such as the enhancement effect of magneto-optical disks and the reduction of incident light intensity and noise. Conventional film forming methods, which require control of constants, thickness, surface roughness, etc., require sophisticated technology and increase manufacturing costs.

また、光ディスクに埃かついたり、これを拭いたりする
場合に傷かついたりする。そのためこれを防止するのに
、基板の表面にハートコート膜や帯電防止膜を形成する
ことが知られているか、従来のハートコート材に帯電防
止機能を付加すると、初期のハードコート材としての機
能が半減してしまう。例えばポリカーボネート基板の場
合、基板で3H、ハートコート後で7Hたったものか、
帯電防止機能を付加した膜では4Hとなってしまうとい
うように、ハートコート機能と帯電防止機能を同時に兼
ね備えた膜かないという問題かあった。
In addition, the optical disc may get dusty or get scratched when it is wiped. Therefore, to prevent this, it is known to form a heart coat film or an antistatic film on the surface of the substrate, or if an antistatic function is added to the conventional heart coat material, it will function as an initial hard coat material. will be halved. For example, in the case of a polycarbonate board, it is 3H on the board and 7H after heart coating.
There was a problem that there was no film that had both the heart coat function and the antistatic function at the same time, such as a film with an antistatic function resulting in 4H.

さらに、従来のバートコート材や帯電防止材は、紫外線
硬化型や熱硬化型の樹脂であるため、基板の表面に膜を
形成する方法としてはスピンコードか主てあり、そのた
め基板の露出する全面に膜を形成することか困難であっ
た。すなわち、基板の最内周傾城や端面なとが基板材質
のままで、たとえばティスフをカートリッジに入れて使
用する場合、カートリッジの突起部にハートコート後し
ていない部分があたり摩耗し、さらに発生した摩耗屑か
ティスフについたりしてそれを拭き取るためにまた傷が
つくといった問題かあフた。
Furthermore, since conventional Bart coat materials and antistatic materials are UV-curable or thermosetting resins, spin cords are the main method of forming films on the surface of the substrate, so the entire exposed surface of the substrate It was difficult to form a film. In other words, if the innermost slope of the board and the end surface are made of the same board material, for example, when Tisfu is used in a cartridge, the parts that have not been coated after the heart coating will hit the protrusions of the cartridge and wear out, causing further damage. The problem was that wear debris or dust got on the surface and wiping it off caused another scratch.

そこで、特開昭63−112632号公報に示されるよ
うな、液相薄膜形成法により基板に二酸化ケイ素(Si
02)膜を形成する方法が提案されている。この方法は
、ティスフ全体を、処理液に浸漬する方法なので、液内
でティスフを保持する一部分を除いて全面に均一に膜を
形成することかできる。
Therefore, silicon dioxide (Si) is coated on a substrate using a liquid phase thin film forming method as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-112632.
02) A method of forming a film has been proposed. In this method, the entire tissue is immersed in the treatment liquid, so a film can be uniformly formed over the entire surface except for the part where the tissue is held in the solution.

しかしなから、膜の厚さか薄い場合、膜の緻密性か十分
てなかったり膜か島状についていたりすると、膜か形成
されていてもすかすかの状態て水分の透過を防げず、膜
の防湿性か上がらず、ティスフの反りを防止できない。
However, if the film is thin, the film is not dense enough, or the film forms islands, even if the film is formed, it will not be able to prevent moisture from permeating, and the moisture resistance of the film will deteriorate. It is not possible to prevent the tisf from warping.

また、ポリカーボネート基板のように硬度の低い基材の
七に膜を形成する場合、膜自身の硬度よりも下地の影響
か大きく、膜厚が薄いと基材の硬度かそのままてて、膜
を形成してもハードコート材としての効果か得られない
Also, when forming a film on a base material with low hardness such as a polycarbonate substrate, the hardness of the base material is more affected than the hardness of the film itself. However, the effect as a hard coat material cannot be obtained.

さらに、帯電防止機能か得られるのは、膜に導電性かあ
るため電荷がたまらず静電気が発生しにくくなるためで
、膜厚が薄く、島上に膜か形成されていたりして、膜が
分断されている場合には、電荷の逃げ道かなく電荷がた
まりやすくなるため、導電性が極端に小さくなり、帯電
防止機能が得られない。
Furthermore, the antistatic function is obtained because the film is conductive, which prevents the accumulation of charges and makes it difficult for static electricity to occur. In this case, there is no way for the charges to escape and the charges tend to accumulate, resulting in extremely low conductivity and no antistatic function.

また、基板の状態で、1、PD処理をしてSiO2層を
形成してから記録膜を形成する場合、SiO2層の膜厚
が厚いと、基板にあらかしめ形成されていた溝やプリピ
ットの形状が変化してしまう。基板を成形するスタンバ
の設定を調節することにより、若干の補正か可能だが、
未調節の基板に形成された溝が埋まってしまうほど厚い
場合は、スタンバの設定値を最適化するための計算を行
うことかできす、良好な溝を得られず、信号の読みたし
に支障をきたす。
In addition, when forming a recording film after forming a SiO2 layer through PD processing in the substrate state, if the thickness of the SiO2 layer is thick, the shape of the grooves and pre-pits formed on the substrate will change. It is possible to make a slight correction by adjusting the settings of the standber that molds the board, but
If the groove formed on the unadjusted substrate is thick enough to be filled, calculations can be made to optimize the standber settings, but it may not be possible to obtain a good groove and the signal cannot be read. cause trouble.

本発明は上記のような問題点を解決するためになされた
もので、急激な勾配の温度湿度変化が発生しても反りが
発生せず、埃や傷のつきにくい光ティスフを得ることを
目的としている。
The present invention was made to solve the above-mentioned problems, and its purpose is to obtain an optical tissue that does not warp even when a steep temperature and humidity change occurs and is resistant to dust and scratches. It is said that

[課題を解決するための手段コ 本発明に係る光ティスフは、第1に基板と、メモリ機能
を有する光記録層とからなる光記録媒体で、光記録層と
これを被覆する保護層を形成した後、全面に、液相薄膜
形成法によりSiO2層を形成する光ディスクにおいて
、該SiO2層の膜厚が500Å以上であることを特徴
とする光ティスフであり、 第2に基板と、メモリ機能を有する光記録層とからなる
光記録媒体2枚を、記録層が対面するように貼り合わせ
た後、全面に、液相薄膜形成法によりSiO2層を形成
する光ディスクにおいて、該SiO2層の膜厚か500
Å以上であることを特徴とする光ティスフであり、 第3に基板と、メモリ機能を有する光記録層からなる光
記録媒体で、光記録層を形成する前に、基板の全面に、
液相薄膜形成法によりSiO2層を形成した後、光記録
層を形成する光ティスフにおいて、該SiO2層の膜厚
か500Å以上であることを特徴とする光ディスクであ
る。
[Means for Solving the Problems] The optical disk according to the present invention is an optical recording medium consisting of a substrate and an optical recording layer having a memory function, in which an optical recording layer and a protective layer covering the optical recording layer are formed. This is an optical disk in which a SiO2 layer is formed on the entire surface by a liquid phase thin film formation method, and the thickness of the SiO2 layer is 500 Å or more.Secondly, the substrate and the memory function are In an optical disc in which two optical recording media consisting of an optical recording layer and an optical recording layer are bonded together so that the recording layers face each other, and then a SiO2 layer is formed on the entire surface by a liquid phase thin film formation method, the film thickness of the SiO2 layer is 500
Thirdly, it is an optical recording medium consisting of a substrate and an optical recording layer having a memory function, and before forming the optical recording layer, the entire surface of the substrate is coated.
This optical disc is characterized in that the thickness of the SiO2 layer is 500 Å or more in an optical disc in which an optical recording layer is formed after forming an SiO2 layer by a liquid phase thin film forming method.

「作用」 この発明の光ディスクは上記のような構成とすることに
より急激な勾配の温度湿度変化か発生しても反りが発生
せず、埃や傷のつきにくい光ティスフを得ることがてき
る。
"Function" By having the optical disc of the present invention configured as described above, it is possible to obtain an optical disc that does not warp even if a steep temperature/humidity change occurs and is resistant to dust and scratches.

[実施例] この発明の実施例の光ディスクを形成する光記録膜は、
従来の公知の方法によって形成された物でよく、例えば
SiNx等の誘電体膜を形成した後、TbFeCo等の
垂直磁気異方性を有する非結晶記録膜を形成し、その上
にSiNx等の保護膜を形成して得られる。
[Example] The optical recording film forming the optical disc of the example of this invention is
It may be formed by a conventional known method. For example, after forming a dielectric film such as SiNx, an amorphous recording film having perpendicular magnetic anisotropy such as TbFeCo is formed, and a protective film such as SiNx is formed on top of the amorphous recording film having perpendicular magnetic anisotropy. Obtained by forming a film.

ポリカーボネート等のプラスチック基板を用いる場合、
貼り合わせをしない単板では、温湿度が変化すると大き
な反りが発生して、そのままでは、実用化に適さない。
When using a plastic substrate such as polycarbonate,
If the veneer is not laminated, it will warp significantly when the temperature and humidity change, making it unsuitable for practical use.

そこて防湿効果をもった液相薄膜形成法によるSiO2
層を少なくとも基板の露出している部分に形成するが、
SiO2層の厚さか、500人より小さいと、反り防止
の効果か十分に得られないことが、実験によりわかった
Therefore, SiO2 using a liquid phase thin film formation method with moisture-proofing effect
forming a layer on at least the exposed portion of the substrate;
It has been found through experiments that if the thickness of the SiO2 layer is less than 500, a sufficient warpage prevention effect cannot be obtained.

第7図は、溝およびプリピットが形成された130mm
φのポリカーボネート基板に、種々の膜厚のSiO2層
を、特開昭63−112632号に示される液相薄膜形
成法により形成した後、先に例として示したような光記
録膜を形成した光ディスクにおいて、環境を60℃50
%RHから60℃90%旧]に変化させた場合に発生す
る反り角(チルト)を、クラ7にまとめたものである。
Figure 7 shows a 130mm groove and pre-pit formed.
An optical disc in which a SiO2 layer of various thicknesses is formed on a polycarbonate substrate of φ by the liquid phase thin film forming method shown in JP-A No. 63-112632, and then an optical recording film as shown in the example above is formed. , the environment is 60℃50
%RH to 60° C.90% old] are summarized in Table 7.

基板に形成されたSiO2層の防湿効果が現れるのは、
500Å以上である。
The moisture-proofing effect of the SiO2 layer formed on the substrate appears when
It is 500 Å or more.

また、これらの光ディスクの基板側の表面の硬度を測定
したところ、第8図に示すようになり、400人でほぼ
飽和して、500Å以上では安定して7Hをボす。
Furthermore, when the hardness of the substrate side surface of these optical disks was measured, the hardness was as shown in FIG. 8, and it was almost saturated at 400 people, and stably exceeded 7H at 500 Å or more.

さらに、これらの光ナイスを60mVに帯電した後放電
し、帯電位の変化を第9図のように測定したところ、帯
電位か半分になる時間、半減期は第10図のようになり
、200人より急激に小さくなり500Å以上で安定し
て10秒程度と短くなる。
Furthermore, when these photonices were charged to 60 mV and then discharged, and the change in the charged potential was measured as shown in Figure 9, the time for the charged potential to be halved and the half-life were as shown in Figure 10. It rapidly becomes smaller than that of a human being, and becomes stable at 500 Å or more, and then shortens to about 10 seconds.

このように、基板に、液相薄膜形成法によるSiO2層
を形成する場合、反り、硬度、帯電防止の効果か得られ
るためには、500Å以上の膜厚が必要である。
As described above, when a SiO2 layer is formed on a substrate by the liquid phase thin film formation method, the film needs to have a thickness of 500 Å or more in order to obtain warpage, hardness, and antistatic effects.

しかし、これらの光ディスクの溝形状を、電子顕微鏡に
て観察して求めたところ、第11図に示すように200
0人を越えると、溝がSiO2層により、完全に埋まっ
てしまい、SiO2層による変化分の補正設計の計算が
不可能になる。すなわち、あらかじめ、溝が形成されて
いる面にSiO2層を形成する場合には、2000Å以
下にする必要がある。
However, when the groove shapes of these optical discs were observed and determined using an electron microscope, it was found that the groove shape was 200 mm as shown in Figure 11.
If the number exceeds 0, the groove will be completely filled with the SiO2 layer, making it impossible to calculate the correction design for the change due to the SiO2 layer. That is, if a SiO2 layer is previously formed on the surface where the groove is formed, the thickness needs to be 2000 Å or less.

以下この発明を実施例により具体的に説明する。The present invention will be specifically explained below using examples.

第1図において、1はポリカーボネート基板で、2はS
iO2層、3はSiNx誘電体層、4はTbFeC。
In Figure 1, 1 is a polycarbonate substrate, 2 is an S
iO2 layer, 3 is SiNx dielectric layer, 4 is TbFeC.

磁性層、5はSiNx誘電体層である。第11図に示さ
れるSiO□層による溝形状の変化分を補うように最適
設計したスタンバを用いて成形した1に、特開昭63−
112632号に示される液相薄膜形成法により、2の
SiO2層1000人形成した後、3.4.5をこの順
にスパッタ法により積層した。
The magnetic layer 5 is a SiNx dielectric layer. 1, which was molded using an optimally designed standber to compensate for the change in groove shape caused by the SiO□ layer shown in FIG.
After forming 1000 SiO2 layers of No. 2 by the liquid phase thin film forming method shown in No. 112632, No. 3, 4 and 5 were laminated in this order by sputtering.

この光ディスクを、60℃50%RHがら50”C90
%RHに環境変化させた場合に発生した反り角(チルト
)は、0.3mradと非常に小さく、また基板側の表
面硬度は7H1帯電位の半減期は10秒で、高い表面硬
度と良好な帯電防止効果の両方を兼ね備える。また、あ
らかじめ、スタンバの段階で溝形状を最適化しておいた
ので、信号の記録再生特性は、SiO2層を形成しない
ディスクで作成した場合と等しい、良好なものが得られ
た。この発明の光ディスクは光記録膜を成膜する前にS
iO2層を形成するので、スパッタ法により成膜する作
業において、基板に傷や埃がつきにくいので、取扱いか
楽で埃の除去作業か簡単にすみ、作業性が向上するとと
もに、歩留まり向上に役立つ。
This optical disc was heated to 50"C90 at 60℃ and 50%RH.
The warping angle (tilt) that occurred when the environment was changed to %RH was as small as 0.3 mrad, and the surface hardness of the substrate side was 7H1, with a half-life of 10 seconds, which resulted in high surface hardness and good properties. It has both antistatic effect. Furthermore, since the groove shape was optimized in advance at the standby stage, good signal recording and reproducing characteristics were obtained, equivalent to those obtained when a disk was prepared without forming an SiO2 layer. In the optical disc of this invention, before forming the optical recording film,
Since it forms an iO2 layer, the substrate is less likely to be scratched or dusted during film formation by sputtering, making handling easier and dust removal easier, improving work efficiency and helping to improve yield. .

次に別の実施例について説明する。Next, another embodiment will be described.

第2図において、1はポリカーボネート基板で、2はS
iO2層、3はSiNx誘電体層、4はTbFeC。
In Figure 2, 1 is a polycarbonate substrate and 2 is an S
iO2 layer, 3 is SiNx dielectric layer, 4 is TbFeC.

磁性層55はSiNx誘電体層である。1の溝か形成さ
れている領域をマスクし液が接触しないようにした後、
特開昭63−]]、2632号に示される液相薄膜形成
法により、2のSiO2層を1000人形成し、これに
3.4.5をこの順にスパッタ法により積層した。
Magnetic layer 55 is a SiNx dielectric layer. After masking the area where groove 1 is formed to prevent contact with the liquid,
1000 SiO2 layers of No. 2 were formed by the liquid phase thin film forming method disclosed in JP-A No. 63-], No. 2632, and layers No. 3, 4, and 5 were laminated thereon in this order by sputtering.

この光ディスクを、60℃50%RHから60℃90%
RHに環境変化させた場合に発生した反り角(チルト)
は、0.3mradと非常に小さく、また基板側の表面
硬度は7H1帯電位の半減期は10秒で、高い表面硬度
と良好な帯電防止効果の両方を兼ね備える。また、溝の
形成されている領域にはマスクをしていたのて、溝形状
には変化なく信号の記録再生特性は良好であった。この
発明の光ディスクは光記録膜を成膜する前にSiO2層
を形成するので、スパッタ法により成膜する作業におい
て、基板に傷や埃がつきにくいので、取扱いが楽で埃の
除去作業が簡単にすみ、作業性か向上するとともに、歩
留まり向上に役立つ。
This optical disc was heated from 60℃50%RH to 60℃90%RH.
Warpage angle (tilt) that occurs when changing the environment to RH
is very small at 0.3 mrad, and the surface hardness on the substrate side is 7H1. The half-life of the charged potential is 10 seconds, and it has both high surface hardness and good antistatic effect. Furthermore, even though the region where the grooves were formed was masked, there was no change in the shape of the grooves, and the signal recording and reproducing characteristics were good. Since the optical disk of this invention forms a SiO2 layer before forming an optical recording film, the substrate is less likely to be scratched or dusted during film formation by sputtering, making it easy to handle and remove dust. This improves work efficiency and improves yield.

次に別の実施例について説明する。Next, another embodiment will be described.

第3図において、1はポリカーボネート基板で、2はS
iO2層、3はSiNx誘電体層、4はTbFeC。
In Figure 3, 1 is a polycarbonate substrate and 2 is an S
iO2 layer, 3 is SiNx dielectric layer, 4 is TbFeC.

磁性層、5はSiNx誘電体層、6は樹脂による保護層
である。1に3.4.5をこの順にスパッタ法により積
層した後、3.4,5を被覆するように6を形成し、こ
の全面に特開昭63−112632号に示される液相薄
膜形成法により、2のSiO2層を1000人形成した
5 is a magnetic layer, 5 is a SiNx dielectric layer, and 6 is a protective layer made of resin. After laminating 3, 4, and 5 on 1 by sputtering in this order, 6 was formed to cover 3, 4, and 5, and the liquid phase thin film forming method shown in JP-A-63-112632 was applied to the entire surface. 1000 SiO2 layers of 2 were formed using the same method.

この光ディスクを、60℃50%旧1から60℃90%
RHに環境変化させた場合に発生した反り角(チルト)
は0.3mradと非常に小さく、また基板側の表面硬
度は7H1帯電位の半減期は10秒で、高い表面硬度と
良好な帯電防止効果の両方を兼ね備える。また、SiO
□層を形成する前に記録膜を形成したので、信号の記録
再生特性は良好であった。この発明の光ディスクは光記
録膜を成膜した後にSiO2層を全面に形成するので、
基板側だけでなく、記録膜側にもSiO2層が形成され
るため、ディスク全体にわたって傷や埃かつきにくい光
ディスクが得られる。
Change this optical disc from 60℃ 50% old 1 to 60℃ 90%
Warpage angle (tilt) that occurs when changing the environment to RH
is very small at 0.3 mrad, and the half-life of the 7H1 charge potential on the substrate side is 10 seconds, which provides both high surface hardness and good antistatic effect. Also, SiO
Since the recording film was formed before forming the □ layer, the signal recording and reproducing characteristics were good. Since the optical disc of this invention forms a SiO2 layer on the entire surface after forming an optical recording film,
Since the SiO2 layer is formed not only on the substrate side but also on the recording film side, an optical disk that is resistant to scratches and dust over the entire disk can be obtained.

次に別の実施例について説明する。Next, another embodiment will be described.

第4図において、1.1′はポリカーボネート基板で、
2はSiO2層、3.3′はSiNx誘電体層、4.4
′はTbFeCo磁性層、5.5°はSiNx誘電体層
で、7は接着層である。1に3.4.5をこの順にスパ
ッタ法により積層したもの2枚を、記録層が対面するよ
うに、エポキシ接着樹脂で貼り合わせをした後、この全
面に、特開昭63−112632号に示される液相薄膜
形成法により、2のSin2層を1000人形成した。
In Figure 4, 1.1' is a polycarbonate substrate,
2 is SiO2 layer, 3.3' is SiNx dielectric layer, 4.4
' is a TbFeCo magnetic layer, 5.5° is a SiNx dielectric layer, and 7 is an adhesive layer. 1 and 3.4.5 were laminated in this order by sputtering, and the two sheets were bonded together using epoxy adhesive resin so that the recording layers faced each other. By the liquid phase thin film forming method shown, 1000 people formed 2 Sin2 layers.

この光ディスクの表面硬度は、全体にわたって7Hと高
く、帯電位の半減期は10秒で、高い表面硬度と良好な
帯電防止効果の両方を兼ね備える。
The surface hardness of this optical disk is as high as 7H throughout, the half-life of the charged potential is 10 seconds, and it has both high surface hardness and good antistatic effect.

また、貼り合わせであるので反り変形がなく、かつ2倍
の記録領域をもつので、高密度記録媒体が得られる。
Furthermore, since it is bonded together, there is no warping and deformation, and since it has twice the recording area, a high-density recording medium can be obtained.

次に別の実施例について説明する。Next, another embodiment will be described.

第5図において、1.1°はポリカーボネート基板で、
2.2′はSin□層、3.3゛はSiNx誘電体層、
4.4゛はTbFeCo磁性層、5.5゛はSiNx誘
電体層で、7は接着層である。第11図に示されるSi
O2層による溝形状の変化分を補うように最適設計した
スタンバを用いて成形した1に、特開昭631.126
32号に示される液相薄膜形成法により、2のSiO□
層1000人形成した後、3.4.5をこの順にスパッ
タ法により積層したもの2枚を、記録膜か対面するよう
に、エポキシ接着樹脂により貼り合わせした。
In Figure 5, 1.1° is the polycarbonate substrate,
2.2′ is a Sin□ layer, 3.3′ is a SiNx dielectric layer,
4.4'' is a TbFeCo magnetic layer, 5.5'' is a SiNx dielectric layer, and 7 is an adhesive layer. Si shown in FIG.
1, which was molded using an optimally designed stubber to compensate for the change in groove shape caused by the O2 layer,
By the liquid phase thin film formation method shown in No. 32, SiO□ of 2
After 1000 layers were formed, two sheets of 3.4.5 were laminated in this order by sputtering and bonded together using an epoxy adhesive resin so that the recording films faced each other.

この光ディスクの表面硬度は、全体にわたって7Hと高
く、帯電位の半減期は10秒で、高い表面硬度と良好な
帯電防止効果の両方を兼ね備える。
The surface hardness of this optical disk is as high as 7H throughout, the half-life of the charged potential is 10 seconds, and it has both high surface hardness and good antistatic effect.

また、貼り合わせであるのて反り変形がなく、かつ2倍
の記録領域をもつので、高密度記録媒体か得られる。ま
た、光記録膜を成膜する前にSin2層を形成するので
、スパッタ法により成膜する作業や貼り合わせする作業
において、基板に傷や埃がつきにくいので、取扱いか楽
で埃の除去作業か簡単にすみ、作業性が向上するととも
に、歩留まり向上に役立つ。
Furthermore, since it is bonded together, there is no warping and deformation, and since it has twice the recording area, a high-density recording medium can be obtained. In addition, since a two-Si layer is formed before forming the optical recording film, the substrate is less likely to be scratched or dusted during film formation by sputtering or bonding, making handling easier and removing dust. It is easy to use, improves work efficiency, and helps improve yield.

次に別の実施例について説明する。Next, another embodiment will be described.

第6図において、1.1′はポリカーボネート基板で、
2.2゛は5102層、3.3′はSiNx誘電体層、
4.4゛はTbFeCo磁性層性層、5.5′はSiN
x誘電体層である。1の溝か形成されている領域にマス
クし液が接触しないようにした後、特開昭63−112
832号に示される液相薄膜形成法により、2のSiO
□層を1000人形成し、これに3.4.5をこの順に
スパッタ法により積層したもの2枚を、記録膜が対面す
るようにエポキシ接着樹脂により貼り合わせた。
In Figure 6, 1.1' is a polycarbonate substrate;
2.2' is the 5102 layer, 3.3' is the SiNx dielectric layer,
4.4' is TbFeCo magnetic layer, 5.5' is SiN
x dielectric layer. After masking the area where the grooves of No. 1 are formed to prevent contact with the liquid,
By the liquid phase thin film formation method shown in No. 832, 2 SiO
1000 □ layers were formed, and 3, 4, and 5 were laminated in this order by sputtering, and two sheets were bonded together using an epoxy adhesive resin so that the recording films faced each other.

この光ディスクの表面硬度は、全体にわたって7Hと高
く、帯電位の半減期は10秒で、高い表面硬度と良好な
帯電防止効果の両方を兼ね備える。
The surface hardness of this optical disk is as high as 7H throughout, the half-life of the charged potential is 10 seconds, and it has both high surface hardness and good antistatic effect.

また、貼り合わせであるので反り変形がなく、かつ2倍
の記録領域をもづので、高密度記録媒体が得られる。ま
た、溝の形成されている領域にはマスクをしていたので
、溝形状に変化なく良好な記録再生特性が得られるとと
もに、記録膜を成膜する前にSiO□層を形成するので
、スパッタ法により成膜する作業や貼り合わせする作業
において、基板に傷や埃がつきにくいので、取扱いが楽
で埃の除去作業か簡単にすみ、作業性が向上するととも
に、歩留まり向上に役立つ。
Furthermore, since it is bonded together, there is no warpage and deformation, and since it has twice the recording area, a high-density recording medium can be obtained. In addition, since the region where the groove is formed is masked, good recording and reproducing characteristics can be obtained without any change in the groove shape, and since the SiO□ layer is formed before the recording film is formed, sputtering is possible. Since the substrate is less likely to be scratched or dusted during film formation or bonding using the method, it is easy to handle and remove dust, which improves work efficiency and helps improve yield.

この発明に係る光ディスクは、以上の実施例に限定され
るものてはなく、基板はポリカーボネート基板以外の他
のプラスチック基板やガラス基板でもよく、接着層はエ
ポキシ樹脂に限らず、他の樹脂であってもかまわない。
The optical disc according to the present invention is not limited to the above embodiments, and the substrate may be a plastic substrate or glass substrate other than a polycarbonate substrate, and the adhesive layer is not limited to epoxy resin, but may be made of other resins. It doesn't matter.

たたし、接着後、液相薄膜形成法によりSin2層を形
成する場合、液か界面より侵入しないような密閉性の良
いものか好ましい。
However, when forming the Sin2 layer by a liquid phase thin film formation method after adhesion, it is preferable to use a material with good sealing properties so that liquid does not enter from the interface.

[発明の効果] 本発明に係る光ディスクは、以上に説明したように、少
なくとも基板の材質か露出する部分に、液相薄膜形成法
によりSin、、層を形成する場合に該8102層の膜
厚を500Å以上とすることにより、急激な温湿度か発
生しても反りの発生せず、傷や埃のつきにくい光ディス
クか得られる。
[Effects of the Invention] As explained above, in the optical disc according to the present invention, when a Sin layer is formed by a liquid phase thin film forming method on at least the exposed portion of the substrate material, the film thickness of the 8102 layer is By setting the thickness to 500 Å or more, it is possible to obtain an optical disc that does not warp even when sudden changes in temperature and humidity occur, and is resistant to scratches and dust.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1〜6図は、本発明の実施例を示す光ティスフ断面図
、第7図は8102層の膜厚と、bOで50%RHから
60℃90%旧1に環境か変化した場合の反り角変化量
の関係を示すグラフ、第8図はSin2層の膜厚と表面
硬度の関係を示すクラ7、第9図は、帯電性の特性を測
定したテークの一例、第10図は5102層の膜厚と帯
電位の半減期の関係を示すクラツ、第11図はSiO2
層の膜厚と、基板の溝形状の関係を示すクラツであり、
第11図(a)は膜厚と溝深さの関係を示し、第11図
(b)は膜厚と溝巾との関係を示す。第12図は従来の
光ディスクの構成図である。 図中2はSiO2層である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分をボす。 代理人  大  岩  増  雄 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 、SiO2層膜P4(A) 第9図 第10図 第11図 (b) 手 続 補 正 i (自発) 1、事件の表示 平 特願昭2−129998号 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
 称  (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三菱電機株式会社内   、−6 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄および図面6、 補正の
内容 (1)明細書第10頁第14行、第12頁第4行、第1
3頁第6行、第14頁第8行、第15頁第8行および第
16頁第6行1こ「7H」とあるのを「5H」と訂正す
る。 (2)図面中、第8図を別紙のとおり訂正する。 以  上 第8図 手 続 補 正 −(自発) 平成 3年 4月 2日 3、補正をする者 代表者 志 岐 守 哉 (連絡先03(3213)3421特許部)& 補正の
対象 (1)明細書の特許請求の範囲の欄 (2〉明細書の発明の詳細な説明の欄 & 補正の内容 (1)明細書中、特許請求の範囲を別紙の通り訂正する
。 (2)明細書中、第12ページ第19行目に「されてい
る領域をマスクし」とあるのを「されているmlをマス
クし」と訂正する。 7、 添付畜類 (1)訂正した特許請求の範囲を示す書面1通 以上 特許請求の範囲 (1)基板と、メモリ機能を有する光記録層とからなる
光記録媒体で、光記録層とこれを被覆する保護層を形成
した後、全面に、液相薄膜形成法番こより5io、層を
形成する光ディスクにおいて、該SiO2層の膜厚が5
00Å以上であることを特徴とする光ディスク。 (2)基板上と、メモリ機能を有する光記録層とからな
る光記録媒体2枚を、記録層が対面するように貼り合わ
せた後、全面に、液相薄膜形成法によりS i02層を
形成する光ディスクにおいて、該5iO1層の膜厚が5
00Å以上であることを特徴とする光ディスク。 (3)基板と、メモリ機能を有する光記録層からなる光
記録媒体で、光記録層を形成する前に、基板に、液相薄
膜形成法によりS i02層を形成した後、光記録層を
形成する光ディズクにおいて、該SiO2層の膜厚が5
00Å以上であることを特徴とする光ディスク。
Figures 1 to 6 are cross-sectional views of optical tissues showing examples of the present invention, and Figure 7 shows the film thickness of the 8102 layer and the warping when the environment changes from 50% RH to 60°C and 90% old 1 at bO. A graph showing the relationship between the angle change amount, Figure 8 shows the relationship between the film thickness of the Sin2 layer and the surface hardness, Figure 9 is an example of the measurement of the chargeability characteristics, and Figure 10 shows the 5102 layer. Figure 11 shows the relationship between the film thickness and the half-life of the charged potential for SiO2.
This graph shows the relationship between the layer thickness and the groove shape of the substrate.
FIG. 11(a) shows the relationship between film thickness and groove depth, and FIG. 11(b) shows the relationship between film thickness and groove width. FIG. 12 is a block diagram of a conventional optical disc. In the figure, 2 is a SiO2 layer. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. Agent Masuo Oiwa Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8 SiO2 layer film P4 (A) Figure 9 Figure 10 Figure 11 (b) Procedure amendment i (voluntary) 1. Incident Relation to the case of the person making the amendment Patent applicant address 2-2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Name (601) Moriya Shiki, representative of Mitsubishi Electric Corporation 4. Address of the agent: Mitsubishi Electric Corporation, 2-2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo, -6 5. Detailed description of the invention and drawings in the specification to be amended 6. Contents of the amendment (1) Details Book page 10, line 14, page 12, line 4, 1st
On page 3, line 6, page 14, line 8, page 15, line 8, and page 16, line 6, ``7H'' will be corrected to ``5H.'' (2) In the drawings, Figure 8 will be corrected as shown in the attached sheet. Above Figure 8 Procedural Amendment - (Voluntary) April 2, 1991 3, Representative of the person making the amendment Moriya Shiki (Contact information: 03 (3213) 3421 Patent Department) & Subject of amendment (1) Description of the specification Claims column (2> Detailed description of the invention in the specification & Contents of amendment (1) The scope of claims in the specification is corrected as shown in the attached sheet. (2) Section 12 in the specification On the 19th line of the page, the phrase "Mask the area covered" is corrected to "Mask the ml covered". 7. Attached animals (1) One document showing the corrected scope of claims. Claims (1) In an optical recording medium consisting of a substrate and an optical recording layer having a memory function, after forming an optical recording layer and a protective layer covering the optical recording layer, a liquid phase thin film is formed on the entire surface. From this, in the optical disk forming the layer 5io, the film thickness of the SiO2 layer is 5io.
An optical disc characterized by having a diameter of 00 Å or more. (2) After bonding two optical recording media consisting of a substrate and an optical recording layer with a memory function so that the recording layers face each other, a Si02 layer is formed on the entire surface using a liquid phase thin film formation method. In the optical disc, the thickness of the 5iO1 layer is 5
An optical disc characterized by having a diameter of 00 Å or more. (3) In an optical recording medium consisting of a substrate and an optical recording layer having a memory function, before forming the optical recording layer, an Si02 layer is formed on the substrate by a liquid phase thin film formation method, and then the optical recording layer is formed. In the optical disc to be formed, the thickness of the SiO2 layer is 5
An optical disc characterized by having a diameter of 00 Å or more.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板と、メモリ機能を有する光記録層とからなる
光記録媒体で、光記録層とこれを被覆する保護層を形成
した後、全面に、液相薄膜形成法によりSiO_2層を
形成する光ディスクにおいて、該SiO_2層の膜厚が
500Å以上であることを特徴とする光ディスク。
(1) In an optical recording medium consisting of a substrate and an optical recording layer having a memory function, after forming an optical recording layer and a protective layer covering it, a SiO_2 layer is formed on the entire surface by a liquid phase thin film formation method. An optical disc characterized in that the thickness of the SiO_2 layer is 500 Å or more.
(2)基板と、メモリ機能を有する光記録層とからなる
光記録媒体2枚を、記録層が対面するように貼り合わせ
た後、全面に、液相薄膜形成法によりSiO_2層を形
成する光ディスクにおいて、該SiO_2層の膜厚が5
00Å以上であることを特徴とする光ディスク。
(2) An optical disc in which two optical recording media consisting of a substrate and an optical recording layer with a memory function are bonded together so that the recording layers face each other, and then a SiO_2 layer is formed on the entire surface using a liquid phase thin film formation method. , the thickness of the SiO_2 layer is 5
An optical disc characterized by having a diameter of 00 Å or more.
(3)基板と、メモリ機能を有する光記録層からなる光
記録媒体で、光記録層を形成する前に、基板の全面に、
液相薄膜形成法によりSiO_2層を形成した後、光記
録層を形成する光ディスクにおいて、該SiO_2層の
膜厚が500Å以上であることを特徴とする光ディスク
(3) In an optical recording medium consisting of a substrate and an optical recording layer having a memory function, before forming the optical recording layer,
An optical disc in which an optical recording layer is formed after forming an SiO_2 layer by a liquid phase thin film forming method, wherein the SiO_2 layer has a film thickness of 500 Å or more.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998021718A1 (en) * 1996-11-14 1998-05-22 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha Optical information recording medium and production method thereof

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