JPH04268754A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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Publication number
JPH04268754A
JPH04268754A JP3030191A JP3019191A JPH04268754A JP H04268754 A JPH04268754 A JP H04268754A JP 3030191 A JP3030191 A JP 3030191A JP 3019191 A JP3019191 A JP 3019191A JP H04268754 A JPH04268754 A JP H04268754A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plastic package
heat sink
metal body
plating
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP3030191A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kosuke Okita
音喜多 孝輔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH04268754A publication Critical patent/JPH04268754A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/1815Shape

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable a semiconductor device equipped with a heat sink to be enhanced in heat dissipating properties and thermal conductivity between the heat sink and a plastic package and to easily mount the heat sink on the plastic package. CONSTITUTION:A semiconductor device is composed of a plastic package 10 where a semiconductor is housed and a heat sink 18 joined to the plastic package 10, where the heat sink 18 is formed of a metal body 20 high in thermal conductivity, the metal body 20 is bonded to the plastic package through an adhesive agent 26, and a plating 28 is provided to the outer surface of the metal body 20 excluding the joint of the metal body 20 with the plastic package.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明はプラスチックパッケージ
にヒートシンクを取りつけた半導体装置に関する。最近
、半導体装置の高速化、大容量化に伴い、半導体の動作
中の消費電力が増大し、発生する熱量も増大する傾向に
ある。このため、半導体チップを収容したパッケージに
ヒートシンクを取りつける技術が開発されたが、より一
層の放熱性が要求され、また接合の容易さも同時に要求
されている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device having a heat sink attached to a plastic package. 2. Description of the Related Art Recently, as semiconductor devices have become faster and have larger capacities, there is a tendency for the power consumption and the amount of heat generated to increase during the operation of semiconductors. For this reason, a technique for attaching a heat sink to a package containing a semiconductor chip has been developed, but there is a need for even better heat dissipation and ease of bonding.

【0002】0002

【従来の技術】半導体チップを樹脂封止したプラスチッ
クパッケージに金属製のヒートシンクを取りつけ、放熱
することにより、パッケージ内の半導体チップが壊れる
のを防止することが提案されている。この場合、金属製
のヒートシンクは接着剤によりプラスチックパッケージ
に固定される。この金属製のヒートシンクは外部に露出
しているので水分や汚れ等にさらされて腐食しやすく、
耐腐食性等を備えるためにヒートシンクの外周面にメッ
キや化成処理等を施すことが多くなってきている。
2. Description of the Related Art It has been proposed to attach a metal heat sink to a plastic package in which a semiconductor chip is sealed with resin to radiate heat to prevent the semiconductor chip inside the package from being damaged. In this case, the metal heat sink is fixed to the plastic package by adhesive. Since this metal heat sink is exposed to the outside, it is susceptible to corrosion due to exposure to moisture and dirt.
In order to provide corrosion resistance, the outer circumferential surface of a heat sink is increasingly subjected to plating, chemical conversion treatment, or the like.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】しかし、ヒートシンク
の外周面にメッキを施すと、ヒートシンクとプラスチッ
クパッケージとの接合部にメッキ層が介在する。メッキ
の表面は硬くて平滑であるためにヒートシンクのメッキ
層では接着剤が濡れにくく、ヒートシンクとプラスチッ
クパッケージとの間の接着剤の結合力が低下するという
問題点があった。また、メッキは熱伝導性がよくなく、
プラスチックパッケージからヒートシンクへの熱の伝導
を低下させ、プラスチックパッケージの放熱性を十分に
達成できなくなるという問題点があった。
However, when the outer peripheral surface of the heat sink is plated, a plating layer is present at the joint between the heat sink and the plastic package. Since the plating surface is hard and smooth, it is difficult for the adhesive to wet the plating layer of the heat sink, resulting in a problem in that the bonding strength of the adhesive between the heat sink and the plastic package is reduced. Also, plating has poor thermal conductivity,
There is a problem in that the conduction of heat from the plastic package to the heat sink is reduced, making it impossible to achieve sufficient heat dissipation performance of the plastic package.

【0004】さらに、従来のプラスチックパッケージの
表面は円滑であり、ヒートシンクを取りつける場合の位
置合わせ手段がなく、またプラスチックパッケージの表
面にヒートシンクとの結合力を高めるための手段もなか
った。そのため、ヒートシンクを取りつける場合には専
用の治具を用いて位置合わせを行うことが必要であった
Further, the surface of the conventional plastic package is smooth, and there is no alignment means for attaching a heat sink, and there is no means for increasing the bonding force with the heat sink on the surface of the plastic package. Therefore, when attaching the heat sink, it was necessary to perform positioning using a special jig.

【0005】本発明の目的はヒートシンクとプラスチッ
クパッケージとの間の熱伝導性及び放熱性が向上し、ま
たヒートシンクをプラスチックパッケージに容易に取り
つけることができるようにした半導体装置を提供するこ
とである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor device in which the heat conductivity and heat dissipation between a heat sink and a plastic package are improved, and the heat sink can be easily attached to the plastic package.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明による半導体装置
は、半導体チップを収容したプラスチックパッケージと
、該プラスチックパッケージに接合されるヒートシンク
とからなり、該ヒートシンクが熱伝導性のよい金属ボデ
ィで形成され、該金属ボディが接着剤により該プラスチ
ックパッケージに接着され、該金属ボディの外周面には
プラスチックパッケージとの接合部を除いてメッキが施
されていることを特徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] A semiconductor device according to the present invention includes a plastic package containing a semiconductor chip and a heat sink bonded to the plastic package, and the heat sink is formed of a metal body with good thermal conductivity. , the metal body is bonded to the plastic package with an adhesive, and the outer peripheral surface of the metal body is plated except for the joint with the plastic package.

【0007】[0007]

【作用】本発明では、ヒートシンクにはメッキが施され
ているが、ヒートシンクのプラスチックパッケージに対
する接合部においては研磨等によりメッキを取り去る構
成としている。よってプラスチックパッケージからヒー
トシンクへの熱伝導性が上がり、プラスチックパッケー
ジの放熱性が向上する。そして、接着剤によるヒートシ
ンクとプラスチックパッケージとの密着性が大きくなり
、放熱性が向上するばかりでなく耐久性も向上する。
[Operation] In the present invention, the heat sink is plated, but the plating is removed by polishing or the like at the joint of the heat sink to the plastic package. Therefore, the thermal conductivity from the plastic package to the heat sink increases, and the heat dissipation of the plastic package improves. Furthermore, the adhesion between the heat sink and the plastic package due to the adhesive is increased, which not only improves heat dissipation but also improves durability.

【0008】そして、プラスチックパッケージのヒート
シンクとの接合部には凹凸状の位置決め手段が設けられ
る構成を採用すると、ヒートシンクをプラスチックパッ
ケージに取りつけるときに位置合わせが容易になり、プ
ラスチックパッケージ内の半導体チップに対してヒート
シンクの位置を正確に適合させることができるようにな
る。さらに、凹凸状の位置決め手段はヒートシンクとプ
ラスチックパッケージとの間の結合領域を広げることに
なるので、接触面積の増大による放熱性の向上及び耐久
性の向上を達成することができる。
[0008] If a structure is adopted in which a concave-convex positioning means is provided at the joint of the plastic package with the heat sink, alignment becomes easy when attaching the heat sink to the plastic package, and the semiconductor chip inside the plastic package is easily aligned. The position of the heat sink can be adjusted accurately. Furthermore, since the uneven positioning means widens the bonding area between the heat sink and the plastic package, it is possible to achieve improved heat dissipation and improved durability due to the increased contact area.

【0009】[0009]

【実施例】図1を参照すると、本発明の第1実施例では
、半導体装置の半導体チップ12を樹脂14を封止した
プラスチックパッケージ10からなり、リード16がプ
ラスチックパッケージ10の側部から延び出している。 リード16は例えばDIP やSIP として公知の配
置で設けられる。
Embodiment Referring to FIG. 1, in a first embodiment of the present invention, a semiconductor chip 12 of a semiconductor device is comprised of a plastic package 10 sealed with resin 14, and leads 16 extend from the side of the plastic package 10. ing. Leads 16 are provided, for example, in an arrangement known as DIP or SIP.

【0010】ヒートシンク18は熱伝導性のよい銅等の
金属ボディ20で形成される。この金属ボディ20はプ
ラスチックパッケージ10の長手軸線方向に延び、脚部
22と、放熱フィン24とを含む。金属ボディ20の脚
部22が接着剤26でプラスチックパッケージ10の上
面に接着される。金属ボディ20の外周面には腐食を防
止するためのメッキ28が施されている。このメッキ2
8は金属ボディ20のほぼ全外周面に施されているが、
金属ボディ20のプラスチックパッケージ10との接合
部の部分だけはメッキされていない。すなわち、金属ボ
ディ20の脚部22の底面だけはメッキされていない。
The heat sink 18 is formed of a metal body 20 made of copper or the like having good thermal conductivity. The metal body 20 extends in the longitudinal direction of the plastic package 10 and includes legs 22 and heat dissipating fins 24 . The legs 22 of the metal body 20 are adhered to the top surface of the plastic package 10 with an adhesive 26. The outer peripheral surface of the metal body 20 is plated 28 to prevent corrosion. This plating 2
8 is applied to almost the entire outer peripheral surface of the metal body 20,
Only the portion where the metal body 20 joins the plastic package 10 is not plated. That is, only the bottom surfaces of the legs 22 of the metal body 20 are not plated.

【0011】金属ボディ20にメッキをする際に金属ボ
ディ20の脚部22の底面だけはメッキがつかないよう
にすることもできるが、実施例においては金属ボディ2
0の全外周面にメッキを施した後で脚部22の底面のメ
ッキを機械的あるいは化学的方法により取り去ったもの
である。このようにして、ヒートシンク18のプラスチ
ックパッケージ10に対する接合面のメッキを取り去る
ことにより、メッキという障害物がなくなったためにプ
ラスチックパッケージ10からヒートシンク18への熱
伝導性が上がり、プラスチックパッケージ10の放熱性
が向上する。さらに、金属ボディ20の脚部22の底面
のメッキを機械的に取り去ることにより荒れた脚部22
の底面とプラスチックパッケージ10との接着剤26に
よる結合力が増大する。
When plating the metal body 20, it is possible to leave only the bottom surface of the legs 22 of the metal body 20 unplated; however, in this embodiment, the metal body 2
After plating is applied to the entire outer peripheral surface of the leg 22, the plating on the bottom surface of the leg 22 is removed by a mechanical or chemical method. In this way, by removing the plating on the bonding surface of the heat sink 18 to the plastic package 10, the obstacle of plating is removed, so the heat conductivity from the plastic package 10 to the heat sink 18 is increased, and the heat dissipation performance of the plastic package 10 is improved. improves. Further, by mechanically removing the plating on the bottom of the legs 22 of the metal body 20, the legs 22 are roughened.
The bonding force between the bottom surface of the plastic package 10 and the adhesive 26 increases.

【0012】図2は本発明の第2実施例を示し、第1実
施例と同様に、半導体装置は半導体チップ12を樹脂1
4で封止したプラスチックパッケージ10からなり、リ
ード16がプラスチックパッケージ10の側部から延び
出している。ヒートシンク18は脚部22と放熱フィン
24とを含む金属ボディ20からなり、金属ボディ20
の外周面には腐食を防止するためのメッキ28が施され
、このメッキは金属ボディ20の脚部22の底面におい
ては取り除かれている。
FIG. 2 shows a second embodiment of the present invention. Similar to the first embodiment, a semiconductor device has a semiconductor chip 12 covered with resin 1.
4, and a lead 16 extends from the side of the plastic package 10. The heat sink 18 consists of a metal body 20 including legs 22 and radiation fins 24.
Plating 28 is applied to the outer peripheral surface of the metal body 20 to prevent corrosion, and this plating is removed from the bottom surface of the legs 22 of the metal body 20.

【0013】さらに、プラスチックパッケージ10のヒ
ートシンク18との接合部には凹凸状の位置決め手段が
設けられる。この位置決め手段はプラスチックパッケー
ジ10の樹脂モールド時にプラスチックパッケージ10
の表面に設けられた凸部30からなる。他方、金属ボデ
ィ20の脚部22の底面には凹部32が設けられる。こ
れらの凸部30及び凹部32は嵌合関係になるように形
成され、ヒートシンク18をプラスチックパッケージ1
0に取りつけるときに凹部32を凸部30に嵌合するこ
とにより位置合わせが容易になり、プラスチックパッケ
ージ10内の半導体チップ12に対してヒートシンク1
8の位置を正確に適合させることができるようになる。
Furthermore, an uneven positioning means is provided at the joint portion of the plastic package 10 with the heat sink 18. This positioning means is used to position the plastic package 10 during resin molding of the plastic package 10.
It consists of a convex portion 30 provided on the surface of. On the other hand, a recess 32 is provided on the bottom surface of the leg 22 of the metal body 20. These convex portions 30 and concave portions 32 are formed in a fitting relationship, and the heat sink 18 is attached to the plastic package 1.
By fitting the concave portion 32 into the convex portion 30 when attaching the heat sink 1 to the semiconductor chip 12 in the plastic package 10, alignment becomes easy.
8 can be adjusted accurately.

【0014】さらに、凸部30及び凹部32の嵌合関係
はヒートシンク18とプラスチックパッケージ10との
間の結合領域を広げ、接触面積の増大による放熱性を向
上及び耐久性の向上を達成することができる。接着剤2
6は少なくとも凸部30の表面及び側面を覆う領域に塗
布される。
Furthermore, the fitting relationship between the convex portion 30 and the concave portion 32 expands the bonding area between the heat sink 18 and the plastic package 10, thereby improving heat dissipation and durability by increasing the contact area. can. adhesive 2
6 is applied to an area covering at least the surface and side surfaces of the convex portion 30.

【0015】図3は本発明の第3実施例を示し、第2実
施例とほぼ同様の構成を有する。すなわち、脚部22と
放熱フィン24とを含む金属ボディ20からなるヒート
シンク18が、半導体チップ12を樹脂14で封止した
プラスチックパッケージ10に取りつけられるようにな
っている。金属ボディ20の外周面には腐食を防止する
ためのメッキ28が施され、このメッキは金属ボディ2
0の脚部22の底面においては取り除かれている。
FIG. 3 shows a third embodiment of the present invention, which has substantially the same configuration as the second embodiment. That is, a heat sink 18 made of a metal body 20 including legs 22 and radiation fins 24 can be attached to a plastic package 10 in which a semiconductor chip 12 is sealed with resin 14. Plating 28 is applied to the outer peripheral surface of the metal body 20 to prevent corrosion.
The bottom surface of the leg portion 22 of No. 0 is removed.

【0016】さらに、プラスチックパッケージ10のヒ
ートシンク18との接合部の凹凸状の位置決め手段は、
プラスチックパッケージ10の表面に設けられた凹部3
4からなる。金属ボディ20の脚部22がこの凹部34
に嵌合されるようになっている。よってヒートシンク1
8をプラスチックパッケージ10に取りつけるときに金
属ボディ20の脚部22をこの凹部34に嵌合すればよ
く、特別の工員を使用することなく容易且つ確実にヒー
トシンク18の位置をプラスチックパッケージ10に適
合させることができる。なお、実施例においては、プラ
スチックパッケージ10の表面に突起34aを設け、こ
れらの突起34aの間に凹部34を設けるようになって
いる。
Furthermore, the uneven positioning means of the joint portion of the plastic package 10 with the heat sink 18 is
Recess 3 provided on the surface of plastic package 10
Consists of 4. The legs 22 of the metal body 20 fit into this recess 34.
It is designed to be mated to the Therefore, heat sink 1
8 to the plastic package 10, the legs 22 of the metal body 20 need only be fitted into the recesses 34, and the position of the heat sink 18 can be easily and reliably adapted to the plastic package 10 without using special workers. be able to. In the embodiment, projections 34a are provided on the surface of the plastic package 10, and recesses 34 are provided between these projections 34a.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体チップを収容したプラスチックパッケージと、該
プラスチックパッケージに接合されるヒートシンクとか
らなり、該ヒートシンクが熱伝導性のよい金属ボディで
形成され、該金属ボディが接着剤により該プラスチック
パッケージに接着され、該金属ボディの外周面にはプラ
スチックパッケージとの接合部を除いてメッキが施され
ている構成としたので、プラスチックパッケージの放熱
性が向上し、且つ接着剤によるヒートシンクとプラスチ
ックパッケージとの密着性が大きくなり、ヒートシンク
をプラスチックパッケージに容易に取りつけることがで
きるようになる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention,
It consists of a plastic package containing a semiconductor chip and a heat sink bonded to the plastic package, the heat sink being formed of a metal body with good thermal conductivity, the metal body being bonded to the plastic package with an adhesive, and the heat sink being bonded to the plastic package. The outer circumferential surface of the metal body is plated except for the joints with the plastic package, which improves the heat dissipation of the plastic package and also improves the adhesion between the heat sink and the plastic package due to the adhesive. This allows the heat sink to be easily attached to the plastic package.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の第1実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…プラスチックパッケージ 12…半導体チップ 18…ヒートシンク 20…金属ボディ 26…接着剤 28…メッキ 30…凸部 34…凹部 10...Plastic package 12...Semiconductor chip 18...Heat sink 20...Metal body 26...Adhesive 28...Plating 30...Protrusion 34... recess

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  半導体チップを収容したプラスチック
バッケージ(10)と、該プラスチックパッケージに接
合されるヒートシンク(18)とからなり、該ヒートシ
ンクが熱伝導性のよい金属ボディ(20)で形成され、
該金属ボディが接着剤(26)により該プラスチックパ
ッケージに接着され、該金属ボディの外周面にはプラス
チックパッケージとの接合部を除いてメッキ(28)が
施されていることを特徴とする半導体装置。
1. A plastic package (10) containing a semiconductor chip, and a heat sink (18) bonded to the plastic package, the heat sink being formed of a metal body (20) with good thermal conductivity,
A semiconductor device characterized in that the metal body is bonded to the plastic package with an adhesive (26), and the outer peripheral surface of the metal body is plated (28) except for the joint with the plastic package. .
JP3030191A 1991-02-25 1991-02-25 Semiconductor device Withdrawn JPH04268754A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6576996B2 (en) * 1999-02-11 2003-06-10 International Business Machines Corporation Method for bonding heat sinks to overmolds and device formed thereby

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6576996B2 (en) * 1999-02-11 2003-06-10 International Business Machines Corporation Method for bonding heat sinks to overmolds and device formed thereby
US6719871B2 (en) * 1999-02-11 2004-04-13 International Business Machines Corporation Method for bonding heat sinks to overmolds and device formed thereby

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