JPH04265Y2 - - Google Patents
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- JPH04265Y2 JPH04265Y2 JP14969086U JP14969086U JPH04265Y2 JP H04265 Y2 JPH04265 Y2 JP H04265Y2 JP 14969086 U JP14969086 U JP 14969086U JP 14969086 U JP14969086 U JP 14969086U JP H04265 Y2 JPH04265 Y2 JP H04265Y2
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- output
- detection coil
- magnetostrictive
- flip
- comparator
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 5
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 210000004899 c-terminal region Anatomy 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、磁歪線上を伝播する磁歪波を検出す
るための磁歪信号検出回路に関するものである。
るための磁歪信号検出回路に関するものである。
この種の磁歪信号検出回路の原理的構成図を第
４図に示す。同図において、１は磁歪線、２は駆
動コイル、３は検出コイルである。駆動コイル２
は磁歪線１の一端に固定配置され、検出コイル３
は磁歪線１上を長さ方向に移動可動なように配置
されている。
４図に示す。同図において、１は磁歪線、２は駆
動コイル、３は検出コイルである。駆動コイル２
は磁歪線１の一端に固定配置され、検出コイル３
は磁歪線１上を長さ方向に移動可動なように配置
されている。
このような構成において、駆動コイル２に第５
図イに示す駆動パルスを与えると磁歪線１に縦弾
性波（磁歪波）が発生する。この縦弾性波は磁歪
線１を伝播し、検出コイル３は第５図ロに示す如
くその縦弾性波を時間t1後に直接波４として検出
すると共に、磁歪線１の開放端部１１で反射する
反射波５として時間t2後にこれを検出する。直接
波４を検出した検出コイル３の出力は実測による
と、第５図ロの如く時間的にみて最初にマイナス
のパルスcdが生じた後、次いでプラスのパルスad
が発生し、このadパルスに続いてマイナスのパル
スbd、更にプラスのパルスddが生じる波形とな
る。又、反射波５を検出した検出コイル３の出力
はこれも実測によると、最初にプラスのパルスcr
が生じた後、マイナスのパルスarが発生し、この
arパルスに続いてプラスのパルスbr、更にマイナ
スのパルスdrが発生する波形となる。
図イに示す駆動パルスを与えると磁歪線１に縦弾
性波（磁歪波）が発生する。この縦弾性波は磁歪
線１を伝播し、検出コイル３は第５図ロに示す如
くその縦弾性波を時間t1後に直接波４として検出
すると共に、磁歪線１の開放端部１１で反射する
反射波５として時間t2後にこれを検出する。直接
波４を検出した検出コイル３の出力は実測による
と、第５図ロの如く時間的にみて最初にマイナス
のパルスcdが生じた後、次いでプラスのパルスad
が発生し、このadパルスに続いてマイナスのパル
スbd、更にプラスのパルスddが生じる波形とな
る。又、反射波５を検出した検出コイル３の出力
はこれも実測によると、最初にプラスのパルスcr
が生じた後、マイナスのパルスarが発生し、この
arパルスに続いてプラスのパルスbr、更にマイナ
スのパルスdrが発生する波形となる。
このような反射型磁歪ポテンシヨメータにおい
て、縦弾性波が検出コイル３に到達する時間t1，
t2は従来例えば特開昭61−97523号に開示された
ものとして第６図に示す如くそのスレツシヨール
ド・レベルが＋Vthと−Vthを持つ一対の比較器
を用い、時間t1は直接波４の最初のプラスのパル
スadにより、又t2は反射波５の最初のマイナスの
パルスarにより求めるようにしていた。ところ
で、この種の磁歪信号検出回路における縦弾性波
の波形は伝播距離によつては変化しないものとさ
れていた。しかし、実際には分散の影響を受けて
波形が歪み、第５図ロと第６図の対比から明らか
なように、特に伝播距離の長い反射波５の内、最
初に生じるマイナスのパルスarのピーク値が小さ
くなり、その為、これを検出する比較器のスレツ
シヨールド・レベル（−）Vthに対するマージン
が少なくなり、誤動作が起きやすいという問題点
があつた。更に、ad，br信号に対して反射波５に
おけるcr信号は十分低いレベルにあるが、主とし
て第３図に示される如く直接波４における第２番
目のプラスのdd波は比較的高いレベルにあり、ノ
イズが重畳されたような場合など、このdd波によ
り比較器COMPが誤動作してしまう。これを逃
げようとしてスレツシヨールド・レベル＋Vthの
レベルを上げるとad，br信号に対してマージンが
少なくなり、動作が不安定となる。このような問
題点を解決する為に本願出願人は本願と同日付け
で考案の名称「磁歪信号検出回路」として第７図
に示す回路を出願した。以下、本考案を説明する
前にこの回路について説明する。
て、縦弾性波が検出コイル３に到達する時間t1，
t2は従来例えば特開昭61−97523号に開示された
ものとして第６図に示す如くそのスレツシヨール
ド・レベルが＋Vthと−Vthを持つ一対の比較器
を用い、時間t1は直接波４の最初のプラスのパル
スadにより、又t2は反射波５の最初のマイナスの
パルスarにより求めるようにしていた。ところ
で、この種の磁歪信号検出回路における縦弾性波
の波形は伝播距離によつては変化しないものとさ
れていた。しかし、実際には分散の影響を受けて
波形が歪み、第５図ロと第６図の対比から明らか
なように、特に伝播距離の長い反射波５の内、最
初に生じるマイナスのパルスarのピーク値が小さ
くなり、その為、これを検出する比較器のスレツ
シヨールド・レベル（−）Vthに対するマージン
が少なくなり、誤動作が起きやすいという問題点
があつた。更に、ad，br信号に対して反射波５に
おけるcr信号は十分低いレベルにあるが、主とし
て第３図に示される如く直接波４における第２番
目のプラスのdd波は比較的高いレベルにあり、ノ
イズが重畳されたような場合など、このdd波によ
り比較器COMPが誤動作してしまう。これを逃
げようとしてスレツシヨールド・レベル＋Vthの
レベルを上げるとad，br信号に対してマージンが
少なくなり、動作が不安定となる。このような問
題点を解決する為に本願出願人は本願と同日付け
で考案の名称「磁歪信号検出回路」として第７図
に示す回路を出願した。以下、本考案を説明する
前にこの回路について説明する。
第７図において、３は第４図で説明した検出コ
イル、２は駆動パルスの印加端子、COMPは比
較器、Ｆは検出コイル３に並列に接続されたフイ
ルタ、Ｒ１，Ｒ２は抵抗素子、Vr，Vdは電源で
ある。抵抗素子Ｒ１，Ｒ２は電源Vrと基準電位
点間に接続され、この抵抗回路の分圧点に生じる
電圧＋Vthが比較器COMPのスレツシヨールド電
圧として用いられる。FF１，FF２はエツジ・ト
リガ型のフリツプ・フロツプ、DLは抵抗Ｒ３と
コンデンサＣ及びダイオードＤよりなる遅れ回路
である。
イル、２は駆動パルスの印加端子、COMPは比
較器、Ｆは検出コイル３に並列に接続されたフイ
ルタ、Ｒ１，Ｒ２は抵抗素子、Vr，Vdは電源で
ある。抵抗素子Ｒ１，Ｒ２は電源Vrと基準電位
点間に接続され、この抵抗回路の分圧点に生じる
電圧＋Vthが比較器COMPのスレツシヨールド電
圧として用いられる。FF１，FF２はエツジ・ト
リガ型のフリツプ・フロツプ、DLは抵抗Ｒ３と
コンデンサＣ及びダイオードＤよりなる遅れ回路
である。
第８図は第７図回路のタイミングチヤートで、
イ図は駆動パルス、ロ図は検出コイル３の出力、
ハ図は比較器COMPの出力、ニ図はフリツプ・
フロツプFF１の出力、ホ図はFF２のＤ入力、ヘ
図はFF２の出力波形を示すものである。第７図
回路において、駆動端子２にパルスが与えられる
と、第５図及び第６図で説明した如く磁歪線１に
縦弾性波が発生し、この縦弾性波は磁歪線１上を
伝播する。この縦弾性波は時間t1後に直接波４と
して検出コイル３に到達すると共に、時間t2後に
反射波５として検出コイル３に到達し、その出力
は比較器COMPに加えられる。比較器COMPは
時刻t1に検出コイル３に到達する反射波５によ
り、この検出コイル３の出力のうち第８図ロ（第
３図ロ）に示す如くそのピーク値がスレツシヨー
ルド・レベル＋Vthをこえるad波が入力されると
これを検出し、パルスＰ１を出力する。このパル
スによりフリツプ・フロツプFF１のＱ出力は
“Ｌ”レベルとなる。FF１のＱ出力が“Ｈ”レベ
ルの期間は、駆動パルス２が与えられてから直接
波４が検出コイル５に到達するまでの時間t1に対
応するもので、このパルス幅信号は出力端子
OUT１より取出される。一方、FF１のＱ出力は
遅れ回路DLを介してFF２にＤ入力として加えら
れている。
イ図は駆動パルス、ロ図は検出コイル３の出力、
ハ図は比較器COMPの出力、ニ図はフリツプ・
フロツプFF１の出力、ホ図はFF２のＤ入力、ヘ
図はFF２の出力波形を示すものである。第７図
回路において、駆動端子２にパルスが与えられる
と、第５図及び第６図で説明した如く磁歪線１に
縦弾性波が発生し、この縦弾性波は磁歪線１上を
伝播する。この縦弾性波は時間t1後に直接波４と
して検出コイル３に到達すると共に、時間t2後に
反射波５として検出コイル３に到達し、その出力
は比較器COMPに加えられる。比較器COMPは
時刻t1に検出コイル３に到達する反射波５によ
り、この検出コイル３の出力のうち第８図ロ（第
３図ロ）に示す如くそのピーク値がスレツシヨー
ルド・レベル＋Vthをこえるad波が入力されると
これを検出し、パルスＰ１を出力する。このパル
スによりフリツプ・フロツプFF１のＱ出力は
“Ｌ”レベルとなる。FF１のＱ出力が“Ｈ”レベ
ルの期間は、駆動パルス２が与えられてから直接
波４が検出コイル５に到達するまでの時間t1に対
応するもので、このパルス幅信号は出力端子
OUT１より取出される。一方、FF１のＱ出力は
遅れ回路DLを介してFF２にＤ入力として加えら
れている。
次に、時刻t2において反射波５が検出コイル３
に到達する。縦弾性波は前記したように分散の影
響を受けその伝播距離に応じて波形が歪むが、反
射波５における第２番目のプラスのパルスbrは分
散の影響を受けない。したがつて、比較器
COMPは時刻t2においてこのbrパルスを検出して
パルスＰ２を発生し、このパルスはフリツプ・フ
ロツプFF２のＣ端子に加えられる。このパルス
により、フリツプ・フロツプFF２のＱ出力は
“Ｌ”レベルとなる。FF２のＱ出力が“Ｈ”レベ
ルの期間は、駆動パルス２が与えられてから反射
波５が検出コイル５に到達するまでの時間t2に対
応するもので、このパルス幅信号は出力端子
OUT２より取り出される。ここで、フリツプ・
フロツプFF１のＱ出力端子は遅れ回路DLを介し
てFF２のＤ入力端子に接続されている。これに
より、第２図ホの如くFF２のＤ入力にはFF１の
出力の変化が遅れて加えられ、FF２はt1からそ
の遅れ時間だけマスクをかけられたことになる。
その結果、検出コイル３において直接波４におけ
る２番目に発生するプラスのパルス出力ddが高い
レベルになり、これを比較器COMPが第２図ハ
のＰ１′で示されるように検出したとしても、フ
リツプ・フロツプFF２が反転することはない。
その結果第２図ヘの如く時間t2の検出に影響され
ることはない。
に到達する。縦弾性波は前記したように分散の影
響を受けその伝播距離に応じて波形が歪むが、反
射波５における第２番目のプラスのパルスbrは分
散の影響を受けない。したがつて、比較器
COMPは時刻t2においてこのbrパルスを検出して
パルスＰ２を発生し、このパルスはフリツプ・フ
ロツプFF２のＣ端子に加えられる。このパルス
により、フリツプ・フロツプFF２のＱ出力は
“Ｌ”レベルとなる。FF２のＱ出力が“Ｈ”レベ
ルの期間は、駆動パルス２が与えられてから反射
波５が検出コイル５に到達するまでの時間t2に対
応するもので、このパルス幅信号は出力端子
OUT２より取り出される。ここで、フリツプ・
フロツプFF１のＱ出力端子は遅れ回路DLを介し
てFF２のＤ入力端子に接続されている。これに
より、第２図ホの如くFF２のＤ入力にはFF１の
出力の変化が遅れて加えられ、FF２はt1からそ
の遅れ時間だけマスクをかけられたことになる。
その結果、検出コイル３において直接波４におけ
る２番目に発生するプラスのパルス出力ddが高い
レベルになり、これを比較器COMPが第２図ハ
のＰ１′で示されるように検出したとしても、フ
リツプ・フロツプFF２が反転することはない。
その結果第２図ヘの如く時間t2の検出に影響され
ることはない。
このように、本願考案と同日に出願した考案は
縦弾性波の伝播距離が長くても分散の影響を受け
ることなく、しかも直接波４におけるdd波にも影
響されることがなく、したがつて比較器のスレツ
シヨールド・レベルのマージンの大きくとれ誤動
作の発生しにくい磁歪信号検出回路が得られる。
しかし、この第７図の回路においては、フリツ
プ・フロツプFF２のＤ入力のスレツシヨール
ド・レベルのバラツキによりマスクする時間が大
きく変動する。この為、次のような問題が発生す
る。即ち、マスクする時間が短かくなるとdd波を
マスクしきれなくなる。逆にマスクする時間が長
くなると、第９図ハに示す如く検出コイル３が検
出位置として100％側にあるとき、直接波４のdd
パルスと共に反射波５のbr信号までマスクしてし
まう。なお、第９図イは磁歪信号検出回路の原理
的構成図、ロ図は検出コイル３の位置が０％側に
ある場合の図である。
縦弾性波の伝播距離が長くても分散の影響を受け
ることなく、しかも直接波４におけるdd波にも影
響されることがなく、したがつて比較器のスレツ
シヨールド・レベルのマージンの大きくとれ誤動
作の発生しにくい磁歪信号検出回路が得られる。
しかし、この第７図の回路においては、フリツ
プ・フロツプFF２のＤ入力のスレツシヨール
ド・レベルのバラツキによりマスクする時間が大
きく変動する。この為、次のような問題が発生す
る。即ち、マスクする時間が短かくなるとdd波を
マスクしきれなくなる。逆にマスクする時間が長
くなると、第９図ハに示す如く検出コイル３が検
出位置として100％側にあるとき、直接波４のdd
パルスと共に反射波５のbr信号までマスクしてし
まう。なお、第９図イは磁歪信号検出回路の原理
的構成図、ロ図は検出コイル３の位置が０％側に
ある場合の図である。
本考案は第７図回路が有する上記のような問題
点を解決する為になされたものである。
点を解決する為になされたものである。
本考案は上記の問題点を解決する為にマスクの
為のフリツプ・フロツプFF２のスレツシヨール
ド・レベルを固定するようにしたものである。以
下、本考案の実施例について説明する。
為のフリツプ・フロツプFF２のスレツシヨール
ド・レベルを固定するようにしたものである。以
下、本考案の実施例について説明する。
第１図は本考案に係る磁歪信号検出回路の一実
施例の接続図である。なお、第１図において第７
図と同一部分は第１図と同一符号を付してそれら
の再説明は省略する。第１図において、COMP
２は比較器、Ｒ４、Ｒ５は抵抗素子である。フリ
ツプ・フロツプFF１のＱ出力端子は遅れ回路DL
を介して比較器COMP２の（＋）入力端子に接
続され、この比較器の出力端子はフリツプ・フロ
ツプFF２のＤ入力端子に接続されている。抵抗
素子Ｒ４とＲ５は電源Vdと基準電位点間に接続
され、その分圧点に生じる電圧がスレツシヨール
ド電圧Vmthとして比較器COMP２の（−）入力
端子に加えられる。
施例の接続図である。なお、第１図において第７
図と同一部分は第１図と同一符号を付してそれら
の再説明は省略する。第１図において、COMP
２は比較器、Ｒ４、Ｒ５は抵抗素子である。フリ
ツプ・フロツプFF１のＱ出力端子は遅れ回路DL
を介して比較器COMP２の（＋）入力端子に接
続され、この比較器の出力端子はフリツプ・フロ
ツプFF２のＤ入力端子に接続されている。抵抗
素子Ｒ４とＲ５は電源Vdと基準電位点間に接続
され、その分圧点に生じる電圧がスレツシヨール
ド電圧Vmthとして比較器COMP２の（−）入力
端子に加えられる。
第２図は第１図装置のタイミングチヤートで、
イ図は駆動パルス、ロ図は検出コイル３の出力、
ハ図は比較器COMPの出力、ニ図はフリツプ・
フロツプFF１の出力、ホ図は比較器の（＋）側
の入力波形、ヘ図は比較器COMP２の出力、ト
図はFF２の出力波形を示すものである。第１図
の回路の基本的な動作は第７図と同じであるが、
相違点は遅れ回路DLの出力が比較器COMP２に
加えられ、この比較器の出力がフリツプ・フロツ
プFF２のＤ入力として加えられているので、dd
波形に対する影響をマスクする時間が第２図ホで
示す如く比較器COMP２のスレツシヨールド・
レベルVmthで決まることである。このVmthは
安定電源Vd、抵抗素子Ｒ４，Ｒ５によつて定め
られるので、一定である。よつて、第２図ヘで示
す如くt1時間後一定時間TMが過ぎてから比較器
COMP２は“Ｌ”レベルになるが、このTM時間
の間にdd波を比較器COMPが第２図ハのP′の如
く検出しても、このP′はマスクされることによ
り、t2時間の検出には影響されないものとなる。
又、TM時間を所定の幅になるように設定してお
けば、第９図ハに示す如く検出コイル３が検出位
置として100％側にあるときにも反射波５のbr信
号までをマスクしてしまうことはなくなる。
イ図は駆動パルス、ロ図は検出コイル３の出力、
ハ図は比較器COMPの出力、ニ図はフリツプ・
フロツプFF１の出力、ホ図は比較器の（＋）側
の入力波形、ヘ図は比較器COMP２の出力、ト
図はFF２の出力波形を示すものである。第１図
の回路の基本的な動作は第７図と同じであるが、
相違点は遅れ回路DLの出力が比較器COMP２に
加えられ、この比較器の出力がフリツプ・フロツ
プFF２のＤ入力として加えられているので、dd
波形に対する影響をマスクする時間が第２図ホで
示す如く比較器COMP２のスレツシヨールド・
レベルVmthで決まることである。このVmthは
安定電源Vd、抵抗素子Ｒ４，Ｒ５によつて定め
られるので、一定である。よつて、第２図ヘで示
す如くt1時間後一定時間TMが過ぎてから比較器
COMP２は“Ｌ”レベルになるが、このTM時間
の間にdd波を比較器COMPが第２図ハのP′の如
く検出しても、このP′はマスクされることによ
り、t2時間の検出には影響されないものとなる。
又、TM時間を所定の幅になるように設定してお
けば、第９図ハに示す如く検出コイル３が検出位
置として100％側にあるときにも反射波５のbr信
号までをマスクしてしまうことはなくなる。
このようにして検出された時間t1，t2に対応し
たパルス幅信号を基にして図外の演算回路によつ
て（t1−t2）／（t1＋t2）の演算を行なうことに
より、検出コイル３の無次元位置を検出すること
ができる。
たパルス幅信号を基にして図外の演算回路によつ
て（t1−t2）／（t1＋t2）の演算を行なうことに
より、検出コイル３の無次元位置を検出すること
ができる。
以上説明したように、本考案においては直接波
における第２番目のプラスのdd波をマスクする時
間を一定値に押さえるように構成したので、この
dd波を確実にマスクすることができ、しかも反射
波５の第２番目のプラスのbr信号までをマスクす
るおそれはない。よつて、本考案によれば分散の
影響がない特徴を有し、磁歪線１の有効長を狭ま
くすることの必要のない磁歪信号検出回路を得る
ことができる。
における第２番目のプラスのdd波をマスクする時
間を一定値に押さえるように構成したので、この
dd波を確実にマスクすることができ、しかも反射
波５の第２番目のプラスのbr信号までをマスクす
るおそれはない。よつて、本考案によれば分散の
影響がない特徴を有し、磁歪線１の有効長を狭ま
くすることの必要のない磁歪信号検出回路を得る
ことができる。
第１図は本考案に係る磁歪信号検出回路の一実
施例の接続図、第２図は第１図のタイミングチヤ
ート、第３図は第１図の動作を説明する為の波形
図、第４図は磁歪信号検出回路の動作原理を説明
する為の図、第５図は第４図の動作を説明する為
の図、第６図は従来装置の動作を説明する為の波
形図、第７図は本考案を説明する為の磁歪信号検
出回路の回路図、第８図は第７図回路のタイミン
グチヤート、第９図は第７図回路の動作を説明す
る為の波形図である。 １……磁歪線、２……駆動コイル、３……検出
コイル、４……直接波、５……反射波、COMP、
COMP２……比較器、FF１、FF２……フリツ
プ・フロツプ、DL……遅れ回路。
施例の接続図、第２図は第１図のタイミングチヤ
ート、第３図は第１図の動作を説明する為の波形
図、第４図は磁歪信号検出回路の動作原理を説明
する為の図、第５図は第４図の動作を説明する為
の図、第６図は従来装置の動作を説明する為の波
形図、第７図は本考案を説明する為の磁歪信号検
出回路の回路図、第８図は第７図回路のタイミン
グチヤート、第９図は第７図回路の動作を説明す
る為の波形図である。 １……磁歪線、２……駆動コイル、３……検出
コイル、４……直接波、５……反射波、COMP、
COMP２……比較器、FF１、FF２……フリツ
プ・フロツプ、DL……遅れ回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 その長さ方向に移動可能なように検出コイルが
配置された磁歪線を有し、前記磁歪線の一端に駆
動パルスを与えることにより発生する縦弾性波が
磁歪線を伝播し前記検出コイルに直接到達するま
での時間t1と磁歪線の開放端部で反射して検出コ
イルに到達するまでの時間t2を前記検出コイルを
用いて検出するようにした磁歪信号検出回路にお
いて、 直接波が検出コイルに加わることによりこの検
出コイルにおいて最初に発生するプラスのパルス
出力adと、反射波が検出コイルに加わることによ
りこの検出コイルにおいて発生する２番目のプラ
スのパルスbrとを一定のスレツシヨールド・レベ
ルと比較する比較器、駆動パルスによりセツトさ
れクロツク入力として前記比較器の出力が与えら
れる第１、第２のフリツプ・フロツプ、第１のフ
リツプ・フロツプの出力端子に接続された遅れ回
路、及びこの遅れ回路の出力を一定のスレツシヨ
ールド・レベルと比較しその出力が第２のフリツ
プ・フロツプのデータ入力端子に加えられる第２
の比較器よりなり、前記第１、第２のフリツプ・
フロツプの出力端より時間t1，t2に対応した信号
を得るようにしたことを特徴とする磁歪信号検出
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14969086U JPH04265Y2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14969086U JPH04265Y2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355109U JPS6355109U (ja) | 1988-04-13 |
| JPH04265Y2 true JPH04265Y2 (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=31065138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14969086U Expired JPH04265Y2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04265Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP14969086U patent/JPH04265Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6355109U (ja) | 1988-04-13 |
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